Устройство для измерения спектральных коэффициентов пропускания и отражения

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН ИСАНИЕ И ЕТЕНИЯ ПЬСТВУ МЪ( Свид ТО Банникова Микроотража- пектрофотоПриборы для 976, М 9,ПЕКНИЯ(57) Изобре ральному пр использован сится к спектнию и может быть ние от оростроепри созданииель изобрете отометров,я - со ГОСУДАРСТВЕННЬЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(56) Десент, Пальмер,тельная приставка для сметров САВУ 14 и 17.научных исследований, 1с. 228,Авторское свидетельство С9 894374, кл. С 01 Л 3/32, 1(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИТРАЛЬНЫХ КОЭФФИЦИЕНТОВ ПРОПУИ ОТРАЖЕНИЯ 8012296 511 4 С 01 И 21/55, 21/59, С 01 3 3/02 ние возможности измерения искомых параметров при различных углах падения и измерения абсолютного коэффициента отражения, а также повышение точности измерения, Устройство содержит источник 1 излучения, зеркало 2 и поворотное вокруг вертикальной оси выходное зеркало 3. Выходное зеркало 3 имеет возможность перемещения по направляющей 4. Держатель 7 образцов установлен с возможностью разворота вокруг вертикальной оси, перемещения по направляющей 6 и выведения из пучка в вертикальном направлении. Отражатель 5 установлен с возможностьююф разворота вокруг вертикальной оси и перемещения по направляющей б, Направляющая б установлена на каретке, перемещающейся по направляющей 4. С Отражатель 8 установлен с возможностью перемещения вдоль линии, соеди)еаа 11229661 няющей центры отражателей, по направляющей 6 и выведения из пучка по направляющей 9, установленной на направляющей 6. Три зеркала 10, 11, 12 отражателя установлены с возможностью независимого друг от друга разворота и введения в пучок по направляющей 9, расположенной парал" лельно направлению перемещения каретки 16. Проекционная система состоит из поворотного входного зеркала 13Изобретение относится к спектраль ному приборостроению и может быть использовано при создании спектрофотометров, предназначенных для научных исследований, 5Целью изобретения является расширение аналитических возможностей устройства.На фиг, 1 показана общая схема предлагаемого устройства; на фиг2 положение элементов устройства при измерении коэффициентов пропускания; на фиг. 3 - то же, при измерении коэф. фициентов отражения; на фнг, 4 - то же, при измерении коэффициентов пропускания относительно эталона; на фиг. 5 - то же, при измерении относительных кОэффициентов отражения; на фиг. 6 - то же, при измерении многократного отражения и пропускания; на фиг. 7 - то же, при измерении многократного отражения и пропускания с изменением угла падения луча на образец.Устройство содержит осветительную систему, состоящую из источника 1 монохроматического излучения, зеркала 2 и выходного зеркала 3, которое имеет возможность поворота вокруг вертикальной оси и перемещения по направляющей 4, отражатель 5, установленный с возможностью разворота вокруг вертикальной оси и перемещения но направляющей б, которая в свою очередь установлена на каретке, пе- З 5 ремещающейся по направляющей 4, держательобразцов, установленный с возможностью разворота вокруг вертикальной оси, перемещения по направляющей б и выведения из пучка в 4 О и линзы 14. Поворотные зеркала установлены с возможностью перемещениявдоль линии, соединяющей их центры,и перпендикулярной линии, соединяющей отражатели. Отражатели выполнены поворотными относительно осей,перпендикулярных плоскости перемещения несущей их каретки, и установлены с возможндстью перемещения вдольлинии, соединяющей их центры. 1 э,п.ф-лы 7 ил,2вертикальном направлении, отражатель8, установленный с возможностью перемещения вдоль линии, соединяющейцентры отражателей, по направляющей6 и выведения иэ пучка по направляющей 9, установленной в свою очередьна направляющей 6, отражатель в видетрех зеркал 10-12, установленных свозможностью независимого друг отдруга разворота и введения в пучокпо направляющей 9.Проекционная система состоит изьходного зеркала 13 и линзы 14. Вкачестве приемной системы используется фотометрический шар 15. Отражатели 5 и 8 и держатель 7 образцовустановлены на каретке 16,Устройство может работать в нескольких режимах, В каждом режимеобеспечивается снятие двух отсчетов,один отсчет соответствует падающемуизлучению 1 , другой - отраженному1 К или пропущенному 1,т (К и Т -коэффициенты отражения и пропусканиясоответственно).При измерении коэффициентов пропускания (фиг, 1 и 2) излучение отисточника зеркалами 2 н 3 направляется на отражатель 5, от которого падает на образец, установленный в держателе 7, и на отражатель 8, а затемзеркалом 13 направляется через линзу 14 на приемную систему 15, приэтом сигнал на выходе последней пропорционален 1, , Падающее излучение измеряется при выведенном из пучка образце.ФПри измерении отражения при выведенном из пучка образце излучениезеркалом 3 направляется на отража3 12тель 5, от которого падает на отражатель 8 и зеркалом 13 (положение показано пунктиром) направляется в приемную систему 15 через линзу 14, Приэтом измеряется падающее излучение1, . Затем вводится образец и зеркало 13 разворачивается в положение,показанное на фиг. 3. Луч, отразившись от зеркала 3 и отражателя 5,падает на образец, и отразившись отнего, снова попадает на отражатель 5;от которого направляется на зеркало 13, затем через линзу 14 на приемную систему 15При этом измеряется отраженное излучение 1,К. Есликоэффициенты отражения отражателей5 и 8 равны, измеренное значениекоэффициента отражения является абсолютньк,При измерении коэффициента пропускания относительно эталона излучение зеркалом 3 и отражателем 5 направляется через образец, установленный в держателе 7, на зеркало 13,которое отражает его в приемную сис"тему 15 через линзу 14, При развернутых зеркалах 3 и 13 (фиг. 4, пунктир) излучение зеркалом 3 и отражателем 8 направляется через эталон,установленный в держателе 7, и зеркалом 13 через линзу 14 на приемнуюсистему 15.При измерении относительных коэффициентов отражения (фиг. 5) пучоклучей зеркалом 3 и отражателем 5направляется на образец отразившисьот которого, отражателем 5 и зеркалом 13 направляется через линзу 14на приемное устройство 15. Сигнална выходе при этом пропорционален1 К, Измерение отраженного эталоном,установленным в держателе 7, 1,Кизлучения производится при развернутых (показано пунктиром) зеркалах3 и 13. 29661 1. Устройство для измерения спек тральных коэффициентов пропусканияи отражения, содержащее осветительную систему с поворотным выходнымзеркалом, держатель образцов, дваотражателя, установленных по обе 50 стороны держателя образцов и обращенных к нему своими отражающими поверхностями, несущую отражатели каретку,установленную с возможностью перемещения в направлении, перпендикуляр ном линии, соединяющей их центры,проекционную систему с поворотнымвходным зеркалом и приемную систему,о т л и ч а ю щ е е с я тем, что,При измерении многократного отражения и пропускания (фиг. 6) луч, отразившись от зеркала 3 и дополнительного зеркала 10, проходит через образец, затем, отразившись от отражателя 5, второй раз проходит через него и дополнительным зеркалом 12 и зеркалом 13 направляется на приемник через линзу 14. Отраженное излучение при этом выводится из пучка дополнительным зеркалом 11 (показано пунктиром), При этом луч дважды проходит через образец, а сигнал на вы 2ходе приемника пропорционален 1,При измерении отражения луч зеркалом 3 и дополнительным зеркалом 10направляется на образец в держателе 7, отражается на дополнительноезеркало 11, затем снова падает наобразец и после второго отражениязеркалами 12 и 13 направляется налинзу 14 и на приемное устройство 15,10 Сигнал на выходе при этом пропорционален 1,К 2, Пропущенное излучениевыводится .из пучка разворотом отражателя 5 (показано пунктиром), Падающее излучение измеряется при выведенном образце,Так измеряется двухкратное пропускание и отражение, Кратность пропускания и отражения может быть увеличена, для чего увеличивается числодополнительных зеркал. При этом изменение угла падениялуча на образец (фиг. 7) осуществляется перемещением выходного зеркала3 осветительной системы и входногозеркала 13 приемной системы вдоль линии, соединяющей их центры, по направляющей 4 и перемещением отражателя 5 и зеркал 10-12 вдоль линии, 30соединяющей центр держателя образца 7 и отражателя 5, по направляющей 6. Устройство обладает широкими аналитическими возможностями, так как 35 позволяет измерять, кроме отраженияи пропускания, многократное отражение и пропускание, абсолютный коэффициент отражения, а также отражение и пропускание при различных углах, падения луча на образец. Формула изобретения12296 б 1 гф Составитель С., Иеполайчук Техред В,Кадар няшая Редакт Корректор. А. Заказ 2445/44 Тираж 228 ВНИИПИ Государстве по делам изобрет 113035, Москва, Ж, одписно Прои твенно-полиграсЪи редг 1 рпятие, г. Ужгород, ул. Проектная,ск с целью создания возможности измерения искомь 1 х параметров при различныхуглах падения иизмерения абсолютного коэициента отражения поворотные зеркала установлены с возможносгью перемещения вдоль линии, соединяющей их центры, и перпендикулярнойлинии, соединяющей отражатели, которые выполнены поворотными относительно осей, перпендикулярньгх плоскостиперемещения несущей их кареткй, иустановлены с возможностью перемещения вдоль линии, соединяющей ихцентры.2. Устройство по п.1, о т л и -ч а ю ш, е е с я тем, что, с цельюповышения точности измерения, сноснабжено дополнительным отражателем,выполненным в виде по крайней мере трех плоских поворотньгх зеркал, ус 1 О тановленных с одним из отражателейна общей направляющей, расположеннойпараллельно направлению перемещениякаретки,ного комитета СССРннй и открытийРаушсхая наб. д, 4/