G01N 21/88 — выявление дефектов, трещин или загрязнений

Номер патента: 1827597

Опубликовано: 15.07.1993

Авторы: Волкова, Зендриков, Луппова, Ребане, Седов, Штительман, Юрцев

МПК: G01M 3/06, G01N 21/88

Метки: дефектов, поверхности, уплотнителей, эластомерных

...поверхности эласто мерных уплотнителей осуществляется следу- (Лющим образом (фиг. 2). Устройство устанав-, зО ливается на участок поверхности контроли-руемого зластомерного уплотнителя б с ее.роятним наличием дефекта таким образом, чтобыоптический цилиндр 2 опирался своейа плоскостью на его поверхнсть, а при проведении испытаний несдеформированный участок эластомерного уплотнителя свободно проходил сквозь пазы 11 втулки 8. Перемещением механизма деформирования 5 участок поверхности контролируемого эластомерного уплотнителя 6 сжимается на ве 1827597личину рабочей деформации, т.е, до полного контакта опорного торца 9 втулки 8 со свободной металлической поверхностью места установки 10, С помощью микроскопа 3, установленного в корпусе 1,...

Номер патента: 1790288

Опубликовано: 30.07.1994

Авторы: Борисенко, Новиков, Пивен, Соловей

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, поверхностных

...и второй входыпервого 18 и второго 21 счетчиков координат являются соответственно вычитающим и суммирующим, В зависимости от кода знака схема 19 управления выбирает один из этих входов,Состояние счетчика 22 приращений до хождение видеосигнала на выход схемы 4записи в него текущего приращения харак- совпадения, а затем йо сигналу от схемы 20 териэуется как нулевое и нулевой сигнал на сравнения элемент 3 памяти запрещает его втором выходе запрещает схеме 19 уп- прохождение видеосигнала на выход схемы равления прохождение импульсов тактовой 5 4 совпадения, тем самым Формируя локальчастоты на счетчики 18 и 21 координат. Сиг- ное окно.налами со схемы управления разрешается Детектор 5 выделяет бинарные сигназапись приращения из блока 15...

Номер патента: 1715047

Опубликовано: 27.10.1995

Авторы: Борисенко, Соловей

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, поверхностных

1. Способ автоматического контроля поверхностных дефектов, заключающийся в том, что создают изображение поверхности контролируемой детали посредством телекамеры, видеосигналы, поступающие из телекамеры, преобразуют в цифровые, запоминают и сравнивают с заданными пороговыми значениями, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности и быстродействия контроля, предварительно записывают в памяти строчные координаты локального окна, соответствующего форме контролируемой детали так, что в каждой строке формируют четное число координат контура локального окна и каждая нечетная координата является началом локального окна в данной строке, а каждая четная концом, затем совмещают локальное окно с телеизображением зафиксированной относительно...

Номер патента: 835209

Опубликовано: 27.02.1996

Авторы: Котляров, Сорокин

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, обнаружения, поверхности, фотоэлектронное

ФОТОЭЛЕКТРОННОЕ УСТРОЙСТВО ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ, содержащее излучатель, фотоприемник, расположенный в ходе лучей зеркально отраженного светового потока, измерительный усилитель, соединенный входом с выходом фотоприемника, и дополнительный фотоприемник, установленный в ходе лучей диффузно отраженного светового потока, отличающееся тем, что, с целью повышения надежности контроля, оно снабжено дополнительным усилителем и управляемым сопротивлением, включенным в цепь отрицательной обратной связи измерительного усилителя и соединенным управляемым входом с выходом дополнительного усилителя, вход которого соединен с выходом дополнительного фотоприемника.

Номер патента: 772198

Опубликовано: 20.01.1997

Авторы: Иванова, Король, Лисицын, Малкес, Сердечная, Сукиасова, Шеховцова

МПК: C09K 11/06, G01N 21/88

Метки: дефектоскопии, магнитно-люминесцентный, порошок

Магнитно-люминесцентный порошок для дефектоскопии, включающий люминофор1,8-нафтоилен-11, 21-бензимидазол, связующее - полиметилметакрилат и магнитный порошок, отличающийся тем, что, с целью повышения интенсивности люминесценции и выявляющей способности, в качестве магнитного порошка он содержит никель-цинковый феррит при следующем соотношении ингредиентов, мас.1,8-Нафтоилен-11,21-бензимидазол 8 10Никель-цинковый феррит 88,5 91,0Полиметилметакрилат Остальное

Номер патента: 1630478

Опубликовано: 20.10.1999

Автор: Строганов

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, нелинейных, обнаружения, средах

Способ обнаружения дефектов в нелинейных средах, заключающийся в пропускании сфокусированного оптического излучения через нелинейный кристалл и сканировании объема кристалла с последующей регистрацией прошедшего излучения на частоте оптических гармоник, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности к дефектам, малым по сравнению с когерентной длиной взаимодействия, оптическое излучение пропускают под углом к оптической оси кристалла нелинейной среды, не равным c, где c - угол между оптической осью кристалла нелинейной среды и...

Номер патента: 1105022

Опубликовано: 27.09.2013

Авторы: Гурский, Кутилов, Покрышкин, Сигалов

МПК: G01N 21/47, G01N 21/88

Метки: качества, поверхности, подложек, полупроводниковых

Устройство для контроля качества поверхности полупроводниковых подложек, содержащее смонтированный на станине предметный столик, расположенные на одной оптической оси лазер, коллиматор и полупрозрачное зеркало, видикон и видеоконтрольное устройство, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности и улучшения качества контроля, оно дополнительно снабжено механизмом разделения потоков, состоящим из штыревых фиксаторов, пневматического сопла и светочувствительных датчиков положения полупроводниковой подложки, блоком импульсов запуска, генератором развертки, ключом, видеоусилителем, первым компаратором, задатчиком уровня срабатывания первого компаратора, первым счетным...