G01N 22/00 — Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот
Способ неразрушающего контроля механической анизотропии диэлектрических материалов
Номер патента: 1689815
Опубликовано: 07.11.1991
Авторы: Максимович, Тиханович
МПК: G01N 22/00
Метки: анизотропии, диэлектрических, механической, неразрушающего
...азимуту отраженной волны, поступает в блок 12. Блох 9 в соответствии с управляющим сигналом с модулятора 3 работает в двух режимах. В 35 первом, при облучении материала 4 линейно г(оляризованной электоомагнитной волной, плоскость поляризации котовой составляет 450 с плоскостью падения, с помощью блока 9 определяют отношение ми нимального значения сигнала к максимальному, которое дает значение коэффициента эллиптичности отраженной электромагнитной волны, поскольку анализатор 6 при вращении эллипса поляризации вращателем 5 в минимуме сигнала выделяет малую ось эллипса, а в максимуме - большую. Во втором режиме, при облучении материала 4 линейно поляризованной электромагнитной волной, плоскость поляризации которой составляет...
Способ контроля параметров полупроводниковой пластины
Номер патента: 1691722
Опубликовано: 15.11.1991
Авторы: Власов, Дудкин, Малахова, Павлов
МПК: G01N 22/00
Метки: параметров, пластины, полупроводниковой
...от генератора 1 через направленный ответвитель 2 падает на эталонную проводниковую пластину, передняя грань которой находится на фиксированном расстоянии от источника излучения и за 1691722креплена на одном основании с металлическим отражателем 4 и микрометрической системой передвижения. Передвигая металлический отражатель 4, расположенный за эталонной полупроводниковой пластиной, устанавливают минимум отраженного СВЧ-сигнала, наблюдаемого на индикаторном блоке 5. Это соответствует тому, что структура воздух-полупроводник - воздух- металл, образованный металлическим отражателем 4, полупроводниковой пластиной 3 и воздушными промежутками между ними и источником излучения становится резонансной. В этом случае параметры...
Устройство для измерения линейных перемещений
Номер патента: 1696978
Опубликовано: 07.12.1991
Авторы: Камеш, Кацейко, Маишев, Шарф
МПК: G01N 22/00
Метки: линейных, перемещений
...вычислительного блока 2 предварительно записываются значения начал -ной длины Ь резонатора и коэффициент:.вК 4 ,; Кг, вычисленных по формуламЧК 1 = - . - ,2 лгде Ч - скорость распространения электромагнитных волн в коаксиальной линии 4,1К -2 лг Сгде 7 - волновое сопоотивлечие коаксиальной линии;Срезультирующая емкость на радомкнутом конце коаксиальной линии 4, состоящая из емкости конструктивных элементовна конце резонатора, емкости 6 связи ивходной емкости активной части 7 автогене"Оатора,Длина перемещения Ь 4 короткозамыка.теля 5 вычисляется по формуле К 4 К 2Л = в - агст 9 - 4 о,В начале цикла вычисления записанные в блоках 9 и 10 памяти значения К 4 и Кг делятся в блоках 11 и 12 на значение частоты т, поступающее из частотомера 3...
Измерительная ячейка для исследования диэлектрических параметров образца
Номер патента: 1698831
Опубликовано: 15.12.1991
Авторы: Зуев, Полыгалов, Фельдман
МПК: G01N 22/00, G01R 27/26
Метки: диэлектрических, измерительная, исследования, образца, параметров, ячейка
...образцов во временной области, содержащая предлагаемую ячейку, основывается на принципах метода сосредоточенной емкости, Он прост в реализации, перекрывает широкий диапазон частот, позволяет измерять комплексную диэлектрическую прони цаемость я(а) с достаточно высокойточностью. Метод сосредоточенной емкости является однойиз немногих модификаций метода временной диэлектрической спектроскопии (ВДС), которая позволяет 10 получать информацию непосредственно вовременной области в виде функции диэлектрического отклика р(с), однозначно свяэаннойс еФ(в) соотношением)(т)=3 1( е(Я)/Я) (1) 15 где . - символ оператора обратного преобразования Лапласа;а(5) - предельное значение я(в)при в -+ со, Я= у + в;Я - обобщенная комплексная...
Способ измерения электрических нагрузок свч-выключателей
Номер патента: 1700451
Опубликовано: 23.12.1991
Автор: Белов
МПК: G01N 22/00, G01R 27/04
Метки: нагрузок, свч-выключателей, электрических
...учесть влияние на электрическую нагрузку не только величины импенданса СВЧ-выключателя, но и величины его нелинейности, вследствие этого по, вышается точность измерений. Отличиевеличины электрической нагрузки нелиней-ного элемента от величины электрической ; нагрузки аналогичного линейного элементаявляется следствием преобразований части падающей мощности в мощность гармоник и субгармоник сигнала, приводящих к изменению баланса мощностей на частоте сигнала и рассеиванию мощности на частотах гармоник и субгармоник, Для реализации предлагаемого способа требуется всего один измерительный прибор и узкополосный направленный ответвитель (с ослаблением не менее 10 дБ), а измерения отношений гармоник могут производится во всей рабочей, полосе...
Свч-измерительная ячейка
Номер патента: 1702263
Опубликовано: 30.12.1991
Автор: Менцер
МПК: G01N 22/00
Метки: свч-измерительная, ячейка
...- повьшен ИО ОЧНО 1 МдРЕНЯ В ДИВПВЗОНЕ ДВУХкратных частот.Ьа , иг.1 схематически показан резснатос; на фиг,2 - графиазимутальной кэмпо 20 нен- ы электрического поля,В цилиндрическом обьемнсм резонаторе 1 зь ерительной ячейки используется высший тип колебаний НЛ 1 Р (в частности и = 5,р -- 1)1, а в резонаторе Фабри-Перо - основ 2ной п и Олебаний ТЕЫ,оч В частности О =35), Высший тип колебаний Нп 1 р характеризуется тем, что электромагнитное поле внутри сезонатора концентрирует:я наперив ерии цилиндра, а в центсальнай обла 30 сти - весьГ а слабое, Азимутальная компонента электрического поля фиг.2)псапооцлональна функции ./ (х Ал), зави 1симссть которой от нормированного радиу 35Яса (х = - ) для и =- 0-6, причем А 21 = 3,054; Аз=...
Способ дистанционного определения температуры поверхности океана
Номер патента: 1704044
Опубликовано: 07.01.1992
Авторы: Гранков, Либерман, Мильшин
МПК: G01N 22/00
Метки: дистанционного, океана, поверхности, температуры
...сравнение спектральных зеснсымостей интенсивности иэлученцы.:а различных участках трассы полета. Разность соответствуощцх цзмеренцй 50 .Я ) п.:-.г о;оьальна чуаствцтельностыполя ;3: лн ь ваьаццл,л ТПОЛ (3 =- Р ЛТ ц Я),г козфф;.,; ,тами пропорциоальностц служат рзз;:ть ТПО в этих участках и аппаратнал фунцьл Р гч тенно-фидерного тракта. Из сравнеия найденных спектральных зависимостей определяют длину волны Лп, соответствуюшую мЭксцмуму величины Ь (Л) и далее по форьлуле Т = 60,1 - 8,77 Лп+ 0,2 4 определяют температуру поверхности океана. Флюктуационная чуг.твительность современных СВЧ-радиометров составляет десятые доли градусов Кельвина, что обеспечивает надежную фиксацию радиационного контраста Ь на спутниковых трассах протяженностью...
Способ контроля режима энергетической установки
Номер патента: 1705726
Опубликовано: 15.01.1992
МПК: G01N 22/00
Метки: режима, установки, энергетической
...Р=1 и Р=2, Распределение амплитуды электрического поля вдоль оси г резонатора дано на фиг. 1, Видно, что поля колебаний распределены симметрично относительно оси/2. Относительное изменение д частотьи добротности колебаний под деиствиемнеоднородности можно выразить следующим образом: ю) 1,бЧ,(1),зующий 10х,у) 1арактери ибо добротность ко а.е допущения ороден, поп ий равны ме ереписать в густок 15 ечныеЖду со- ледую 20+ агсзп-- =, А(х,у,г,Е ЬЕ 1Е 1 о д 2 = - = /А(х,у.г, Е 2) ЬВ Е 2 О = где А(х,у,2,Е) - параменеоднородность;Е - либо частота,лебанияЧсг - обьем сгусткПримем следующдостаточно мал и одиндексы двух колебабой. Тогда (1) можнощем виде: 1 Е 1(х,у)1 Еф)1 бЧ; 5Неоднозначность вычисления координаты относительно оси/2 заключена...
Способ калибровки и аттестации измерителя диэлектрической и магнитной проницаемостей материалов
Номер патента: 1705727
Опубликовано: 15.01.1992
МПК: G01N 22/00
Метки: аттестации, диэлектрической, измерителя, калибровки, магнитной, проницаемостей
...с требованияли заказчика обусловливается диап;зон значений электромагнитных параметров и задаются величины р ие, для конкретных1,частот и толщин образцов материалов. Для заданных,и,ие,е расчетным пултем определяются величины перемещений поршней 4 и 5 для резонатора 2 с образцом 7 и без в режимах короткого замыкания и холостого хода, равнозначные и такие же, 1705727как если бы в тракт был помещен реальный образец с указанными параметрами, т, е, решается задача по определению изменения резонансной длины коаксиального резонатора 2, Разность резонансных длин 1, 1 2 дает возможность рассчитать значения ,ие ),аЬъ Л 1 - значея,и (е )соответственно в опытах короткого замыкания и холостого хода, Полученные значения перемещений поршней 4 и 5...
Способ дистанционного определения уровня залегания грунтовых вод
Номер патента: 1707513
Опубликовано: 23.01.1992
МПК: G01N 22/00
Метки: вод, грунтовых, дистанционного, залегания, уровня
...не самого поверхностного слояпочвы, а Ъ на глубине 1-5 см от поверхности, под переходным поверхФностнын слоем толщиной Ь, причем 0,5 см б Ь 5 см (фиг.2). Указанный поверхностный слой толщиной Ь оказывает существенное экранирующее влияние на СВЧ-излучения тем больше, цеи больше величина Ь. Поэтому при проведении измерений на одной длине волнывозникают большие погрешности в определении ЕЬ и соответственно Нгв, цто и привело к тому, что способ, изложенный в прототипе, не обеспечивает достаточной точности оценки Иге из-эа вариаций параметра Ь. Рля того, чтобы исключить влияние толщины поверхностного переходного слоя Ь и существенно уменьшить погрешности оценки Н предлагается одновременное определение параметров Ь и сЬ (а соответственно, и...
Устройство для определения содержания компонента в растворе
Номер патента: 1707514
Опубликовано: 23.01.1992
Авторы: Гончаренко, Рыбалко
МПК: G01N 22/00
Метки: компонента, растворе, содержания
...сигнала,в плече разностногосигнала моста 2 будет мерой этогоизменения, что позвол,ет измерять со-,55держаниь компонента в оастворе. Измерительный разностный сигнал СВЧпоступает на детектор 5, на котором выделяется низкочастотная информационная измери 1 ельная составляющая,поступающая на компаратор 6 напряжения, где она сравнивается по величине с опорным напряжением регулируемого источника 7, и далее г. выхода коипаратора 6 через разделительный конденсатор в виде переменной составляющей измерительного напряжения подается на вход усилителя 10; Постоянная составляющая выходного напряжениякомпаратора 6 в описанном режиме измерения запирает диод 8, смещая его переход обратно так, чтобы его сопротив.лением было высокии. Благодаря этому...
Устройство для определения плотности сахарного сиропа (клеровки) в трубопроводе
Номер патента: 1717638
Опубликовано: 07.03.1992
МПК: C13F 1/02, G01N 22/00
Метки: клеровки, плотности, сахарного, сиропа, трубопроводе
...входу измерителя 6 частоты,Устройство для определения плотности сахарного сиропа (клеровки) в трубопроводе работает следующим образом.В рассматриваемом случае зависимость плотйости р сахарного сиропа от концентрации сухого вещества М и температуры т в потоке контролируемой среды в трубопроводе можно записать в видер =а 1 М+Ь 1 т+с 1.где а 1 - коэффициент пропорциональности, рассчитываемый из зависимости плотности О от изменения концентрации сухового вещества М;Ь 1 - коэффициент пропорциональности, рассчитываемый из зависимости плотности Р От иамЕнЕния твмпЕратуры Т;с 1 - постоянная величина.Из выражения (1) видно, что определе-. ние плотности контролируемой среды в трубопроводе 1 требует о 1 новременного измерения концентрации М и...
Способ дистанционного определения минерализации природных вод
Номер патента: 1718066
Опубликовано: 07.03.1992
Авторы: Гительсон, Гранков, Либерман, Шутько
МПК: G01N 22/00
Метки: вод, дистанционного, минерализации, природных
...,Я 1В 1 гдЕ К 1О = 1-.1коэффициенты многочлена, аппроксимиру ющие зависимость Тл 1 = т(Я, Т). минерализацией Я и концентрацией солийаС, Яиас следующим соотношением: Я - ЯиаоЯэ=Я хр- Анализ химического саста растворов показал, что для растворенной компонентой ется соль ИаС, при изменени рализации соотношен концентрациями соли КаС и росодержащими солями сохр янным, т е, и соотнош хлорностью воды и кончен йаС является величиной по данного водоема:17180 б 6 40 Составитель Р. КузнецоваТехред М,Моргентал Корректор О, Ципле Редактор О, Хрипта Заказ 875 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раущская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород,...
Способ контроля сплошности потока диэлектрической жидкости
Номер патента: 1719973
Опубликовано: 15.03.1992
Авторы: Дымшиц, Пчельников, Яворский
МПК: G01N 22/00
Метки: диэлектрической, жидкости, потока, сплошности
...фиг, 1 изображено положение контролируемого потока диэлектрической жидкости в поле электромагнитной волны на фиг. 2 - схема, иллюстри. рующая предлагаемый способ, на фиг. 3 - эпюра распределения квадратов продольной составляющей электрического 40 поля Е и радиальной составляющейэлектрйческого поля Ег.Предлагаемый способ осуществляют следующим образом.Поток контролируемой диэлектричес-кой жидкости 1 проходит через диэлектрическую трубу 2 цилиндрической формы. Снаружи диэлектрической трубы 2 располагают диафрагмированный волновод 3 в котором с помощью генератоЭ50 ра 4 электромагнитных колебаний возбуждают эдектромагнитную волну аксиально-симметричного типа. Прошедшая через диафрагмированный волновод 3 электромагнитная волна падает...
Измерительная секция
Номер патента: 1730569
Опубликовано: 30.04.1992
Авторы: Гангнус, Кудасов, Малоземов, Маркелов, Москалев, Рогожинский
МПК: G01N 22/00
Метки: измерительная, секция
...величина щ 1. Электрическое поле такого колебания локализовано вблизи внешней поверхности боковой стенки 2 резонатора. Образуются так называемые волны "шепчущей галереи". Добротность этих колебаний весьма высока - 10 - 10 . С помощью охла 4 5дителя 5 меняют температуру внешней поверхности боковой стенки 3 резонатора, при этом температура газа вблизи стенки резонатора также меняется, Теплоизолирующая пленка 9 - диэлектрик предохраняет газ от теплового контакта с основной массой резонатора. По достижении боковой стенкой резонатора 2 температуры точки росы на ней начинает оседать влага и образуется полимерная пленка. При этом из-за сильного поглощения микроволн в оседающей на боковой стенке 2 резонатора пленке добротность резонатора...
Измеритель показателя преломления воздуха
Номер патента: 1730599
Опубликовано: 30.04.1992
Авторы: Поляков, Толкачев, Холодняк, Шехтерман
МПК: G01N 22/00, G01R 27/26
Метки: воздуха, измеритель, показателя, преломления
...второй вход которого соединен с выходом концевого выключателя 4, Один из выходов блока 10 управления соединен с входом блока 11 памяти, выход которого соединен с одним из входов блока 12 счета, второй вход которого соединен с вторым выходом блока 10 управления.Измеритель показателя преломления воздуха работает следующим образом.С момента включения питания в схеме автоматически устанавливается периодическое изменение ("качание") частоты УКГ, а следовательно, и СВЧ на выходе источника СВЧ-мощности.Изменение частоты УКГ осуществляется следующим образом.Измерительный объемный резонатор и детектор СВЧ представляют собой СВЧ-дискриминатор, преобразующий частотно-модулированные СВЧ-колебания в СВЧ-колебания, модулированные по амплитуде...
Устройство для измерения параметров полупроводников
Номер патента: 1733986
Опубликовано: 15.05.1992
Авторы: Вертий, Гудым, Иванченко, Попенко, Пустыльник, Тарапов, Шестопалов
МПК: G01N 22/00
Метки: параметров, полупроводников
...При этом существен. ным образом расширится диапазон магнитн ых полей.Предлагаемое устройство может бытьприменено не только для исследования маг нитооптических поверхностных поляритонов в геометриях Фарадея и Фойгта, но и для изучения поверхностных поляритонов других типов. Более того, измерительная ячейка в виде элемента ПВО с устройствами 30 ввода и вывода может стать основным элементом электродинамической системы новых полупроводниковых приборов, в которых будут использованы свойства возбуждаемых поверхностных поляритонов. 35 Сущность изобретения состоит в том, что в устройство для измерения параметров полупроводников, содержащем СВЧ-генератор, выход которого соединен с элементом ввода, связанным с одной боковой 40 гранью ПВО, другая...
Устройство для контроля диэлектрических изделий
Номер патента: 1737326
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Боровиков, Вайнберг, Козлов, Приходько
МПК: G01N 22/00
Метки: диэлектрических
...и 29 нечетное, то первая от входа и далее нечетные щели будут находиться в пучностях стоячей . волны, а вторая и далее все четные - в ее узлах, Если число излучателей (щелей) четное, то блок управления 41 подает управляющий сигнал на коммутатор 42, который подает положительное напряжение на электрически управляемые переключатели 23, 30, которые вследствие этого закорачивают поперечное сечение прямоугольных волноводов на расстоянии, равном (2 К+1) /4 от центров ближайших щелей, тем самым смещая картину стоячей волны на расстояние А/4 вдоль волновода. Таким образом, первые от входа открытые противоположные каналы многоканальных блоков 20 и 29 опять будут находиться в пучностях поля, тем самым обеспечивая максимум излучаемой энергии в...
Устройство для измерения параметров диэлектриков на сверхвысоких частотах
Номер патента: 1737327
Опубликовано: 30.05.1992
Автор: Крылов
МПК: G01N 22/00, G01R 27/26
Метки: диэлектриков, параметров, сверхвысоких, частотах
...резонатора.В данном устройстве длина резонатора фиксируется неподвижной скобой, а операция введения образца в резонатор выполняется с точностью не хуже, чем воспроиэводимость винта, с помощью которого определяется изменение резонансной длины резонатора;Однако при использовании такого устройства для частотных методов измерения параметров диэлектриков невоспроизводимость разъема при введении испытуемого образца вносит дополнительную погрешность измерения.Цель изобретения - повышение точности измерения,На чертеже показано устройство для измерения параметров диэлектриков, общий вид.Устройство для измерения параметров диэлектриков состоит из цилиндрического резонатора 1 с волной Нов, ограниченного с одной стороны неподвижной торцовой стенкой...
Способ изменения физических параметров объекта
Номер патента: 1741033
Опубликовано: 15.06.1992
Автор: Совлуков
МПК: G01N 22/00
Метки: изменения, объекта, параметров, физических
...резонаторе с объектом обеспечивают расширение области применения за счет возможности проведения бесконтактных (дистанционных) измерений, повышение чувствительности за счет возможности многократных зондирований объекта как одной бегущей волной, так и обеими бегущими волнами раздельно. Варьируя параметры схем и выбирая информативный параметр, можно оптимизировать схемные. решения с учетом специфики решаемой задачи, требуемой чувствительности. В частности, в качестве информативного параметра может быть выбрана собственная (резонансная) частота колебаний резонатора,На фиг. 2 а приведена схема устройства, соответствующая схеме взаимодействия волн с объектом на фиг. 1 а, Здесь контролируемый диэлектрический объект 1 (в том числе с...
Устройство для измерения параметров отражения сигнала от входа свч-элементов
Номер патента: 1741034
Опубликовано: 15.06.1992
Авторы: Воронов, Головков, Осипов, Павлов, Приходько
МПК: G01N 22/00, G01R 27/26
Метки: входа, отражения, параметров, свч-элементов, сигнала
...для реализации интерференции двух световых лучей,прошедших через сечение измерительной линии 2. Фотоприемник 13 предназначен для преобразования интенсивности светового луча на выходе сумматора 12 света в электрический сигнал. Источник 3 смещения предназначен для установки требуемой рабочей точки на модуляционной характеристике интерферометра.Устройство работает в двух режимах; режиме калибровки и режиме измерения,В режиме калибровки к измерительной линии 2 вместо исследуемого элемента подключается эталонная короткозамкнутая линия. Сигнал СВЧ-генератора 1 поступает на вход измерительной линии 2 и далее на эталонную линию. В результате интерференции падающей и отраженной волн СВЧ-сигнала в измерительной линии устанавливается режим...
Способ контроля параметров композиционных материалов на основе углеродных нитей
Номер патента: 1742687
Опубликовано: 23.06.1992
Авторы: Максимович, Тиханович
МПК: G01N 22/00
Метки: композиционных, нитей, основе, параметров, углеродных
...информация, котораямогла бы быть получена в результате ее приема и обработки, теряется то, что снижаетвозможности и точность известного спосо 15 ба.Цель изобретения - повышение точности и обеспечение контроля направленияуглеродных нитей композиционных материалов,20 Поставленная цель достигается тем, чтопо известному способу, включающему облучение под углом контролируемого материала линейно поляризованной СВЧ-волной,прием взаимодействующей волны и измере 25 ние ее эллипсометрических параметров,плоскость поляризации зондирующей волны устанавливают под углом 45 к направлению углеродных нитей, в качествепровзаимодействующей волны одновре 30 менно принимают прошедшую и отраженные волны, затем изменяют их плоскостьполяризации на 90. и...
Способ измерения привеса пропиточной и покрывной масс при изготовлении листовых материалов
Номер патента: 1744162
Опубликовано: 30.06.1992
Автор: Касаткин
МПК: D21H 23/00, G01N 22/00
Метки: изготовлении, листовых, масс, покрывной, привеса, пропиточной
...материала поверхностных волн, распространяющихся в поперечном направлении полотна; измерение амплитуды и фазы (или АФР) ТЕ и ТМ волн после прохождения поперек листового полотна; формирование разностного (или суммарного) сигнала ТЕ и ТМ волн; способ измерения не требует использования сложного сканирующего устро яства, так как производит интегральную оценку контролируемого параметра материала в поперечном направлении (сечении) полотна,В известных технических решениях имеется использование СВЧ-излучения, однако СВЧ-излучения используются для просвечивания полотна материала по толщине, а в предлагаемом способе - в виде поверхностных волн, распространяющихся поперек полотна в плоскости листового материала.1744162 10 20 25 Таким образом,...
Способ коррекции структурных характеристик материалов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1748662
Опубликовано: 15.07.1992
Авторы: Акимов, Курик, Лихарев, Майборода, Перов, Самохин, Тарасенко
МПК: G01N 22/00, H03B 28/00, H05C 3/00 ...
Метки: коррекции, структурных, характеристик
...конденсатора 10 первичной генератор соз. дает в зонах Я, Я и Б право- илилевовинтовое торсионное полеВ качествепервичного генератора5,торсионного; поля может использовать-;,ся конструкция (фиг.7 в), состоящая изчастично вакуумированного сосуда 32,содержащего пары металлов (например ртути, натрия), который помещен в ци".линдрический магнит 34.При подаче на электроды 33 напряжения выше потенциала зажигания в сосуде 32 возникает ток, и ионы паровметалла движутся в магнитном поле поспирали. Движение ионов металлов может быть различным для магнитов с ра-диальной и торцевой намагниченностью.Иагнит 34 может иметь различнуюгеометрическую форму и параметры, нодолжен обеспечивать спиральное движение ионов в сосуде 32.Вместо постоянного...
Способ определения соотношения фаз двухфазных сред
Номер патента: 1753378
Опубликовано: 07.08.1992
Авторы: Алексеев, Мамедов, Романов, Филиппов
МПК: G01N 22/00
Метки: двухфазных, соотношения, сред, фаз
...Тогда при скорости потока вв, можно утверждать, что й = 1, и следовательно х -- 1+(а , (4) т.е. между х и а существует однозначная связь. Величина е зависит от плотностей рж и рлсмеси и составляет, например, для гелия 100 кг/м с, для водовоздушной смеси при атмосферном давлении 1000кгм с.Цель изобретения - определение величины массового расходного паросодержа 5 ния двухфазных потоков сред.Указанная цель достигается тем, что вспособе опрделения соотношения фаз двухфазных сред, заключающемся в пропускании исследуемого потока через10 высокочастотный датчик сплошности, измерении его резонансной частоты и давлениясреды, по которым определяют сплошностьпотока а и плотности р рж пара и жидкости, исследуемый поток пропускают через15 датчик с...
Способ измерения толщины диэлектрических покрытий металлов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1753379
Опубликовано: 07.08.1992
МПК: G01N 22/00
Метки: диэлектрических, металлов, покрытий, толщины
...измерения позволяет учитывать влияние металлической подложки, исключить влияние непостоянства зазора и при этом повысить чувствительность за счет использования всей амплитуды поверхностной волны. При этом обеспечивается высокая локальность контроля,В устройстве для осуществления измерения поляризационного параметра - эллиптичности выходной волны используется только один канал, что позволяет исключить нелинейность второго СВЧ- детектора, а также значительно уменьшить габариты первичного преобразователя и упростить приемный СВЧ-канал, который состоит из второго согласующего перехода, оканчивающегося прямоугольным волноводом и СВЧ-детектором. Конец ДВ имеет плавный переход, как и в начале, с квадратного сечения на двугранный клин,...
Способ дистанционного определения влажности почвогрунтов
Номер патента: 1756808
Опубликовано: 23.08.1992
Авторы: Комаров, Корниенко, Кузьмин
МПК: G01N 22/00
Метки: влажности, дистанционного, почвогрунтов
...К) погрешностей при расчетах влажностных отобъеной влажности Я; зависимости 1 и 2 параметров почвогрунтов. Дополнительно, длл песчаного почвогрунта и длин волн при выполнении известного способа также Л 1=2,5 см и Л 2=1 см соответственно. эависитребуются наземные измерения влажности мости 3 и 4 для монтмориллонитовой глины на глубине слоя стационарйой влажности. 20 и тех же Л 1 и Л 2 соответственно,Цель изобретения - обеспечение опре- Способ осуществляют следующим обделенйя максимальной молекуллрной вла- разом.гоемкости Я и объемной влажности Я Измеряют СВЧ-радиометрами в надир почвогрунтов.лркостные температуры Т 1 я и Т 2 я контролиУкгазаннал цель достигаетсл тем, что из руемого участка почвогрунта на двух длинах меРлют ЯРкостные...
Способ неразрушающего измерения свч-параметров сверхпроводника и датчик для его осуществления
Номер патента: 1758529
Опубликовано: 30.08.1992
Автор: Кошуринов
МПК: G01N 22/00
Метки: датчик, неразрушающего, сверхпроводника, свч-параметров
...СВЧ-параметров сверхпроводника осуществляют следующим образом.Через полосковую линию 5 на устройство с установленным на нем исследуемым образцом 9 подают два СВЧ-сигнала с частотами б и 2 и мощностью соответственно Р 1 и Р 2, 5 10 20 25 посредством емкости, образованной участком 12, осуществляется связь отрезка поло 30 35 40 45 50 55 причем Р 1Р 2. Сигнал частоты 11 модулирован по амплитуде с частотой модуляции 1 з. С помощью трансформатора 4 оба сигнала поступают на отрезок 1 измерительной линии, который вместе с поверхностью сверхпроводящего образца 9, расположенный над отрезком 1, и диэлектрической пленкой 8 между ними образуют отрезок несимметричной полосковой линии 10, для которой "земляным" проводником является сверхпроводящая...
Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов
Номер патента: 1758530
Опубликовано: 30.08.1992
Автор: Колосов
МПК: G01N 22/00
Метки: диэлектрической, проницаемости
...0,27 х - 11 56. Еу 9,35.Предлагаемый способ измерения анизотропии диэлектрической проницаемости материалов реализуется следующим образом, С генератора качающейся частоты 8 СВЧ сигнал через коаксиально-волноводный переход 5 подается на секцию прямоугольного волноводэ с направленным ответвителем 4,.Часть энергии прямой волны через направленный ответвитель и дв тектирующую секцию 6 подается на вход падающей волны индикатора 9, другая часть энергии через волноводный переход подается на вращающуюся секцию с измеряе мой пластиной 2. Отраженная волна черезнаправленный ответвитель и детектирую щую секцию 7 подается на вход отраженнойволны индикатора Я 2 Р - 67.В общем случае, когда положение осей 10 тензора поперечной диэлектрической...
Способ определения ориентации волокон в материалах
Номер патента: 1758531
Опубликовано: 30.08.1992
Авторы: Курнаев, Поляков, Тищенко
МПК: G01N 22/00
Метки: волокон, материалах, ориентации
...волокон в материалах, заключающемся в размещении материала в резонаторе, зондировании его электромагнитными волнами СВЧ-диапазона и измерении параметров резонзто 175853150 ности, можно определить по построенному калибровочному графику влажность исследуемой хлопковой ленты. Проведенные экспериментальные исследования показали так же, что коэффициент отражения В электромагнитных волн диапазона СВЧ (с длиной волны от 1 до 30 см) от хлопковых лент изменяется при изменении ориентации волокон в хлопковой ленте (0,5: М0,8) и изменении ее влажности (ОЧЧ 10),5 10 15 20 25 30 35 40 45 причем растет при увеличении й и И/. Поэтому, построив по измеренным данным зависимость коэффициента отражения электромагнитных волн диапазона СВЧ от...