Патенты с меткой «микроскопов»

Номер патента: 33654

Опубликовано: 31.12.1933

Автор: Захаров

МПК: C03B 11/08

Метки: других, линз, микроскопов, объективов, оптических, пресс

...11, 11, пропускают сжатый газ аргон или СО. После продувания, не отнимая коробки 70, зажимают матрицы до величины, отсчитанной ранее на шкале Ы Затем, пустив в ход охладители 7 и 8 с помощью бунзеновской горелки 1 б с веерным пламенем, начинают накаливать место с шариком 20. Делая легкий нажим рукой на диск 2 в процессе нагрева, можно по отсчету уловить момент сжатия размягченного Iстекла и заполнения им поверхностиобеих матриц, Не давая окончательно расплавиться стеклу, удаляют пламя горелки и, проверив правильность показания шкалы, ждут момента почти полного остывания матриц, По остывании последних снимают цилиндрик 12 с содержимым и переносят его к токарному станку, на котором при помощи резца, зажав цилиндрик в. специальный...

Номер патента: 40859

Опубликовано: 31.12.1934

Автор: Максутов

МПК: G02B 21/04

Метки: апертуры, высокой, микроскопов, объектив

...ниже апертуры центрального экранирования, - дает возможность получить ультрамикроскоп высокой апертуры в крайне простом и изящном виде и без особых осветителей темного поля, так как Данный объектив, в зависимости от апертуры конденсора, регулируемой диафрагмой, всегда приспособлен к работе и как объектив микроскопический и как объектив ультрамикроскопический,На чертеже фиг. 1 - 4 изображают схемы хода лучей в различных вариантах устройства предлагаемого объектива.На схеме хода лучей, изображенной на фиг. 1, литера 5, обозначает светящуюся точку, а 5 г - ее изображение, Центр кривизны поверхности совпадает с точкой 5 а поверхности П - с точкой 5 Г 1 оверхность Ц - в данном случае эллипсоид вращения, весьма близкий к параболоиду. В...

Номер патента: 74547

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Янчевский

МПК: H01J 29/62, H01J 37/26

Метки: линза, микроскопов, электронных, электростатическая

...выполне,ние.Первый по пути электронного луча электрод линзы выполнен плоским по всей его поверхuостн, а второй и третий электроды имеют плоские части, параллельные в области прохождения электронного луча плоскости первого электрода. Такая конструкция позволяет легко располагать исследуемый объект на поверхности первого электрода, так как фокальная плоскость линз оказывается вынесенной за ее пределы.Конструктивное выполнение изобретения,поясняется прилагаемым чертежом, где фокальная плоскость отмечена буквой Р. Преимуществом предлагаемой электростатической линзы является меньший вес и объем ее по сравнению с ранее известными, а также простота ее изготовления, так как изолятор среднего электрода имеет форму простого гладкого цилиндра,...

Номер патента: 91875

Опубликовано: 01.01.1951

Автор: Бурмистров

МПК: G01M 11/02, G01N 21/41, G02B 21/14 ...

Метки: испытательные, микроскопов, тесты

...хрома, коцдецсироваРРого и вакууме ш фоОГ 3)дфпЧСС 1(ИС Ц;ООРЯЖСЦИЯ 1 ССОВ Цс ХРОМ ИРОВЯПП 1 Х СЛ 05 Х Ко;1. гОИ,ОБ 13;Смол., рУГс слои ( воск и рдзлицыс Грмпт 11) цри цсОбхо,Тимох ллитсги цом травлении и осооенцо выцслачивди осгаот от с.кла, 3 1 остепеццым опускаисм Б кСлоту фазового клип;1 пс и)лу чаются 3 з-зд действия капиллярных сцл ца смдч 133 схост, сгеклд в х ких 1 ромсжугкх (е)к (у птр 1 хя 13. ) )р 3 с 3 елль,.,л 51 пог 31 р(13.13 ии фдзоОГО кли 133 т 11)к( цс Го )5 1 С 51 пз.зд пслосттоГН 01 их твеРДОСТ 1.11 Г) с л м с т п 3 0 б р с т с и и 511. И(п 1 т(;ццье (.с 1;л 5 коптрол 51и к Г)оско 0, ы пол псцв иыс и Би;с системы штрихов, цацсссццых ца прозра цуо основу и рясполо)ксцньх рупца.1 и 0 чсть 11)см ияправлениям к...

Номер патента: 93227

Опубликовано: 01.01.1952

Автор: Сушкин

МПК: H01J 29/66, H01J 37/26

Метки: корпускулярных, линза, лучей, магнитная, микроскопов, наконечниками, перемещающимися, полюсными, преимущественно, протонных, фокусировки, электронных

...Юле, ооразуемое на оси линзы в области немагнитного зазора 3, является фокусирующей оптикой микроскопа. Для получения короткофокусной линзы при большой скорости электронов внутрь линзы помещен полюсный наконечник 4 пз материала, обладаОщего большим магнитным нас;ыщением.Ввиду ТОГО что магп 1 Г 1 Ос поле создастся только в области немагнитного зазора полк 1 сцого наконечника 4, сремещать вск 1 линзу це ооязатсльно, а достаточно осуществить перемещение только одного по,юсцсчс 1 яссИсячника. Для выполнения этого внешний диаметр полюсного наконечника 4 сделан меньше иутреннего диаметра панцыря 2 ,инзы. Немагнитный зазор полюсного наконечника также меньше пемагцитпого зазора 3 панцыря.Верхняя часть полюсного наконечника имеет фланец 5,...

Номер патента: 97185

Опубликовано: 01.01.1954

Автор: Назаров

МПК: G01B 9/04, G05D 3/00

Метки: вертикальное, измерительных, микроскопов, положение, установки

...положение с больп;ец топ 10 стью, Суцность способа заключается в том, что на объектив микроскопа в его Оптическом центре наносят метку (крест), изображенце которой, отраженное от искусственного горизонта на плоскость сетки микроскопа, созмещают с центром- сетки (центром- поля зрения),Для установки микроскопа в вертикально.; положсцц: перед ним устанавливается искусственньш горизон г тяк, чтобы его Отражающая поверхность находилясь на половине поедметного расстояния микроскопа, В этом случае отражение креста на объективе будет видно в плоскости сетки микроскопа. Из 1 рилагаемого чертежа видно, что если визирная ось, проходящая через середину сетки О (центр поля зрения) и центр объектива О, не бу97185 дет Вертикальп 1 )О из 001 ажение...

Номер патента: 113433

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Драганов

МПК: G02B 1/10, G02B 21/02

Метки: аноптральных, микроскопов, объективов

...например меди, пропускающего коротковолновую часть видимого спектра.Пленка металла беззерниста и не рассеивает проходящий свет. Такие металлы как медь (и ряд других: золото, серебро) в тонком слое пропускают только коротковолновую часть спектра (зеленые и синие лучи), что улучшает разрешающую способность объектива, Толшина пленки (а также степень уменьшения яркости нулевого максимума), от которой зависит контраст, легко регулируется количеством металла, длительностью испарения или изменением расстояния линзы от испарителя.Для нанесения металла могут быть использованы известные ваку. умиспарительные установки, например, применяемые для напылеКомитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Отв. редактор Л. Г....

Номер патента: 114630

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Курт, Эбергард

МПК: H01J 29/56, H01J 37/26

Метки: аксиальный, аппаратов, астигматизм, компенсирующих, микроскопов, напряжений, отклоняющей, подачи, системы, электроды, электронно-оптической, электронных

...устройства; на фиг. 2 - схема того же устройства, обеспечивающая получение предела регулирования в 180 а; на фиг. 3 - схематическое положение рукояток регуляторов.Требуемое для компенсирующего астигматизма устройства постоянное напряжение снимается с зажимов 1 и 2 и подается для регулировки амплитуды на потенциометр 3. Напряжение Уа, снимаемое с этого потенциометра, подается на два последовательно соединенных моста, состоящих из сопротивлений 4, б, б и 7, 8, 9 соответственно, причем сопротивления б и 9 выполнены регулируемыми. Ползуны этих двух сопротивлений, регулируемых совместно, заземлены. С концов регулируемых сопротивлений б и 9 и заземления снимаются напряжения У У 2 и - У - У, служащие для установки компенсирующего устройства....

Номер патента: 125851

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Почтарев

МПК: H01J 37/26

Метки: камера, микроскопов, объектов, электронных

...Положительный электрод 1, изолированный от земли изолятором 2, укреплен в оправе 3, фиксируемой винтами 4 после центровки электрода относительно оптической оси микроскопа, Внутри электрода размещен подвижной столик б, который может перемещаться при помощи изолирующих толкателей, управляемых снаружи, во взаимно-перпендикулярных направлениях для пересмотра объекта. Объект 6 устанавливается в коническое гнездо объектодержателя 7, расположенного в подвижном столике б, Для смены объекта штанга-толкатель 8 подводится к ооъектодержателю 7 и сцепляется с ним замком 9, После сцепления штангу-толкатель двигают вперед до тех пор, пока объектодержатель не войдет в гильзу 10 до упора, Гильза 10 вместе с объектом выводится из камеры через шлюз....

Номер патента: 127469

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Малин

МПК: G01B 9/00

Метки: микроскопов, нитей, отсчетных, скрещенных, труб, ускоренной, установки

...встрсчцыми стрелками г), г)1, 6 и )1, раскрашиваемыми для каждой половины экрана в разные цвета ,что на гертежс условно изображено сплошными и пунктирцыми линиями ).,гКС- латсльно также окрасить в соответствуошис цвста рамки отражательных зеркал.После установки шкал на место на них Надевают вырсзами 4 экран ), располагая его в плоскости шкал и закрепляя на горизонтальиои траверсе отсчстных труб.После наведения известным способом отсчетной трубы иа цель, т. с. Иа свое зеркало (в рамке соответствующего цвета), необходимо в иоле зрения роы цаВести ца фокус 1 ако 1-лиоо участок экра 1. ПриРе 1274 б 9 Предмет изобретения Способ ускоренной установки скрсц 1 снцых нитей отсчстцых оптических труб, например, зеркального прибора Мартснса, о т л и...

Номер патента: 168493

Опубликовано: 01.01.1965

Автор: Гютер

МПК: G02B 21/00, G02B 21/24, G02B 27/40 ...

Метки: грубой, механизм, микроскопов, наводки, оптических, преимущественно, приборов, точной

...вращения ше стерни 4, служащей для грубой наводки, Шестерня 4 находится в зацеплении с зубчатой рейкой б, установленной параллельно направляющей с шарикоподшипниками 3 и перемещаемой в салазках 2 вдоль этого направ ления. Зубчатая рейка 5 опирается ножкой 6на зубчатый сектор 7, закрепленный на поворотном рычаге 8 и находящийся в зацеплении с шестерней 9, вращающейся вокруг неподвижной относительно прибора оси 10, Шестер ня 9 служит для точной наводки. Она привоЗаказ 156/14 Тирагк 575 Формат бум 60 Х 90 ЧЗ Сбт еги 0,21 пзд. л. Еепа 5 коп. Ц 11 ИИГ 1 И Государственного комитета по делам изобретений и открыпш СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4Типография, пр, Сапунова, 2 дится во вращение валом П приспособления для точной установки через...

Номер патента: 523375

Опубликовано: 30.07.1976

Авторы: Иванова, Макарова

МПК: G02B 21/08

Метки: апланатический, ахроматический, конденсор, микроскопов

...К точности изготовления параболической поверхности не предъявляются повышенные требования - допуск на отклонение направления нормали к поверхности от теоретического равен 13. Второй,компонент 2 выполнен в виде отрицательного двухсклеенного мениска, обращенного 1 п вогнутостью к третьему компоненту 3. Мениск склеен из двояковыпуклой линзы 4 и двояковогнутой линзы 5, составленных из стекол с различными коэффициентами дисперсии и показателями преломления, различаю д щимися менее, чем на 0,1 для основной длины волны .=589,3 мкм. Оптическая сила мениска по модулю равна 0,25 - 0,5 оптической силы всего конденсора. Для обеспечения действительного положения передней фокальной плоскости конденсора и телецентрического хода главного...

Номер патента: 1094010

Опубликовано: 23.05.1984

Автор: Гроссер

МПК: G02B 21/06

Метки: микроскопов, осветительное

...осветительный канал для меньших апертур освещающего пучка.Таким образом, кроме одноканального вращательно-симметричного направления лучей одновременно могут действовать два различных канала для освещения объекта. На фиг. 1 изображено осветительное устройство для отраженного света; на фиг. 2 - то же, для проходящего света; на Фиг, 3 - то же, для проходящего света с усеченным конусом на фиг. 4. - то же, для проходяЭ40 щего света с защитным стеклом.Согласно фиг. 1 эа коллектором 2, следующим за источником 1 света, расположена система для повышения апертуры - включаемая и выключаемая короткофокусная положительная линза15 3. Положительная линза 3 при помощи передачи 4 подвижна вдоль оптической оси 20, диаметр линзы соответствует пучку...

Номер патента: 1428970

Опубликовано: 07.10.1988

Авторы: Андреев, Егунов, Никулин, Окишев

МПК: G01M 11/00

Метки: аберраций, микроскопов, окуляров, продольных

...оптической осью объектива 2. Расстояние . между центромпризмы-куба 6 и отражающей поверх -ностью зеркала 7 равно расстояниюмежду входным и выходным зрачкамиустанавливаемого между ними на контроле окуляра 1. Последний устанавливается так, что центр его входногозрачка совпадает с центром призмкуба 6, а выходной зрачок совпадаетс отражающей поверхностью зеркала 7.Основание 5 имеет возможность поворота вокруг оси РР , проходящей черезцентр призмы-куба 6 и взаимно перпендикулярной оптической оси объектива2 и оси дополнительного канала, в котором расположено анализирующее устройство 8,Устройство работает следующим образом.Объектив 2 формирует сходящийсяпучок световых лучей от марки 4, освещенной осветителем 3, образуяизображение марки 4 в...

Номер патента: 1597668

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Агеев, Блоха, Климовицкий, Милославский, Северин

МПК: G01N 1/28

Метки: градуировки, меры, микроскопов, приготовления, проверки, разрешающей, способности, тест-объекта, увеличения, штриховой, электронных

...объект можно использовать для щ проверки разрешающей способности прибора, оценив размер частичек или промежутков между ними по известному прокалиброванному значению увеличения микроскопа. П р и м е р. Использовалась равнобедренная прямоугольная призма иэ стекла Тфс показателем преломления п=1,78 и газовый лазер с длиной волны Л, =441,6 нм. Измеренный азотным газовым лазером с длиной волны Л=337 нм период сформированной решетки составил 175 .нм, что практически совпапо с расчетным значением по указайной формуле. формул а и з о бр ет енияСпособ приготовления штриховой меры тест-объекта для градуировки увеличения и проверки разрешающей способнос-ти электронных микроскопов, включающий нанесение светочувствительного слоя на подложку из...

Номер патента: 1597669

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Гурина, Календин, Климовицкий, Морозова, Северин

МПК: G01N 1/28, G01N 23/225

Метки: виде, градуировки, меры, микроскопов, приготовления, тест-объекта, увеличения, штриховой, электронных

...вешества от точечного источника испаренияпод углом, близким к углу 9 , Этообеспечивается определенным расположением точечного источника, установленного на расстоянии от поверхностирешетки, равном 1 = а . сСдф.При этом на меньшей грани зуба,на которую впоследствии наносится 15оттеняющий слой, обуславливающий качество и периодичность структуры,происходит сглаживание рельефа имикронеровностей кромки зуба, выз"ванных механическими деформациямии повреждениями в процессе нарезания зуба на поверхности стекла.Одновременно нанесенный промежуточныйслой исключает искажение периодичности, связанное с механическими деформациями реплики в процессе ее отделения,20 П р и м е р. На очищенную дифракционную решетку из точечного источЗО ника испарения...

Номер патента: 1631341

Опубликовано: 28.02.1991

Авторы: Герловин, Левина

МПК: G01M 11/02

Метки: микроскопов, образца

...кому прибор польэовано и микрообъе жения, Цель НОМУ С 8 ИДЕТЕЛЬСТ качества образца путем повышения однородности распределениячастиц латек са по поверхности образца. Цель достигается тем, что в способе изготовления образца для контроля микроскопов, включающем нанесение на стеклян ную подложку водной суспенэии латекса, высушивание суспензии, нанесение на подложку слоя алюминия толщиной 30-100 нм путем его испарения в ваку уме с последующим удалением" частиц пу тем протирания, перед нанесением водной суспензии латекса на подложку наносят слой двуокиси кремния толщиной 50-300 нм путем ее испарения в вакууме с последующим охлаждением подложки до температуры 0-10 С, а высушивание проводят при температуре 5"10 С. Наносят на подложку поверх...

Номер патента: 1684615

Опубликовано: 15.10.1991

Авторы: Агеев, Блоха, Климовицкий, Милославский, Северин

МПК: G01N 1/28, G01N 23/225

Метки: калибровки, меры, микроскопов, приготовления, увеличения, штриховой, электронных

...2 п зи рогде и - показатель преломления стекла,рь - угол при вершине призмы, Механизм светочувствительности тонких пленок Ао основан на обратимом фото- лизе, в процессе которого под действием интерференционного светового погя происходит, перенос массы из максимумов в минимумы интерференции. При этом другой особенностью этих пленок является то, что помимо голографической решетки образуется самозарождающаяся дополнительная решетка со штрихами, параллельными плоскости падения и периодомб 2=п созуЬПоявление этой решетки связано с взаимодействием падающей волны с поверхностными волнами, рассеянными пленкой. При больших углах падения (уЪ50) инкремент роста дополнительной решетки значительно превышает инкремент для других возможных...

Номер патента: 1663999

Опубликовано: 20.01.1996

Авторы: Иноземцев, Куликов, Федорец

МПК: G01B 11/00

Метки: мера, микроскопов, поверки, позиционирования, систем, увеличения

...тотная характеристика; на фиг, 3 дана структурная схема подключения меры,Мера представляет собой систему параллельных металлических полос 1, соединенных с шестью контактными площадками 15 2, 3, 4, причем средние полосы 1 соединены с верхней и нижней контактной площадкой 3.Остальные металлические полосы обаединены попарно и подсоединены соответственно к контактным площадкам 2 и 4. 20 Формула изобретения МЕРА ДЛЯ ПОВЕРКИ УВЕЛИЧЕНИЯ И СИСТЕМ ПОЗИЦИОНИРОВАНИЯ МИКРОСКОПОВ, содержащая пьезоэлектрическую подложку. на поверхности которой нанесен ряд параллельных металлических полос, и ри этом полосы, расположенные на периферийных участках, поочередно соединены с контактными площадками, образуя преобразователи возбуждения акустических волн и...