G01T 1/34 — измерение поперечного сечения, например поперечного сечения захвата частиц

Устройство для измерения формы пучка заряженных частиц.

Загрузка...

Номер патента: 271668

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Вишн, Объединенный, Синаев

МПК: G01T 1/17, G01T 1/34, H01J 47/14 ...

Метки: заряженных, пучка, формы, частиц

...электродов искровой камеры соединена с соответствующими устройствами регистрации, связанными через арифметический регистратор с многоканальным анализатором.Информация с проволочной камеры подается в анализатор, в котором производится ее накопление. Каждой проволочке камеры соотвстствует свой канал анализатора, При прохождении частицы через камеру в анализаторе происходит добавление единицы в соотвегствующем канале, Данные, накопленные в анализаторе, дают точное представление о форме пучка и могут храниться долгое время в памяти анализатора в отличие от осциллографа. В процессе измерений форма пучка мо жет наблюдаться на экране электроннолучевоитрубки, входящей в состав анализатора, а после измерений информацию можно вывести на...

Способ определения сечений нейтроннейтронного взаимодействия

Загрузка...

Номер патента: 549023

Опубликовано: 30.12.1980

Автор: Григорьев

МПК: G01T 1/34

Метки: взаимодействия, нейтроннейтронного, сечений

...Е = Е,;. При Е;= 0,1 эВ получаетСя следующее выражение:(2 Яб а (. ъ) Г (11) Если уравнение (10) подставить выражение (1) и (9), то получится суммарная плотность рециклических нейтронов в зависимости от . , Ь и У рецэп йе05227 Ю Ррф Т) КТ 12) фильтр ллиматре" текторВтопричем 0(141/ЙИспользование импульсного нейтронного источника позволяет по,предложенному способу изучать и - И взаимодействия в зависимости от энергиинейтронов - мишеней и быстрых нейтронов для широкого спектра..Исследование полного нейтронронного сечения можно делать слщим образом.Пластинкой кадмия, индия или боранадо попеременно перегораживать сколлимированный нейтронный пучок вблизиисточника, где нет рециклическихнейтронов, и на некотором расстоянии, где кончается...

Способ измерения нейтронных сечений

Загрузка...

Номер патента: 862095

Опубликовано: 07.09.1981

Авторы: Адамчук, Восканян, Мурадян, Щепкин

МПК: G01T 1/34

Метки: нейтронных, сечений

...детекторов с Е-=0,9:,на фиг. 3 - измеренный на той же установке спектр множественности захватадля зопота; на фиг. 4 - спектр множественности захвата Р (к) (точки) испектр множественности деления Р (к)(крестики), подученные .на основании данных, приведенных на фиг, 2. Устройство для реализации предлагаемого способа содержит образец из исследуемых ядер 1, независимо работающие" -детекторы 2, (и, г)- конвертор 3,фотоумножители 4, анализирующую и контролирующую аппаратуру 5.Способ осуществляют следующим образом,6Образец из исследуемых ядер 1 помещают на коллимированный пучокпадающих нейтронов 6 и окружают системой независимо работающих детекторов 2, образующей 44 -геометрию, Между образцом1 и системой детекторов 2...

Способ измерения нейтронных сечений

Загрузка...

Номер патента: 548100

Опубликовано: 23.10.1981

Авторы: Адамчук, Мурадян, Устроев, Щепкин

МПК: G01T 1/34

Метки: нейтронных, сечений

...аппаратуру 4 и 5 (кодировщик, цифровой анализатор и др.).Предлагаемый способ осуществляют следующим образом.Для простоты рассмотрим конкретный случай, когда нейтроны регистрируются по у-квантам, образовавшимся в (и,г )-конверторе. Образец 1 с исслед,емыми ядрами (см.фиг.1) помещают в коллимированный пучок падающих нейтронов и окружают, истемой й независимо работаюшп: Я -детекто 548100ров 3. Между образцом 1 и системойдетекторов 3 помещают (и, )-конвертор 2, содержащий, например, бор 10 и ядра, замедляющие нейтроны.Нейтроны, образующиеся после взаимодействия падающих нейтронов с исследуемыми ядрами, в результате захвата их в боредают -кванты сэнергией 480 КэВ, Один нейтрон вэтой реакции дает один у-квант.При каждом акте...

Детектор для регистрации актов радиационного захвата нейтронов и деления

Загрузка...

Номер патента: 1131336

Опубликовано: 15.06.1985

Авторы: Адамчук, Восканян, Мурадян, Щепкин

МПК: G01T 1/34, G01T 3/00

Метки: актов, деления, детектор, захвата, нейтронов, радиационного, регистрации

...со своим фотоумножителем 7. Секции имеют одинаковые размеры и расположены сюакетрично относительноцентра детектора. В собранном видедетектор имеет 4 ю-геометрию.В качестве жидкого сцинтилляторас введенным в него веществомпоглощающим нейтроны, служит стандартный жидкий сциктиллятор с введенным в него триметилборатом, причемминимальная толщина этого растворав направлении, перпендикулярном продольной оси детектора, составляет15-30 см.Опытным путем была найдена толЗ 5 щина этого раствора, равная15 смпри регистрации нейтронов с энергией Ея700 кэВ, 22 см при 0,7 ИэВс Еп й 1,1 МэВ и 30 см при1,1 МэВЕс. 1,4 МэВ.40 Принцип работы и использованиядетектора следующий.Исследуемый образец 8 вводитсяв центр детектора. Детектор устанавливается на...

Способ определения сечений ионизации положительных ионов релятивистскими электронами

Загрузка...

Номер патента: 1068855

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Кузнецов, Перельштейн, Ширков

МПК: G01T 1/34

Метки: ионизации, ионов, положительных, релятивистскими, сечений, электронами

...процессов, Расчетным путемпоказано, что в ионизации положительных ионов электронным ударомрелятивистскими электронами домини -рующими являются два механизма - прямая ионизация с удалением электронов из атома или иона в континууМ ивозбуждение или ионизация внутреннихатомных оболочек с последующим испусканием Оже-электронов, т.е.Ожеионизация, причем зависимости сечений этих ионизационных процессов отзарядности ионов сильно различаются,55 К недостаткам известного способа относятся разрушение электронно- ионного пучка при анализе, необходимость проведения многократных . измерений с целью получения полной картины эволюции спектра зарядностей ионов и ограниченный энергетиТаким образом, сечение иониэации положительных ионов электронным...

Способ измерения волнового пакета свободного электрона

Загрузка...

Номер патента: 1088504

Опубликовано: 07.11.1988

Автор: Шендерович

МПК: G01T 1/34

Метки: волнового, пакета, свободного, электрона

...в пределах отрезка времени дС, соответствующего дЛине волнового пакета на уровне 0,5, равного Е-Е (фиг. 2 а, вид сверху). Поэтому, если пропускатвв схеме фиг.1 один за другим электроны и набрать количество отсчетов ири каждом значении разйости времени задержки., обеспечивающем статистическую достоверность, то зависимость числа счетов совпадений от величины задержки (фиг. .2 в, вид снизу) будетсовпадать с зависимостью от времени квадрата модуля волновой функции 10 электрона 1(й) . Следовательно, по этой функции распределения можно оп- . ределить длительность волнового пакета во времени, умножая ее на скорость электрона и продольный размер 15 волнового пакета, Например для определения длины волнового пакета на уровне 0,5 измеряют отрезок...

Устройство для измерения физических характеристик микрометеоритных пылевых частиц

Загрузка...

Номер патента: 1830499

Опубликовано: 30.07.1993

Авторы: Бочкарев, Семенчук, Семкин, Юсупов

МПК: G01T 1/34

Метки: микрометеоритных, пылевых, физических, характеристик, частиц

...- х - Х(Т-х)е е бх=Т отХхе и( )б 2 =Т" - и45 50 Формула (9) получена после замены переменной интегрирования 1 = Т - Е. Преобразуем (9):1830499 Отсюда следует рекуррентная формула длянахождения Нк(р);-221 х- +атПервые три функции О определяются следующим образом: Структурная схема блока измерения вектора 7, реализующая алгоритм (2), показана на чертеже,Полезный сигнал с выхода усилителя 25 имеет вид: 6 г, . тх 1 о = - ( - его( - -+ а 2, Т; т0, (12) т 1 х1 ( т Ь - -2 где 0 - заряд ионов, тх - характерное время образования плазмы, ар,рм;ру/Рм - соответственно плотности частицы и преграды,Параметры сигнала О, тх, а связаны известными соотношениями со скоростью В/, плотностью р и хаоактерным размером Я пылевой частицы; 35 х 1 - И - +а 40 тх...

Способ определения сечения поглощения ультрахолодных нейтронов в материалах

Номер патента: 915594

Опубликовано: 27.01.2002

Авторы: Косвинцев, Кушнир, Морозов, Терехов

МПК: G01T 1/34, G01T 3/00

Метки: материалах, нейтронов, поглощения, сечения, ультрахолодных

Способ определения сечения поглощения ультрахолодных нейтронов в материалах, состоящий в облучении исследуемого материала потоком тепловых нейтронов и измерении количества ультрахолодных нейтронов, образовавшихся при взаимодействии тепловых нейтронов с материалом, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения сечения поглощения, исследуемый материал облучают импульсами тепловых нейтронов и измеряют изменение во времени количества нагретых ультрахолодных нейтронов после облучения, по которым вычисляют искомое сечение.