Способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУ БЛИН С 02 В 5/2 АНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ тоуму ени тствую-,сивносем шиКр ве -аксимуетренко шеки Вмаксх"макс 2кс 1 емакс 2 макс где лины волн зон ирующихмакс и макс ов на светофильт аксимальной инте пучков: углы падения пучсоответствующие сивности прошЬдлинами волн , и я щего излуче иучков на свещие половинерошедшего(йзЭ, и Ф .- углы падения ьтр, соответствую- мума интенсивност йяс длинами волн и макс у Мщ луче ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРпО делАм изОБРетений и ОтнРытий ВТОРСКОМУСВИДЕТЕЛ(71) Одесский ордена Трудовогного Знамени государственныйситет им. И.И. Мечникова(54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ШИРИНЫПОЛОСЫ И ДЛИНЫ ВОЛНЫ МАКСИМУМА ПРОПУСКАНИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО СВЕТОФИЛЬТРА по авт. св. У 1024862, о т -л и ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью повышения точности измеренияхарактеристик интерференционногосветофильтра за счет исключениявлияния показателя преломления разделительного слоя светофильтра, допол"нительно просвечивают светофильтрвторым зондирующим пучком излученияс длиной волны, меньшей длины волны,соответствующей максимуму пропускания светофильтра, не равной длиневолны основного зондирующего пучкаизлучения, и измеряют угол падения 801242890 А 2 второго пучка излучения на св фильтр, соответствующий макси интенсивности прошедшего излуч а также угол падения, соотве ющий половине максимума интен ти прошедшего излучения, прич рину полосы 3и длину волны ма пропускания светофильтраопределяют по следующим соотнИзобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к методам измерения характеристик светофильтров, и является усовершенствованием известного способа по авт, св. У 1021862.Известен способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра путем его просвечивания параллельным пучком монохроматического света и регистрации интенсивности прошедшего излучения при изменении угла падейия излучения на фильтр, Просвечивание осуществляют излучением с длиной волны, меньшей длины, соответствующей максимуму пропускания фильтра. При этом измеряется угол па. - дения пучка на фильтр, соответствующий максимуму интенсивности прошедшего излучения, а также угол падения, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучения. Длину волны максимума пропускания и ширину полосы определяют по следующим соотношениям;Эллас 1( ллас и 2 п"г РВмркс ВОД макс(л - длина волны просвечивающего пучка;мас - угол падения пучка на фильтр, соответствующий максимальной интенсирнасти прошедшего излучения;И - показатель преломления разделительного слоя фильтра;59 - ширина полосы пропускания фильтра;9 р - угол падения пучка на фильтр, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучения 1 .Недостатком известного способа является низкая точность определения характеристик интерференционного светофильтра, ограниченная точностью, с которой предварительно определен эффективный показатель преломления разделительного слоя фильтра.Цель изобретения - повышение точности измерения характеристик интерференционного светофильтра за счет исключения влияния показателя преломления разделительного слоя светофипьтра.Поставленная цель достигается тем,чта согласно способу определения ширины полосы и длины волны максимумапорпускания интерференционногосветофильтра дополнительно просвечивают светофильтр вторым зондирующимпучком излучения с длиной волны, мень О шей длины волны, соответствующей максимуму пропускания светофильтра, неравной длине волны основного зонди 1.рующего пучка излучения, и измеряютугол падения второго пучка излученияна светофильтр, соответствуюшиймаксимуму интенсивности прошедшегоизлучения, а также угол падения, соответствующий половине максимумаинтенсивности прошедшего излучения, 2 О причем ширину полосыи длинуволны максимума пропускания светофильтра Ъ мопределяют по следующим соотношениям:2 гмдкс, -8 час яллоксал )а,макс о макс кфгЗОмаксгде Ф, и Я - длины волн зондирующих пучков,Вл,а,. и 8 ллркс- углы падения пучков 35на светофильтр, соответствующие максимальной интенсивности прошедшегоизлучения с длинами волн Я и Я80 и Во, - углы падения пучковна светофильтр, соответствующие половине максимумаинтенсивности прошедшего излучения с длинами волн1, иЯОписанная модификация способа измерения характеристик интерференционных светофильтров позволяет исключить из соотношений, связывающихискомь 1 е характеристики фильтра, сизмеряемыми углами, эффективныйпоказатель преломления разделительного слоя фильтра И и тем самым,значительно увеличить точность измеренияСпособ реализуется при использовании перестраиваемого источникаквазипараллельного монохроматическо го излучения, например двухчастотного лазера, дли волн излучениякоторого меньше длины волны соответствующей максимуму пропускания иссле.1242890 Составитель П.ЯковлевТехред О.Сопко Корректор В.Бутяга Редактор Н. Бобкова Тираж 501 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Заказ 3701/45 Производственно-полиграфическоепредприятие, г.ужгород, ул. Проектная,4 дуемого фильтра. При этом фильтр Просвечивается излучением сначала с одной длиной волны и определяются углы, соответствующие максимуму прошедшего через фильтр излучения 5 и половине от максимальной интенсивности, а затем определяются аналогичные углы для второго зондирующего пуска и определяются характеристики фильтра по приведенным формулам 1 ОЭкспериментальная проверка способа осуществляется на фильтре со сле,дующими паспортными данными:Я,д =8 а645,6 нм,0,15. фильтрмакс 5 просвечивается излучением модифициро фанного Не-Ие лазера ЛГ-2, в котором путем внутрирезонаторных пере. строек имеется возможность изменять длину волны излучения Используют двед линии генерации с длинами волн,632,8 и 9 = 640,1 нм. Интенсив-,ность прошедшего излучения регистрируется фотодиодом. Углы наклона фильтра измеряются с помощью угломер ного столика. Полученные результаты с точностью до 17 совпадают с паспортными данными фильтра. Таким образом, в отличие от.известного способа, точ" ность которого ограничивается точностью определения эффективного показа-. теля разделительного слоя фильтра И, предлагаемый способ позволяет обойти указанную трудность и значительно увеличить точность измерения характеристик фильтра. При этом, чем более узкополостным является светофильтр, темточнее могут быть проведены измерения.Предлагаемый способ является перспективным для применения при измерении характеристик узкополосных интерференционных фильтров не только в лабораторых, но и в заводских условиях,