Патенты с меткой «локализированных»
Способ контроля коэффициента зеркального отражения локализированных участков поверхности крупногабаритных отражателей
Номер патента: 1167481
Опубликовано: 15.07.1985
Автор: Дубиновский
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркального, коэффициента, крупногабаритных, локализированных, отражателей, отражения, поверхности, участков
..., 4,жение точки 11 анализа, а ось 12анализа направлена параллельно осиотражателя,Относительное движение точки ана лиза и следа отраженного пучка наповерхности анализа возможно вдвух режимах: синфазный режимч,=ч х (ц=к, с);у И)у, ц,либо асинхронный режим .аь с отрЧ 7 Чгде Ч - линейная скорость перемеинщения точки анализа;Ч - линейная скорость перемещения следа отраженногопучка;нотр И 1(Ц - текущие координаты следа отротраженного пучка в плоскости анализа;Х (1)у (ц- текущие координаты точки ан ананализа.В синфазном режиме необходимо обеспечить синфазность текущих положений следа отраженного пучка в плоскости анализа и точки анализа. В том режиме выдается инфор-мация о КЗО по всей поверхности отраже.шя без пропусков.В асинхронном...