Патенты с меткой «материалах»
Способ измерения напряжений в рентгенопрозрачных материалах
Номер патента: 2003080
Опубликовано: 15.11.1993
Авторы: Андреев, Васильков, Химич
МПК: G01N 23/20
Метки: материалах, напряжений, рентгенопрозрачных
...приводит к значитель- -;ым ошибкам для рентгенопрозрачных ма;ериалов, где глубина проникновения составляет несколько миллиметров, В частности, если напряжения сосредоточены в ;иком приповерхностном слое,.например после механической обработки, результат .:,мерений оказывается не чувствительным к попобнь 1 м напряжениям, так как в результате усреднения по большому обьему, измен-"змые напряжения будут нулевыми.1 ель изобретения - повышение. чувствительности измерения напряжений,Поставленная цель достигается применением щели, экранирующей часть дифрагированного пучка и расположенной непосредственно на поверхности образца в(Бб) Русаков А.А, Рентгенография металлов. М. Атомиздат, 1977, с. 286-299.35 ГСтри р м а изобретени СПОСОБ И В РЕНТГЕНО...
Способ получения покрытия на огнеупорных материалах
Номер патента: 1665667
Опубликовано: 30.11.1993
Авторы: Волокитин, Соловьев, Шишковский
МПК: C04B 35/48, C04B 41/87
Метки: материалах, огнеупорных, покрытия
...2,6 МДж/м, а при содержании углерода в количестве 0,5 от массы циркона энерго- вклад в единицу поверхности будет соответ ствовать 2,9 МДж/м при мощностидугового размера 60 кВт."Плазменная обработка поверхности строи тельных изделиЯ для создания химическистойких покрытий. Генераторы низкотемпературной плазмы, Тез. докл. Х Всесоюзной конф. по генераторам низкотемпературной плазмы. Новосибирск, 20-23 июня 1989, 4- 20 2, с.318-319. Формула изобретенияСПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПОКРЫТИЯ НАОГНЕУПОРНЫХ МАТЕРИАЛАХ путем на-,25несения на поверхность пасты, включаю-щей . циркон, добавки окислов,стабилизирующих диоксид циркония и свя. Составитель В.СоколоваРедактор А.Кондрахина Техред М.Моргентал Корректор С,ПатрушеваЗаказ 3336 Тираж Подписное НПО...
Способ определения осмия в природных и технологических материалах
Номер патента: 1185861
Опубликовано: 27.01.1995
Авторы: Веревкин, Гудков, Марочкина, Торгов, Шульман, Яценко
МПК: C22B 11/00
Метки: материалах, осмия, природных, технологических
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСМИЯ В ПРИРОДНЫХ И ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛАХ, содержащих золото, включающий облучение исходного материала, сплавление облученного продукта с перекисью натрия с получением плава, содержащего осмий, выщелачивание плава водой с получением раствора, содержащего осмий, экстракцию осмия из полученного раствора органической фазой, содержащей толуол, в присутствии азотной кислоты, реэкстракцию осмия из органической фазы, отделение реэкстракта от органической фазы и последующую регистрацию осмия в реэкстракте нейтронно-эктивационным методом, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и точности определения, перед экстракцией осмия в органическую фазу вводят раствор олефинов до содержания олефинов в толуоле 1-10%...
Устройство для измерения оптических разностей хода в фотоупругих материалах
Номер патента: 1808210
Опубликовано: 20.04.1995
Автор: Болдин
МПК: G01J 9/02, G01N 21/45
Метки: материалах, оптических, разностей, фотоупругих, хода
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ РАЗНОСТЕЙ ХОДА В ФОТОУПРУГИХ МАТЕРИАЛАХ, содержащее последовательно установленные и оптически связанные источник излучения, двухлучевой интерферометр с поляризаторами с взаимно перпендикулярными плоскостями поляризации в каждом плече интерферометра, компенсатор, анализатор и жидкостную кювету для исследуемого материала, отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности измерений, источник излучения выполнен немонохроматическим, устройство снабжено дополнительным поляризатором, плоскость пропускания которого составляет равные углы с плоскостями пропускания поляризаторов в плечах интерферометра, установленным за источником по ходу излучения, эталонной пластиной, установленной в одном из плеч...
Способ определения количества расширителей типа дубителей в активных материалах электродов свинцовых аккумуляторов
Номер патента: 1344165
Опубликовано: 27.07.1996
Авторы: Заболотская, Захаров, Мальчевская, Селянина
МПК: H01M 4/62
Метки: аккумуляторов, активных, дубителей, количества, материалах, расширителей, свинцовых, типа, электродов
Способ определения количества расширителей типа дубителей в активных материалах электродов свинцовых аккумуляторов путем измерения светопоглощения комплекса переноса заряда в анализируемой пробе, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и точности, комплекс переноса заряда получают путем обработки анализируемой пробы раствором щелочи при нагревании.
Способ получения оксидных покрытий на углеродных материалах
Номер патента: 1785223
Опубликовано: 27.09.1996
Авторы: Другов, Кокушкин, Кравецкий, Яковлев
МПК: C04B 35/52
Метки: материалах, оксидных, покрытий, углеродных
Способ получения оксидных покрытий на углеродных материалах путем нанесения слоя органического полимера, сушки с последующей обработкой в электролитической ванне в режиме дугового электролуча, отличающийся тем, что, с целью повышения ресурса работы материала, в органический полимер дополнительно вводят порошкообразный огнеупорный наполнитель с размером частиц 50-70 мкм в количестве 40-75 мас.
Композиция для латенсификации скрытого изображения на бромиодсеребряных фотографических материалах
Номер патента: 1122141
Опубликовано: 20.06.1999
Авторы: Ашманова, Журба, Ратникова
МПК: G03C 5/32
Метки: бромиодсеребряных, изображения, композиция, латенсификации, материалах, скрытого, фотографических
Композиция для латенсификации скрытого изображения на бромиодсеребряных фотографических материалах, включающая соль металла и воду, отличающаяся тем, что, с целью повышения чувствительности фотографических материалов и уменьшения оптической плотности вуали, в качестве соли металла композиция содержит водорастворимую соль кадмия, выбранную из ряда сульфат кадмия, азотнокислый кадмий, хлористый кадмий, при следующем соотношении компонентов, мас.%:Водорастворимая соль кадмия - 0,1 - 2,25Вода - 97,75 - 99,9
Способ формирования ионно-легированных слоев в полупроводниковых материалах
Номер патента: 1473611
Опубликовано: 20.02.2000
Авторы: Ерохин, Итальянцев, Мордкович
МПК: H01L 21/26
Метки: ионно-легированных, материалах, полупроводниковых, слоев, формирования
Способ формирования ионно-легированных слоев в полупроводниковых материалах, включающий имплантацию ионов в полупроводниковый материал с одновременным его облучением потоком фотонов и последующий отжиг, отличающийся тем, что, с целью улучшения параметров ионно-легированных слоев, облучение проводят при энергии фотонов 1,1 - 8,0 Eg, где Eg - ширина запрещенной зоны полупроводникового материала, и плотности мощности потока 0,01 - 10 Вт/см2.
Устройство для измерения фотоиндуцированного короткоживущего поглощения в лазерных материалах
Номер патента: 1394899
Опубликовано: 27.07.2000
Авторы: Киселев, Козленко, Легостаев, Овчаров
МПК: G01N 21/17
Метки: короткоживущего, лазерных, материалах, поглощения, фотоиндуцированного
1. Устройство для измерения фотоиндуцированного короткоживущего поглощения в лазерных материалах, содержащее облучатель и источник зондирующего излучения в виде импульсных ламп, монохроматор, фотоэлектрическую схему регистрации, блоки управления и питания, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и расширения временного диапазона измерений, источник зондирующего излучения выполнен в виде прямой импульсной лампы, в одном торце которой расположен катод, а другой торец, служащий выходным окном, выполнен в виде плоскопараллельной пластины, прозрачной в диапазоне длин волн от 190 до 1000 нм, при этом анод расположен перпендикулярно разрядному каналу со стороны выходного окна и выведен...
Способ получения инверсных слоев в полупроводниковых материалах
Номер патента: 676109
Опубликовано: 20.09.2001
Авторы: Короткова, Коршунов, Миркин, Тихонов
МПК: H01L 21/268
Метки: инверсных, материалах, полупроводниковых, слоев
1. Способ получения инверсных слоев в полупроводниковых материалах путем их плавления воздействием импульсного лазерного излучения с последующей рекристаллизацией оплавленного слоя, отличающийся тем, что, с целью увеличения эффективной подвижности и концентрации носителей заряда в слое и использования его для упрощенного изготовления многоэлементных структур, лазерное воздействие осуществляют в режиме образования выпуклой зеркальной поверхности рекристаллизованного слоя.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что, с целью увеличения в антимониде индия эффективной подвижности электронов до (4 - 6) 104...
Способ получения инверсных слоев в алмазоподобных полупроводниковых материалах
Номер патента: 631017
Опубликовано: 20.09.2001
Автор: Коршунов
МПК: H01L 21/268
Метки: алмазоподобных, инверсных, материалах, полупроводниковых, слоев
1. Способ получения инверсных слоев в алмазоподобных полупроводниковых материалах путем воздействия на них импульсами лазерного излучения, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности управления концентрацией носителей заряда, воздействие лазерным излучением осуществляют импульсами с плотностью мощности от 6 до 400 МВт/см2 при длительности импульса от 10-1 до 10-9 с.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что, с целью получения в антимониде индия концентрации доноров от 1015 до 1018 см-3, воздействие лазерным излучением осуществляют импульсами с плотностью мощности от 6 до 56 кВт/см2 при длительности...
Устройство для определения содержания газов в неорганических материалах
Номер патента: 1063184
Опубликовано: 10.11.2001
Авторы: Голованов, Крюков, Повстянко
МПК: G01N 7/16
Метки: газов, материалах, неорганических, содержания
Устройство для определения содержания газов в неорганических материалах, содержащее источник инертного газа, газоанализатор, электрическую печь сопротивления, включающую два токоподвода, один неподвижный, а другой подвижный, вкладыши с рабочей камерой, в которой размещен графитовый нагреватель с полостью для образца, отличающееся тем, что, с целью повышения точности определения за счет исключения адсорбции газов из атмосферы, устройство снабжено закрепленным на подвижном токоподводе бункером, выполненным в форме части кольца с внутренней полостью, во вкладыше и подвижном токоподводе выполнен осевой канал, при этом в токоподводе выполнен дополнительный канал с горизонтальной осью,...
Способ определения сечения поглощения ультрахолодных нейтронов в материалах
Номер патента: 915594
Опубликовано: 27.01.2002
Авторы: Косвинцев, Кушнир, Морозов, Терехов
Метки: материалах, нейтронов, поглощения, сечения, ультрахолодных
Способ определения сечения поглощения ультрахолодных нейтронов в материалах, состоящий в облучении исследуемого материала потоком тепловых нейтронов и измерении количества ультрахолодных нейтронов, образовавшихся при взаимодействии тепловых нейтронов с материалом, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения сечения поглощения, исследуемый материал облучают импульсами тепловых нейтронов и измеряют изменение во времени количества нагретых ультрахолодных нейтронов после облучения, по которым вычисляют искомое сечение.