Способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра

СОЮЗ СОВЕУСИИХЕСНИХРЕ ЛИКсщ Ю 28 щ) 2 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ОСОРПО ДЕЛАМ ИЭ 06 РЕТЕНИЙ И ОЧЙвЮТЭЙОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ(71) Одесский ордена Трудового Красного Знамени.государственный университет им. И.И. Иечникова (53) 535.,3 М.67 (088.8)(56) 1. Фильтрм интерференционнме узкополосные. Руководящие технологические материалы РТИ-11",27- У 2.2, Черемухин Г.С., Рожнов В.П., Голубева ГИ Измерение спектральных кривых Йропускания сверхузкополосных интерфереыционнмх фильтров и пластин материалов.-фОптико-механическая промышлемность 1, 1977, У 2, с. 69-70 (прототип ). ЬМ.) ЬУ) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИа ШИРИНЫГЙИ 0 СМ И ДЛИНН ВОЛНЫ ИАКСИИУИА ПРОПУСКАНИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО СВЕТОФИЛЬТРА путем его просвечивания параллельным "пучком мояохроматического светамрегистрации интейсивности проведшего излучения при изме"ненни угла:падения излучения нвфильтр, о т л и ц а ю щ и й с я тем,цто, с целью повышения точности иобеспечения экспрессностл измерений,просвечивание осуществляют излучением с длиной волны, меньшей длины, соответствующей максимуму пропусканил фильтра; и измеряют угол падения пучка ма фильтр, соответствующий максимуму интенсивности прошедшего излучения,. а также угол падения, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излуцения, причем,щирину 8 Э полосм и длину щшв волнм максимума пропускания фильтра определяют по следующим соотношениямпса х- длина волны просвечивающего пучка, о - угол падения луцка на фильтр, соответствующий вфламаксимальной интенсивности 1,фпрошедшего излучения, ЬД Ь - показатель преломленияввь разделительного слоя фильт- О(р ра 1, Ж В - угол паденияпучка мафильтрсоответствующий половине максимума интенсивности про шедшего излуцения.Изобретение относится к оптическому приборостроению, а более конкрет.но к методам измерения характеристикинтерференционных светофильтров.Известен способ определения ширины полосы и:длины волны максимумапропускания интерференционного светоФильтра путем его просвецивания пучком монохроматического света, регист"рации интенсивности прошедшего иэлу"чения при перестройке длины волныпросвечивающего излуцения и построения зависимости пропускания фильтраот длины волны, по которой и определяют необходимые характеристики ЯНедостатком такого способа. являет"ся, в частности, высокая стоимостьспектрофатометров, которыенеобходимыдля его реализации.Наиболее близким к предлагаемомуизобретеиию по своей техницескойсущности является способ определения ширины полосы и длины волны мак".симума пропускания интерференционногосветофильтра пу ем его просвечиванияпараллельным пучком монохроматицеского света и регистрации интенсивностипрошедшего излучения при измененииугла падения излучения на фильтр. Всоответствии с этим способом исследуемый фильтр поворацивают относитель,но лазерного луча и последовательнорегистрируют значения интенсивностипрошедшего излучения при различныхуглах падения луча на фильтр. Такимобразом, выявляется полная картиназависимости интенсивности прошедшегоизлучения от указанного угла, покоторой в свою очередь определяютсяискомые велициню 21Однако необходимость полученияполной информации об указанной зависимости,присущая известному способу,делает процесс измерений весьма дли"тельным. Кроме того, это приводитк снижению точности измерений, поскольку при продолжительном ислользовании лазера на точности начинаетсказываться нестабильность интенсивности его излучения.Цель изобретения - повышение точности и обеспечение экспрессностиизмерений,Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу определения ширины полосы и длины волнымаксимума пропускания интерференционного светофильтра путем его просвечивания параллельным пучком монохроматического света и регистрацииинтенсивности прошедшего излученияпри именении угла падения излуцения,на фильтр, просвечивание осуществлят5 излучением с. длиной волны, меньшейдлины, соответствующей максимуму пропускания Фильтра, и измеряют .уголпадения пучка на фильтр, соответствующий максимуму интенсивности проушедшего излучения, а также уголпадения, соответствующий половинемаксимума интенсивности прошедшегоиэлучения, причем ширину полосы 53и длину, Лш волны максимума пропус 15 кания фильтра определяют по следующим соотношениям:феа-п 1+2е.е,",вбивак П.где ф " длина волны просвечиваю 25 щего пучка,ф9 - угол падения пучка,навах .мФильтр, соответствующиимаксимальной интенсивнос"Ф ти прошедшего излучения, 30 и " показатель преломленияразделительного слоя .ФильтраВО " угол падения пучка наФильтр, соответствующийполовине максимума интенсивности прошедшегоизлучения.Предлагаемый способ реализуетсяпри использовании источника кваэипа раллельного монохроматического пучкасвета, например лазера, длина волныизлучения которого меньше .длины,соответствующей максимуму пропускания, исследуемого фильтра. При этом 5 фильтр поворачивают относительно осипучка и, наблюдая за показаниямиизмерительного прибора, регистрирующего интенсивность прошедшего сквозьфильтр излучения, фиксируют значения 50двух углов падения пуцка на фильтр.Один иэ этихуглов соответствуетмаксимуму интенсивности прошедшегоизлучения, а второй - половине этого ,максимума, Искомые характеристикиФильтра определяются путем подстановки значений измеренных углов вприведенные выше соотношения.Экспериментальная проверка способа проводилась на интерференционЭ 10246 ном светофильтре со следующими паспортными данными 1ф ю 634,9 нм,ЬЗ 0,15,И1,35 (крио 4 ит),. 3Фильтр просвечивался излучением Не-Не лазера ЛГа 52-2 с длиной волны излучения 632,8 нм. Интенсивность проеедеего через фильтр излучения регистрировалась Фотодиодом. Изме" 1 О рялись углы поворота млатра, при которых интенсивность .проведвего из" лучения была максимальной и состав- . ляла половину от максимальной, и вы" числялась аирина волосы и длина волны в максимуме по соответствующим Формулам, Полученные результаты с 62 юточностью до 10 совпали с паспортными данными фильтра.Таким образом, в отличие от иэвест. ного способа,в котором последовательно определяется целый ряд величин, в предлагаемом способе достаточно измерить всего два значения угла падения пучка на Фильтр. Это позволяет существенно скоратить время измере" ннй и повысить их точность. В то же время предлагаемый способ не требует применения дорогостоящих спектрофатометров, что выгодно отличает его и от известного способа измерения характеристик интерференционных фильтров, повсеместно применяющегося в настоящее время.Составитель В, Кравченко Редактор В. Иванова Техред О.йеце Корректор С. Шекмар а аваев евеааее еаааеееаеееаеааеавеаеавевееваааааЗаказ 4390/43 Тираж 911 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Же 35, Рауаская наб д. 4/5ее еее ееаее ее ее ее вава аваева е ее ее е а еа ее а аваева ее ее а ее ее а ее е Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул",роектная, 4