Способ контроля размеров и обнаружения поверхностных дефектов в изделиях

СССР ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ К АВТОРСКО ИДЕТЕЛЬС С. И. Катаев, Г. А. Левин и Р. А. Варитов ПОСОБ КОНТРОЛЯ РАЗМЕРОВ И ОБНАРУЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ В ИЗДЕЛИЯХаявлено 19 марта 194 г. за Ла 30537 Предметом изобретения является способ контроля размеров и обнаружения поверхностных дефектов в изделиях, с целью их автоматической выбраковки (при наличии трещин, раковин, вмятин, при неточных размерах, неправильной конфигурации и т. д.).Сущность способа заключается в том, что сравнение исследуемой детали с эталонной осуществляется при помощи бегущего луча, методами, применяемыми в телевидении,Для этого применяют телевизионный передатчик с так называемым бегущим лучом, включающий: кинескоп с флуоресцирующим экраном, выпрямителем и генератором токов развертки, в совокупности с объек. тивом, фотоэлементом и усилителем. Однако в отличие от передатчика общеизвестного типа, на пути бегущего луча от кинескопа до изделия поставлена специальная призма, склеенная из двух частей, а параллельно фотоэлементу включен второй фотоэлемент таким образом, что токи обоих фотоэлементов протекают через общее сопротивление в противоположных направлениях. В одно гнездо закладывают исследуемое изделие, а в другое гнездо - его стандартный полноценный образец. Световой поток, идущий от экрана через объектив, разделяется в склеенной призме на два совершенно одинаковых потока. Это разделение происходит благодаря тому, что обе призмы склеены не по всей поверхности, а лишь вдоль узких полосок, образующих собой своего рода решетку, обладающую в среднем коэффициентом отражения порядка 0,5. Отраженный от этой решетки свет фокусируется на образце совершенно так же, как остаточный поток, проходящий через понзму, фокусируется на изделии.Таким образом, при нормальной работе трубки и при полной одинаковости деталей и фотоэлементов, расположенных одинаковым образом по отношению к деталям, результирующий ток в сопротивлении оказывается равным нулю. Но как только на место изделия попадет нестандартный экземпляр его, отличающийся от стандартного образца цветом, формой или каким-либо дефектом поверхности, так тотчас же баланс токов, протекающих через сопротивление, нарушится, Возник62465 нут импульсы напряжения, которые усилятся затем усилителем и приведут к срабатыванию электромагнита сбрасывателя, отбрасывающего неполноценное изделие в сторону брака.Ввиду полной осуществимости требующегося для этих целей телевизионного передатчика с бегущим лучом на четкость порядка 500 и более строек, получается возможность осуществления браковки изделия, дефекты поверхности которых измеряются площадью порядка че.н8 тырех миллионных долеи от площади проекции всего предмета500" где 5 - площадь проекции предмета.При реализации устройства в качестве фотоэлементов целесообразно применить фотоэлектронные умножители, что упрощает схему усилителя.Склеенные призмы могут быть также с успехом заменены решеткой с поверхностным отражением,Чтобы решетчатая структура такого зеркала не приводила к заметной модуляции светового пучка при его развертке, эту решетку следует помещать в непосредственной близости от объектива. При этом решетка не будет давать на детали тени, а будет действовать, как апертурная диафрагма. Предмет изобретения Редактор Б, Н. Погоржельский Техред А, А. Кудрявицкая Корректор Савельева Подп. к печ. 15/1 - 62 г. Формат бум. 70 Х 108/и3 а к. 3394/10 Тираж 200ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытийпри Совете Министров СССРМосква, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6 Объем 0,18 изд. л. Цена 5 коп.Типография, пр, Сапунова, 2. Способ контроля размеров и обнаружения поверхностных дефектов в изделиях путем сравнения исследуемой детали с эталонной, отлич а ю щ и й с я тем, что исследуемое и эталонное изделия одновременно освещают бегущим лучом, который предварительно разделяют при помощи приспособления по типу призмы или решетчатого зеркала на два отдельных луча, один из которых предназначен для обогащения поверхности контролируемого, а другой - эталонного изделия с той целью, чтобы можно было обнаружить наличие расхождения размеров, либо дефекта, по разности фототоков двух дифференциально включенных фотоэлементов, освещенных лучами, отраженными от поверхности эта. лонного и исследуемого изделий.