G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств

Страница 1420

Устройство для измерения вязкости жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1402847

Опубликовано: 15.06.1988

Автор: Антелава

МПК: G01N 11/06

Метки: вязкости, жидкости

...равные объемы дистиллирован 50Вой воды и цельной крови при одинаковом давлении, то имеется соотношение(20 С) = - - - =338 мПс (5)о 1 055 ф 63 1кР 19,8Затем к игле-капилляру 2 прикрепляли пласгину 3 с выступом 4 и пропускали кровь, а затем дистиллирован" ную воду при 20 С. Время прохожденияо кяР Вор Йщ(1)7 Р Ск55гдекр - ВЯзкОсть КРОВИ МПск2 во ВЯЗКОСТЬ ВОДЫ ИП СР - плотность воды, Г/см,Р - плотность крови, равная 1,055 Г/см- время протекания крови че. кр рез капилляр, с, - время протекания воды через капилляр, с. Из Формулы 1 следует, что" водРВОдТак как зависимость вязкости от температуры для крови, физиологического раствора и дистиллированной воды согласно (5) имеют практически одинаковые значения (при тех скоростях сдвига,...

Способ измерения модуля высокоэластичности вязкоупругого материала

Загрузка...

Номер патента: 1402848

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Ахрамеев, Криволапов

МПК: G01N 11/14

Метки: высокоэластичности, вязкоупругого, модуля

...ускорением (фиг,2),Рассчитывают зависимость напряжение сдвига - время.По начальной части восходящей кривой определяют модуль высокоэластичности как отношение напряжения к деформации, где деформация рассчитывается по формуле2мгде." ускорение деформации.Технически предлагаемый способ мо"55 жет быть осуществлен на основе ротационного вискозиметра путем применения устройств с управляемой во времени скоростью вращения ротора (например, электродвигателей постоянного тока с подачей изменяющегося позаданному закону электрического сигнала для управления вращения рото"ром),П р и м е рДля осуществленияспособа был использован ротационныйвискознметр, снабженный приводом типа ЭТ 0-2.Измерения проводили при 100 С наследующих типах каучуков:...

Способ определения жизнеспособности отверждающейся полимерной композиции

Загрузка...

Номер патента: 1402849

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Уваров, Яковлев

МПК: G01N 11/16

Метки: жизнеспособности, композиции, отверждающейся, полимерной

...композиции и характеризует реологическое состояние отверждающейся полимерной композиции, соответствующее 1 О 15 20 половине времени жизнеспособности. Следовательно, значение Т( можно использовать как контрольное значение при определении жизнеспрсобности,На фиг, 3 изображены кинетические кривые отверждения трех полимерных композиций одного и того же состава, отверждаемых при различных температурах, Жизнеспособность в данном случае определяется как удвоенное значение интервала времени, зафиксированного от момента приготовления до момента, когда период Тж колебаний достигает заданного значения. Для раз-. личных типов композиции значения Тгде Т ж - период колебаний, соответствующий моменту потери композицией способности к переработкеи...

Способ определения размеров броуновских частиц

Загрузка...

Номер патента: 1402850

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Иванов, Кумейша, Чайковский

МПК: G01N 15/02

Метки: броуновских, размеров, частиц

...ЛВ ( н - - 2: 015 мм,м г ф Одновременно с регистрацией информативных флуктуаций интенсивности (вследствие интерференции опорной волны и когерентного ей рассеянного света) детектор 6 будет. регистрировать и более слабые флуктуации интенсивности, порожденные интерференцией рассеянных частицами полей между собой (самобиения рассеянного света - СРС), не несущие информации о послойной структуре среды, Эти флуктуации имеют более широкий спектр и . при диагносцировании удаленных объемов среды могут искажать результаты измерений полуширины спектра мощности ИИС. Для оценки вклада СРС в коро реляционную функцию К (, 2 ) фототока(Фурье-преобразование которой определяет спектр мощности флуктуаций и соответственно его полуширину), необходимо...

Устройство для измерения дисперсности и скорости частиц

Загрузка...

Номер патента: 1402851

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Долотказин, Душкин, Коломенцев

МПК: G01N 15/02

Метки: дисперсности, скорости, частиц

...содержит источник 1 коллимированного излучения, приемник 2 излучения, систему защиты от загрязнения, включающую полости 3 для защитного газа, диафрагмы 4, штуцер 5, регулятор 6 расхода подачи газа, 25 соединительную трубку 7, скобу 8 для жесткой Фиксации диафрагм, координатный механизм 9,Устройство работает следующим образом, ЗОПри выведенной иэ потока скобе 8включается подача защитного газа, который от регулятора 6 расхода газа. посредством соединительных трубок 7 через штуцер 5 подается в полости 3,35 Затем посредством координатного меха,низма 9 скобу 8 вводят в исследуемую область потока и посредством регуля тора 6 расхода газа добиваются нулевого перепада давления на срезе диаФрагм, подают коллимированное излучение источника 1 и...

Способ дисперсионного анализа эмульсий с низкокипящей дисперсной фазой

Загрузка...

Номер патента: 1402852

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Буланов, Исмагилов, Хмыльнин

МПК: G01N 15/02

Метки: анализа, дисперсионного, дисперсной, низкокипящей, фазой, эмульсий

...импульсов регистрировали их числоза заданный промежуток времени отсчитываемый от момента введения эмульсии в канал. Во всех случаях объем нагреваемой эмульсия был примерно равен 10 мм, а время7 = 10 с, Величины времени и объема выбирали из условий получения требуемой погрешности измерений, Погрешность обусловлена неравномерным распределением капелек эмульсии по объему ннедостаточно быстрым нагревом эмульсии в канале.Температуру нагрева эмульсии в канале задают величиной электрического тока, пропускаемого через нагреватель Число электрических импульсов регистрируют в зависимости от температуры нагрева эмульсии в канале.На чертеже построена кривая 1 для случая, когда дисперсионный состав эмульсии аппроксимируют однопараметрической...

Способ определения размеров микрочастиц

Загрузка...

Номер патента: 1402853

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Стерлигов, Суббота, Ширшов

МПК: G01N 15/02

Метки: микрочастиц, размеров

...изЛ 1лучение 1 и 1 р по длинам волни , и регистрируют его соответствующими фотоумножителями 11 и 12 длякаждой длины волны отдельно, Сигналыс выходов фотоумножителей поступаютна блок 13 обработки сигналов, гдеопределяется соотношение 1 интенсивЛ,ностей 1и 1 р рассеянного света, например 1/1 и определяются разЛф ЛР 1 7меры микрочастиц с использованиемпредварительных расчетов или калибровочной кривой,В основу способа положена функциональная зависимость интенсивности,рассеянного света от размера микрочастицы: 1 Рас 1 Е(Л)где 1 - интенсивность подающегосвета;г - радиус частицы;- длина волныПри работе лазера на основной моде интенсивность излучения в любом поперечном сечении пучка описывается гауссовой функцией х/Мо(2) где 1 - интенсивность в...

Способ определения паропроницаемости материалов

Загрузка...

Номер патента: 1402854

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Левченко, Стерликов

МПК: G01N 15/08

Метки: паропроницаемости

...следующим образом,В качестве образца выбирают материал, содержащий 677 лавсана и 337хлопка с пропиткой. Температуру поверхности источников тепла поддерживают равной Т=ЗЗРС.Температура и относительная влажностьвоздушной среды ;в камересоответственно равны Т = 19 С,=467.Длительность эксперимента составляет 1-1,5 ч.Теплопотери (ц) с поверхностейисточников тепла определяют по измеренным величинам токов и напряжений,Теплопотери с поверхности смоченного калориметра равны722,41 Вт/м.30 Теплопотери с поверхности сухогокалориметра равны Ч = 146,24 Вт/м 235Теплопотери с поверхности смоченного калориметра, покрытого образцом материала., равны Теплопотери с поверхности сухого калориметра, покрытого образцом материала, равныЯ 2 = 107 р...

Способ неразрушающего контроля адгезионной прочности металлических соединений, соединенных адгезивом

Загрузка...

Номер патента: 1402855

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Валко, Мозжегоров, Пятыхин, Санников, Терентьев

МПК: G01N 19/04

Метки: адгезивом, адгезионной, металлических, неразрушающего, прочности, соединений, соединенных

...помощью источника радиоактивного излучения, Величина работывыхода электронов после установкидатчика в контрольной точке склеиваемой пластины составляла Е = 171 мВ.После нанесения клеев эта величинаснижалась и для клея ПВА изменениепроисходило следующим образом: через5 мин Е = 155 мВ, через 10 мин Е =14 мВ, через 2 ч было достигнутостабильное значение Еп = 95 мВ. Дляэпоксидных клеев изменение происходило медленней, но до более низкихзначений: за 24 ч для клея ВКЕл, == 49 мВ, для клея К-61 Еп = 67 мВ.Прочность при сдвиге для испытуемыхклеев составила: для клея ПВА 7 -8 ИПа, для клея ВК15 - 16 МПа,для клея К-61 10 - 12 МПа,Таким образом, измеряя величинуКРП, можно контролировать процесссклеивания и оценивать прочностьадгезионного соединения...

Устройство для приготовления термохромных композиций и измерения их цветотемпературных характеристик

Загрузка...

Номер патента: 1402856

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Бельцов, Бронникова, Долгов, Китаев, Стрельцов

МПК: B01F 3/00, G01N 21/00

Метки: композиций, приготовления, термохромных, характеристик, цветотемпературных

...Тонкий слой вещества, находящийся между пластиной 13 и окном 14, служит образцом для измерения его цвето- температурных характеристик. С помощью нагревателей 18, 21 и 22 создают градиент температур по высоте пластины 13 и щелевого окна 14, Нагревателем 8 создают неравномерный нагрев пластины 13 по линейному закону за счет отвода тепла от пластины к композиции, для чего температуру композиции в емкости 1 устанавливают, не превышающей минимальной температурызаданного температурного интервала.Градиент температур по высоте щелевого окна 14 устанавливают с помощью нагревателей 21 и 22 в соответствии (равным по величине) с градиентом температур на поверхности пластины 13. Адекватность градиентов температур на поверхности пластины 13 и...

Способ ориентации гиротропных кристаллов в поляризационно оптической системе

Загрузка...

Номер патента: 1402857

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Бережной, Влох, Шопа

МПК: G01N 21/21

Метки: гиротропных, кристаллов, оптической, ориентации, поляризационно, системе

...и анализатора,когда плоскости поляризации последних совпадают с главными направлениями в кристалле,Если на негиротропный кристаллпослать линейно поляризованный вдольодного из главных направлений свет;то из кристалла выйдет также линейно поляризованный свет, Если поместить такой кристалл между поляриэато. ром и анализатором, то минимуму ин-тенсивности излучения на выходе анализатора будет соответствовать такая ориентация кристалла, поляризатора и анализатора, когда плоскости поляризации последних совпадают с главными направлениями в кристалле.Если послать на гиротропный кристалл линейно поляризованный вдоль одного из главных направлений свет, то из кристалла выйдет эллиптически поляризованный свет.Однако существует такое направление в...

Способ определения водоустойчивости эмульсионных взрывчатых веществ

Загрузка...

Номер патента: 1402858

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Андрусенко, Бейсебаев, Духовная, Ермаченкова, Зильберг, Козлов, Шайхутдинов

МПК: G01N 21/27

Метки: веществ, взрывчатых, водоустойчивости, эмульсионных

...такого ВВ помещают в воду. При этом происходит частичное вымывание ам" 20 миачной селитры, сопровождающееся растворением нодорастворимого, но маслонерастворимого красителя и окрашиванием раствора. Интенсивность окрашивания пропорциональна концент 25 рации аммиачной селитры, перешедшей в раствор, что подтверждено опытами кондуктометрического титрования раствора аммиачной селитры, Интенсивность скрашивания воды можно определить фотоколориметрическим, колориметрическим способами, а для менее точных определений - визуально. Краситель вводится в количестве 0,1- 1,Оот массы ВВ. 35П р и м е р, Было разработано эмульсионное взрывчатое вещество, содержащее,: аммиачной селитры (АС) 80; воды 8; эмульгатора 2,5; дизельного топлива 4; сенсибилизатора...

Рефрактометр

Загрузка...

Номер патента: 1402859

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Кантере, Комраков, Кузнецова, Погосов, Хуршудян

МПК: G01N 21/41

Метки: рефрактометр

...системой 3 параллельным пучком направляется на дифференциальную кювету 4. За кюветой установлено оборачивающее на 270 излучение устройство 5, которое пов 35 торно направляет световой пучок на дифференциальную кювету 4. Повторно пучок проходит кювету в перпендикулярном направлении относительно первого прохождения. После повторного прохождения световой пучок выходит из кюветы и отклонение пучка отпервоначального положения фиксируется дифференциальным фотоприемником 6Сигнал с фотоприемника 6 поступает визмерительную систему 7, а результатизмерения выводится на регистрирующее устройство 8.Дифференциальная кювета 4 содержит две полости, одна из которых за 50полнена измеряемой жидкостью, а вторая - сравнительной. Отклонение пучка...

Способ определения концентрации аэрозолей

Загрузка...

Номер патента: 1402860

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Кузьмин, Лапанок, Ощепков

МПК: G01N 21/47

Метки: аэрозолей, концентрации

...поток при отсутствии аэрозоля;Е - показатель ослабления, а6(6) - показатель (6) на-,правленного светорассеянияпод углом 8Ь - толщина фотометрируемогослоя аэрозольной среды,По величине Р с учетом эмпирического коэффициента а, определяемого аппаратурными факторами, судят об искомой концентрации С, определяемой по ФормулеРС =аРегистрация светового потока, обусловленного проходящим излучением в некотором узком конусе, значительно ослабляет влияние параметров дисперсного состава в процессе определения концентрации,Диапазон 6 и 8 определяет оптимальную геометрию измерений, при которой (применительно к промьппленным аэрозолям) регистрируемый Фотоприемником поток рассеянного излучения наименьшим образом зависит от параметров гранулометрического...

Нефелометр р. с. ошерова

Загрузка...

Номер патента: 1402861

Опубликовано: 15.06.1988

Автор: Ошеров

МПК: G01N 21/47

Метки: нефелометр, ошерова

...совпадал с центром рабочей камеры 2 и находился на оптической оси осветителя.Установив сферу 9, закрывают корпус1 и через штуцер 13 начинают подавать хладагент, например жидкий азот,При этом из корпуса 1 через штуцер14 начинают откачивать воздух, одновременно подавая напряжение на пластины конденсатора 8, Под действиемэлектрического поля исследуемаясмесь электризуется, а низкая температура (за счет хладагента) и вакуумирование приводят к Фазовому изменению смеси 1 О, находящейся в сфере9. Фазовое изменение смеси приводитк увеличению объема смеси, котороеподвергает материал сферы всестороннему растяжению. Кроме того, поддействием низкой температуры материал сферы 9 становится хрупким, врезультате чего часть материала сферы может быть...

Устройство для измерения индикатрис рассеяния света

Загрузка...

Номер патента: 1402862

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Коваленко, Столяров, Таразанов

МПК: G01N 21/47

Метки: индикатрис, рассеяния, света

...значение минимума можетбыть записано в запоминающее устройство 46 или 47 в зависимости от состояния ТТ-триггера 42, который в начальный момент может находиться в любом состоянии, т.е. на прямом выходеЯ) - логический нуль, а на инверсном выходе Я) - логическая единица,либо наоборот, Предположим, что прямой выход Я) ТТ-триггера 42 находится в состоянии логического нуля и вмомент поступления импульса с перво-,го выхода блока 15 через второй входлогического элемента 2 ИЛИ 41 на входТТ-триггера 42 он переходит в состоя;ние логической единицы на прямом выходе Я). Одновибратор 43 формируетпо переднему фронту электрическогосигнала с выхода (Я) ТТ-триггера 42импульс, который, поступив на первыйуправляющий вход запоминающего устройства 46,...

Устройство для измерения оптической плотности дыма

Загрузка...

Номер патента: 1402863

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Виленчиц, Вишневский, Рудой, Умрейко

МПК: G01N 21/53

Метки: дыма, оптической, плотности

...3. Этиучастки состыкованы с каналами 4 и 5,содержащими оптические элементы. Тангенциально к цилиндрическим участкам7 расположены плоские сопла 8, которые снабжены конфузорами 9 со сторонывхода потока дыма в дымовод 3, Выходной участок дымовода 3, расположенныйпо потоку дыма за выпуклыми цилиндрическими участками (поверхностями) 75 Овыполнен в виде диффузора 10.Устройство работает следующим образом,Поток дыма, подлежащий анализу,поступает в дымовод 3 и движется внем. Достигнув конфузоров 9, частьпотока дыма захватывается" ими, ачасть движется дальше по дымоводу;Потоки дыма, двюкущиеся по конфузорам 9, попадают в плоские сопла 8,которые формируют на выходе плоскиеструи дыма (обозначены штриховыми линиями на фиг.1) и тангенциально...

Способ измерения коэффициента отражения оптических материалов

Загрузка...

Номер патента: 1402864

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Колядин, Кровко

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициента, оптических, отражения

...способе используются два этанола из кварцевого стекла с коэффициентамиотражения, приблизительно равными .0,0350 и 0,0687. Отступления от линейности на таком узком интервале шкалы несравненно меньше, чем навсей шкале, а следовательно, меньше будет и ошибка измерений испытуемого образца, коэффициент отражения которого попадает в этот интеовал. Но эти соображения справедливы лишь при условии, что опорные коэффициенты отражения эталонов столь же достоверны, как нуль и единица в аб-. солютном методе. Поэтому выбраны такие эталоны, у которых нужно измерять не коэффициенты отражения, а коэффициенты пропускания. Измерение коэффициента пропускания можно делать с ошиокой, не превосходящей ф 0,0005, такая же точность будет иметь силу и для...

Эталон для калибровки спектрофлуориметра

Загрузка...

Номер патента: 1402865

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Володина, Кеворков, Лифшиц, Мейльман

МПК: G01N 21/64

Метки: калибровки, спектрофлуориметра, эталон

...табулированными значениями этих длин волн.При наличии разницы корректируют показания счетчика длин волн монохроматов.Этот же образец в том же положении используют для калибровки монохроматов возбуждения. Фиксируют поло-55 жение шкалы монохроматора испускания на значении длины волны, соответствующем максимуму полосы свеченияобразца ДИАГ и перестраивают монохроматор возбуждения по длине волны.Приемник спектрофлуориметра будетфиксировать сигналы только при некоторых значениях шкалы длин волнэтого монохроматора, соответствующих максимумам полос возбужденияДИАГ, Сравнивая измеренные и предварительно табулированные значениядлин волн возбуждения ДИАГ, калибруют монохроматор возбуждения спектрофлуориметра.Спектры возбуждения и...

Способ определения гистидина гидрохлорида

Загрузка...

Номер патента: 1402866

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Павлючек, Петренко, Янчук

МПК: G01N 21/78

Метки: гидрохлорида, гистидина

...спектрофотометра при 480 нм в кюветах с толщинойслоя 1 см, 40Расчет процентного содержания гистидина гидрохлорида проводят по формуле где В - оптическая плотность анализируемого раствора;Э - оптическая плотность стандартного раствора;С, - концентрация стандартногоспектрофотометрируемого раствора 0,0016 г в 100 мл),Р - навеска, г.55В табл, 1 приведены результаты количественного определения гистидинагидрохлорида в субстанции,П р и м е р 2, Количественное определение гистидина гидрохлорида в 47.-ном растворе для инъекций, 1,00 мл 47,-ного раствора гистидина гидрохлорида переносят в мерную колбу вместимостью 100 мп, добавляют 100 мл воды и около 0,02 г безводного ацетата натрия, диметилформамидом доводят до метки, 1,00 разбавления...

Устройство для определения концентрации и коэффициента неоднородности смеси

Загрузка...

Номер патента: 1402867

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Базильская, Воробьева, Горшков, Максимова, Маликов, Федотов

МПК: G01N 15/06, G01N 21/85

Метки: концентрации, коэффициента, неоднородности, смеси

...7 в зависимостиот условий соединяют гибким шлангомили с емкостью для сбора готовой смеси, или со специальной емкостью длясбора отображенной смеси. Не допускается свободный выход смеси .в открытое пространство, так как при этом .определяют по формуле 100ЧСо гд значепонен е концентрации комвес.7 в сме значе го же но ра е концентрации эт идеальомпонента и омерном рс.7; нии, - числ значзамеров одиий С возможно улетучивание растворителя, что приводит к неточности измерения.Для уменьшения погрешности измерения кювету 5 помещают в специальную светонепроницаемую камеру 11, в которой на одной оптической оси, перпендикулярно плоскости кюветы, диаметрально противоположно друг другу через торцовые уплотнения 12 установлены стабилизированный...

Устройство для контроля текстильных полотен

Загрузка...

Номер патента: 1402868

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Иванов, Кокеткин, Сенекин, Хавкин, Чугунов

МПК: G01N 21/86

Метки: полотен, текстильных

...При прохождении энергии излучения через полупрозрачные зеркала 8 и 9 часть светового потока от каждого из них отражается и, пройдя через соответствующую цилиндрическую линзу, падает на текстильное полотно 14, Контроль текстильного полотна 14 по всей его ширине осуществляется путем вращения зеркального барабана 5, При этом каждый из лучей, падающий на контролируемый материал совершает возвратно-поступатель 50 ное перемещение, причем направления движения лучей в каждой из групп в любой момент времени взаимно противоположны. Прошедшие через контролируемое полотно 14 световые потоки через соответствующие цилиндрические линзы 11 направляются на боковую поверхность соответствующих световодов 12 и далее, распространяясь вдоль этихсветоводов,...

Устройство для измерения поверхностной плотности нетканых текстильных материалов

Загрузка...

Номер патента: 1402869

Опубликовано: 15.06.1988

Автор: Таточенко

МПК: G01N 21/898

Метки: нетканых, плотности, поверхностной, текстильных

...работает следующим образом.С выхода импульсного блока питанияисточника, 1 импульсы тока поступаютна светодиоды 2. При этом за счет последовательного включения светодиодов2 достигается синхронность импульсових излучения. Далее импульсы излуче 40ния светодиодов 2 распространяясь вопределенном телесном угле, проходятчерез компенсаторы 3, При этом засчет того, что каждый компенсатор 3был экспонирован соответствующим све-.,тодиодом 2 в линейной области характеристической кривой и проявлен при коэффициенте контрастности, равном единице, коэффициент пропускания компенсатора 3 в каждой его точке обратно 50пропорционален интенсивности падающего на компенсатор излучения. Такимобразом, после прохождения компенсаторов 3 интенсивности излучения...

Способ регистрации теневых рентгеновских проекций

Загрузка...

Номер патента: 1402870

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Коньков, Турянский, Федосеева

МПК: G01N 23/06

Метки: проекций, регистрации, рентгеновских, теневых

...осуществления предлагаемого способа содержит рентгеновский излучатель 4, дообъектный коллиматор, 5, нослеобъектный коллиматор б, набор сцинтилляционных детекторов 7, платформу 8 для размещения исследуемого объекта 8, поглощающий экран 10 и механизм 11 сканирования.Крайние лучи рентгеновского пучка показаны стрелками 12 и 13, а направления сканирования показаны стрелками 14 и 15. Способ осуществляют следующим образом.В исходном положении рентгеновский излучатель 4, коллиматоры 5 и б и набор детектора 7 находятся в крайнем левом положении, Поглощающий экран 10 размещен между излучателем 4 и облучаемьм объектом 9, защищая от излучения область объекта 9 от задней по направлению сканирования .(стрелка 14) стороны до его геометрического...

Способ получения теневых картин внутренней структуры объекта с помощью проникающего излучения

Загрузка...

Номер патента: 1402871

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Митрофанов, Подурец, Соменков, Тюгин, Чистяков, Шильштейн

МПК: G01N 23/08

Метки: внутренней, излучения, картин, объекта, помощью, проникающего, структуры, теневых

...2, отражается от него под бреггавским углом и направляется на объект 3. Часть излучения проходит через объект 3 без преломления (показана сплошной линией на Фиг, 1), другая часть излучения преломляется на внутренних поверхностях раздела и падает на второй монокристалл 5 под углами, отличными от брегс говского (показаны штриховой линией на фиг. 1), Если это угловое отклонение больше эффективного угла коллимации, обеспечиваемой парой моно- кристаллов 2 и 5, то преломленное излучение не отражается вторым моно- кристаллом 5 в отличие от излучения, прошедшего через объект 3 без преломления, которое отражается монокристаллом 5 под углом Брегга и направляется в детектор 6, откуда информация передается в. блок 7 обработки (например, на...

Рентгеновская камера для съемки крупнозернистых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1402872

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Иванченко, Новоставский, Петьков

МПК: G01N 23/20

Метки: камера, крупнозернистых, рентгеновская, съемки

...вертикальном валу 42 с возможностью радиального смещения центра его профиля5для изменения угла колебания кронштейна 43 с роликом 44, которое приводит к изменению амплитуды колебанияобразца 11. Червячный редуктор привода 3, состоящий из колеса 46 и червяч ка 47, приводится в движение двигателем 48,Рентгеновская камера для съемкикрупнозернистых материалов работоет следующим образом. 15Привод 3 с механизмами 23 вращенияколебания и качания образца1 поворотом на платформе 2 корпуса привода3 вокруг пальца 12.ось которого совпадает с осью 0, устанавливают так, 20чтобы уголмежду торцовой поверхностью держателя 24 образца 11 в горизонтальной плоскости и осью 0 соответствовап углу, необходимому для косыхсъемок (например, 45). Исследуемыйобразец...

Способ исследования структурного совершенства монокристаллов

Загрузка...

Номер патента: 1402873

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Казимиров, Ковальчук, Чуховский

МПК: G01N 23/20

Метки: исследования, монокристаллов, совершенства, структурного

...от его положения, соответствующего максимуму интенсивностидифрагированного им излучения, отраРженный от исследуемого образца пучокнаправляют на кристалл-анализатор подуглом к его поверхности, большим Вз,выделяют диффузный максимум и измеряют его интегральную интенсивность,из акоторой находят относительную величину дефектной области исследуемогокристалла, 5 ил,1402873 разца первого и второго типа соответственно. ф о р м у л а изобретения Способ исследования структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что рентгеновский пучок от источника направляют на 10 кристалл-монохроматор, установленный под брэгговским углом 0 = 9 в, отраженный от первого кристалла пучок направляют на исследуемый образец, повернутый на заданный...

Система монохроматизации рентгеновского дифрактометра

Загрузка...

Номер патента: 1402874

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Голуб, Корнев, Михайлов

МПК: G01N 23/20

Метки: дифрактометра, монохроматизации, рентгеновского

...ось которого лежит в горизонтальной плоскости. Первичный пучок падает на первый фокусирующий кристалл-монохроматор блока 5. Блок 5 первого фокусирующего кристалла-монохроматора путем поворота его держателя б вокруг оси, перпендикулярной плоскости платформы 3, устанавливается так, что между осью первичного пучка рентгеновского излучения и касательной, проведенной к центру первого 4 юкусирующего кристалла-монохроматора блока 5, образуется угол 6 , где 6 - угол Брэгга. При отражении первичного пучка от цилиндрической поверхности первого кристалла-монохроматора блока 5 происходит его монохроматизация и 4 юкусировка в плоскости, перпендикулярной его образующей, При этом угол между осями первичного и отраженного пучков составляет 29,...

Высоковакуумный монохроматор для синхротронного излучения в ультрамягкой рентгеновской области спектра

Загрузка...

Номер патента: 1402875

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Акимов, Вакорин, Виноградов, Фомичев

МПК: G01N 23/207

Метки: высоковакуумный, излучения, монохроматор, области, рентгеновской, синхротронного, спектра, ультрамягкой

...дЕ=0,6- 0,07 эВ в области концентрации при ширине щелей монохроматора 5 мкм.Решетка Мф 2 (Вр 2992 мм, р=600 -- ,штрмм , =1 8, Ч" = 4, Ац-покрытие) имеетоообласть концентрации дифрагированного излучения=4-12 нм и при ширине щелей монохроматора 5.мкм обеспечивает в этом спектральном интервале энергетическое разрешение 0,2-0,03 эВ.Решетка В 3 (К=. 1995 мм, р=600 в в , 25штр 2Го=2 48 , Ац-покрытие), установленнаяопод углом 6 1 , дает высокие коэффициенты отражения дифрагированного излучения в области длин волн 17- 50 нм с энергетическим разрешением 0,01-0,001 эВ (ширина щелей 5 мкм).Таким образом, предлагаемые три дифракционные решетки обеспечивают во всей спектральной области работы35 монохроматора энергетическое разрешение АЕ, лучшее...

Способ определения интенсивности фона

Загрузка...

Номер патента: 1402876

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Астахова, Григорьев, Конев, Кубарев, Моркусова, Рубцова, Слободянюк

МПК: G01N 23/223

Метки: интенсивности, фона

...нижний уровень Чн, ширина д Ч канала которого изменяетсяот 0 до 100 В и от 0 до 50 В соответственно.Исследуемую пробу помещают в кювету диаметром 4,0 см и глубиной 251,0 см. Для определения оптимальныхусловий измерения исследуемых образцов предварительно изучают зависимость И, = (Ь) для образцов различного химического состава (фиг.1): 30оксидов кремния Б 10, железа РеО ,цинка ЕпО и свинца РЬО, а такжекарбонатов кальция СаСОз и барияВаСО. Аппаратурные параметры приэтом выбирают следующие: расстояниемежду пластинами коллиматора 1 равноО, 12 (фиг.1) и 0,26 см, напряжениеП на рентгеновской трубке - 30, 50(фиг.1) и 70 кВ, а ширину ДЧ каналаанализатора амплитуд импульсов выбирают равной 2(ф), 10 (+), 20 (о) и50 В (Д ),Как видно из...