G01N 21/88 — выявление дефектов, трещин или загрязнений

Номер патента: 1242780

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Великотный, Калинин, Потапова, Прохорова

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, оптических, поверхностей

...светового потока,рассеянного дефектами, соответству ющего участка поверхности, котораяпропорциональна площади дефектов на.данном участке поверхности, а значит - и удельной плотности дефектовна данном участке, если площадь 40 участков одинакова. Исходя из этогоможно определить пороговые значенияамплитуд сигналов фотоприемника 10,соответствующие границам классовчистоты поверхностей оптических де талей по формуле ную оптическую систему на фотоприемник 10. Диафрагма 8 установлена в приемной оптической системе для того, чтобы исключить возможность попадания на фотоприемник 10 световых лучей, рассеянных дефектами на нижней поверхности и внутри контролируемой оптической детали, Чтобы обеспечить прохождение светового потока в осветительной и...

Номер патента: 1245961

Опубликовано: 23.07.1986

Авторы: Абакумов, Базанов, Татаринов

МПК: G01N 21/88

Метки: исследуемого, координат, объекта, центра, яркости

...По соотношению между сигналами координатных и опорных каналов с помощью схем 12 и 13 деления определяют координаты Х и У центра яркости всех дефектов детали 1. После этого по сигналам координат производят процесс совмещения центра диафрагмы 3 с центром яркости дефектов, осуществляемой ШД Х 16 и ШД У 17. Для этого источник 27 питания ШД подключают к ШД Х 6 и ШД У 17 через вентили 19 и 20 до тех пор, пока компараторы 22 и 23 не вырабатывают импульсы равенства координат центра яркости и координат центра диафрагмы 3, получаемых от датчиков 24 и 25 линейных перемещений.В момент совпадения оси диафрагмы 3 с центром яркости вентили 19 и 20 закрывают подачу питания на ШД Х 16 и ШД У 17, после этого диафрагму 3 по координатным осям Х и у не...

Номер патента: 1280506

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Литвинов, Татаринов

МПК: G01N 21/88

Метки: детали, дефекта, координат, следа, центра, яркости

...наличие нулевого сигнала, снимаемого с выхода суммирующего усилителя 14, на первом входе коммутатора 29. На два других входа подаются единичные сигналы, пРедставляющие импульсы равенства координат ЦД и следов дефектов (ЦЯ) вырабатываемые первым и вторым компараторами 17 и 18. Эти же сигналы поступают на первый и второй вентили 26 и 27. В результате шаговые двигатели 23 и 24 линейного перемещения оказываются отключенными от ИП 22 шаговых двигателей. Устроиство начинает отрабатывать перемещение ЦД из точки 1 в точку 11 с одновременным уменьшением диаметра диафрагмы 3 на 1/2 (фиг. 1), что приведет к нарушению симметрии следов относительно ЦД,Единичный сигнал с первого выхода коммутатора 29 поддерживает триггер 51 в состоянии нулевого...

Номер патента: 1062902

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Кошелев, Мазурик

МПК: G01N 21/88, H04N 9/64

Метки: дефектов, объекта

...изображения, отображаемого на экране 5видеоконтрольного блока соответствует определенная зона изображенияконтролируемого объекта, и, в зависимости от того, какую часть площадизоны занимает дефект, элемент отоб 10ражается тем или иным цветом. Числоэлементов разложения изображенияконтролируемого объекта выбирается,исходя иэ площади контролируемого15объекта и из минимальных размероввыявляемых дефектов и значительнопревышает число элементов разложения,выводимых на экран видеоконтрольногоблока, за счет чего кадр иэображенияконтролируемого объекта отображает20на цельном изображении объекта всюнеобходимую информацию о микродеФектах,Отображаемый ТВ-сигнал первогоизображения с числом элементов разложения, равным числу зон, и с...

Номер патента: 1315879

Опубликовано: 07.06.1987

Авторы: Вармашкин, Кузьменок, Янкявичус

МПК: G01J 1/44, G01N 21/88

Метки: дефектов, лучевых, магистральных, прибор, радиографических, размеров, сварных, снимках, трубопроводов, швов

...клин 5 ирентгенографический снимок попадаетна фотодатчик 2 измерительного канала, а второй - на зеркало 4 - и отраженный от него через рентгенографический снимок на фотодатчик 6 опорного канала. При этом на выходе фотодатчиков появляются сигналы, величина которых пропорциональна прошедшимчерез снимок световым потоком. Величина прошедшего светового потока зависит от плотности почернения снимка.При одинаковой плотности почернения снимка на выходах фотодатчиков2 и 6 появляются одинаковой величины сигналы, которые усиливаются логарифмическими усилителями 9 и 1 О иподаются на соответствующие входы дифференциального усилителя 11. На выходе дифференциального усилителя 11 разностный сигнал, соответствующий одинаковой плотности почернения...

Номер патента: 1317335

Опубликовано: 15.06.1987

Авторы: Васильков, Кочуров, Сажаев

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектоскоп, фотоэлектрический

...амплитуда электрического сигнала на входе светоприемника, как в обычных светоприемниках, а его частота, Пройдя буферный каскад 8, сигнал автогенератора, управляемого световым потоком, подается на умножитель девиации частоты (УД), который может состоять из нескольких последовательно соединенных ступеней умножения, где он усиливается в усилителе 9, проходит частотный дискриминатор 10, детектор 11, обрезается по уровню немодулированной его части опорным напряжением источника 12 и подается на варикап 13, управляющий частотой электронного автогенератора 14.Управляющее напряжение на варикапе пропорционально световому потоку и много вьппе управляющего напряжения на светочувствительном р-и-переходепервого автогенератора. Поэтому девиация...

Номер патента: 1317336

Опубликовано: 15.06.1987

Авторы: Кокурин, Куликов, Марченко, Полунин, Смирнов, Сушков

МПК: G01N 21/88

Метки: датчик, процессе, разрушения, теплозащитного, толщины

...прозрачного световода, распространяется по нему (благодаря полным внутренним отражениям) и выходит из противоположного торца, Для уменьшения потерьсвета при внутренних отражениях световоды изготовляют иэ световедущейжилы с высоким показателем п преломления, окруженной изоляционной оболочкой с меньшим показателем по преломления, В таких световодах потерисвета на поверхности раздела стержня(жилы) и оболочки малы даже для лучей, претерпевающих тысячи отражений.С фотодиода снимается электрическийсигнал, время регистрации которогосоответствует уносу ТЗМ 8 на величи-,ну, равную разности между исходнойтолщиной ТЗМ 8 и координатой торцастержня, Стержень затем начинает разрушаться заподлицо с исследуемым ТЗМ8. Процессу разрушения ТЗМ 8 и датчика...

Номер патента: 1332204

Опубликовано: 23.08.1987

Авторы: Борейко, Вылегжанин, Заводчиков, Поплавский, Таганов, Таганова, Яркин

МПК: G01B 11/30, G01N 21/88

Метки: высоты, шероховатости

...обеспечивает измерение шаго С = 4 2 4 Убсоя /Л М 44 где б 456 сов в =б среднеквадратичная высотанеровностей фугол: падения излучения наобразец,сдлина волны света,коэффициент, зависящий ототклонения приемной системы.от угла зеркального отражения ( 3 ) 1). у50 Расстояние 2, ст плоскости изображения сменных объективов 2 до объектива 11 приемной системы соответствует расстоянию практической бесконечности 2Р /Л, где й - поперечныйразмер изображения источника, создавого параметра шероховатости, что позволяет измерять высоту неровностейпо контрасту спекл-структуры беэ при 5влечения других способов а также даЭет полную информацию о параметрах шероховатости - шаговом и высотном, Измерение шага основано на принципе оптики спеклов: максимальный...

Номер патента: 1368741

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Блинов, Горохов, Смирнов

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов

...информативным частям оптического сигнала от эталонной или дефектной деталей Нормирователи 15 и 16 представляют собой регулируемые усилители, коэффициенты усиления которых устанавливаются в соответствии с нормой дефекта (например, в зависимости от количества царапин). Схема 17 сравнения в простейшем случае представляет собой мостовую схему, в плечи которой включены нормирователи. В этом случае сигнал одной полярности соответствует годной детали, другой - дефектной.Например, при разбраковке дета" лей типа полированной пластины с периодическими канавками дефектами являются царапины на ее поверхности, появившиеся вследствие несовершенства технологии, обрабатывающего инструмента и т.д, Диаграммы пространственных спектров (сечений)...

Номер патента: 1379706

Опубликовано: 07.03.1988

Автор: Татаринов

МПК: G01N 21/88

Метки: детали, дефектов, координат, центров, яркости

...усиления фотоприемника (или коэффициент передачи по аналогии с автоматикой и радиоэлектроникой).При этом на фотоприемники поступает световой поток только от наиболееяркого дефекта. Рабочую точку всехтрех фотоприемников, в качестве которых используют ФЭУ, выбирают в начале линейного участка характеристики освещенность - напряжение питания ФЭУ. Возможна и обратная комбинация: рабочую точку ФЭУ выбирают вконце, т.е, наверху, линейного участка характеристики освещенность - напряжение питания ФЭУ, а коэффициентпропускания жидкокристаллической матрицы выбирают равным единице, те.матрица в на але работы прозрачна.Таким образом, в начале контроляиз-за минимального коэффициента пропускания светового потока определяются координаты центра...

Номер патента: 1406453

Опубликовано: 30.06.1988

Авторы: Михальчик, Николаев, Чунин

МПК: G01N 21/59, G01N 21/88

Метки: излучения, когерентного, оптическими, пропускания, средами

...формирование пространственно- частотного спектра излучения, прошедшего через образец оптической среды, что позволяет не только измерять энергию прошедшего через образец излучения, но и контролировать наличие в нем фазовых неоднородностей, которые увеличивают размеры спектра пространственных частот и приводят к появлению более высокочастотных составляющих в нем. При выделении части пространственно-частотного спектра, содержащей высокочастотные составляющие, соответствующие наличию фазовых неоднородностей в образце оптической среды, определяют наличие неоднородностей.Кроме того, способ позволяет измерять пропускание образцов оптических сред различных геометрических размеров. При этом размеры образца определяются возможностью...

Номер патента: 1408372

Опубликовано: 07.07.1988

Авторы: Горохов, Живетин, Рожков, Суровягин, Тимашов, Тимашова

МПК: G01J 1/04, G01N 21/88

Метки: изменений, объектов, пространственных, решетчатой, структуры

...(кроме Ч = О) имеется набор изображений источника, образованных излучениями в диапазоне ЬЬ, выделяемом цветным светофильтром измерительного канала.Положение центров дифракционных изображений источника света относительно оптической оси при немонохроматическом излучении определяется выражением1= ср( +) о а/2,где Ь и Ь - верхняя и нижняя границыспектрального диапазона излучения источника.Размеры дифракционных изображений источников определяются следующим образом: продольный размерЬ, = Ч(Ь - Ь)о а+ д,.ф,поперечный размерд=д,При наличии в структуре измеряемогообъекта дополнительных включений, например, в виде элементов круглой формы илив виде произвольно ориентированных линий,в частотной плоскости дополнительно формируется фурье-спектр этих...

Номер патента: 1420489

Опубликовано: 30.08.1988

Авторы: Валюс, Кеткович, Молодкина

МПК: G01N 21/88

Метки: плотности, повышенной, рентгенограмм

...трубчатая галагенная лампа, которая излучает видимое и инфракрасноеизлучение, Видимый (холодный) светосвещает матовый экран, а тепловое(инфракрасное) излучение отфильтровывается зеркалом 5 и поглощается покрытием цилиндра 6, Крепление тепло-.запплтного цилиндра к боковым стенкамкорпуса 2 изолирует его от переднейповерхности корпуса. Нагретый инфракрасным излучением цилиндр 6 отдаетсвое тепло воздуху, проганяемому через него вентилятором 7.С целью защиты глаза оператора отослепляющей яркости малаплатныхучасткав рентгенограммы производится перекрывание этих участков защитнымишторками 8 и 9. Для фотометрическихизмерений светового потока, проходящего через различные участки рентгенограммы, используется микрозонд 11.Скользящим движением...

Номер патента: 1476358

Опубликовано: 30.04.1989

Авторы: Тюрин, Шиляев, Шмаков

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, плоских, поверхностей

...фотоэлектрической информации (не показан). Устройство размейено в контролируемой детали 11.Устройство работает следующим образом.Луч от источника 1 излучения расширяется коллиматором 2, фокусируется в полосу цилиндрической линзой 3, формируется цилиндрической линзой 4 в световое пятно прямоугольного сечения, которое направляется и фокусируется по периметру контролируемого прямоугольного отверстия детали 11 с помощью четырехгранной пирамиды 5, причем каждая боковая поверхность пира 1 оступаюшее по световодам 8 световое излучение преобразуется в фототок приемниками 10 излучения и обрабатывается в бло ке обработки информации. 45 50 55 10 15 20 25 30 35 40 миды 5 отражает на соответствующую грань контролируемого отверстия излучение...

Номер патента: 1495693

Опубликовано: 23.07.1989

Авторы: Бабин, Клусов, Лущенко, Сорокин

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, обнаружения, поверхности

...мгновенные 30значения амплитуд переменных составляющих электрических сигналов на выходах усилителей, определяемые рельеФом контролируемой поверхности, равны между собой. Быравтенные сигналы 15суммируют в сумматоре 7. При отсутствии дефектов переменные составляющие электрических сигналов на выходах усилителей 5 и 6 находятся впротивофазе, так как их фазы определяются соответственно зеркальным идиффузным характером отражения светаи после сложения взаимно компенсируВ случае наличия дефекта, появляющегося как нарушение поверхности контролируемой детали (царапины, трещины, сколы, выбоины), импульсы электрических сигналов определяемые де фектами этого типа на вь.ходах усилителей 5 и 6 противофазны и при сложении также взаимно компенсируются,...

Номер патента: 1500921

Опубликовано: 15.08.1989

Авторы: Ильичев, Коннов, Михейкин, Потапов

МПК: G01J 1/44, G01N 21/88

Метки: дефектоскопии, конструкций, неметаллических, оптической

...которого определяют наличие и размеры дефекта. 1 ил,Устройство содержит оптически связанные источник 1 излучения и расположенные по ходу излучения проекционный 2 и фокусирующий 3 объективы, а также генератор 4 экспоненты и источник 5 тока, выполняющие функцию модулятора излучения, фотоприемник 6, выполненный дифференциальным, содержащим два фотодиода 7 и 8, источник 9 запирающего напряжения, последовательно включенные первый усилитель 1 О, первый пиковый детектор 11, первый пороговый элемент 12 и последовательно включенные второй усилитель15009 Составитель Е.МаколкинТехред Л,Олийнык Корр Л.Бескид Парфенов к аказ 4858/38 Ти 1.аж 789НИИПИ Государственного комитета по изобретения113035, Москва, Ж, Раушская Подписное НТ СССР и открытиям...

Номер патента: 1500922

Опубликовано: 15.08.1989

Авторы: Марчюленис, Перевозчиков, Суткус, Шленский

МПК: G01N 21/88

Метки: армированных, дефектов, листовых, пластиках, светопроводящих, технологических

...а из зависимости= Г(п) определяют число циклов нагружения п", соответствующее началу линейной стадии (фиг.З),Измерение светопропускания образцов в исходном состоянии и в процессе нагружения проводят с помощью однолучевого двухканального фото- метра (фиг.4) . Устройство содержит блок 1 осветителя, обеспечивающий получение стабильного излучения в видимой области спектра; переднюю 2 и заднюю 3 секции оптического коммутатора для переключения светового потока на разные каналы с исследуемым 4 или эталонным 5 образцами; оптический приемник 6 и регистрирующий прибор 7Устройство работает следующим образом.Световой поток от осветителя через секцию 2 подводится через гибкие световоды к нагружаемому или эталонному (свободному от всяких...

Номер патента: 1509695

Опубликовано: 23.09.1989

Автор: Борзых

МПК: G01J 1/44, G01N 21/88

Метки: блок, дефектоскопа, измерительный, фотоэлектрического

...иэ входов второго компаратора 12, Второй вход компаратора 12соединен с выходом усилителя 2, Компаратор 11 предназначен для регистрации импульсов положительной полярности (относительно среднего уровнясигнала), компаратор 12 - для регистрации импульсов отрицательной полярности, 55 Измерительный блок работает следующим образом,5 4В процессе развертки поверхностифотопреобразователь 1 вьщает напряжение, пропорциональное фототоку, Влюбой момент времени это напряжениеимеет только положительные значения,Выходное напряжение фотопреобразователя 1 усиливается усилителем 2.Усиленный сигнал фотопреобразователя 1 поступает на КС-звено Энижних частот. На выходе КС-звена выделяется постоянная (низкочастотная )составляющая сигнала, т,е, среднийего...

Номер патента: 1518739

Опубликовано: 30.10.1989

Автор: Борзых

МПК: G01J 1/44, G01N 21/88

Метки: анализатор, дефектоскопа, электронный

...режим", Перед началом калибровки дефектоскопа делается выборка иэ потока таких изделий, которыепо принятым техническим требованиямне могут быть однозначно отнесены кгруппе годных или к группе дефектных.При этом в выборке должны быть,представлены разнообразные типы дефектов, по своим размерам, глубине ит.д.находящихся на границе между допустимыми и недопустимыми, Первое из 55делие из выборки помещается в зонуконтроля дефектоскопа и начинаетсяразвертка его поверхности, Аналоговый сигнал фотодатчика после усиления и фильтрации поступает на сигнальный вход компаратора 1 (на чертеже верхний). На опорном входе компаратора 1 в первый момент времени аналоговое опорное напряжение равно нулю. На выходе компаратора 1 появляется логическая...

Номер патента: 1527560

Опубликовано: 07.12.1989

Авторы: Витман, Гребенюк, Зайченкова, Лаптева, Суминов

МПК: G01J 1/44, G01N 21/88

Метки: качества, наружной, резьбы

...приемником излучения зеркальной составляющей отраженного светового потока, Нд выходе5 10 15 20 25 ЗО 35 40 45 50 55 приемника излучения установлен усилитель 9, выход которого связан снходом фильтра 10 верхних частот,выход которого соединен с входомамплитудного детектора 11, выходкоторого связан с инвертирующимвходом дифференциального усилителя12. Неинвертирующий вход этого усилителя соединен с выходом фотоприемника 4, а выход дифФеренциальногоусилителя связан с входом формирователя 13 импульсов. Выход формирователя 13 импульсов соединен с первым входом элемента 2 И 14, второйвход которого соединен с вторым выходом генератора 15 прямоугольныхимпульсов. Выход логического элемента 2 И 14 соединен с входом блока16 индикации...

Номер патента: 1536215

Опубликовано: 15.01.1990

Автор: Зуев

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, направлении, оценки, просвечивания, размеров, фотометрической

...1 оценивается с помощью зависимостей Ж/) =Г, см.фиг. 8, по заранее известной или предварительно определенной (например, методом двойного просвецивания со смещением источника излучения) глубине залегания г реального деФекта.Расчетное выражение получено для пустотелых (заполненных воздухом) эталонных дефектов. Для реальных деФектов типа газовых пор, заполненных воздухом непроваров, утяжин, проплавов р = 0 и р / (р- ) "-1. Для случая дефектов с заполнением, например, шлаковых включений рдФ 0 и для оценки величины р/(Р- у ) предварительноопределяют плотность шлака отдельно для каждого конкретного вида сварки и применяемых сварочных материалов,Коэффициент контрастностиопределяемый из.характеристических. кривых радиографических пленок,...

Номер патента: 1448876

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Нестеренко, Снитко, Стерлигов, Суббота, Ширшов

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, поверхности, полированной

...детектора 6 в цифровой кад. В эти моменты времени (С, С, Сз) сигналом с третьего выхода синхронизатора 10 производится выбор ячейки ЗУ 9, соответствующей данному участку поверхности:По окончании аналага-цифрового преобразования (маменты времениОС 6) сигнал Ц с выхода конца преобразования АЦП 7 поступает на второй вход синхронизатора 1 О, который сигналом со своего первого выхода на первый вход амплитудного детектора устанавливает нулевое напряжение на выходе детектора б, тем самым подготавливая ега к приему сигналов оч следующего участка условной сеткина поверхности образца 4. Однавременно с этим импульсом с третьего выхода синхронизатора 1 О поступает импульс П 6 на вход Запись-считывание" ЗУ 9 при появлении разрешающего напряжения Б...

Номер патента: 1548725

Опубликовано: 07.03.1990

Авторы: Желязков, Клусов, Котляров, Лущенко, Сорокин

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, обнаружения, поверхности

...поверхности цилиндрическихпластмассовых деталей, наличие которых недопустимо . К ним о тносятся: пятна с пониженным коэдЬипиентом отражения при одинаковой чистоте отработки поверхности (посторонние включения); пятна с понышенньмкоэФЬициентом отражения при одинаковой чистоте обработки поверхности(посторонние включения); механическиедефекты (трещины, сколы, задиры, участки с пониженной чистотой обработкиповерхности); участки с повышеннойчистотой обработки поверхности; дефекты с плавными переходами междубездефектными участками и дефектами(вмятины, буг ры); наплывы лака, маслянная пленка толщиной и = (0,1-1)мм,Контролируемое иэделие базируетсян центрах и вращается с угловой скоростью И . На поверхности изделия .формируется световой...

Номер патента: 1550388

Опубликовано: 15.03.1990

Авторы: Довгялло, Ермоленко, Лазарева, Савастенко

МПК: G01N 21/88

Метки: высокочастотном, дефектоскопии, металлической, поверхности, поле, электрическом

...дисперсного синего К, или дисперсного розового ЖТ, подают напряжение 5 кВ при частоте 25 кГц в течение 5 мин. На материале появляется изображение дефекта.В таблице приведены значения оптической плотности изображения дефекта (Д ) и разность (Д-Д) оптической пЛотности пленки (Д) и оптической плотности изображения дефекта, которая характеризует контраст изображения дефекта исследуемой металличес- кФЙ поверхности, сформированного на полимерной пленке. Как видно из данных таблицы, предлагаемый способ пО сравнению с известным позволяет увеличить контраст изображения дефектов в 3-7 раз.Фо р м у л а и з о б р е т е н и яСпособ дефектоскопии металлическфй поверхности в высокочастотном электрическом поле путем формированйя изображения...

Номер патента: 1578605

Опубликовано: 15.07.1990

Автор: Борзых

МПК: G01J 1/44, G01N 21/88

Метки: блок, дефектоскопа, измерительный, фотоэлектрического

...14, Сопротивления резисторов 11 и 13 сравнимы с сопротивлениями резисторов б и 8, Стабилитроны 12 и 14 подбираются таким образом, чтобы их напряжения стабилизации соответствовали точке сопряжения линейных участков аппроксимированной зависимости величины шума от величины постоянной составляющей. По сравнению со стабилитроном 14 стабилитрон 12 имеет напряжение стабилизации, большее в 17 Г;К раз, где К, иК - коэффициенты передачи делителей напряжения.Устройство работает следующим образом.Усиленный сигнал фотопреобразователя, положительный в любой момент времени, поступает на вход фильтра 1 нижних частот, На выходе фильтра 1 вьщеляется постоянная (низкочастотная) составляюшая сигнала, На выходе второго делителя 4 напряжения...

Номер патента: 1326004

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Стерлигов, Суббота, Ширшов

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, оптических, поверхностей

...от источника 1 расширяется до необходимого размера коллиматором 2 и двумерным сканирующим устройством 3 разворачивается в растр вдаль взаимно перпендикулярных направлений, а затемфокусирующим объективом А фокусируется на исследуемую поверхность, установленную в держателе 5. Свет, рассеянный дефектом, находящимся на исследуемой поверхности, преобразуется зеркалом 6 в пучок, близкий .к параллельному, который затем зеркалом 7 фокусируется в изображение дефекта на поверхности фотоприемника 8. При контроле .прозрачных деталей прошедшие пучки света выводятся из схемы после отражения от плоского зеркала 9.При наличии поверхностных дефек-. тов с размерами, значительно превышающими длину волны источника света, рассеянный свет. направлен в...

Номер патента: 1582094

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Никитенко, Юрицын

МПК: G01J 1/44, G01N 21/88

Метки: дефектов, поверхности, профилей

...обработки информации - метод сравнения электрического сигнала, отражающего свойства контролируемой поверхности изделия, с запомненным в ПЗУ сигналом, полученным от поверхности эталонного изделия.Устройство работает следующим образом,Контролируемое иэделие 39, ориентированное контролируемой поверхностью вверх, поступает и перемещается на позиции контроля со строго постоянной скоростью. Осветитель формирует на поверхности иэделия изображение световой полосы, которое при помощи объектива 7 проецируется на светочувствительную поверхность фотоматрицы 8, причем место положения освещенных участков поверхности и их освещенность однозначно связаны с геометрическими размерами и качеством данного участка поверхности изделия. При поступлении изделия...

Номер патента: 1606919

Опубликовано: 15.11.1990

Авторы: Безверхий, Марченко, Плынин

МПК: G01N 21/88

Метки: нанесенных, непрозрачных, отверстий, подложку, покрытиях, прозначную, регистрации, сквозных

...способа.Установка содержит осветитель 1, направляющий под углом к нормали поток когерентного излучения на прозрачную подложку 2 с непрозрачным покрытием в виде маскирующего слоя 3. Параллельно подложке 2 и с противоположной ее стороны расположен плоский экран 4, способный перемещаться в своей плоскости, на поверхность которого нанесен светочувствительный слой 5, в котором после фотохимической обработки наблюдаются дифракционные изображения отверстий 6.Способ осуществляют следующим образом.1606919 Формула изобретения Составитель Л. ЛобзоваРедактор А. Ревин Техред А. Кравчук Корректор О. КравцоваЗаказ 3547 Тираж 511 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж 35, Раушская...

Номер патента: 1617342

Опубликовано: 30.12.1990

Автор: Борзых

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектоскопии, поверхности

...линии 10 задержки соединен вход сброса интегратора блока 2 вычисления дисперсии. Квыходу делителя 12 частоты подключен вход стробирования компаратора8. Пиковые детекторы 3 и 4 состоятсоответственно из операционных усилителей 17 и 18, кремниевых диодов19 и 20 и конденсаторов 21 и 22 смалыми утечками. Операционные усилители 17 и 18 должны иметь МОП-транзисторы на входы, входы масштабногоусилителя 7 и компаратора 8 такжедолжны быть высокоомными, в ключах13-16 должны быть использованы кремниевые транзисторы,Устройство работает следующим образом.В момент поступления дважды задержанного импульса с выхода линии11 задержки открываются электронныеключи 15 и 16, Конденсатор 21 разряжается, а конденсатор 22 заряжаетсяпочти до напряжения...

Номер патента: 1619145

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Бабин, Клусов, Лущенко, Сорокин, Чистяков

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, изделия, поверхности

...осуществляется следующим образом.На поверхность вращаемого (переме щаемого) контролируемого изделия 8 направляют световой поток от излучателя 1.Фотоприемники 2 и 3 регистрируют соответственно зеркально и диффузно отраженные световые потоки в точках, 10 равноудаленных (для исключения влияния на отношение их амплитуд потерь в среде распространения и точной аппроксимации формы индикатриссы рассеяния) от точки падения светового потока на изделие 8 и 15 между собой. Амплитуды отраженных световых потоков в каждой точке, преобразованные в электрические сигналы фотоприемниками 2 и 3, усредняют во времени и сравнивают с амплитудами световых 20 потоков остальных точек в преобразователе-компараторе 4. По результатам сравнения амплитуд...