Способ определения свч шумовой температуры полупроводника

Номер патента: 1166023

Авторы: Конин, Приходько

ZIP архив

Текст

(19) (11)р 1) С 01 К 29/26 ЫЙ КОМИТЕТ СССР ОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИГОСУДАРС ПО ДЕЛАМ ЗОБРЕТЕНИЯ ПИСА ЕЛЬСТВ(71) Ордена Трудового Красимени институт физики полупрАН Литовской ССР(прототип). дького Знаводнико чие 971 ССР 198 свидетельство С 01 К 29/26 ИЯ СВЧ ШУМОНИКА, оснотей Ри тственно м и калиботрезок яэи в виде Ь в кото-, Тк1 о Т К АВТОРСКОМУ СВИД(54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНВОЙ ТЕМ 11 ЕРАТУРЫ ПОЛУПРОВОДванный на измерении мощноР шума, излучаемых соотв(к 1исследуемым полупроводникрованным источником шумаволновода через элемент спрямоугольной щели, ширин р ой меньше ее длины и толщины д исследуемого полупроводника не менее чем в 10 раэ, отличающийс я тем, что, с целью измерения распределения шумовой температуры по нормали к поверхности исследуемого полупроводника, последовательно увеличивают ширину прямоугольной щели до величины Ь+1 = Ь + и дЬ, где и=: 1, 2, 3.дЬ - шаг увеличения ширины, измеряют соответветственно мощности Р и+1 фР +1(к 1 излучаемые через прямоугольные щели исследуемым полупроводником и калиброванным источником шума, а распределение шумовой температуры по нормали к поверхности исследуемого полупроводника определяйт по формуле 1+1+ ь. Р,ь Р ь+) температура шума калиброванного источника шума,1166023 ставитель Р. Кузнецовахред М.Кузьма Сирохма оррек дактор Н. Данкули дписное 748ого комитета СССий и открытийРаушская наб д Заказ 4306 Тираж ударствен изобрете ва, Ж,НИИПИ Г по дел13035, М а тент филиал оектная,ород зВыбор шага измерений дЬ ( -Й10 обусловлен точностью измерений температуры. В случае, когла .погрешность определения СВЧ-мощности измерительным приемникомаоставляет. 103,й достаточно выбрать ЬЬ = - .10 Йспольэование предлагаемого способа измерения СВЧ шумовой темпера-, туры полупроводника обеспечивает измерение шумовой температуры в лю бой области объема полупроводника,что особенно важно при исследовании неоднородно разогретых систем.

Смотреть

Заявка

3589472, 04.05.1983

ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ АН ЛИТССР

КОНИН АЛЕКСАНДР МИХАЙЛОВИЧ, ПРИХОДЬКО АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 22/00, G01R 29/26

Метки: полупроводника, свч, температуры, шумовой

Опубликовано: 07.07.1985

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1166023-sposob-opredeleniya-svch-shumovojj-temperatury-poluprovodnika.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения свч шумовой температуры полупроводника</a>

Похожие патенты