Патенты с меткой «двухлучевых»

Номер патента: 272602

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Мустафин, Селезнев, Штырков

МПК: G02B 5/30

Метки: двухлучевых, интерферограмм

...нормали наблюдают интерференццонную картину.Голограмма (см. фцг. 3) освещается плоской волной С и опорным пучком О который 10 составляет угол аз -- За. При этом за голограммой в направлении нормали будут распространяться плоская волна С и волна 5 з с утроенной кривизной относительно волны 5,.В результате интерференции волн С ц 5 з в 15 направлении нормали наблюдают цнтерферограмму с утроенным числом полос цо сравнению с интерферограммой, полученной ранее.Таким образом, кривизна волнового фронта, восстановленного в а порядке дифракццц 20 в и раз больше, чем кривизна фронта волны,восстановленного в первом порядке дцфракции. Благодаря этому увеличивается чувствительность голографической интерференции.Можно добиться увеличения...

Номер патента: 345367

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Вень

МПК: G01J 3/30

Метки: двухлучевых, рассеянного, света

...настройке его на длину волн - записываемое прибором про образца в максимуме полос щения при введении одного о в измерительный канал; - записываемое прибором про образца в максимуме полось щения при дополнительном не вол- Л) - инна дли 0У ( лучения, ора при ы (Л); пускание ы поглобразца в т л)25(Л уска погло- введении 30 СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАССЕЯННОГО СВЕТА В ДВУХЛУЧЕВЬ СП ЕКТРОФОТОМЕТРАХ345367 для различных значений а и Т (Х),5 Т (Л) 0,80,850,9 ) 0,95 ) 0,98 0,6 0,7 0,01 0,02 0,05 0,1 0,15 0,20 0,25 0,30 2,05 2,08 2,14 2,25 2,38 2,55 2,78 3,05 2,8 2,85 3,00 3,24 3,57 4,00 4,60 5,90 1,57 1,58 1,61 1,66 1,71 1,78 1,88 1,96 1,39 1,39 1,41 1,44 1,48 1,52 1,56 1,62 1,24 1,24 1,25 1,27 1,28 1,31 1,34 1,36 1,04 1,04 1,04 1,05 1,05 1,05 1,05...

Номер патента: 536420

Опубликовано: 25.11.1976

Авторы: Колпаков, Пухонин

МПК: G01N 21/00

Метки: анализаторов, двухлучевых, диапазонов, изменения, компенсационных

...ветовом потоке сравнительносчет перенастройки кинемамы передачи движения от куа реверсивного двигателя к заслон газоанализатор, содержащий источи чения, два зеркала, рабочую и срав ные кюветы, нулевую и компенсаци заслонки, приемник излучения, усил реверсивный двигатель, систему тяг 4.Изменение диапазона измерения в приборе достигается путем изменения хода компенсационной заслонки в световом потоке либо путем изменения длины рабочей кюветы, либо за счет изменения ширины10 где Ь- произведенное корректирующей заслонкой изменение площади сечения светового канала. Затем через рабочую кювету 4 повторно пропускают5 инертный газ и с помощью нулевой заслонки 8 восстанавливают возникшие изменения нулевых показаний прибора.Предложенный способ...

Номер патента: 1173275

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Муравский, Науменко, Яковенко

МПК: G01N 21/55

Метки: двухлучевых, коэффициентов, отражения, приборах, спектральных

...стойки 6.На подвижных 6 и неподвижных 2 25стойках расположены идентичные поворотные узлы 7, перекрестно соединенные направляющими рычагами 8, изменяющими свою длину благодаря телескопической конструкции. 30Поворотный узел 7 (фиг.З) представляет собой поочередно надетые на стойку 2 или 6 обойму 9 с шариками ведущую шайбу 10, ведомую обойму .11 с шариками, закрепленные с возможностьюпроворота при помощи гайки 12 иконтргайки 13. К ведущей обойме 10 спомощью переходника 14 прикреплен направляющий рычаг 8, а на ведомойобойме 11 укреплен столик 15, на котором находится отражающий элемент 16.Устройство содержит кюветное отделение 17 с входными 18 и 19 и выходными 20 и 21 окнами рабочего иопорного каналов соответственно иотражающие элементы...

Номер патента: 1196686

Опубликовано: 07.12.1985

Авторы: Аранчук, Дрик, Зубко, Карпов

МПК: G01B 11/00

Метки: двухлучевых, измерителей, интерференционных, компенсации, объекта, перемещений, смещений, угловых

...и может быть использовано для измерения перемещений объектов, параметров вибраций и т.п,Цель изобретения - повышение точности измерений.Система компенсации угловых смещений объекта для двухлучевых интерференционных измерителей перемещений содержит оптическую фокусирующую систему 1, расположенную в объектном пучке интерферометра, собирающую линзу 2, располагаемую по ходу излучения, отражаемого от объекта 3 на расстоянии, равном ее фокусному расстоянию, и плоское зеркало 4, расположенное перпендикулярно оптической оси линзы 2, а фокусирующая система 1 ориентируется,таким образом, что ее оптическая ось располагаемтя под углом относительно объекта 3.Устройство работает следующим образом.Объектный. пучок интерферометра падает на оптическую...

Номер патента: 1241302

Опубликовано: 30.06.1986

Авторы: Волков, Скирда, Слободянюк, Суббота-Мельник

МПК: H01J 40/16

Метки: двухлучевых, качества, фотометров, фотоумножителей

...про:водят калибровку устройства с использованием линейного приемника излучения, при котором регистрируютпоказания Б и Б 9 индикаторов 7 и 9 и вычисляют калибровочную константу М устройства: Отбор фотоумножителей проводят следующим образом.Устанавливают напряжение питания ФЭУ 3 от источника 4 питания, соот- ветствующее напряжению питания ФЭУ в двухлученом фотометре. Регулируют поток излучения 9( источника 1 излучения так, чтобы значение постоянного напряжения на индикаторе 7 соответствовало значению анодного тока ФЭУ при 1007.-ном пропускании изме,рительного к анала двухлучевого фотометра, Регистрируют показания Б и1П индикаторов 7 и 9 соответственно9и вычисляют величину Н по формуле5БН =, - т -- 1. (2)т Исследуемые ФЭУ ранжируют по...

Номер патента: 1539608

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Аверкин, Кармадонов, Скрышевский, Стриха, Толстой

МПК: G01N 21/25

Метки: двухлучевых, дифференциальных, приборах, пропускания, спектральных, спектров

...а вышедшийиз образца опорный пучок - по оптическому пути рабочего канала, регистрируют и сравнивают интенсивностиобоих прошедших через образец пучковв р-поляризованном свете на длиневолны поглощения продольных колебаний в слое при перемещении пластины.Перемещение осуществляют таким образом, чтобы углы направления пучков напластину оставались неизменными.Кроме того, можно измерять спектральную зависимость разности интенсивностей обоих прошедших через пластину пучков в р-поляризованном светепри неподвижной пластине. При этомрабочий пучок направляют на участокпластины без слоя, а опорный - научасток пластины со слоем. Угол направления пучков излучения при измерении тонких слабопоглощающих слоеввыбирают равным 45 100 А. С помощью двух...