Проволочки для измерения малых отверстий диаметром от 0, 3 до 1 мм

Номер патента: 93551

Авторы: Григорьев, Речицкий

ZIP архив

Текст

Я ся 355"; Класс 42 Ь, 12 ос СССР ИЯ Н, РечицРий и И горь АЛЬХ ОТВ ЕРСТИО 1 11 ОВОЛОЧКИ ДЛЯ ИЗМЕРЕ 1114 ЧМЕТРОМ от 0,3 Заявлено3 июля 1950 и. аа У. 465/431406 в остен нину СССРИз Оесконтяктных методов КОтро;151 малых ОтВерсти 200,Се известны пневматическии и оптически методы, Однако первьш позволяет оценить лишь площадь поперечного сечения отверстия, а втооой - размеры ъ кря 51 ОтВсрстия (котрос ь В Отраженном свете) или разе 1)ы отвсрстий оцень малой протяженности (контроль в проходящем свсте 1. Из контактных методов котроля малых отверстий наиболее распро- стряРеы котроль преде,1 ьРыми кя 5 иб 1)я:и-прОбкями и 1,0 троль игольчатыми дыромерами. Однако первый - е позволяет определить действтельые размеры отверстия и уста:,ов.ть погрешности формы, я Второосуществляет 31 ере 51 гп 1 ь по кря 0 ОтВерстия и также е позволяет оцеить погрешности формы.Для определсия действитслы;ых размеров малого отверстия В любом его сечеш пригоды лишь контактные методы. Известный, о сравнительно мало распространенный, метод контроля посредством коллимяцР 10 ой насадки и 1 стр 1 ентяльРом иверсаль 0микроскопа.; позволяет измерять отверстия е менее 3 лл. Этот предел ооусловлевлиянием изгибов проволочки под действием измерительного усилия.Осуществлеие контроля малых отверстий посредством предлагаемых проволочек и микроскопа со спиральным онусом позволяет из- бежРТь Основых недостатков дру х контактных етодов и разрешить задачу измерения отверстий диаметром от 0,3 до 1 1Предлагаемые проволочки выполняются с полусферическими головками и имеют доведенные торцы с ЯРесеными на нпх риской илп точкой, которые могут рассматриваться в микроскоп со спиральням ониусом.На фиг. 1 показан прибор, с помощью которого оя измерения; на фиг. 2 и 3 - конечные положения проволо существляютс чки в процесс93551измерения; на фиг. 4 - поле зрения Отсчетного устройства микроскопа; на фиг. 5 - два положения проволочки в процессе измерения,На колонке приоора (фиг. 1) кроме микроскопа крепятс 51 два столика. На нижнем столике закрепляется проволочка, которая с помощью двух винтов может устанавливаться в требуемое положение относительно оси микроскопа. Винтом 1 проволочка может перемещаться в вертикальном направлении. На верхнем столике пружинным зажимом закрепляется измеряемое изделие. При вводе проволочки замечается положение контура кольца по спиральному нониусу и с помощь 10 винта 2 ориентируется положение проволочки относительно контура отверстия; после этого проволочка вводится в отверстие.Перемещая Проволочку до контакта с одной стенкой отверстия (фиг. 2), совмещают риску или точку на торце головки проволочки со штрихом отсчетного устройства и производят первый отсчет. Затем перемещают проволочку до контакта с другой стенкой (фиг. 3) и производят второй отсчет по отсчетному устройству, поле зрения которого показано на фиг. 4. Разность двух отсчетов определяет размер в (фиг. 5).Диаметр отверстия определится по формулеВ= - + - + О =д+О,2где В - измеряемый диаметр, с - диаметр проволочки, Ь - разность отсчетов по нониусу.Предмет изобретенияПроволочки для измерения малых отверстий диаметром от 0,3 до 1 И,11 контактным методом посредством микроскопа со спиральным нониусом, о т л и ч а ю щ и е с я тем, что, с целью устранения погрешностей измерения, возникающих вследствие изгиба проволочек, проволочки выполнены с полусферическими головками.

Смотреть

Заявка

431406, 13.07.1950

Григорьев И. А, Речицкий И. Н

МПК / Метки

МПК: G01B 11/12, G01B 9/04

Метки: диаметром, малых, отверстий, проволочки

Опубликовано: 01.01.1952

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-93551-provolochki-dlya-izmereniya-malykh-otverstijj-diametrom-ot-0-3-do-1-mm.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Проволочки для измерения малых отверстий диаметром от 0, 3 до 1 мм</a>

Похожие патенты