G01R 31/303 — интегральных схем
Устройство для контроля больших интегральных схем
Номер патента: 1348835
Опубликовано: 30.10.1987
Автор: Гаврилов
МПК: G01R 31/303
Метки: больших, интегральных, схем
...блока 7 памяти через регистр 8. Появление этого сигнала на выходе регистра 8 вызывает наращивание счетчика 4 через формирователь 10 импульсов, производится запрос блока б памяти через формирователь 11 импульсов, перепись выбранной информации иэ блока 6 памяти в счетчик 5 по сигналу с формирователя 12. Формирователи 10-12 предназначены для организации последовательности этих действий.Таким образом, осуществляется переход на любой адрес тестов, хранимых в блоке 7 памяти. Отличительной особенностью предлагаемого устройства является возможность различать переходы на любой адрес блоков 7 памяти в зависимости от номера такта работы устройства.Вход в один и тот же цикл тестов возможен из любого адреса блоков 7 памяти, а также выход из каждого...
Устройство контроля интегральных схем
Номер патента: 1370634
Опубликовано: 30.01.1988
Авторы: Гаврилов, Новикова, Ширвинская
МПК: G01R 31/303
Метки: интегральных, схем
...с разных выходов генератора 46 тактовых импульсов на ре гистр 17 и на элементы И 25 и 24 по отношению к тактам на счетчике 6. В счетчик 9 записывается в исходном состоянии из блока 10 памяти величина допустимой роны разброса поро гов (Б, - Б, ) многоканального компаратора 21, а затем в момент перехода Б записывается величина (Б- Б ). Через элемент И 31 начинают поступать импульсы в моменты от сутствия годности и отсутствия одновременно всех браков по всем каналам с элемента РАВНОЗНАЧНОСТЬ 35 через элемент НЕ 32, В случае превыше ния реальной зоны рабросов порогов многоканального компаратора 21 над нормой происходит переполнение счетчика 9 и триггер 45 фиксирует этот вид брака. Такой вид проверки нужен для тех случаев, когда...
Устройство для контроля выводов больших интегральных схем
Номер патента: 1381513
Опубликовано: 15.03.1988
Авторы: Могутин, Сперанский, Тимонькин, Ткаченко, Улитенко, Харченко
МПК: G01R 31/303, G06F 11/22
Метки: больших, выводов, интегральных, схем
...вход мультиплексора, а мультиплексор 8 соединяет информационный вход группы 9 элементов И с вторым выходом демультиплексора. Таким образом, выводи модуля соответ 20 ствующие его выходам, оказнвавтся соединенными с его выводами, соответствувщим его входам.Нулевой контрольный код,формируемый триггером 6 управления, через коммутатор 2, демультиплексор 7 и мультиплексор 8, проходя через выводы модуля, поступает на информационный вход элемента 2 И-ИЛИ 1. Если в коде, поступавщем на информационный вход элемента 2 И-ИЛИ 1 присутствует30 хотя бн одна единица (что соответствует наличии хотя бн одной неисправности типа "константа 1" или обрыв) то на его выходе присутствует нуль и последовательность тактовых импуль- сов, формируемых генератором 4...
Устройство контроля контактирования интегральных схем
Номер патента: 1383231
Опубликовано: 23.03.1988
Авторы: Баранов, Барановский, Романенков
МПК: G01R 31/303
Метки: интегральных, контактирования, схем
...один вывод подключенияпитания ИС соединен с выходом источника 3 напряжения. 40Устройство работает следующим обРазом,В исходном состоянии при отсутствии контакта между зондами блока 2зондов и выводами ИС 1 датчики 4 потенциала открыты, напряжение на инверсных входах управляемых компараторов 6 превышает напряжение на прямыхвходах, поступающее с блока 5 опорных напряжений, поэтому выходы управляемых компараторов 6 находятся всостоянии логического нуля.После опускания зондов блока 2зсндов на выводы ИС 1 на вывод подкл:ючения питания ИС 1 поступает потенциал источника 3 напряжения. В результате этого на выводах ИС 1 устанавливается потенциал, соответствующий напряжению источника 3 напряжения. При наличии контакта между зондами и выводами...
Устройство для контроля параметров линейных интегральных схем
Номер патента: 1397859
Опубликовано: 23.05.1988
Авторы: Адарюков, Малков, Негребецкий, Пашков, Стадченко
МПК: G01R 31/303
Метки: интегральных, линейных, параметров, схем
...счетчика 15. Пусть (у- г, )О, тоГда импульсы с генератора 14 через переключатель 13 будут поступать на прямой вход счетчика 15 и код И в нем буде г увеличиваться. Соответственно коду И коэффициент ослабленияаттенюатора 8 увеличивается до тех пор, пока значение у, выходного сигнала детектора 1 О не превысит значение г о источника 7 опорного напряжения. После этого блок 11 установит переключатель 13 в состояние, при котором импульсы с генератора 14 будут поступать на инверсный вход счетчика 15, и код И в нем и соответственно коэффициент ослабления 1 , аттенюатора 8 будут уменьшаться до тех пор, пока значение ус не стаС нет меньше знаяпня г и т,д, В результате нескольких чередующихся циклов увеличения и уменьшения коэффициент ослабления...
Устройство контроля интегральных схем
Номер патента: 1430914
Опубликовано: 15.10.1988
МПК: G01R 31/02, G01R 31/303
Метки: интегральных, схем
...генератора 8 тока. Значение напряжения программируемого источника 6 напряжения равно0". Ток и нулевой потенциал поступают на два соответствующих вывода объекта 10 контроля, Выбор вывода объекта 10 контроля определяется информацией с блока 1 памяти. При наличииконтакта с выводом объекта 10 контроля через его входной диод протекает ток, который создает падение напряжения, фиксируемое измерителем 9.Компараторы измерителя 9 сравниваютуровень входного напряжения с двумяопорными напряжениями, задаваемымипрограммируемым источником 6 напряжений. Превышение входным напряжениемнормы соответствует браку, которыйфиксируется с выхода соответствующего компаратора измерителя 9 через,элемент ИЛИ 23 и элемент И 26 натриггере 15 в момент появления...
Устройство для измерения теплового сопротивления интегральных схем
Номер патента: 1456919
Опубликовано: 07.02.1989
Авторы: Кромин, Мадера, Резников
МПК: G01R 27/00, G01R 31/303
Метки: интегральных, сопротивления, схем, теплового
...цепи предустановки счетчика 13 и цепи записи "1" при начальной установке регистра 12.Генератор 11 тактовых импульсов формирует последовательность импульсов положительной полярности. Скважность этих импульсов равна скважности импульсов, представленной на диаграммах а и Ь(фиг. 2). Генератор 1.1тактовых импульсов определяет периодподачи напряжения питания на измеряемую интегральную схему 7. Ширинаимпульсов положительной полярностиопределяет время подачи на интегральную схему 7 напряжения источника 1напряжения. В начальный момент времени после нажатия кнопки 21 на выходегенератора 11 тактовых импульсов появляется логический "О", поэтомубуферные вентили 22, 1-22.М закрытыи источник 1 напряжения формирует нулевое значение питающего...
Способ контроля качества интегральных схем
Номер патента: 1458842
Опубликовано: 15.02.1989
Авторы: Знаменская, Малков, Нуров, Петров, Черенков
МПК: G01R 31/303
Метки: интегральных, качества, схем
...и, соответственно, проявляется в большем отклонении щ-параметра, целесообразно принять решение о выборе по меньшей мере одной цепи и нескольких значений измерительного тока, характеризуемых максимальными отклонениями ш-параметра от типового значения, Выбор нескольких значений тока и отказ от контроля непрерывной щ-ха" рактеристики в полном диапазоне токов упрощает процесс контроля. Повышение достоверности контроля дости гается за счет выбора в качестве информативных тех цепей, в которых отклонение ш-параметра у отказавших интегральных схем максимально, В отличие от известного способа, при котором выбираются цепи с наиболее часто встречающимися аномалиями, в предложенном способе может быть выбрана цепь с редко встречающимися...
Устройство для контроля контактирования интегральных схем
Номер патента: 1483411
Опубликовано: 30.05.1989
Авторы: Дворкин, Жигачев, Оркин, Паремский
МПК: G01R 31/04, G01R 31/303
Метки: интегральных, контактирования, схем
...БИС 1.Поскольку на Я-выходе Ю-триггера 13 при отрицательном импульсе с формирователя 10 устанавливается 0, а элемент НЕ 14 выполнен по схеме с общим коллектором закрыт, конденсатор 8 не разряжается через резистор 17 на элемент НЕ 4 и не заряжается от этого элемента, а заряд конденсатора 18 зависит только от потенциала ца контактном элементе 23.Протекание тока по цепи: + источника 24 - вывод 3 - вывод питания Е выходного буферного элемента 9 - вход буферного логического элемента 9 - выход базового логического элемента Йл - вывод 2, обусловлено следующими прцчина ми. 11 апример, пусть в качестве элементов 9 и 8. использованы элементы типа 1 Т, 1 Ш.оскольку установочный тест на БИС 1 е подается, базовый логический элемент 8 можс; быть...
Устройство для подключения интегральных схем и цифровых блоков к контрольно-испытательной аппаратуре с контролем контактирования
Номер патента: 1500954
Опубликовано: 15.08.1989
МПК: G01R 31/02, G01R 31/303
Метки: аппаратуре, блоков, интегральных, контактирования, контролем, контрольно-испытательной, подключения, схем, цифровых
...поступает на резисторы 5.1-5.ш, служащие для ограничения тока через р - и-переходы; а также на входы компараторов 7.1-7,ш. С помощью соответствующего выбора величины опорного напряжения 11 О на компараторах 7,1-7,ш поступившие на их входы сигналы идентифицируются как логические "1", которые с выходов компараторов 7.1-7.ш поступают на входы элемента И 8, вырабатывающего на своем выходе сигнал логической "1", переводящий КБ-триггер 9 в нулевое состояние, что свидетельствует об отсутствии неконтактирования. При этом устройство с помощью переключателей 2.1-2,ш подключает контропьноиспытательную аппаратуру 14 к микросхеме 13 для проведения контропя,Устройство для подключения интегральных схем и цифровых блоков к...
Устройство для измерения электрических параметров интегральных микросхем
Номер патента: 1504633
Опубликовано: 30.08.1989
Авторы: Соловьев, Чубаров, Шклюдов
МПК: G01R 31/303
Метки: интегральных, микросхем, параметров, электрических
...определить точное значениенапряжения на выходе измерительногоусилителя 1, а следовательно, и величину тока в нагрузке 1, В случае,когда нет необходимости определятьточное значение 1, можно ограничиться информацией о нахождении величины 1 в заданном интервале, например, ниже какого-либо предела, определяемого величинами сопротивлениярезисторов Кж и Ки компаратора 9величиной опорного напряжения Писточника 10,В режиме пЗадание тока, измерение 1 янапряжения" в цепь отрицательной обратной связи измерительного усилителя с помощью блока 4.включаютсяповторитель 7 и блок 6 вычитания, Вэтом случае напряжение на входе обратной связи усилителя 1 также долж+но быть равно напряжению на его задающем входе. При этом на вход обратной связи...
Устройство для автоматического контроля больших интегральных схем
Номер патента: 1529220
Опубликовано: 15.12.1989
Авторы: Бургасов, Каре, Краснова, Максимов, Мальшин, Метелкина, Пешков, Рейнберг, Чунаев, Ярославцев
МПК: G01R 31/303, G06F 11/263
Метки: больших, интегральных, схем
...может быть выполнен в виде 12-разрядного устройства для запоминания текущего цифрового кода уровня, 35 связанного с ним цифровыми входами 12 разрядного ЦАП и выходного сглаживающего фильтра. В качестве устройства для запоминания уровней порогового усилителя 35 может быть использован реверсивный счетчик, а в аналогичных ЦАП 42 и 43 для запоминания уровней сравнения компараторов 36 и 37 может быть использован регистр.Первый преобразователь 12 код-напряжение может быть выполнен в виде стандартного программируемого источника питания Б 5 - 46.Второй преобразователь 13 код - напряжение может быть выполнен в виде стандартного прецизионного источника напряжения Б 6 - 8,АЦП 14 напряжение - код может быть выполнен в виде универсального...
Способ отбраковки интегральных схем
Номер патента: 1539696
Опубликовано: 30.01.1990
МПК: G01R 31/303
Метки: интегральных, отбраковки, схем
...измерения на пределе чувствительности измерителя вольт-амперных характеристик (режим микротоков).В интегральной микросхеме, имеющей вольт-амперную характеристику 4, в лроцессе ее эксплуатации с течением времени под действием протекающего электрического тока идет процесс деградации структуры р-п-перехода, приводящий к увеличению токов утечки и, в конечном счете, к нарушению работоспособности интегральной схемы. При осуществлении способа для повышения чувствительности и достоверности контролируется вольт-амперная характеристика нескольких р-и- переходов, расположенных по всему кристаллу и соединенных параллельно.Для этого все выводы интегральной схемы необходимо включить по схеме, составленной с учетом следующих правил:каждый...
Способ контроля отсутствия обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с изолирующими диодами
Номер патента: 1541542
Опубликовано: 07.02.1990
Авторы: Антонов, Самиуллин, Цветков
МПК: G01R 31/02, G01R 31/303
Метки: внешних, выводов, диодами, замыканий, изолирующими, интегральных, коротких, корпус, обрывов, отсутствия, подложку, схем, твердотельных
...по номиналу ограничительные резисторы 4.1-4.п, Этонапряжение должно быть больше, чемнапряжение обратимого пробоя диоднойизоляции в интегральной микросхемеа ток пробоя не должен превышать значения, гарантирующего обратимостьпробоев любых р - и-переходов микросхемы (Фиг.2-5)На ТТЛ-микросхеме (Фиг.2) при подключении выводов 3.1-3,5 к отрицательному полюсу источника 5 через токоограничивающие резисторы 4,1-4.5 открываются входные 8-10 и изолирующие11-13 диоды. При отсутствии обрывови коротких замыканий выводов на корпус или подложку нз всех резисторах4,1-4.3, 4,5, подключенньх к выводам3.1-3.3, 3.5, устанавливается напряжение источника 5 за вычетом прямого5 154 падения напряжения йа диодах. На резисторе 4.4, подключенном к выводу 3,4...
Устройство для автоматизированной функциональной настройки гибридных интегральных микросхем
Номер патента: 1552135
Опубликовано: 23.03.1990
Авторы: Гура, Куфлевский, Макаренко
МПК: G01R 31/303
Метки: автоматизированной, гибридных, интегральных, микросхем, настройки, функциональной
...настройки может оказаться недостаточно, поскольку заложенная вЭВМ2 математическая модель (порядок и коэффициенты системы линейныхуравнений не может абсолютно точноописывать реальное устройство, поэтому, процесс моделирования настройкиповторяется до тех пор, пока не будетдостигнута удовлетворительная точность совпадения АЧХ (ФЧХ) ГИМС 2с расчетной,Для доказательства работоспособности контура моделирования настройки рассмотрим фиг,2 а, где изображенфрагмент принципиальной схемы ГИМС,содержащий подгоняемый резистор Ки подключаемый к нему канал моделирования настройки, условно показан"ный в виде преобразователя напряжение - ток с управляемой крутизнойпреобразования Б. Резистор.К ,. однозначно определяющий регулируемыйпараметр, может быть...
Устройство для функционального контроля больших интегральных микросхем
Номер патента: 1583887
Опубликовано: 07.08.1990
МПК: G01R 31/303
Метки: больших, интегральных, микросхем, функционального
...и в то жевремя были много меньше входногосопротивления усилителей 2 и 3. Приэтом условии уровень сигналана клем 35ме 14 в нерабочем высокоимпедансномсостоянии на выходе объекта контроля можно определить по формуле 7- 6ме 15 записываются в триггеры 4 и 5, памяти, на выходах которых устанавливаются равнозначные сигналы, при этом на выходе блока 23 равнозначности формируется уровень логического "О", что является признаком "Годен" и свидетельствует о третьем состоянии на выходе объекта контроля,Если в ожидаемый момент времени выход объекта контроля не переходит в третье состояние, а продолжает оставаться в одном из логических состо-. яний, то в зависимости от уровня логилоюического сигнала на клемме 14 один из усилителей 2 и 3...
Способ контроля интегральных микросхем памяти
Номер патента: 1594458
Опубликовано: 23.09.1990
Авторы: Ботвиник, Власенко, Сахаров
МПК: G01R 31/303, G11C 29/00
Метки: интегральных, микросхем, памяти
...времени рассасыванияОпределение этого параметра для5каждого элемента проводится отключением питающего напряжения. Оцнакопосле восстановления напряжения питания ввиду существования динамическ:ой 1 Оасимметрии двух плеч триггера инФормация о наличии деФектного элемента.Памяти, если не принять специальныхМер, может быть потеряна.Очевидно что плечо элемента памяги, в состав которого входит транзистор с недостаточным уровнем коэФФициента усиления или с большим токомутечки при отборе тока, из его базсвой цепи, что реализуется при проведении операции "Считывание инФормаКии", при прочих равный условияхвключается большее время, чем плечо,не имеющее такого деФекта,Следовательно, восстановление наПряжения питания в этом случае неПриводит к потере...
Способ контроля надежности интегральных микросхем
Номер патента: 1596288
Опубликовано: 30.09.1990
Автор: Шершень
МПК: G01R 31/303
Метки: интегральных, микросхем, надежности
...его,блоком 2 коммутации поочередно измеряют с помощью измерителя З.токиутечки каждого экземпляра ИС. Экземпляры ИС с повышенным более чем на1-3 порядка значениями токов утечки,по сравнению со средним значением тока утечки контролируемой партии иикро -35схем, бракуют,ДеФекты выявляются за счет того,что при понижении температуры в герметических корпусах ИС увеличиваетсяотносительная влажность находящегосятам газа, при этом увеличивается иадсорбция молекул воды кристаллом иизоляционными слояья, Температура за.мерзания адсорбированной влаги ниже0 С, так как при тонком слое жидкостьможет находиться в переохлажденномсостоянии. Проведенные измерения показали, что для ИС серии 564 максимальные значения токов утечек получены при...
Измерительный источник-преобразователь напряжения и тока
Номер патента: 1670632
Опубликовано: 15.08.1991
Авторы: Дубовис, Кудинов, Никитин, Фабричнова
МПК: G01R 31/303
Метки: измерительный, источник-преобразователь
...напряжения равна напря 20 жению смещения нуля усилителя б, онапостоянна и незначительна, что позволяетею пренебречь.На выходе усилителя 6 величина напряжения выше на величину, равную произве 25 дению тока нагрузки на величинусопротивления резистора-датчика 7 тока нагрузки.В результате на выходе усилителя 16действует напряжение (О 2) определяемое30 падением напряжения на резисторе-датчике тока и пропорциональное протекающемутоку нагрузки (1);О, =МЗ йф) -- Ц015 Й 13 1 5Й(7 В 12 В 2935 при В 15 = В 17 = В 13 = В 12 = В 29; О 2 = 1 нВ 7Таким образом обеспечивается режимизмерения тока при задании напряжения,При переключении контактов коммутатора27 устройство переходит в режим выдачи и40 измерения напряжения, Цепь ООС замыкается с выхода...
Способ параметрического контроля мдп-интегральных схем
Номер патента: 1674022
Опубликовано: 30.08.1991
Авторы: Бродницкая, Левковец, Мельницкий, Соболева
МПК: G01R 31/303
Метки: мдп-интегральных, параметрического, схем
...и к отказу микросхем.П р и м е р. На автоматическом изме" , рительном стенде произнсдят Измеренияпороговых напрякений и крутизн контрольных тестовых транзисторов В 10 микросхе" мах на пластине, Для 0 измеренных контрольных тестовых транзисторон Опредвено значение седней величины поро-О- вых напряжений .Г=1 (Б) и определена величина среднеГО КВВГцатического Откло" нения (СКО) гто =0,2 (Б), Среднее значение крутизны вольт-амперной караю еристики (БАХ) ф 1 измеренных тестовых транзисторов составило 21,4 м(А/Б со средним квадратическим Отклонением 0,43 мкА/Б, Рассчитали по известной формуле коэффлциенты вариации порогсных напряжений ( )Ъ ) и (., ) Крутиэнь, Которые соотнеггтвенно равны ) .1%) . 2 С( Их отношение К=)л / у, составило...
Устройство контроля ресурса передающих квантово-электронных модулей
Номер патента: 1674023
Опубликовано: 30.08.1991
МПК: G01R 31/303
Метки: квантово-электронных, модулей, передающих, ресурса
...в испытательную камеру 3, измеритель тока 4, вычитающий блок 5. первый вход которого соединен с выходом источника 6 регулируемого опорного напряжения, сое, 1674023 А 1тельность импульсов малой скважности (0 2), а с выхода измерителя тока 4 на вход вычитающего блока 5 подается напряжение 0, пропорциональное току накачки 1. На другой вход вычитающего блока 5 подается опорное напряжение Ооп от источника б опорного напряжения, На выходе вычитаю- щего блока 5 появляется напряжение, равное разности ЬОт напряжений на входах, которое отображается в блоке индикациии 11 (измеряется вольтметром 14), Регулируя опорное налряжение Ооп, добиваются отсутствия на выходе вычитающего блока 5 напряжения Л О= О. После этого замыкается кнопка 9, чем...
Способ теплового контроля качества объемных интегральных схем
Номер патента: 1675908
Опубликовано: 07.09.1991
Авторы: Осадчук, Паламарчук, Стронский, Яровенко
МПК: G01R 31/303, G06F 11/277
Метки: интегральных, качества, объемных, схем, теплового
...л) соз хо о оплхх соз х (уй соз укЕ+ Ь Е з)п ук Ехехх бх 1 у бк, (6)где Т(п, )т), К) - изображение температурыТ(х, у, к);у)с - положительные корни уравнениясщ у А = ( = О, 1, 2, . ) , (7)2 у)с Ьуравнение (1) переводится в пространствоизображений Фурье. Для этого обе частиуравнения (1) умножаются на ядро преобразования (6) и интегрируются по х от О до Ь,по у от О до (х, по х от О до ЬОо)с О ф нх д Ь Ь"Таким образом, в пространстве изображений Фурье уравнение (1) имеет виде) т(О,О,1Их П(е Х;, П (е(; Гп 1( х сЮ р 5 П д С 05 и гп кх х15 Рз) Оо СООЕхс,ою)г;)х 3,".фпк 9.(п 1, еп 1 ). Формула обращения для преобразования (6) имеет вид 25 ТЬг)(Г -у Е 30 35 005 СОО Екс 05(5+ 3 11 ,) Ь -(,"-),3, где дпо, дно дельта функции Кронекера 1 п=О(51 О )...
Устройство для фиксации обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с диодной изоляцией
Номер патента: 1691790
Опубликовано: 15.11.1991
Авторы: Балабанов, Цветков, Шаевич
МПК: G01R 31/02, G01R 31/303
Метки: внешних, выводов, диодной, замыканий, изоляцией, интегральных, коротких, корпус, обрывов, подложку, схем, твердотельных, фиксации
...источника 5. При нали.чии на всех входах блока 6 компараторов 45потенциалов, отличных от нуля и меньшихнапряжения источника 5, на выходе блока 6компараторов имеется напряжение, соответствующее уровню "0",. В случае обрыва любой из клемм 3,1 - 50З.п микросхемы 1 на соответствующем входе блока 6 компараторов устанавливаетсянулевой потенциал, В случае обрыва клеммы 2, соединенной с подложкой кристалламикросхемы 1, нулевой потенциал устанавливается на всех входах блока 6 компараторов. В случае короткого замыкания любойиз клемм 3.1 - З.п микросхемы 1 на корпусили подложку кристалла на соответствующем входе блока 6 компараторов устанавливается полное напряжение источника 5. Появление на любом входе блока 6 компараторов нулевого потенциала,...
Устройство для контроля контактирования выводов интегральной схемы
Номер патента: 1712907
Опубликовано: 15.02.1992
Авторы: Жук, Омельченко, Разлом
МПК: G01R 31/04, G01R 31/303
Метки: выводов, интегральной, контактирования, схемы
...ключ:11 не срабатывает, светодиод 12 не выключается, сигнализируя о соответствующей причине отказа, с выхо да элемента И 14 команда начала измерения и установки устройства в исходное состояние не поступает.Генератор имйульсов работает в составе устройства следующим образом.55 ГеНератор, собранный на элементах 1820 и конденсаторе 26, начинает работать, как только на схему устройства подается напряжение питания. Импульсный сигнал подается на один из входов элемента 23 и через элемент 2 И-НЕ 21. выполняющийфункцию инвертора, на один из входов элемента 22, то есть на входах элементов 22 и 23 присутствуют противофазнце импульсные сигналы,После запуска. устройства формирова тель сигналов . правления 5 на вход генератора импульсов 6 подает...