Патенты с меткой «элементов-примесей»

Номер патента: 1074236

Опубликовано: 30.06.1985

Авторы: Бабина, Забытова, Карабаш, Коротаев, Пинчук, Юдина

МПК: C01D 1/42, G01N 25/14

Метки: анализе, вещества, высокой, концентрирования, чистоты, элементов-примесей

...примесей часто получают значительные объемы растворов (50-200 мл), содержаших частицы 25суспензий, эмульсий, этот способвыпаривания раствора путем подачи его из капельной воронки не исключает потерь анализируемых примесей в результате сорбции и адгезии их ЗОна стенках воронки.Наиболее близким по техническойОстаток после Температура прокаливани рокаливания мас.Е 3 02 3 г,99,5 35 37 100 100 98 00 88,236 2ном избытке, добавление аммиакадля соосаждения элементов примесейс оксихинолинатом галлия, выпаривание и прокаливание остатка при330-370 С до полного удаления оксихинолина.По предлагаемому способу кислыйили нейтральный раствор совместно с угольным порошком добавляют раствор нитрата галлия и уксусно-кислыйраствор 8-оксихинолина при...

Номер патента: 1633319

Опубликовано: 07.03.1991

Авторы: Галактионов, Шилоносов

МПК: G01N 1/28

Метки: анализа, лазерного, материалах, микроспектрального, образцов, приготовления, природных, стандартных, твердых, элементов-примесей

...образцов, включающем подбор природного ма 1 эриала, аналогичного исследуемому и свободного от определяемых примесей. и введение примесей, примесь наносят на поверхность материала. 2 табл. глубины взаимодействия лазерного импульса с поверхностью образца) и не вносящим существенных изменений в условия взаимодействия, Измеряя толщину нанесенного слоя, диаметр и обьем кратера, образовавшегося в результате взаимодействия лазерного импульса с поверхностью образца, рассчитывают процентное содержание определяемого элемента в продуктах лазерной эрозии, Рассчитанные концентрации затем используют для построения градуировочных графиков,П р и м е р . Изготовление стандартных образцов для лазерного микроспектрального анализа никеля в пиритах....