ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИККласс 421 с, 49 ей МПК 6 01 п Заявлено 08.111.1962 (М 768050/29-14)ГОСУЬАРСТВЕННЫИКОМИТЕТ ПО АЕААМИЗОБРЕТЕНИИ И ОТКРЫТИ ЙСССР Опубликовано 1964. Бюллетень М 1 УДК тГ, М. Городинский и Ю, В. Кудряшов ПРИБОР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЧИСТОТЫ ПОВЕРСТЕКЛА Известен способ контроля чистоты поверхности стекла по количеству рассеянного дефектами стекла света, определяемому методом темного поля. В применяемых для этой цели измерителях видимости - фотометрах контроль осуществляется визуально, что дает лишь субъективную оценку состояния поверхности стекла. Кроме того, этот способ трудоемкий.Предложенный прибор для контроля чистоты поверхности стекла, включающий известный измеритель видимости и осветители темного поля проходящего и отраженного света, позволяет ускорить процесс определения дефектов стекла по количеству рассеянного света путем расфокусирования изображения дефекта, полученного при помощи измерителя видимости, до полного размытия этого изобр ажения.Действие прибора основано на измерении рассеивающих свойств дефектов (царапин) в проходящем и отраженном свете, зависящих от супермикрогеометрии царапин, их глубины и ширины.На чертеже изображена оптическая схема предложенного прибора.Прибор состоит из трех частей, осветителей темного поля проходящего света А и отраженного света Б и измерителя видимости В.Осветитель темного поля проходящего света имеет лампу накаливания 1, затемняющий экран 2, параболический отражатель 3 и стоПрибор для контрол стекла по количеству с фектами на стекле с и состоящим из переме ской оси объектива с я чистоты повета, рассеязмерцтелемщаемого вдол отсчетной ш верхности нного деидц мости, ь оптичеалой, маПодписная группа11 б лик 4, на котором помещают исследуемый образец 5.Осветитель темного поля отраженного света имеет аналогичный отражатель б, обойму 7 и ряд миниатюрных электролампочек, расположенных по окружности обоймы ц закрытых прозрачным рассеивающим кольцом.Измеритель видимости состоит из перемещаемого вдоль оптической оси объектива 8 с отсчетной шкалой 9, матового стекла 10 и окуляра 11.Работа на приборе производится в полу- затемненном помещении. Исследуемыц образец, очищенный от пыли и пятен, кладут ца столик исследуемой поверхностью вниз. Перемещением объектива 8 добиваются резкого изображения нижней поверхности образца с исследуемой царапиной и снимают отсчет по шкале 9. Затем добиваются размытия изображения до полного гашения его и снова снимают отсчет по шкале,Разность между отсчетами характеризует степень годности стекла или зеркала. Предмет изо 6 р ете н иПодп. кеч. 18111 - 64 г,Заказ 36234ЦНИИПИ Государстве мат Тир юго комитета Москва, ЦентрСапунова,погра тового стекла и окуляра, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью ускорения контроля, он выполнен с осветителем проходящего света с затемненным источником света в параболическом отражателе, предметным столиком, осветителем отраженного света, внутри параболического отражателя которого смонтирована обойма с расположенными по окружности миниатюрными электролампочками, и смонтированного над ним измерителя видимости. бум. 60 Х 90 Чзж 425по делам изобр пр. Серова, д. 4

Смотреть

Заявка

768050

МПК / Метки

МПК: G01N 21/88

Метки: 159675

Опубликовано: 01.01.1964

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-159675-159675.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">159675</a>

Похожие патенты