Патенты с меткой «чистоты»

Номер патента: 789605

Опубликовано: 23.12.1980

Автор: Салин

МПК: C21D 1/773

Метки: вакуума, повышения, чистоты

...инертного газа.Е(ель изобретения - исключение натекация вредных газов извне и влияния десорбироваццых н откациваемом объеме газов.Г 1 оставлецная шль достигается тем, что ЗО в зазоры флаццевых соединений подают ьодород с избыточным давлением 2 - 3 тора, соединения которого с десорбированными газами затем удаляют. Благодаря этому в откачиваемый обьем вакуумной установки3 в процессе обработки через вакуумные соединения может проникать восстановительный газ.водород, и его соединения с десор бированными газами (кислородом, азотом и др.) удаляются из откачиваемого объема насосами. 40Таким образом исключается длительное со рикосцонецие нагретых изделий с вредными газами и обеспечивается более высокая цистота вакуума (среды, окружающей...

Номер патента: 826264

Опубликовано: 30.04.1981

Авторы: Берлин, Старосельский

МПК: G03G 5/00

Метки: верхности, известный, носителяоднако, обеспечиваетнеобходвмой, однородности, подложек, спсх, удается, фвзвческой, чистоты, электрофотографического, этом

...брака при пониженных требованиях к механической обработке,Указанная цепь достигается тем, что после механической обработки поверхиос ти заготовок подложек, например по 6- 7 классу, ее обезжиривают любым известным методом, например с помощью органического растворителя, покрывают споем грунтовочного материала толщиной не менее вепичины шероховатости поверхнос ти, например слоем лака МЛтопши ной 10-20 мкм, сушат, а затем метаппизируют в вакууме, например алюминием. При этом по любому краю подложки обеспечивают электрический контакт металпнзационной пленки с подложкой. Достаточная толщина метаплизапионной ппенки 0,05-0,1Предлагаемый способ подготовки под еожек позволяет обеспечить высокую фиИсточники информации,Фпринятые но внимание при...

Номер патента: 840723

Опубликовано: 23.06.1981

Авторы: Блинов, Драчук, Жилин, Карпенко

МПК: G01N 27/00

Метки: диэлектри-ческих, жидкостей, чистоты

...жидкостью до определенной риски на 10ампуле так, что при размещении ампулы в плоскости горизонта образуетсяпузырек 4 воздуха определенных размеров. Затем на электроды подаетсянапряжение (до 1000 В в зависимости 15от предлагаемой концентрации примеси) и стол плавно наклоняется до момента срыва пузырька с междуэлектродного положения. Полученный угол сравнивается с ближайшим табличным, ранее 20определенным для данной разности электродных потенциалов и концентрациипримеси (фиг. 2),Как следует из представленныхэкспериментальных результатов (фиг. 2)25необходимое напряжение источника питаюния для концентрации 1,Оне превышает 40 В, 1,10 7. - 6 О В, и т,д,Устройство для определения степеничистоты органической жидкости являет ся простым по...

Номер патента: 846582

Опубликовано: 15.07.1981

Авторы: Каптерев, Людковский, Строчков, Турченев

МПК: C21D 1/74

Метки: tepmo-обработке, атмосферы, вакуума, иликонтролируемой, повышения, чистоты

...тепловуюинерционность из-за наличия теплоизоляционной футеровки.Известен способ повышения чистотывакуума при высокотемпературнойтермообработке, включающий созданиезащитной зоны в зазорах фланцевыхсоединений путем подачи водорода 2).В этом способе в кольцевое пространство подается непроточный водоРод,предназначенный только для удалениявоздуха при заполнении системы уплотнений водородом. В случае непроточного варианта запертый в "тупике"кольцевого пространства водород быстро обогащается кислородом и влагой из внешней среды и его защитйаяспособность снижается пропорциональнодлительности процесса термообработки.Цель изобретения - исключение натекания вредных газообразных примесей без повышения герметичности уплотнений.Поставленная цель...

Номер патента: 853706

Опубликовано: 07.08.1981

Авторы: Азоян, Григорьян, Лиманов, Налчаджян, Радько

МПК: H01K 3/22

Метки: вакуумной, накаливания, оценки, средыламп, чистоты

...со единенным с внешней поверхностью колбы (внешняя цепь), на тело накала подают постепенно возрастающее напряжение и производят оценку чистоты вакуумной среды ламп накаливания по д 5 величине напряжения накала, обеспечивающего максимальное значение тока внешней цепи, образованной телом накала и электродом, соединенным с внешней поверхностью колбы. Максимальное значение тока внешней цепи определяется эмиссионной способностью спирали, зависящей от наличия в лампе остаточных газов. Следовательно, она является величиной, связанной со степенью чистоты вакуумной среды ламп накаливания и может служить критерием ее оценки,На чертеже изображена схема кон-ф троля чистоты вакуумной среды ламп накаливания. 40При пОстепенно увеличивающемся...

Номер патента: 868829

Опубликовано: 30.09.1981

Автор: Чистота

МПК: G10D 1/10

Метки: бандура, чистоты

...об Изобретение относится кству струнных музыкальных итов, в частности бандур.Йзвестна бандура, содержащая корпус, гриф с колками, верхний и нижний шемстоки с колками, струны,басовые и приструнковые подставкирычажные механизмы переключения тнальностей и глушители, включакщикнопки и гибкие тяги 13 .Недостатком известной баявляются ограниченные исполвоэможности,Цель изобретения - расширение исполнительских возможностей. 1Указанная цель достигается тем,что бандура дополнительно имеетрегулировочное устройство для точнойнастройки приструнков, установленноена верхнем шемстоке и выполненное 20в виде винтовых пар, а рычажный механизм глушителя выполнен в виде поворотной планки, размещенной междуструнами, причем рычажный механизмпереключения...

Номер патента: 879454

Опубликовано: 07.11.1981

Авторы: Григорьев, Кошель, Несвижский, Фефер, Шикалов

МПК: G01N 29/04

Метки: аморфных, чистоты

...регистрируют сигналы акустической эмиссии, по параметрам которых определяют наличие в материале .,твердых механических включений.Способ осуществляется следующим образом.Контролируемый материал помещают в нагревательное устройство и нагревают до расплавления. Затем контролируемый материал выливают в углубление фарфоровой плиты, на поверхности которой расположен приемный преобразователь. Если в контролируемом материале имеются твердые механические включения, то на поверхностях их сопри879454 Формула изобретения Составитель К. Хилков Редактор И. Гохфельд Техред .Е.Гаврилешко Корректор Г. Назарова щЗаказ 9709/13 Тираж 910 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская...

Номер патента: 900330

Опубликовано: 23.01.1982

Автор: Щигорев

МПК: H01G 9/22

Метки: молекулярной, преобразователей, чистоты, электролитов, электроники, электрохимического

...: 5 : 4 1 О гэкв/см (3)С 5 -м аГгде С - 4 мкф/см - емкость двойного2элекрео слоя при пол" 25ном заполнении поверхностиэлектрода монослоем ПАВ( -1);5=1 см - площадь поверхности электрода;У - потенциал двойного слоя(В); ЗО Г=96500 - число Фарадея. Г ЬКак следует из (9), емкость двойного слоя уменьшается экспоненциаль"но с ростом концентрации П В Ар. Придлительном выдерживании электрода висследуемом электролите (й фф) пропадает зависимость С от Ас;(СС )что обусловлено способностью электрода адсорбировать только монослойПАВ, для чего достаточно наличиев растворе предельно малых количествпримесей Г10 г экв; дальнейшийрост Ар уже не увеличивает количества адсорбированех ПАВ.В основу способа положено определение зависимости С от Аш в...

Номер патента: 911235

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Карнеичев, Новичков, Новичкова

МПК: G01N 15/06

Метки: жидкости, чистоты

...устройство 28,регулирующее режим работы.Устройство работает следующим образом.Жидкость из магистрального трубопровода 14 с установленным на нем регулятором28 режима, через краны 15 и 16 по трубопроводу 17 поступает в цилиндрический кор.пус 1 с тарированным объемом и выходитчерез крзн 20 по трубопроводу 19 в магистральный трубопровд 14, при зтом регулятор28 режима работы установлен в положении"Отбор".При контроле заданного объема жидкостина наличие механических примесей регулятор28 режима работы устанавливается в положение "Магистрзль". Корпус 1 кранами 15 и20 отключается от магистрзли.Рычаг 6 из положения 6, устанавливаютв положение 6 при котором поршень 4 изположении 4, поднимается в крайчее верх.нее положение 42 и фильтр 7, с...

Номер патента: 951017

Опубликовано: 15.08.1982

Автор: Фрид

МПК: F24F 7/06

Метки: атмосферы, высокой, камера, операций, проведения, технологических, условиях, чистоты

...ной турбулентност я застоиных зон и повышен и воздуха н нисходяще стол ешницеиоздушного а счет отражени потока. Цель изобретени вредностей в зоне Поставленная ця - снижестола,е концентрации ла достигается ге а и боков тенки в ра снабж шолнены п рированными, и к а дополнитель ОПИСАНИЕ 951017ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ3 951017Отношение площади перфорированных отверстий 8 к общей площади столешницы 5 и бо-ковых стенок 6 должно быть не менее 1:6, астолешница 5 может иметь различное конструктивное оформление - в виде набора взаимо.перпендикулярных спиц или натянутой металлической сетки, закрепленной на каркасе,Камера работает следующим образом.Приточный воздух поступает из воэдуховода2 через фильтр 15 тонкой очистки в корпус 1 1...

Номер патента: 957074

Опубликовано: 07.09.1982

Авторы: Немкович, Рубинов, Томин

МПК: G01N 21/64

Метки: раствора, степени, чистоты

...малом различии времен затухания двух процессов (дГ) разностный импульс имеет достаточно ббльшую длительность М в 2 Г и может быть измерен аппаратурой с временным разрешением д 8 ь.Как видно из предыдущего, длительность измеряемого разностного импульса дС при д 7 7 не несет информации об искомой величине д" . Такая информация может быть получена при измерении относительной амплитуды разностного импульса, которая при этом условии, согласно (1) и (2), прямо пропорциональна4 "о=е-" -(5) Из сказанного следует, что минимально измеримая разность двух временд,определяется не временным разрешением аппаратуры (на которое накладывается значительно более простое требование О), а ее амплитудным разрешением. Поскольку в данном методе используется...

Номер патента: 965473

Опубликовано: 15.10.1982

Авторы: Блохин, Ямпольский

МПК: B01D 37/00

Метки: фильтров, чистоты

...в е си ичем в емкости установлены стабилизатОры течения жидкости, выполненные ра 7. Пластины пред ращ .20 зование в емкости 1 крупномасштабнов виде пластинсти 2 иП П ЙЗВО Ят контроль го вихря кои тРОльнОЙ жидкОсти ир и м е р. Ро з дют ежим обтекачистоты фильтра после очистки его в тем самым стабилизирую рния фильтра 7, Применение в качестультразвуковом поле. В качестве мо- ИИЯ фй ьтрают масло АМГве контрольной жидкости 2 моющего .25Очищенный Фильтр погружают в емкость, состава позволязаполненную маслом АМГ, сообщают ля чистоТы ильтра 7 производить- иему Вращение вокруг оси емкости, приего очистку.Таким образом, при помощи сравниэтом сам фильтр за счет сопротивления жидкости вращается в противоположную сторону вокруг собственной ЗО РОц...

Номер патента: 972313

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Богатырев, Глазов, Дьяконов, Цыганов

МПК: G01N 1/28, G01N 1/44

Метки: образцов, поверхности, стандартных, чистоты

...случае можно пренебречь, так как эта Величина граничит с величиной погрешности изменения, которая при доверительной вероятности 0,95 состав 10 ляет +0,005 мкг/см 7, а также для отжиганецелесообразно использовать температуры выше 300 С. Уже при 300 С концентрация остаточных загрязнений на поверхности становится равной 0,01 мкг/см, т. е.опять-таки граничит с величиной погреш 11 Ставленная цель достигается согласнс 15 ности. Дальнейшее увеличение температусгксобу изготовления стацдартць)х Образцов ры отжига приведет к тому, что величина цис г 1 ты 1 нврхцости, включающему шгруж остаточного загрязнения будет лежать ци пластин в титроваццый раствор загряз- в пределах ошибки опыта и не сможет быть цяющ 1 О вН 1 стив;1 С;.1 Ослсдуюцим мдзц...

Номер патента: 985107

Опубликовано: 30.12.1982

Авторы: Аведов, Горлова, Горовиц, Денисов, Козин, Лысенко, Нечитайло, Никитин, Пароле, Строителев, Фолифоров

МПК: C22B 43/00

Метки: высокой, ртути, чистоты

...ройством 2 электролитического рафинирования. Очищаемая ртуть должа соответствовать по примесям ртути РОД по ГОСТ 4658-73, В устройстве электролитического рафинирования происходит многократное растворение и переосаждение ртути в растворах ртутных солей галогено-водородных кислот. Состав электролитов, их концентрацию и режим электролиза подбирают так, чтобы добиться максимальной очистки .ртути от металлических примесей суммарное содержание металлических примесей после эьлектролиза составляет не более 10 ). После электролитического рафинирования ртуть поступает в емкость 3, откуда подается в промывочные емкости 4, где производится многократная отмывка ртути от следов электролита,в обескислороженном тридистиллате. удаление следов кислорода...

Номер патента: 989418

Опубликовано: 15.01.1983

Авторы: Зубков, Пещенко, Рудой, Сачек

МПК: G01N 25/04

Метки: веществ, органических, чистоты

...чертеже представлено устройство для определения чистоты органических веществ..Ужгоро Устройство состоит из ампулы 1 для анализируемого вещества, датчика 2 температуры, блока 3 плавления, представляющего собой стакан с двойными стенками, образующими зазор для анализируемого вещества, нагревателя 4 и теплоизолирующего кожуха 5.Устройство работает следующим об- разом.В блоке 3 устанавливают ампулу 1 с анализируемым веществом. Между 1 О стенками блока плавления 3 заливают также анализируемое вещество, причем масса вещества в блоке плавления более чем в 10 раз превыаает массу вещества в ампуле 1 и выполняет роль теплового демпфера. Затем охлаждают блок 3 плавления и ампулу 1 до температуры на 5-7 град ниже температуры плавления...

Номер патента: 1019200

Опубликовано: 23.05.1983

Авторы: Балашов, Гимбут, Меланин, Хомицкий

МПК: F27B 7/00

Метки: веществ, вращающаяся, нагревательная, повышенной, термической, чистоты, электропечь

...6 передачи вращения,Камера 2 загрузки состоит из бункера 7, охлаждаемого подшипниковогоузла 8, неподвижных направляющихтруб 9 и 10., расположенных одна в другой со смещенными осями. По наружнойи внутренней поверхности направляющейтрубы 10 размещены коаксиально подающие спирали 11 и 12 с противополож"ной навивкой, соединенные между собой кольцом 13, С наружной подающейспиралью 12 жестко соединен ленточный воровитель 14. Наружная направля"ющая труба 9 снабжена патрубком 15для отсоса паров воды, окном 16 длявыгрузки продукта и кольцом 17.Внутренняя,направляющая труба 10снабжена патрубком 18 для выгрузкиконденсата и патрубком 19 для отсоса газа на дальнейшую утилизацию. . 40Барабан 4 состоит из коаксиальнорасположенных наружной трубы 20...

Номер патента: 1044704

Опубликовано: 30.09.1983

Авторы: Абрамов, Баринов, Батырев, Бодриков, Зарецкий, Мурашко, Чернова

МПК: D21C 9/06

Метки: барабанных, вакуум-фильтрах, массы, промывки, целлюлозной, чистоты

...регулирования промывки, является неустойчивой из-за отсутствия обратной связи,Промываемая целлюлоэная массахарактеризуется такими параметрамикак жесткость, концентрация химикатов в щелоке и его вязкость. Определено, что иэ всех параметровпромываемой массы наиболее весовымпараметром, характеризующим ее свойства, являешься концентрация химикатов в черном щелоке,Цель изобретения - повышение эффективности регулирования,. Поставленная цель достигается тем,что измеряют плотность чернбго щелока в суспензии целлюлозной массы,подаваемой на промывку, и по величине плотности корректируют расходпромывочной жидкости.Эффективность регулирования процесса промывки целлюлозной массы попредлагаемому способу увеличивается с увеличением числа...

Номер патента: 1101475

Опубликовано: 07.07.1984

Автор: Ряхин

МПК: C23C 13/00

Метки: поверхности, подложки, резисторов, тонкопленочных, чистоты

...оценки результата визуального контроля, в связи с чем достоверность получаемых результатов мала. Кроме того, способ неприменим к гидрофобным по верхностям. цветовой окраски чистых и загрязненных участков поверхности.Фиг. 1-4 иллюстрируют достоверность определения чистоты поверхности контрольных подложек согласно предлагаемому способу.П р и м е р. Определение чистоты поверхности проводилось на подложках из керамического материала М, применяемых в производстве основных типов тонкопленочных цилиндрических резисторов: МЛТ, ОМЛТ, С 2-13, С 2-14, С 2-29 В, С 2-36, С 2-50 и др. Керамические подложки специально загрязнялись различными способами для возможности оценки объективности предлагаемого способа.Анализируемые цилиндрические...

Номер патента: 1119099

Опубликовано: 15.10.1984

Авторы: Березин, Романов, Фрончак

МПК: H01J 29/51

Метки: кинескопа, регулировки, трехлучевого, цвета, цветного, чистоты

...лучейкинескопа минимально за счет компенсации магнитного поля внутреннегомагнита магнитным полем внешнегомагнита и, следовательно, перемещение электронных лучей на экране кинескопа минимально, а в идеальном случае равно нулю. Указанная компенсация возможна при ширине внутреннего магнита, составляющей 0,7-0,8,ширины внешнего магнита, так как при.этом усилие магнитного поля за счет меньшего диаметра внутреннего магнитакомпенсируется ослаблением магнитого поля за счет меньшей .ширины внутреннего магнита, В результате в областиэлектронных лучей магнитное поле внутреннего магнита оказывается равным и противоположно направленныммагнитному полю внешнего магнита, арезультирующее магнитное поле близкимк нулю, При ширине внутреннего...

Номер патента: 1128301

Опубликовано: 07.12.1984

Авторы: Фельмецгер, Эрлихсон

МПК: H01H 49/00

Метки: герметизированных, контактных, контактов, магнитоуправляемых, покрытий, чистоты

...2. В процессе коммутации производят измерение переходного электрического сопротивления замкнутых кон О тактов динамически либо периодически, например через каждые (1-3) 10 ф срабатывания. Наличие загрязнений в объеме контактного покрытия определяют по величине переходного сопротив.15 ления: если сопротивление в процессе.коммутации возрастает до значения, превышающего предельно допустимую для данного контакта величину (например, 1 Ом), то делают заключение, 2 б что в объеме контактного покрытия име" ется недопустимое количество загрязнений. Если сопротивление стабильно или его рост ие превышает заданного уровня, то покрытия считают не за грязненными. Для надежного выявления объемных загрязнений контактныхпокрытий, которые в...

Номер патента: 1150634

Опубликовано: 15.04.1985

Автор: Берковская

МПК: G06K 9/58

Метки: объектов, поверхности, цилиндрических, чистоты

...Т/4, внутренняя рас сеивающая поверхность 10 осветителя 6 - угол й/4. Причем эти две поверхности между собой должны составлять угол л/2, При соблюдении этих условий угол падения подсвечивающего из О лучения будет равен углу отражения излучения, несущего информацию об анализируемой поверхности, реализуется квазифокусировка беэ использования специальной оптики. Точность установки поверхности достаточна 3 Ч 100. Сканистор 1 расположен параллельно осветителю 6 в плоскости, составляющей с продольной осью контролируемого объекта угол о. Величина угла д выбирается иэ следующих соображений. Чтобы обеспечить максимальную скорость контроля поверхности, ее необходимо непрерывно перемещать со скоростью Ч мимо апертуры фото- преобразователя, роль...

Номер патента: 1074236

Опубликовано: 30.06.1985

Авторы: Бабина, Забытова, Карабаш, Коротаев, Пинчук, Юдина

МПК: C01D 1/42, G01N 25/14

Метки: анализе, вещества, высокой, концентрирования, чистоты, элементов-примесей

...примесей часто получают значительные объемы растворов (50-200 мл), содержаших частицы 25суспензий, эмульсий, этот способвыпаривания раствора путем подачи его из капельной воронки не исключает потерь анализируемых примесей в результате сорбции и адгезии их ЗОна стенках воронки.Наиболее близким по техническойОстаток после Температура прокаливани рокаливания мас.Е 3 02 3 г,99,5 35 37 100 100 98 00 88,236 2ном избытке, добавление аммиакадля соосаждения элементов примесейс оксихинолинатом галлия, выпаривание и прокаливание остатка при330-370 С до полного удаления оксихинолина.По предлагаемому способу кислыйили нейтральный раствор совместно с угольным порошком добавляют раствор нитрата галлия и уксусно-кислыйраствор 8-оксихинолина при...

Номер патента: 1171870

Опубликовано: 07.08.1985

Авторы: Чупахин, Этингер

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, воды, масс-спектрометрического, особой, степени, чистоты

...примесей, перераспределение примесей между поверхностью и объемом пробы; при низних температурах менее вероятно испарение легколетучих примесей. Следовательно, после сублимации на поверхности оставшейся части пробы сконцентрируются примеси из всего сублимированного объема,Коэффициент, концентрирования равен отношению сублимированного объема к объему, используемому при масс-спектрометрическом анализе. Искровая масс-спектрометрия позволяет при анализе снимать слой пробы толщиной до 10 мкм. Сублимируя часть пробы толщиной 1 см, можно получить коэффициент концентрирования более 1000. Концентрация примесей в объеме пробы всегда в 100 - 1000 раз меньше поверхностной концентрации по всем элементам. Так как подложкой для концентрата примесей...

Номер патента: 1105001

Опубликовано: 23.08.1985

Авторы: Бугров, Карамян

МПК: G01B 15/08

Метки: поверхности, чистоты

...вплотьдо 8 класса,45 точника ионизирующего излучения используют альфа-источник.На чертеже показана схема устройства, реализУющего способ контролячистоты обработки поверхности.С одной стороны от объекта 1 контроля расположены коллимированныеисточник 2, детектор 3 излученияи электронная схема 4 регистрацииобратно-расссеянного поверхностьюизлучения, Угол о падения излучениявыбран в диапазоне 60+10 по отношению к поверхности, угол ф выходаобратно-рассеянного излучения -105 . В качестве источника 2 ионизирующего излучения использован альфа-источникИсточник 2 и детектор3 заключены в корпуса-коллиматоры5 и 6,Способ осуществляется следующимобразом.Альфа-частицы выходят из корпусаколлиматора 5 через фольгу и падают на поверхность объекта...

Номер патента: 1182340

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Дрибин, Зайдман, Костин, Лысиков, Руднев

МПК: G01N 15/06

Метки: гидропривода, жидкости, калибровки, рабочей, устройств, чистоты

...загряз- З 0 нителя 12, Каждый из дозаторов содержит частицы, размер основной Фракции которых составляет в различных дозаторах соответственно 5-10 мкм, 10-25 мкм, 25-50 мкм, 50-100 мкм, свыше 100 мкм, Дозаторы 12 выполнены в виде калиброванных стеклянных трубок, имеющих засыпную горловину 13 и запорный вентиль 14, На боковой поверхности каждой из стеклянных 40 трубок выполнена вертикальная разметка в единицах массы.Установка работает следующим образом.На первом этапе осуществляется 45 очистка рабочей жидкости, находящейся в емкости 1. Рабочая жидкость из емкости 1 насосом 2 подается в центробежный очиститель 9, при этом открыт вентиль 5, а вентили 3, 4 и 50 6 закрыты, Далее производится контроль загрязненности очищенной...

Номер патента: 1211535

Опубликовано: 15.02.1986

Авторы: Давтян, Жильцов

МПК: F24F 11/04

Метки: воздуха, группе, давления, избыточного, помещений, различным, уровнем, чистоты

...ветрового давления, выход которбго соединенс блоком 2 управления электровентилятором 3, установленным в помещении4 с низким уровнем чистоты, Одновременно выход преобразователя 1 подключен к первому вхоцу суммирующегоусилителя 5, второй вход которогочерез разделительный диод б соединен с выходом вычитающего усилителя 7. К первому и второму входамусилителя 7 подключены соответственнодатчики 8 и 9 температуры воздуха впомещении 4 с низким уровнем чистотыи помещении 10 с более. высоким уровнем чистоты. Выход суммирующего усилителя 5 соединен с входом блока 11управления электровентилятором 12 впомещении 10,В номещении 13 с более высокимпо отношению к помещению 10 уровнемчистоты расположен датчик 14 температуры, выход которого подключен...

Номер патента: 1271386

Опубликовано: 15.11.1986

Автор: Джозеф

МПК: H04N 9/29

Метки: кинескопа, компланарным, магнита, намагничивающее, прожекторов, расположением, трех, цвета, цветного, чистоты, электронных

...оболочки 4 установлен корпус 6 (фиг. 2) в виде, кольцаиз немагнитного материала, по внутренней поверхности которого в азимутальном направлении размещены четыре проводника 7-10. Прокладки 11и 12 отделяют проводники 7 и 8 отпроводников 9 и 10. Соединительныепровода 13 и 14 соединяют между собой концы проводников 7 и 1 О, 8 и 9соответственно, Внешние концы проводников 7 и 8 связаны соединительнымпроводом 15, а внешние концы проводников 9 и 10 подсоединены к выводнымпроводам 16 и 17, которые могут бытьподключены к источнику намагничивающего тока, задающему режимы намагничивания. При указанных связях междупроводниками образуются два вытянутыхтокопроводящих витка 18 и 19 (Фиг. 3), 55концы 20-23 которых образованы проводами 13-17....

Номер патента: 1276981

Опубликовано: 15.12.1986

Авторы: Дубасова, Ксенжек, Максюта, Никольский, Райхельсон, Шембель

МПК: G01N 27/48

Метки: источников, растворителей, чистоты, электролитах

...пропиленкарбоната (ПК) впроцессе его вакуумной перегонки.Предварительно ПК выдерживают в течение нескольких суток над молекулярными ситами СаА или ИаА, которые перед этим прокаливают в муфеле прио500 С 8 ч. Перегонку ПК проводят подвакуумом, давление 4 мм ртст., темоопература куба -95 С, паров - 91 С,Ячейку для снятия вольтдинамическихкривых монтируют в схему перегонки.Развертку напряжения со скоростью500 мВ/с задают от полярографа ППТ на два платиновых электрода, впаянных в ячейку. Вольтамперные 1-11 кривые записываются на двухкоординатноммиллиамперметре Нс усилителемФ 359. В процессе перегонки растворчерез специальный пробоотборник(кран) поступает отдельными порциямив ячейку и после снятия показанийсливается в сборную колбу....

Номер патента: 1285356

Опубликовано: 23.01.1987

Авторы: Дрибин, Зайдман, Костин, Лысиков, Руднев

МПК: G01N 15/06

Метки: гидропривода, жидкости, рабочей, чистоты

...гранулометрический состав частиц в рабочей жидкости.Цель изобретения - повышение точности контроля рабочей жидкости гидропривода.Цель достигается тем, что в устройстведля контроля чистоты рабочей жидкости гидропривода, содержащем подвижный и неподвижный элементы трения, между которыми находится исследуемая жидкость и датчик с индикатором, подвижный элемент трения выполнен в виде горизонтально расположенного стакана, дно которого связано свалом электродвигателя, а противоположныйконец через муфту соединен с трубопроводом исследуемой гидросистемы, неподвижный элемент трения выполнен в виде коаксиального цилиндра большего диаметра относительно подвижного элемента трения,снабженного на торцах уплотнения, причем 5 10 15 20 25 30 35 40 45...

Номер патента: 1363322

Опубликовано: 30.12.1987

Авторы: Гольдберг, Рахманов

МПК: G05B 23/02, H01H 49/00

Метки: контактов, реле, чистоты, электромагнитного

...выводы для подключения об-мотки контролируемого реле, источникпитания, два нагрузочных резистора,з1363 является непрерывная последовательность импульсов, поступающая на вход четырехвходового логического элемента 2-2 ИИЛИ-НЕ 19 на второй вход5 которого с блока 17 управления подается сигнал "1", разрешающий контроль размыкающего контакта проверяемого реле.С выхода четырехвходового логичес кого элемента 2-2 ИИЛИ-НЕ 19 непрерывная последовательность импульсов поступает на вход счетчика 20; запол - няя его до прихода импульсов сброса, а с его выхода - на вход индикатора 21 брака контакта, обеспечивая срабатывание индикатора брака проверяемого реле.Когда обмотка проверяемого реле находится под током, то размыкающий контакт размыкается, а...