G01N 22/00 — Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот

Страница 3

Радиоспектрометр

Загрузка...

Номер патента: 951128

Опубликовано: 15.08.1982

Авторы: Каджар, Мусаев, Салаев

МПК: G01N 22/00

Метки: радиоспектрометр

...газа,акустический детектор 4, синхронныйдетектор 5, индикатор б, модуляторы7 и 8 плоскости поляризации, смеситель 9.Радиоспектрометр работает следу 1 п ющим образом.Излучение от сверхвысокочастотныхгенераторов 1 и 2 пройдя через модуляторы 7 и 8 плоскости поляризации,попадает в ячейку 3 с исследуемымгазом. При свипировании частот генераторов 1 и 2 в пределах, включающихисследуемые спектральные линии, соответствующие переходам трехуровневойсистемы, акустический детектор 4реагирует на поглощение в те моментывремени, когда направления плоскости поляризации обоих излучений совпадают. Частоты модуляции плоскостиполяризации модуляторов 7 и 8 выбираются разными, В результате индика.тор 6 регистрирует низкочастотныйсигнал на разностной...

Газовый анализатор

Загрузка...

Номер патента: 966565

Опубликовано: 15.10.1982

Авторы: Артемов, Малахов, Полторацкий, Филиппов, Черненький

МПК: G01N 22/00

Метки: анализатор, газовый

...содержащий лазер, размещенную перед ним 3страиваемый сверхвысокочастотныйгенератор 6, модулятор 7, тактовыйгенератор 8, а также металлическую перегородку 9, центральнвя частькоторой выполнена в виде зеркала, апериферийная часть снабжена отвер"стиями, запредельными для СВЧ излученияГазовый анализатор работает следующим образом, оИзлучение от лазера 1 и излучение от перестраиваемого СВЧ генератора 6 подается в кювету 2 для исследуемого газа. Разогрев исследуемогогаза за счет однофотонного или двухфотонного поглощения лазерного иСВЧ излучения приводит к прогибумембраны и с помощью датчика 4 перемещения мембраны 3 регистрируетсярегистратором 5. Модуляция СВЧ излучения Модулятором 7 от тактового,генератора 8 приводит к...

Автоматический анализатор жидкости

Загрузка...

Номер патента: 970199

Опубликовано: 30.10.1982

Автор: Искин

МПК: G01N 22/00

Метки: автоматический, анализатор, жидкости

...жидкости работает следующим образом.Сначала устройство калибруется, ф 5 для чего в камеры, образованные стаканами 8, 9 и 10, помещают образцовую жидкость, с помощью привода 7 приводят во вращение кювету 3 и приемником 6 (под приемником 6 понимается 5 О совокупность всех управляющих и измерительных элементов и/или приборов, необходимых для проведения измерений) измеряют амплитуду модуляции СВЧ сигнала. При этом используя 55 синхронизованный опорный сигнал, поступающий с привода 7, достигают минимального значения измеряемого сиг 99 4нала Величина этого фонового сигнала будет определяться величиной остаточного периодического (с частотой вращения кюветы 3) рассогласования (за счет эксцентрического расположения стакана 9) передатчика 2 и...

Способ газовой спектрометрии

Загрузка...

Номер патента: 985739

Опубликовано: 30.12.1982

Автор: Фурашов

МПК: G01N 22/00

Метки: газовой, спектрометрии

...давлениягаза в кювете 3, генератор 6 опорногонапряжения, усилитель 7, синхронный детектор 8 и индикатор 9,Способ реализуют следующим образом,формируют сверхвысокочастотное излучение с помощью генератора 1, Одновременно осуществляют плавную перестрой ку рабочей частоты генератора 1 с помощью блока 2. Излучение генератора 1пропускают через кювету 3 с исследуемым газом При этом давление газа вкювете 3 изменяют с определенной;частотойй с помощью модулятора 5 давления, Частоту Я, задает генератор 6опорного напряжения Так как величинапоглощения излучения газом функциональ-,но связана с давлением газа, то при совпадении частоты сверхвысокочастотногосигнала и резонансной частоты спектральной линии поглощения газа интенсивностьпоступающего на...

Устройство для измерения параметров геофизических объектов

Загрузка...

Номер патента: 985740

Опубликовано: 30.12.1982

Авторы: Бородин, Крапивин, Малютин, Тестов

МПК: G01N 22/00

Метки: геофизических, объектов, параметров

...входом сумматора 11, решающий блок 5 состоит из идентичных каналов 13, каждый из которых содержит сумматор 14, к и входам которого подключены и умножителей 25 15, одни входы которых образуют первую группу входов решающего блока 5, а другие - вторую группу входов решающего блока 5, при этом число каналов 13 равНо числу измеряемых параметров. ЗОУстройство работает следующим обра эом.При калибровке радиометров 1 сигна - : ,илы Е; 1=1,И)с их выходов через35Р -канал.ьный блок 2 коммутации поступают в блоки 3 вьчисления дисперсииЯ. При этом антенно-фидерный тракт16 отключен от радиометров 1. В блоке3 вычисления дисперсии осуществляется 4 Овычисление по следующему алгоритму:Ж 6, =Я р) где. Я: - ,Е(Е; - М) 2, Вычисленные значениячпоступают в...

Способ измерения диэлектрических характеристик веществ и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 809952

Опубликовано: 30.12.1982

Авторы: Быстров, Мальцев, Поляков

МПК: G01N 22/00

Метки: веществ, диэлектрических, характеристик

...б компоненты сигналапоступают на многоканальный блок11 регистрации и обработки, Работа модулятора 5 и синхронных детекторов б синхронизирована при помощи генератора 7.Спектр сигнала приемника 9 при таком виде фазовой модуляции содержитийформацию о фазовом спектре исследуемого вещества 3."Предложим, что исследуемое ве,щество 3 характеризуется комплексным пропусканием вида Е =(Е+Ед)(Е + Е). 30 Отсюда видно, что отношение бесселевых функций 1 фд)1 будет изме-0 няться с изменением частоты генератора (источнйка 1), зто можно учестьпри обработке, либо устранить приизмерении, уменьшая амплитуду модуляции А с ростом частоты (о источника 1. В последнем случае отношение сигнал/шум. при перестройкечастоты источника 1 будет...

Способ определения параметров неоднородной плазмы в магнитном поле

Загрузка...

Номер патента: 987483

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Архипенко, Будников, Плюта, Романчук, Симончик

МПК: G01N 22/00

Метки: магнитном, неоднородной, параметров, плазмы, поле

...фиг.1 приведена структурнаясхема устройства, реализующего способ;на фиг.2 - распределение переменнойсоставляющей интенсивности а 2 излучения плазмы по длине 0,Устройство содержит баллон 1, магнит 2, волновод 3, генератор 4 исистему регистрации интенсивностиизлучения плазмы в,оптическом диапазоне, включающую световод 5, фотомприемник 6, усилитель 7, синхродетектор 8; самописец 9, баллон 1 сплазмой вводится в волновод 3 черезотверстия в середине его широких сте-.нок, к нему .подводится амплитудномодулированная волна типа Но отгенератора 4 на частоте, для которой выполняется условИе 4 о-юн, где ив угловая частота зондирующего сигнаеф ла, шц - циклотронная частота.йПоглощение электромагнитной волны приводит к локальному нагреву 5...

Сверхвысокочастотный датчик для измерения процентного содержания одного из компонентов смесей

Загрузка...

Номер патента: 1002926

Опубликовано: 07.03.1983

Авторы: Лавриненко, Минов

МПК: G01N 22/00

Метки: датчик, компонентов, одного, процентного, сверхвысокочастотный, смесей, содержания

...по центру широкой стенки нет поперецных токов, В местерасположения измерительных ячеек2 волна Нр частично поглощается,частично отражается, частично проходит к согласованной нагрузке 9.Отраженная волна Нр через плавныйволноводный переход 8 возвращаетсяобратно в одномодовый Волновод, гдепоглощается, например, с помощью ферритового вентиля (не показан ,Из-за различия электромагнитныххарактеристик эталонной и измеряемойсмесей, находящихся в измерительныхячейках 2, в месте расположения послацних возбуждаются волны Н э, однаиз которых распространяется в сторонуплавного волноводного перехода 8, адругая - в сторону согласованнойнагрузки 9. При этом амплитуда волныН, распространяющейся в сторонуплавного волноводного перехода 8,определяется...

Сверхвысокочастотное устройство для измерения влажности

Загрузка...

Номер патента: 1013829

Опубликовано: 23.04.1983

Авторы: Безбородов, Войтеховский, Киселев, Лавренко, Лавриненко, Скрипник, Стовбун

МПК: G01N 22/00

Метки: влажности, сверхвысокочастотное

...коаксиального резонатора выполнены отверстия связи с установленными в них и-р-и -диодами 14, а в емкостном зазоре резонатора установлен варакторный диод 13, Управляющие напряжения подаются от источников наи-р-и-диоды 14 по проводам 15, а на варакторный диод по проводу 1 б.Генератор 1 и детектор 4 подклю-чены к коаксиальному резонатору 3 ;через соответствующие волноводы ( нли коаксиальные линии)Устройство содержит также эталонный 17 и исследуемый 18 образцы.Устройство работает следующим образом.Сигнал, поступающий от генератора 1, возбуждает в коаксиальном резонаторе 3 вынужденные электромаг- нитные колебания. Варакторный диод .13 обеспечивает перестройку резона-, тора таким образом, что обязательно частота генератора 1 и собственная...

Камера для измерения концентрации электронов плазмы и плотности газовых струй

Загрузка...

Номер патента: 1046661

Опубликовано: 07.10.1983

Авторы: Москалев, Поспелов, Чистяков

МПК: G01N 22/00

Метки: газовых, камера, концентрации, плазмы, плотности, струй, электронов

...при этом отверстия, расположенные в широкой стенке одного отрезка прямоугольного волновода отстоят друг от друга на расстоянии, равном/2, а другогона расстоянии 1 , где- длина 60 волны в отрезке прямоугольного волновода, соответствующая резонансной частоте резонатора.На фиг.1 .приведена конструкция камеры на Фиг,2 - разрез А-А на 65 фиг,1; на фиг.3 - разрез Б-Б на фиг.1.Камера для измерения концентрации электронов плазмы и плотности газовых струй содержит резонаторв виде отрезка 1 круглого волновода, отрезок 2 прямоугольного волновода, дополнительный отрезок 3 прямоугольного волновода, отверстия 4, расположенные на расстоянииэ друг от друга в общейширокой стенке отрезка 2 пря моугольного волновода и стенке отрез. ка 1 круглого...

Способ определения дипольного момента молекулы газа

Загрузка...

Номер патента: 1061013

Опубликовано: 15.12.1983

Авторы: Белов, Крупнов, Мельников, Скворцов

МПК: G01N 22/00

Метки: газа, дипольного, молекулы, момента

...при хорошем разрешенном спектрепоглощения молекул исследуемого газа,особенно для случая впервые синтезированных веществ,Цель изобретения - определениедипольного момента молекулы газа сзаранее неизвестным спектром, присокращении времени.Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу определения дипольного момента молекулы газа, основанному на спектральном анализе газа с помощью микроволновогоизлучения и измерения смещения частоты перехода молекулы газа, в эталон.ный гаэ с известным дипольным моментомэ молекулы вводят молекулы , 65 йробного газа и измеряют частоту ., конкретного перехода молекул пробного, газа и давление РЭ в эталонном газе, затем молекулы того же пробного газа вводят в исследуемый гаэ и измеряют частоту 12...

Резонансная ячейка спектрометра магнитного резонанса

Загрузка...

Номер патента: 1062580

Опубликовано: 23.12.1983

Авторы: Вертий, Попенко, Попков, Шестопалов

МПК: G01N 22/00

Метки: магнитного, резонанса, резонансная, спектрометра, ячейка

...параллельна вектору возбуждающего резонаторэлектромагнитного поля.Возможны следующие конструктивныеварианты выполнения анизотропногоэлемента. Это пластина из анизотропного диэлектрика, например, монокристаллического кварца Е = 4,63;- 4,43 или пластина из изотропно-.го диэлектрика, на котором с однойстороны нанесена периодическая структура. В обоих случаях толщина стенки5 кюветы выбирается из условия обеспечения максимума СВЧ магнитногополя на образце 3 = 9 /2 1 Г, где Ядлина волны,- диэлектрическаяпроницаемость материала стенки 5кюветы, Параметр Ж =/3 , где3 - период структуры, выбирается изусловия обеспечения максимальногосдвига фаз между ортогональными компонентами электромагнитного СВЧ по1062580 Составитель С.РыковРедактор Н. Бобкова...

Резонатор радиоспектрометра

Загрузка...

Номер патента: 1070461

Опубликовано: 30.01.1984

Авторы: Брик, Ищенко, Окулов

МПК: G01N 22/00

Метки: радиоспектрометра, резонатор

...образца и закреплены дна штыря модуляции, а такжеэлемент связи с возбуждающим нолнонодом, в торцовой стенке прорезаныдва дополнительных отверстия, центры которых расположены на взаимноперпендикулярных осях, проходящихчерез центр торцовой стенки, в одном из дополнительных отверстий закреплен введенный регулировочныйвинт, а элемент связи с возбуждающим волноводом выполнен в виде петли, проходящей через второе дополнительное отверстие, при этом штыримодуляции установлены симметричноотносительно осевого отверстия, аих оси расположены в одной диаметральной плоскости с плоскостью петли.На Фиг. 1 приведена предлагаемаяконструкция резонатора," на Фиг,2 -вид по стрелке А на Фиг. 1,Резонатор содержит цилиндрический корпус 1, в торцовой стенке...

Способ локального измерения удельного сопротивления полупроводникового материала

Загрузка...

Номер патента: 1100544

Опубликовано: 30.06.1984

Автор: Помялов

МПК: G01N 22/00

Метки: локального, полупроводникового, сопротивления, удельного

...условию ферромагнитного резонанса, и которое перпендикулярно переменному магнитному полю, после чего измеряют ширину линии ферромагнитного резонанса ферритового образца в присутствии исследуемого полупроводникового материала и без него и по изменению ширины линии ферромагнитного резонанса определяют удельное сопротивление исследуемого полупроводникового материала в исследуемой области. На фиг. 1 приведена схема устройства для реализации способа, нафиг. 2 - линии ферромагнитного резонанса ферритового образца.Устройство содержит генератор 1высокой частоты, соединенный с первым плечом циркулятора 2, второеплечо которого соединено с короткозамкнутым волноводом 3, в пучностьмагнитного поля которого помещенферритовый образец 4,...

Устройство для измерения параметров диэлектриков

Загрузка...

Номер патента: 1107035

Опубликовано: 07.08.1984

Авторы: Геппе, Добромыслов, Костромин, Шермин

МПК: G01N 22/00

Метки: диэлектриков, параметров

...через последовательно соединенные детектор и индикатор к входу сверхвысокочастотногогенератора, резонатор, размещенныйв криостате.с крьппкой, резонаторвыполнен в виде диска иэ исследуемого диэлектрика, установленногов криостате, на одном конце штанги,другой конец которой закреплен накрышке, а к свободным концам измерительного тракта подключены соот"ветственно два введенных дугообразных диэлектрических волновода,электромагнитно связанных с резонатором, боковая поверхность дискавыполнена ступенчатой в виде чередующихся кольцевых выступов и впадин, причем толщина и диаметр коль 07035 1 10203040.45 цевых выступов и впадин последовательно увеличиваются, ширина впадины превышает ширину смежных с ней выступов, ширина впадины, ширина...

Свч-устройство для измерения концентрации веществ

Загрузка...

Номер патента: 1107066

Опубликовано: 07.08.1984

Авторы: Смотрицкая, Смотрицкий, Фадеев

МПК: G01N 22/00

Метки: веществ, концентрации, свч-устройство

...при измерении веществ с большими диэлектрическими потерями.Наиболее близким техническим решением к изобретению является СВЧустройство для измерения концентрациивещества, содержащее источник и изме Оритель ослабления СВЧ-излучения,корпус для измеряемого вещества, вкотором установлен диэлектрическийстержень, соединяющий через полыеметаллические волноводы источникс измерителем ослабления СВЧ-излучения 12 ,Однако известное устройство обладает низкой точностью при измеренииконцентрации веществ с большими30диэлектрическими потерями, напримеррастворов солей, кислот и т.п.Цель изобретения - повышение точности измерения концентрации веществс высокими диэлектрическими потерями.35Для достижения цели в СВЧ-устройстве для измерения концентрации...

Измеритель электрофизических параметров полупроводниковых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1109612

Опубликовано: 23.08.1984

Авторы: Григулис, Пориньш, Силиньш

МПК: G01N 22/00

Метки: измеритель, параметров, полупроводниковых, электрофизических

...параметров по 33 уцро 33 опцико 3333 х мате -РИаЛОВ, СОДЕРжаЩЕМ ЩЕЛЕБОЙ ИЗЛУЧатсгПсоедцненг 3 ь 3 с СВЧ гецг ратором ц иг 3 ди-,Окатором, щелевой излучатець выполненв виде отрезка цссцм.3 г 3 т 3 цчцо 3 полос -КОБОЙ лиц 3 пгр 33 эСрац 3333 у 3 де 3 Пластинекоторой прореза 3 о це менее двух из -лучаю 3 ццх еле Ряс цело":ец.ь 3 Х друот друга на расстоянии Л /2, приэтом дл 3 гца каждой 33 злучающей щелиравна 3, а ширина (0,1-0,0)Л,Где 3 длина г 3 олцы 3 отрезке цесимметричной полоског 3 ой пицци.бНа Фиг. 1 приведена конструкцияизмерителя электрофизических параметро 3 полупроиодциковь 3 Х материалов, на Фиг.2 - разрез Л-Л ца Фиг.1;на Фцг.3 - разрез В-В ца Фиг.1.55ИзморТе 3 эпектрофизическцх параметров г 3 ог 3 прг 333 одццког 33 х...

Сверхвысокочастотный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1109613

Опубликовано: 23.08.1984

Авторы: Вайнберг, Козлов

МПК: G01N 22/00

Метки: дефектоскоп, сверхвысокочастотный

...дефектоскоп работает следующим образом,Энергия высокочастотных колебаний,генерируемая СВЧ генератором 1, поступает на вход Н-плеча первого двойного волноводного тройника 2 и делится пополам между его двумя симметричными плечами. К одному из этихплеч первого двойного волноводноготройника 2 присоединен трехдецибельцый делитель 5 мощности, например,Н-плечом. Энергия с выходом симметричных плеч трехдецибельного делителя5 мощности излучается в сторонуконтролируемого объекта 9 черезпервую и вторую антенны б и 1, расположенных симметрично относительнотретьей (центральной) антенны 8,сосдиценной непосредственно со вторым симметричным плечом первого двойного волцоводцого тройника 2.Энергия, отраженная от контролируемого объекта 9, принимаетсяо...

Датчик для измерения удельного сопротивления полупроводниковых стержней

Загрузка...

Номер патента: 1112265

Опубликовано: 07.09.1984

Авторы: Белошицкий, Каблов, Казимиров, Медведев, Мочалин, Наливайко, Нехорошков, Петров, Хрычев, Юшкин

МПК: G01N 22/00

Метки: датчик, полупроводниковых, сопротивления, стержней, удельного

...датчике для измерения удельного сопротивления полупроводниковых стержней, содержащем прямоугольный волновод с соосны 35 ми отверстиями в широких стенках, над которыми размещены четвертьволновые короткоэамкнутые отрезки коаксиальной линии с полыми центральными про 40 водниками длявведения исследуемого полупроводникового стержня, между одним иэ четвертьволновых коротко- замкнутых отрезков коаксиальной линии и широкой стенкой прямоугольного45 волновода установлен отрезок полого цилиндра длиной ( , определяемой неравенством Ъ/4 ( Ь с " /2, где Я длина рабочей волны в свободном пространстве.50На чертеже приведена конструкция датчика для измерения удельного сопротивления полупроводниковых стержней.55Датчик для измерения удельного сопротивления...

Микроволновый спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 1116370

Опубликовано: 30.09.1984

Авторы: Крупнов, Третьяков

МПК: G01N 22/00

Метки: микроволновый, спектрометр

...приемник 2 когерентного СВЧизлучения, установленные перед торцовой стенкой ячейки 3 для исследуемого газа, разделенной на две камеры 4 и 5 перегородкой 6 из пластин 7,перпендикулярной торцовымстенкам ячейки 3, при этом пластины7 попарно соединены между собой,одна из соседних пар пластин 7 соединена с общей шиной 8, а другаяподключена к введенному источнику8 постоянного напряжения. Микроволновый спектрометр работает следующим образом.Формируемое источником 1 СВЧ излучение проходит через камеру 4 ячейки 3. В результате взаимодействия с СВЧ излучением молекулы газа возбуждаются, что приводит к возникновению когерентного спонтанного излучения молекул, причем в камере 4 направление распространения суммарного излучения молекул...

Радиоспектрометр

Загрузка...

Номер патента: 1122949

Опубликовано: 07.11.1984

Авторы: Аскеров, Каджар, Мусаев, Салаев

МПК: G01N 22/00

Метки: радиоспектрометр

...резонанса при близких по частоте основном сигнале и сигнале накачки, атакже регистрации микроволновых вра"щательных спектров поглощения молекул и спектров сигналов двойногомикроволнового-микроволнового резона.саЦель достигается тем, что в радиоспектрометр, содержащий СВЧ-генератор основного сигнала, вход перестройи частоты которого соединен с пер,вым свин-генератором, а модулирующий вход - с первым низкочастотным генератором, СВЧ-генератор сигнала накачки, модулирующий вход которого соединен с вторым низкочастотным ге нератором, волноводную поглощающую ячейку, вход которой соединен с выходом СВЧ-генератора основного сигнала и выходом СВЧ-генератора сигнала накачки, выход поглощающей ячейки соединен через...

Способ определения интегрального ослабления радиоволн мелкими частицами облаков

Загрузка...

Номер патента: 1122950

Опубликовано: 07.11.1984

Авторы: Кармов, Тлимахов, Тхамоков

МПК: G01N 22/00

Метки: интегрального, мелкими, облаков, ослабления, радиоволн, частицами

...частицами облаков обеспечиваетвысокую точность и достоверностьизмерений.Цель изобретения - увеличениеточности и достоверности измерений,Цель достигается тем, что согласно способу определения интегрального ослабления. радиоволн мелкимичастицами облакон, заключающемусяв определении полного ослабления ра"диотеплового излучения облаков путемизмерения радиотеплового излученияоблаков, определении интегральногоослабления радиоволн крупкымн частицами облаков к определении интегрального ослабления радиоволн мелкими частицами облаков по разностиполученных характеристик, интегральное ослабление радиоволн крупнымичастицами облаков определяют путемизмерения радкоэха Р(1,1 к Р(31) отоблаков на двух длинах нолн Ь, и 2в том хсе направлении, в...

Измерительная ячейка для исследования диэлектрических параметров жидкостей

Загрузка...

Номер патента: 1126849

Опубликовано: 30.11.1984

Авторы: Конев, Тиханович

МПК: G01N 22/00

Метки: диэлектрических, жидкостей, измерительная, исследования, параметров, ячейка

...основания которых оринтировапы перпендикулярно падающемувыходящему излучению, а одна изтенок кюветы совмещена с основаниемризмы, причем диэлектрическая приза нарушенного полного внутреннеготражения выполнена с углом при осовании К аксз 1 п п, где п - поазатель преломления материала призмы относительно исследуемой жидкости.Входное и выходное окна служатдля подсоединения ячейки к СВЧ траку на базе стандартного цилиндричесого лучевода диаметром 20 мм, Матеиал призмы выбирается из условия,тобы на границе призма-исследуемаякидкость выполнялось условие полногонутреннего отражения .Изменение эллипсометрических пааметров излучения, отраженного отраницы призма-жидкость, позволяетвысокой точностью определить величину диэлектрической...

Измерительный свч-резонатор

Загрузка...

Номер патента: 1137379

Опубликовано: 30.01.1985

Авторы: Воторопин, Наливайко

МПК: G01N 22/00

Метки: измерительный, свч-резонатор

...не обеспечиваетвысокую точностьизмерений параметров полупроводников,Цель изобретения - повышение точности 25измерения параметров полупроводников.Поставленная цель достигается тем, что визмерительном СВЧ-резонаторе, содержащемотрезок запрепельного прямоугольного волновода с емкостным штырем, ,расположеннымна широкой стенке волновода, измерительное Отверстие, выполненное в противоположной широкой стенке волновода в котороевведен свободный конец емкостного штыря,источник оптического излучения, подключенныйк источнику напряжения, емкостной штырьвыполнен полым, а источник оптическогоизлучения выполнен э виде полунроводниковой светоизлучающей структуры, и-областькоторой контактирует с торцом емкостного4 Дштыря, а р-область...

Способ определения концентрации электронов в ионосферной плазме

Загрузка...

Номер патента: 1141319

Опубликовано: 23.02.1985

Авторы: Тарасенко, Турчин

МПК: G01N 22/00

Метки: ионосферной, концентрации, плазме, электронов

...облучении исследуемого участка ионосферы радиолокационным сигналом, запускают в ионосферу на задан ную высоту пробное металлическое тело в виде сферы с известным радиусом, размеры которой соизмерИмы с длинами облучающих волн, и измеряют отраженный от нее сигнал, по которо му определяют эффективные площади обратного рассеяния пробного металлического тела с плазменным сгущением не менее, чем на двух фиксированных длинах облучающих волн, и 45 по известной зависимости, связывающей эффективну(о площадь обратного рассеяния металлической сферы, концентрацию электронов в плазменном сгущении и длину облучающей волны, 50 определяют концентрацию электронов в плазменном сгущении, а затем определяют концентрацию электронов в ноно сферной плазме по...

Датчик электрофизических параметров полупроводников

Загрузка...

Номер патента: 1148006

Опубликовано: 30.03.1985

Авторы: Катанухин, Медведев, Петров, Скрыльников

МПК: G01N 22/00, H01L 21/66

Метки: датчик, параметров, полупроводников, электрофизических

...носителей заряда.Целью изобретения является измерение подвижности свободных носителей заряда.Поставленная цель достигается тем, что в датчик электрофизических параметров полупроводников, содержащий цилиндрический СВЧ-резонатор,на одной.из торцовых стенок которого расположен индуктивный штырь, а на другой выполнено измерительное отверстие, в которое введен свободный конец индуктивного штыря, а также элементы связи цилиндрического СВЧ- резонатора, с СВЧ-генератором и индикатором, введен соленоид, который охватывает ципиндрический СВЧ-резонатор в области измерительного отверстия и установлен соосно с индуктивным штырем.Торец соленоида расположен в плоскости наружной поверхности торцовой стенки с измерительным отверстием.Торцовая...

Датчик параметров полупроводниковых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1149148

Опубликовано: 07.04.1985

Авторы: Вилисов, Захарова, Медведев, Нечаев

МПК: G01N 22/00

Метки: датчик, параметров, полупроводниковых

...индуктивный стержень, а на другой выполнено измерительное отверстие, в которое введен свободный конец индуктивного стержня, элементы свяструктуры, которая размещена навнешней поверхности торцовой стенки с измерительным отверстием исоединена с введенным источникомпитания, при этом в светоизлучающейполупроводниковой плоской структуревыполнено отверстие, соосное с измерительным отверстием, а его диаметрравен диаметру измерительного отверс,ь:3 черте)Ре приведена конструкцияПатчика параметров полупроводниковых материалов.1149148 Составитель Р. КузнецоваРедактор О. Юрковецкая Техред С.Легеза Корректор И. Муска Заказ 1871/29 Тираж 897ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5...

Автоматический свч-влагомер

Загрузка...

Номер патента: 1149149

Опубликовано: 07.04.1985

Авторы: Горовец, Медведовский

МПК: G01N 22/00

Метки: автоматический, свч-влагомер

...Р Е т(1 Р 1) 1;т -цС Т И и С СС г Р М 0 Г 0 1 с Т ,.) И са П 1) 11-: "; (.-ГРПЕГ)ЯТО О :. " Г)(0;(; КОТОРО( г) ПОГ.131 т.,ва ТСг Е Гс гг ( Г ( ГР гГЫ С 1)П Ц ца ЕГЫХОт Кг О 1)от С;11 ЕГ( ц г 1)- ч ,- вь в О гг"с 17 с го)ГГГ , г,РВТО)ЫМ ЦЫХОПОМ:;РГ)ГОП);ГЕЛИТРгЯ .01;" ЛЯ МОГССтч)(7ПЕО)СГ.гс тГР ГРГ Ч:,гГ.Г ГГ 3 ЬИ Г О) г.;5 к О ), ,Грялпяю)И", ХО Г ,ТОРОгГ ПОГВЛСОЧЕГ 3: Вьх 0 У ТОРО( ГЕЦС ОЯ ГОРЯ ИЗ (ОИ Я С то чсь СМС( 1- ТСЛЬ К ВЫХЗДУ )О ОРО 0 ГЯРал,РЛ:- НО ПОтг(ЛЮ)Е 131 1Сст 1 ч БТОЕОЙ И Т г)С тИЙ Ивбцря.". тЕ.ПЬЕ СИ 5 щчЕГГИ Со(:ДИ - НЕНЦЕ,Р ВтХОДДМ 1 С СОР ВЕ( т С т.юти,1 ВхОдями ыптслителя вляк."( г" тт кБЫхОд ко ОООГО 1(0 з(кГючс)1 (1(,:)1(кя" ОД Я К О И;Г Б С С Т Н ЫЙ Я Б ТМ а Г и Г Р С З гт .Ч с) З г 1 ОМ Е р и гО б сГ ц с)...

Способ определения свч шумовой температуры полупроводника

Загрузка...

Номер патента: 1166023

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Конин, Приходько

МПК: G01N 22/00, G01R 29/26

Метки: полупроводника, свч, температуры, шумовой

...длины и толщины д исследуемого полупроводника не менее чем в 10 раэ, отличающийс я тем, что, с целью измерения распределения шумовой температуры по нормали к поверхности исследуемого полупроводника, последовательно увеличивают ширину прямоугольной щели до величины Ь+1 = Ь + и дЬ, где и=: 1, 2, 3.дЬ - шаг увеличения ширины, измеряют соответветственно мощности Р и+1 фР +1(к 1 излучаемые через прямоугольные щели исследуемым полупроводником и калиброванным источником шума, а распределение шумовой температуры по нормали к поверхности исследуемого полупроводника определяйт по формуле 1+1+ ь. Р,ь Р ь+) температура шума калиброванного источника шума,1166023 ставитель Р. Кузнецовахред М.Кузьма Сирохма оррек дактор Н. Данкули дписное 748ого...

Устройство для поиска биологически активных радиочастот

Загрузка...

Номер патента: 1167483

Опубликовано: 15.07.1985

Авторы: Айзенберг, Арзамасцев, Богаенко, Искин

МПК: G01N 22/00

Метки: активных, биологически, поиска, радиочастот

...среды. 50Поставленная цель достигаетсятем, что в устройстве для поискабиологически активных радиочастот,содержащем СВЧ-генератор, к выходукоторого подключены последовательно соединенные измерительная ячейкаи первый направленньй ответвитель,согласованную нагрузку, усилитель,к выходу которого подсоединеныиндикатор и первьй аттенюатор, подсоединенный к выходу вторичного канала первого направленного ответвителя, между первым направленнымответвителем и согласованной нагрузкой включен второй направленньй ответвитель, между выходом вторичного канала которого и однимвходом введенного сумматора мощностивключены последовательно соединенные второй аттенюатор и фильтр волны типа Н, , между выходом первого аттенюатора и другим...