Патенты с меткой «гиротропных»

Номер патента: 121510

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Гинцбург

МПК: G01R 27/22, G01R 27/26, G01R 33/12 ...

Метки: гиротропных, компонент, магнитной, проницаемостей, сред, тензоров, электрической

...резонансной частоты и расширение полосы пропускания:д - ,1 о До/. - о/". о/ (2) Затем в резонаторе с образцом возбуждается эллиптически поляризованное колебание типа Н с левым вращением и измеряются резонансная частота о и полуширина полосы пропускания о/ (опыт 3).Далее вычисляют вызванные образцом смешение резонансной частоты и расширение полосы пропускания:дсо= о) . - м; До. =о - о, (з) Направление вращения определяется относительно внешнего ста- тическОГО намагничивающего пОля Н,. Поэтому для ТОГО, чтобъ перейти от схемы опыта 2 к схеме опыта 3, достаточно, не меняя возбуждения резонатора, изменить направление поля Но на обратное, например, переключением тока в обмотке электромагнита, создающего поле Но.Из данных всех трех...

Номер патента: 141899

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Герм

МПК: G01R 25/02

Метки: гиротропных, значений, осевой, свч, симметрией, собственных, тройников

...величина г.а (120 ) не достигается ни при каких значениях поля, активность фер. ритового элемента должна быть увеличена, для чего должен быть применен феррит с большей намагниченностью насыщения или должныбыть увеличены размеры ферритового элемента,Далее следует добиться того, чтобы угол между 5, и 52 (или 5 з)также равнялся 120. Регулировка этого угла производится введениемв тройник симметричных неоднородностей или изменением размеровферрита (при соответствующем изменении поля, так чтобы сохраняласьнужная величина угла между 5 и 5 з)Как следует из определения собственных значений, в общем случае для измерения собственных значений симметричного СВЧ сочленения необходимо одновременно подать во все его плечи сигналы, пропор циональные...

Номер патента: 1402857

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Бережной, Влох, Шопа

МПК: G01N 21/21

Метки: гиротропных, кристаллов, оптической, ориентации, поляризационно, системе

...и анализатора,когда плоскости поляризации последних совпадают с главными направлениями в кристалле,Если на негиротропный кристаллпослать линейно поляризованный вдольодного из главных направлений свет;то из кристалла выйдет также линейно поляризованный свет, Если поместить такой кристалл между поляриэато. ром и анализатором, то минимуму ин-тенсивности излучения на выходе анализатора будет соответствовать такая ориентация кристалла, поляризатора и анализатора, когда плоскости поляризации последних совпадают с главными направлениями в кристалле.Если послать на гиротропный кристалл линейно поляризованный вдоль одного из главных направлений свет, то из кристалла выйдет эллиптически поляризованный свет.Однако существует такое направление в...

Номер патента: 1753375

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Белый, Пашкевич, Ропот, Шепелевич

МПК: G01N 21/21

Метки: гиротропных, кристаллов, кубических, постоянных, фотоупругих

...основании измеренных ф,ф,ф) и 2)4 из системы линейных неоднородных уравненийапсМц - фд уп = АЛЬМф,= Е 10011р, - азимут падающего линейно поляризованного света; 5фЪ - азимут дифрагированного света;1 и - длина области акустооптическоговзаимодействия;г 41 - электрооптический коэффициент;114 - пьезоэлектрический коэффициент;я, - статическая диэлектрическая проницаемость кристалла;р- удельное вращение плоскости поляризации;Р 1 - компоненты тензора фотоупруго 15сти;п - 1,2,3,4 - индекс, соответствующийгеометрии взаимодействия,рассчитывают фотоупругие постоянные гиротропных кубических кристаллов,В предлагаемом способе проводятсяизмерения только азимута ф (угла) дифрагированного света и угла поворота плоскости поляризации р 1 при...