Вакив

Устройство для измерения коэффициента зеркального отражения

Загрузка...

Номер патента: 1307331

Опубликовано: 30.04.1987

Авторы: Вакив, Кушнир, Шпотюк

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркального, коэффициента, отражения

...и оптические квантовые генераторы. Параллельностьвходного светового потока достигает-. 25ся при помощи коллимирующей системы2, установленной после источника 1излучения, Входная щель 3 обеспечивает выделение из суммарного пучканеобходимой величины светового потока и с этой целью выполнена с возможностью регулирования,Конструктивная реализация фотодетектора 4 показана схематически вразрезе на фиг.2, К металлическомуоснованию 6, служащему одним общимэлектродом, припаивается пластинка 7монокристалла кремния и-типа. Наружная поверхность пластинки покрывается защитным слоем 8 81.02, в котором щдля осуществления частичного отражения светового луча от внешней поверх-ности элемента протравливаются сквозные окна. Прогрев заготовки в атмосфере...

Устройство для измерения коэффициента зеркального отражения

Загрузка...

Номер патента: 1307314

Опубликовано: 30.04.1987

Авторы: Вакив, Кушнир, Шпотюк

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркального, коэффициента, отражения

...луч,сканируя пространство многократныхотражений, каядый раз отражаетсятолько от центрапьной части каждогорегистрирующего элемента фотодетектора, Это предполагает выполнениенекоторого геометрического соотношения между элементами оптической ахеОптимальный режим работы устройства соответствует коэффициенту отражения рабочей поверхности каядого фотоэлемента К=50%. При этом элемент регистрирует половину падающего нанего светового потока, а вторая половина направляется на исследуемуюповерхность, Такая отражающая способность может быть достигнута при высоком классе обработки рабочей поверхности или путем применения металлических отражающихпокрытий.Нижний предел отражающей способностиК определяется условиями и качеством обработки...