Способ определения свч шумовой температуры полупроводника
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(19) (11)р 1) С 01 К 29/26 ЫЙ КОМИТЕТ СССР ОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИГОСУДАРС ПО ДЕЛАМ ЗОБРЕТЕНИЯ ПИСА ЕЛЬСТВ(71) Ордена Трудового Красимени институт физики полупрАН Литовской ССР(прототип). дького Знаводнико чие 971 ССР 198 свидетельство С 01 К 29/26 ИЯ СВЧ ШУМОНИКА, оснотей Ри тственно м и калиботрезок яэи в виде Ь в кото-, Тк1 о Т К АВТОРСКОМУ СВИД(54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНВОЙ ТЕМ 11 ЕРАТУРЫ ПОЛУПРОВОДванный на измерении мощноР шума, излучаемых соотв(к 1исследуемым полупроводникрованным источником шумаволновода через элемент спрямоугольной щели, ширин р ой меньше ее длины и толщины д исследуемого полупроводника не менее чем в 10 раэ, отличающийс я тем, что, с целью измерения распределения шумовой температуры по нормали к поверхности исследуемого полупроводника, последовательно увеличивают ширину прямоугольной щели до величины Ь+1 = Ь + и дЬ, где и=: 1, 2, 3.дЬ - шаг увеличения ширины, измеряют соответветственно мощности Р и+1 фР +1(к 1 излучаемые через прямоугольные щели исследуемым полупроводником и калиброванным источником шума, а распределение шумовой температуры по нормали к поверхности исследуемого полупроводника определяйт по формуле 1+1+ ь. Р,ь Р ь+) температура шума калиброванного источника шума,1166023 ставитель Р. Кузнецовахред М.Кузьма Сирохма оррек дактор Н. Данкули дписное 748ого комитета СССий и открытийРаушская наб д Заказ 4306 Тираж ударствен изобрете ва, Ж,НИИПИ Г по дел13035, М а тент филиал оектная,ород зВыбор шага измерений дЬ ( -Й10 обусловлен точностью измерений температуры. В случае, когла .погрешность определения СВЧ-мощности измерительным приемникомаоставляет. 103,й достаточно выбрать ЬЬ = - .10 Йспольэование предлагаемого способа измерения СВЧ шумовой темпера-, туры полупроводника обеспечивает измерение шумовой температуры в лю бой области объема полупроводника,что особенно важно при исследовании неоднородно разогретых систем.
СмотретьЗаявка
3589472, 04.05.1983
ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ АН ЛИТССР
КОНИН АЛЕКСАНДР МИХАЙЛОВИЧ, ПРИХОДЬКО АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 22/00, G01R 29/26
Метки: полупроводника, свч, температуры, шумовой
Опубликовано: 07.07.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1166023-sposob-opredeleniya-svch-shumovojj-temperatury-poluprovodnika.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения свч шумовой температуры полупроводника</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения электрических параметров пьезоэлектрических резонаторов
Следующий патент: Устройство для определения номера провода жгута
Случайный патент: Устройство для крепления сиденья в транспортном средстве