Патенты с меткой «монохроматизации»

Номер патента: 126644

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Свет

МПК: G01J 3/51

Метки: монохроматизации, оптикоэлектрических, повышения, систем, степени

...светофильтров, Применение двух приемников излучения, в свою очередь, повышает быстродействие устройства.На фиг. 1 данг схема устройства,Перед монохроматизацией поток радиации раздваивается, но после прохождения через неподвижные светофильтры 1, 2 или 3, 4 и вращаю. щийся обтюратор 0 сдваивается и попадает на фотоэлемент б. Обтюратор 5 перекрывает поочередно раздвоенные потоки радиации 7 и 8, Путем различных комбинаций светофильтров можно осуществлять монохроматизацию в различных областях спектра.На фиг. 2 представлен вариант устройства без обтюратора, имеющего дваподключаемые поочередно с помощью переключателя 9 фотоэлемента 10 и 11, закрытых светофильтрами 12 и 13. Переменная составляющая с частотой переключения, снимаемая в этом...

Номер патента: 252491

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Константинов, Кухто, Ручков, Соловьев, Технологическое, Физико, Филиал, Химического, Центральное

МПК: G21G 4/02

Метки: медленныхнейтронов, монохроматизации

...реактора, для чего оо выполнено в вп де объемного метал.чпческого корпуса 10, заполненного занитных материалом 11. Пазы 12 и 13 в теле основания 1, в которых размещены держатечь 2 кристалла-монохроматора 1 с приводом и узел 4 вывода и коллпмации 25 нейтронов, пе снижают надежности биологиеско зацпты ст-,ойства. Узел 4в виде зяОчпсппого занитным хатсрпачом 14 оосмпогос 11 лпческого цплппдрп 1 еского;пс 1;11 1 с псп 11 яльпм кпалок 16. Дпс 30 закреплен на вертикальном валу 17, располо 25249женном в основании 1. Другой конец вала прп помощи подковковой телескопической пары 18 соединен с поворогн 1 м столом 5. К стойке стола крепится, например, прп помощи кронштейна, коллиматор 19, входя 1 цпй в центральный канал 16 диска 5.Блатодар 5 э...

Номер патента: 1073803

Опубликовано: 15.02.1984

Автор: Корнеев

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, монохроматизации, рентгеновского, синхротронного, фокусировки

...синхронного рентгеновского излучения содержит корпус 1, на котором установлены пара источников нагрузки 2. В корпусе 1 расположена пара опор 4, передаточные элементы 5 средств приложения 10 нагрузки к паре подвижных опор 4,передаточные элементы б средств приложения упругой нагрузки к паре подвижных опор.4 с пружинными элементами 7 и расположенный между парами 1.5 опор 3 и 4 фокусирующий кристалл-монохроматор 8.Подвижные .опоры 4 выполнены в виде круглых валОв с опорными концевыми участками и центральным участ ком, расположенным от них с эксцентриситетом е . Длина центрального участка выполнена не меньше ширины фокусирующего кристалла-монохроматора 8 в месте их контакта. Опорные кон.цевые участки подвижных опор 4 установлены в паре...

Номер патента: 1108857

Опубликовано: 15.12.1986

Авторы: Адамчук, Александров, Пейсахсон, Савушкин, Федосеенко, Хомченко

МПК: G01J 3/18

Метки: излучения, монохроматизации, синхротронного

...цель достигается тем, что в устройстве для монохроматизации СИ, содержащем источник света, фокусирующие зеркала, неподвижные входную и выходную оптические щели, сменные дифракционные решетки и механизм .сканирования спектра путем вращения решеток вокруг оси, проходящей через вершину решеток, между входной и выходной щелями установлена по крайней мере одна дополнительная неподвижная оптическая щель и по крайней мере одна дополнительная сменная дифракционная решетка под углом к сменным дифракционным ф решеткам, причем вершины всех решеток при их смене совмещены с общей осью вращения и расположены на одинаковом расстоянии от выходной щели,а угол между нормалями к сменным дифракционным решеткам и к любой дополнительной решетке в два раза...

Номер патента: 1402874

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Голуб, Корнев, Михайлов

МПК: G01N 23/20

Метки: дифрактометра, монохроматизации, рентгеновского

...ось которого лежит в горизонтальной плоскости. Первичный пучок падает на первый фокусирующий кристалл-монохроматор блока 5. Блок 5 первого фокусирующего кристалла-монохроматора путем поворота его держателя б вокруг оси, перпендикулярной плоскости платформы 3, устанавливается так, что между осью первичного пучка рентгеновского излучения и касательной, проведенной к центру первого 4 юкусирующего кристалла-монохроматора блока 5, образуется угол 6 , где 6 - угол Брэгга. При отражении первичного пучка от цилиндрической поверхности первого кристалла-монохроматора блока 5 происходит его монохроматизация и 4 юкусировка в плоскости, перпендикулярной его образующей, При этом угол между осями первичного и отраженного пучков составляет 29,...

Номер патента: 1547036

Опубликовано: 28.02.1990

Авторы: Кондрашкина, Новиков, Степанов

МПК: G21K 1/06

Метки: излучения, коллимации, монохроматизации, рентгеновского

...помощьювторого монокристалла или щели, тотем самым ограничится спектральныйинтервал/ и соответственно расходимость ) в плоскости, перпендикулярной плоскости дифракции. Кроме того, выбирая различные индексы вторичного отражения, можно изменять В,р итем самым изменять величину угловойрасходимости в плоскости, перпендикулярной плоскости дифракции.Устройство для осуществления прецлагаемого способа содержит монокристалл 1 и устройство ограничения угловой расходимости рентгеновского пучка - щель 2, 11 онокристалл 1 установлен в положении брэгговского отражения падающего на него рентгеновскогопучка 3. В качестве устройства ограничения угловой расходимости можетиспользоваться как показанная на,фиг. 1 щель 2, так и второй монокристаал в положении...

Номер патента: 1786962

Опубликовано: 15.07.1994

Авторы: Невяжская, Яковлев

МПК: G01J 3/10, H01J 61/76

Метки: излучения, криптоновой, лампы, монохроматизации, резонансной

...с помощью ваку.линий с помощью полосового или отрезаю- .щего фйльтра из материала, прозрачного 30 умногомонохроматорамой линии и непрозрачного для Иэ чертеже можйо вйдеть,"что:1. Соответствующие кривые воспроизостальных. Однаков настоящее время неиз- - . оотн мате иал, который был бы непрозра- водят форму друг друга. Различия междунсных линий ними, вероятнее всего, связаны с погрешночен для ОднОЙ из резонэнсных лини и(116 5 и 123,6 нм) и хорошо пропу стями измерения температур рапериМенэ2. В р 50150 С ее мжНаиболее близким к предлагаемому . инте в фию является использование мно- непрерывный спад коэффициента пропун ионного ильтра скания окна и интенсивности излучениягослойного нтерфж нного фиьЧтипа металл-диэлектрик-металл. на...