Способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра

(9)) 5) 4 ( 02 В 5/28 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(56) Авторское свидетельство СССРУ 024862, кл. С 02 В 5/28,11.01.82.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ШИРИНЫ ПОЛОСЫ И ДЛИНЫ ВОЛНЫ МАКСИМУМА ПРОПУСКАНИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО СВЕТОФИЛЬТРА(57) Изобретение позволяет повыситьточность измерения характеристикинтерференпионного светофильтраза счет увеличения точности определения угла падения излучения на светофильтр, соответствующего половине максимума интенсивности прошедшего излучения. Для этого одновременно с регистрацией интенсивности прошедшего через светофильтризлучения измеряют угол паденияпучка на светофильтр, соответствующий максимуму интенсивности прошед. -шего излучения. Угол падения излучения на светофильтр, соответствующийполовине максимума пропускания, измеряют в момент, когда разностьинтенсивностей прошедшего и отраженного излучений равна интенсивности отраженного от светофильтраизлучения при угле падения, соответствующем максимуму пропускания светофильтра. Постоянная составляющая отраженного пучкаможет быть измерена при установкефильтра под углом, соответствующимего максимуму пропускания.1 О По основному авт. св. У 1024862 известен способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра путем его просвечивания параллельным пучком монохроматического света и последующей регистрации интенсивности прошедшего излучения 25 при изменении угла падения излучения на светофильтр. Просвечивание осуществляютфиэлучением с длиной волны меньшей длины, соответствующей максимуму пропускания фильтра, Далее измеряют угол падения пучка на светофильтр, соответствующий максимуму интенсивности прошедшего излучения, а также угол падения, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучения. Ширину полосы и длину волны максимума пропускания определяют по следующим соотношениям: Л = Ь 1+- - )Ома смакс и г г 1 Я макс 00с,Умакс55 Форму.а изобретения Изобретение относится к оптическому приборостроению,в частности к методам измерения характеристик узкополосных интерференционных светофильтров, и является усовершенствованием известного способа по авт. св. У 024862,Целью изобретения является повышение точности измерения характеристик интерференционного светофильтра эа счет увеличения точности определения угла падения излучения на свето-.Фильтр, соответствующего половине максимума интенсивности прошедшего излучения. длина волны, соответствующая максимуму пропускания:длина волны просвечивающего пучка: угол падения пучка насветофильтр, соответствующий максимальнойинтенсивности прошедшего излучения;показатель преломленияразделительного слоясветофильтра; 6 Е - ширина полосы пропускания светофильтра;1 - угол падения пучка насветофильтр, соответствующий половине максимума интенсивности проведшего излученияИзвестно, что формы полос пропускания и отражения узкополосного интерференционного светофильтра являются взаимно дополнительными, поэтому при условии малости потерь световой энергии на поглощение внутри светофильтра интенсивность отраженного .и прошедшего через светофильтр излучения также дополнительны друг другу с точностью до постоянной составляющей. Таким образом, устранив постоянную составляющую отраженного пучка, можно получить, что при угле падения светового излучения соответствующем половине максимума пропускания светофильтра, интенсивности отраженного и прошедшего через светофильтр излучения одинаковы, а их разность равна нулю. Это обстоятельство позволяет более точно определить угол, соответствующий половине максимума пропусканиясветофильтра. П и этом постоянная составляющая отраженного пучка может быть измерена при установке Фильтра под углом, соответствующим его максимуму пропускания.В процессе измерения угла наклона светофильтра измеряются два близких по величине световых потока, поэтому ошибка измерения, вызываемая нелинейностью фотоприемного устройства, мала. Кроме того, значительно ослабляется влйяние мешающих фоновых засветок, так как вносимая ими погрешность пропорциональна разности световых потоков фонового излучения, а н самому световому потоку, По :той причине нестабильность мощности источника излучения также мало сказывается на результатах измерения.Предлагаемый способ позволяет повысить точность измерения основных характеристик узкополосных и контрастных светофильтров различных порядков. Способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропуска121 ЬГ 1 Составитель П. ЯковлевРедактор А. Шандор Техред А.Бабинец Корректор М.Максимишинец Заказ 998/57 Тираж 502 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 ния интерференционного светофильтрапо ант. св. В 1024862, о т л и -ч а ю щ и й с я тем, что, с целькповышения точности измерения характеристик интерференционного светофильтра за счет увеличения точностиопределения угла падения излученияна светофильтр, соответствующегополовине максимума интенсивностипрошедшего излучения, одновременнос регистрацией интенсивности йрошедшего через светофильтр излучения регистрируют интенсивность отраженного от него излучения, а угол падения излучения на светофильтр, соотвествующий половине максимума пропускания, измеряЬт в момент, когда разность интенсивностей прошедшего и отраженного излучений равна интенсивностиотраженного отсветофильтра из лучения при угле падения, соответствующеммаксимуму пропускания светофильтра.