G01B 9/04 — измерительные микроскопы

Номер патента: 187351

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: G01B 9/04, G01M 11/02, G02B 6/04 ...

Метки: 187351

...в микроскоп микрообъектива 7, сетки 8 со ра 9. Контролируемую детал на столике, имеющем мик 5 движки в двух взаимно нерпеправлениях, лежащих в плос кулярной оптической оси мик рот вокруг указанной оси,Устройство юстируется так, что в отсутст. вие контролируемой детали изображение светящегося перекрестия сетки коллиматора совпадает с перекрестием сетки окуляра, а по садочная плоскость оправы для крепления детали перпендикулярна оптической оси микроскопа. Для исследования установленной на столике волоконной детали, столик микроскопа закрепляют, а микроскоп фокусируют на входной торец детали. Если на рассматриваемом участке ось центральной группы волокон перпендикулярна плоскости входного торца, то изображение светящегося перекрестия...

Номер патента: 188023

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: G01B 11/02, G01B 9/04, G01B 9/08 ...

Метки: 188023

...вибратора изображсннс нвттчнхота тнаякдгьт пересекает нгехит и на выходе тротоалснтснтои поэтнцтэгтотсгг тиа импульса: от прямого и обратного хода. Езмсрэтя промс 2 кутог тарсмсптг мшкцгу импульсами, опрехгецтятот расстояние меь-кдгул титрихажтгг мср. Тля этого ихтнульсьт сфотозгтсхтетттогз поцгатотсгт на утсгьтттттсгтгт 9. 21 затем на нрсмсггньтст тискрттхгтгтгга и, 10торы 1/1, гцге нротгсхкттттт отбор импульсов от прямого н обратного хода призмы. Отбор осунгссттзхтзтетсэг посрслсттзоат селскториьтх имнутльсои образутопигхсэт из напряжения вибратора. нутсм формирования синусоидального напряжсиия в прямоугохтьттое на усилптельтто-огра иичтгтсцгьттохт устройстве 11,(цгвнг селекторных импульсов можно производить фазоврапгателеьт 12. 1...

Номер патента: 188689

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Бирюков, Московский

МПК: G01B 9/04

Метки: игл, остроты, хирургических

...Для измерения площадки затуплепия иглу поворачивают вокруг своей оси,Предлагаемый способ отличается от известного тем, что иглу устанавливают параллельно оптической оси микроскопа и используют два источника света. Световой поток о; одного источника света направляют парал. лельно оси иглы, а от другого - параллельно передней грани иглы и в поле зрения микроскопа наблюдают темное изображение площадки затупления иглы на светлом фоне.Благодаря этим особенностям повышается производительность контроля, так как поворачивать иглу в процессе контроля не нужно,Способ поясняется чертежом.От сильного источника света 1 световой по ток, усиленный зеркальным отражателем 2, проходя через конденсатор 3, диафрагму 4 и отражаясь от зеркала 5, направляется...

Номер патента: 179941

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Григорьев, Москвичев

МПК: G01B 11/14, G01B 9/04, G02B 5/10 ...

Метки: зазоров, оптико-контактный, прибор

...приборы для измерения зазоров в точных подшипниковых соединениях типа камень - цапфа малых диаметров, содержащие смонтированный в оправке цапфодержатель, несущий плавающую обойму, в которой закреплен установ. ленный на цапфе камень. С протнвополож ной стороны обоймы прикреплены грузы для попеременного ее перемещения с камнем относительно цапфы. Автоколлимационный микроскоп служит для наблюдения за перемещением камня и измерения зазора между камнем и цапфой.Предлагаемый прибор отличается от известных тем, что на камне, соосно с ним, установлен сферический отражающий элемент, выполненный в виде шарика, Для наблюдения за несовпадением с общей осью отсчет- ного перекрестия, попеременно проектируемого на центр шарика и центр сопрягаемого с...

Номер патента: 191826

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Инютин, Шифферс

МПК: G01B 11/08, G01B 9/04

Метки: 191826

...расположены под таким углом к оси объектива, что свет от них в отсутствие стекловолокна пе попадает в обьектив, Осц осветителей и объектива лежат в плоскости, перпендикулярной оси изделия (стекловолокна).Осветителипроецируют ця поверхность стекловолокна изображение нитей ламп. Стек.лоьолокпо представляет собой оптический элемент с цилиндрическими поверхностями, который вместе с объективом дает в плоскости 5 модулятора изображение нитей ламп в видеузких светящихся полос, Расстояние между полосами пропорционально диаметру измеряе мого стекловолокна. При вращении модулятора 4, представляющего собой диск со щеля- О мц, образуются две последовательности световых импульсов, которые с помощью фотоумножителей 5 ц призмы 6 с зеркальными...

Номер патента: 198007

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Инюшин

МПК: G01B 9/04

Метки: автоколлимационный, двойного, изображения, микроскоп

...смещений измеряемого объекта.На чертеже дана принципиальная схемадложенного микроскопа.дачник света 1 при помощи конденсора 2" щелевую диафрагму 3, котораятивом 4 проецируется на поверхмого объекта 5, Отраженный от. ок лучей направляется вч из него выходит паралей, освещая грани пряПосле отражения от граней прямоугольной призмы пучок лучей распространяется в обратном направлении и на поверхности измеряемого объекта вновь формируется изображение светящейся щели, б которое проецируется микрообъективом 4 вплоскость сетки окулярного винтового микрометра 8. Светоделительная пластина 9 служит для разделения световых пучков при формировании и наблюдении изображения 0 светящейся щели.В предложенной схеме автоколлимационноеизображение...

Номер патента: 198699

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Берлинер, Исаев

МПК: G01B 3/40, G01B 9/04, G01D 5/02 ...

Метки: биения, ниток, осевого

...резьбой, в которую ввинчивается проверяемая деталь 5. В цилиндре выполнены окна 6 для установки в устройстве проверяемой детали 5, В торцах 5 заглушки и валика выполнены центровые отверстия,Для измерения осевого биения устройствоустанавливается в центрах универсального микроскопа. На меньший диаметр валика 3 10 надевают хомутик, связанный с оптическойделительной головкой универсального микроскопа (на чертеже не показаны).Прессованная насадка заглушки, валика ивтулки в шлифованное отверстие цилиндра 15 обеспечивает точнее совмещение оси резьбыпроверясмой детали с осью устройства. Для измерения осевого биения пересекающиеся под углом 60= визирные линии в окуляре микроскопа устанавливают по бокам профи ля резьбы проверяемой детали...

Номер патента: 209013

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Беркович, Емель

МПК: G01B 9/04, G01N 3/56

Метки: вырезаннб1х, износа, лунок, методом, плоских, поверхностей, прибор

...от известных тем, что окулярная часть микроскопа внем выполнепа установочно-подвижной в двухнаправлениях в плоскости, перпендикулярнойк оптической оси микроскопа,Такое выполнение прибораточность и упрощает процесс ики,11 а чертежесываемый при схематически изображен опибор общий вид и разрез по Описываемый прибор содержит механизмдля вырезания лунки, микроскоп 2 для ее измерения, устройство 3 для крепления прибор на,контролируемой поверхности. Окулярная часть 4 микроскопа, выполнена установочно- подвижной в двух направлениях в плоскости, перпендикулярной к о 1 птической оси микроскопа. При,необходимости,подведения лунки под деления шкалы окулярной части 4, последнюю смещают в нужном направлении винтами б. Предмет изобретенияПрибор для...

Номер патента: 213377

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Зверев, Кучин

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04

Метки: высоты, неровности

...с помощью микроскопов светового сечения основано на разделении светоделительным приспособлением 1 изображения светящейся щели 2 на два изображения, одно из которых проходит сквозь светоделительное приспособление, а другое отражается от него. Созданные таким образом два изображения 21 щели (см. фиг, 2 и 3) проектируются в одно и то же место исследуемой поверхности с двух встречных направлений при помощи одинаковых объективов 3 и системы зеркал 4 и б. Причем каждое направление проектирования щели является отражением другого от исследуемой поверхности, т. е, объективы 3 принадлежат одновременно и системе, проектирующей щель на поверхность, и системе наблюдательной. Отразившиеся искаженные неровностями поверхности изображения щели 0...

Номер патента: 213378

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Зверев, Кучин

МПК: G01B 11/25, G01B 11/30, G01B 9/04 ...

Метки: микроскоп, однообъективиый, растровый

...что, с целью облегчения и ускорения процесса измерения и проведения наблюдений в равнонаклонных пучках, он снабжен размещенными в передней фокальной плоскости его объектива двумя симметрично смещенными относительно оптической оси диафрагмами, первая из которых служит входным зрачком проектирующего тубуса, а ,вторая - выходным зрачком наблюдательного тубуса. Опубликовано 12.11.1968, Дата опубликования опи Известные однообъективные растровые микроскопы, содержащие осветительный тубус с источником света и растром, объектив, наблюдательный тубус с растром сравнения и систему отсчета, не позволяют облегчить и ускорить процесс измерения и проводить наблюдения в равнонаклонных пучках.Предложенный микроскоп отличается от известных тем, что он...

Номер патента: 221311

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Авдулов, Владзиевский, Залькинд, Карпов, Кошлев, Махров, Нечецкий, Никитин

МПК: G01B 9/04

Метки: аттестации, компаратор, мер, штриховых

...следующим образом. Световой луч от лампы 19 конденсатором 20 направляется на диафрагму 21. Световая полоса, вырезанная диафрагмой, проектируется объективом 22 на поверхность шкалы. На пути светового луча находится плоскопараллельная стеклянная пластинка 13 с обмоткой 12, находящейся в поле постоянного магнита 23. По обмотке течет переменный ток, вызывающий вибрацию пластинки и сканирование изображения щели диафрагмы на поверхности шкалы. Световой луч, отраженный от поверхности шкалы, при помощи призмы 24 направляется на фотоприемник 25. При периодическом прохождении светового луча через штрих 26 на шкале (вследствие затемнения луча на фотоприемнике) возникают импульсы тока.Время 1, и 1., между импульсами равно лишь в том случае,...

Номер патента: 221344

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Лепехин, Овчинников

МПК: G01B 9/04

Метки: 221344

...проходящего поочередно обе щели в разной последовательности. Минимумы светового потока, получающиеся при повороте датчика на 90 и 270, соответствуют пересечению узкой щелью соответствен но недофокусированного и перефокусированного изображений следа,При смещении изображения следа вдоль оси Л минимумы светового потока имеют разные абсолютные значения. Разность их 15 однозначно определяет величину и направление смещения следа.Модулированный световой поток поступает на чувствительный элемент - фотоумножитель 9, установленный непосредственно за дат чиком 5Сигналы с фотоумножителя поступают через усилитель 10 на селектор 11, где частично фильтруются, отделяются от помех и через усилитель 12 поступают на селектор 13, где 25 разделяются на два...

Номер патента: 235351

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Ушаков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/04, G02B 21/00 ...

Метки: 235351

...головка 3. В шпинделе 4 закреплена оправа 6, на одном конце которой жестко закреплена скоба б. Другой конец скобы 6 через шариковыи подшипник (на чертеже не показан) размещен на ппноле задней бабки 7 делительной головки 3. Величина углов поворота скобы 6 отсчитывается по шкалам опти ческой делительной головки 3. Для точногоизмерения угла поворота скобы 6 на оправе 4 укреплен сектор 8 с набором плоскопараллельныконцевымер. Тубус 9 микроскопа размещен в вертикальнынаправляющих 10 кронштейна 10 типа ласточкина воста.В этих же направляющих вместо тубуса могут быть укреплены разнообразные вспомогательные приспособления, например индикаторный крон-циркуль, центроискатель, устано вочный индикатор, приставка для линейныхизмерений и т. п.Перед...

Номер патента: 239643

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Льсов

МПК: G01B 9/04

Метки: анализа, морфометрического

...Последний должен находиться в центре. Способ морфометри пользованием Оптичес С.ч тем, что, с цел змерсний, объект ил сывают в геометричсс иую двумя парами п пенных с отсчетным и с 1 вами. ческого анал ого прибора, ью упрощенияего изображ кую фигуру, о одвижных нит вычислительнь за с исОт.1 аЮпроцесса ение впи- бразовансй, соедпм стройВ настояшес время в различных ограслях естественных наук, особснно в геологии, намсг 1 лся 1 псворот в сторону количественных ха 11 аткс 1 ст 11 к Объектов изучения. Так, при решении мног 1 х проблем генетического порядка точное знание 1 тазмсра и формы минсральных индивидов необходимо.Известные спссобы хОрфометричсского анализа объектов с 1 Опользованием оптических пр 1:боров сводятся к тому, что под...

Номер патента: 254794

Опубликовано: 01.01.1969

МПК: G01B 9/04

Метки: 254794

...устройство, устанавливают пластину одним своим концом в центрах микроскопа, затем снимают по отчетному устройству величину отклонения Н свободного конца пластины от поперечной оси микроскопа, а величину изоН гнутости подсчитывают по формуле 1 = - .4На чертеже изображена схема, поясняющая описываемый способ.Способ замера изогнутости тонких пластин заключается в следующем.Устанавливают пластину 1 одним концом в центра 2 и 3 измерительного микроскопа и замеряют величину отклонения Н свободного конца пластины от поперечной осц микроскопа. Величину изогнутости 1 подсчитывают поНформуле г =Формула выведена, исходя цз предположения, что изгиб имеет форму дуги правильной окружности и стягцваемый дугой центральный угол а мал, т. с. а - + О.10...

Номер патента: 262401

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Коль

МПК: G01B 9/04

Метки: координат

...неподвижно связанных с основанием растровых решеток 9 и 10, фотоэлементов 11 и 12 и фотоэлектрических счетчиков 18 перемещения.На шкале, служащей для измерения по одной координате, нанесены штрихи, длина которых не меньше предела измерения по другой координате (на фиг, 1 - светлое поле, прилегающее к координатным осям).Проведем на подвижном столе оси координат на фиг. 1 они показаны жирными линиями, причем эта координатная система дана утрировано повернутой на угол а относительно неподвижной координатной системы, показанной осевым пунктиром, определяемой визирами 4, 5 и б). Контролируемая точка объекта с координатами х, у подведена под визир 4. При этом отсчеты по шкаламХ = х+ а соза; У = у+Ь соза, (1) где а и Ь - координаты...

Номер патента: 267085

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Дурандин, Михаленко

МПК: G01B 11/02, G01B 11/26, G01B 9/04, G02B 21/34 ...

Метки: линейных, прибор, размеров, угловых

Номер патента: 271818

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Зверев, Кучин

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04

Метки: качества, микроскоп

...систему б.В последнюю введено светоделительное устройство б, разделяющее ее на две ветви 7 и 8, в одну из которых в плоскость изображения 5 исходного растра помещен растр сравнения 9,штрихи которого совпадают по фазе с изображением штрихов исходного растра в этой плоскости, а шаги обоих растров равны.Микроскоп работает следующим образом.0 Оптической системой 3 на поверхности 4создается изображение штрихов исходного растра, причем штрихи проектируются на эту поверхность под некоторым углом. В случае отсутствия на поверхности 4 неровностей, 5 штрихи, отразившись от нее без искажения,изображаются в плоскостях а - а и б - б обеих ветвей системы 5.Вследствие равенства шагов исходного растра и растра сравнения, а также...

Номер патента: 274372

Опубликовано: 01.01.1970

МПК: G01B 9/04

Метки: 274372

...3, осветитель 4 с маркои, зеркало 5, расположенное в ходе световых лучей ц ук репленное на пружине 3 ц круговую шкалу б,расположенную ца пути отраженного от зеркала пучка лучей. Кроме того, оптцкатор снабжен дополнцтельнымц элементами: измерительным стержнем 7, один конец которого кон тактирует с противоположной стороной измеряемоц детали, а другой кинематцчески связан со скрученной пружиной 8, осветцтелем 9 с маркой и зеркалом 10, расположенным входе световых лучей и укрепленным на пружц це, а также световодом 11 один конец которого укреплен на шкале круговой в зоне ну левой отметки шкалы, а другой его конец расположен на пути отраженного от дополнительного зеркала 10 пучка лучей. Круговая 20 шкала выполнена поворотной...

Номер патента: 277256

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Коваль, Федак

МПК: G01B 3/02, G01B 9/04

Метки: изл11ерения, прозрачного, слоя, толщины

...с рыбой помещают в аквариум, наполненный охлажденной водой (10 - 12 С), насыщенной газом. В зимнее время это обычная водопроводная вода, а в летнее время такую воду необходимо приготовить.По мере нагревания воды до комнатной температуры в ней образуются пузыри газа (чаще на дне и стенках аквариума). Величину растущих пузырей контролируют катетометром, и при достижении пузырями нужных размеров их срывают с дна аквариума (металлической иглой или легким постукиванием по корпусу аквариума). Пузыри поднимаются вверх, и часть их осаждается на теле рыбы, останавливаясь около эпидермиса на расстоянии, равном толщине плотной консистенции слизи.Катетометром измеряют расстояние между границей тела и границей осевшего пузыря. Для этого...

Номер патента: 284308

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Артамонов, Городецкий

МПК: G01B 9/04

Метки: линейных, оптическое, проекционного, размеров

...4, вкачестве которого использован фотоприемник,Система оптического увеличения изображения детали выполнена двухступенчатой ианаморфотной и состоит из микроскопа (объективы б и 6) и цилиндрических линз 7, 8, 9и 10, установленных в ходе световых лучей5 таким образом, чтобы дать большое увеличение изображения предмета вдоль линии измерения, например 1000, и малое, напримерблизкое к 1, в нерпендикулярном ей направлении,О Фотоприемник может быть включен в мостовую схему с уравновешивающим плечом,содержащим компенсационный фотоприемник(мостовая схема не показана).Устройство работает следующим образом,5 Источник света создает равномерную оовещенность плоскости детали, а система оптического увеличения проектирует действительноеувеличенное...

Номер патента: 286238

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Бернштейн, Власова, Корндорф

МПК: G01B 9/04

Метки: автоматическое, микроскопа, отсчетное, фотоэлектрического

...предлагаемого устройства.Устройство содержит щелевую диафрагму 1, фоторсзистор 2, колеблющийся относительно диафрагмы под действием поляризованного электромагнита 3, синхронизирующий коммутатор 4, электрическую схему 6 питания фото- резистора, левый и правый световоды, соотвстствсгшо 6 и 7.Предлагаемое устройство работает следующ 111 Ооразом.Пр сканировании фоторезистор 2, соверШая КОЛЕОЯПИя ОТОС 1 ТСЛЬПО диафрЯГМЫ г, отклоняется за пределы щели диафрагмы, и синхронизиругощий коммутатор отключаст напряжение питания фоторезистора, засвсчивающегося при этом с помощью световода 6 нли 7. Затем, при возвращении фоторезистора 2 5 к щели диафрагмы в область изображенияштриха, на который наводится фотоэлектрический микроскоп,...

Номер патента: 286282

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Гамаюнов

МПК: G01B 9/04

Метки: анализа, микрообъектов

...контрастность которых падает ниже определенного уровня, не учитывают.Сущность способа поясняется чертежом.Предметное стекло 1 с микрообъектами разной высогы 2, 3, 4 перемещается на величину а относительно поля зрения сканирующего микроскопа. После перемещения предметного стекла на величину а наблюдаемая картина претерпевает некоторые изменения. Частица 2, высота которой заведомо меньше перемещения, увеличивается в диаметре и значительно уменьшает свою контрастность, представляя из себя размытое бледное пятно. Частица 3, лежащая на границе глубины резкости микроскопа, выглядит как контрастное пятно, окруженное неконтрастной зоной. Частица 4, значительная часть которой остается в пределах глубины резкости микроскопа, так как переме...

Номер патента: 290165

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Кайнер, Телешевский

МПК: G01B 9/04

Метки: микроскоп, наведения, объекта, фотоэлектрический, штрих

...микроскоп состоит из микроинтерферометра 1, представляющего собой двухлучевой интерферометр, одним из зеркал которого является штрих - объект 2,Интерференционная картина, создаваемая микроинтерферометром, проецируется на рабочую поверхность позиционно чувствительного фотоприемника 3, В качестве фотоприемника используются фотоэлементы с продольным фотоэффектом. Фотоприемник включен в балансную электрическую схему, с выхода тсоторотт сигнал поступает в электронный блок 4 и далее ца стрелочтцяй индикатор 5.Наведение на штоцх объекта производится следх ющим образом. Если проФпль тптриха и.теет ось сттютетритт. то его ицтерференционцое цзоораи:ение пмсет вид полос с симметрцчнт.тми искривлениями. Тогда прц совпадении...

Номер патента: 303501

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Библиоте, Пдт, Чичерова

МПК: G01B 11/24, G01B 9/04

Метки: затылованной, использованиеммикроскопа, профиля, рабочего, размеров, фасонной, фрезы

...для измерения размеров рабочего профиля фасонной затылованной фрезы.Известный способ заключается в том, что фрезу устанавливают в центры микроскопа н проектируют переднюю грань фрезы.Известный способ позволяет определить размеры рабочего профиля только затылованной фрезы с передним углом, равным нулю.Предлокенный способ отличается от известного тем, что микроскоп фокусируют по осевой плоскости центров, фрезу вращают передней гранью по часовой стрелке до появления диффракционной полосы по всему контуру профиля фрезы, затем микроскоп наводят на резкое изображение рабочего профиля и по линейным и угловым шкалам микроскопа получают искомые размеры рабочего профиля. Способ измерения размеров рабочего профиля фасонной затылованной фрезы с...

Номер патента: 315910

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Тришин

МПК: G01B 9/04

Метки: компарирования, мер, штриховых

...мер. Для этого импульсы с фотоэлементов 7 подают на усилители 15, а затем на электронные ключи 1 б, которые от315910 Предмет изобретения Составитель В. ИвановаТсхред Е. Борисова Корректоры: Т. Бабакина и Е. И, УсоваРедактор Т. Киселева Заказ 3403/17 Изд.1430 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открыгий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д. 4,5 Типография, пр. Сапунова, 2 крываются на и периодов колебания вибратора. Открывание ключей 1 б и 27 и начало измерения осуществляются от ключа 2 б толькопосле остановки стола с мерами 32 и 33.Ключ 27 пропускает на устройство 28 стартовые импульсы, которые получаются из напряжения вибратора путем формирования синусоидального напряжения в прямоугольноес...

Номер патента: 323646

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Высоцкий, Ховский

МПК: G01B 11/02, G01B 9/04

Метки: меры, микроскоп, положения, фотоэлектрический, штриха

...(нониуса). Конвест жен изоо Предлагаемое устройство относится к области измерительной техники, а именно, к приборад 1 для проверки штрихового измерительного инструмента, содержащего шкалу и индекс (нониус),Известен фотоэлектрический микроскоп для контроля положения штриха меры, содержащий оптическую систему наведения на штрих и отсчетиое устройство.Микроскоп перестанавливают для последовательного наведения на штрих шкалы и штрих-индекс с отсчетом несовпадения штрихов по перемещению самого микроскопа,Работа с помощью известного устройства является малопроизводительной, и, кроме того, в измерение вносятся погрешности за счет установки,Предлагаемый микроскоп позво.пяет измерять величину несовпадения штриха и пприха-индекса (ноииуса) за...

Номер патента: 324483

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Конструкторское, Эстонской

МПК: G01B 9/04

Метки: используемых, микроскопа, насадки, проекционной, шаблонов, экране

...на экране проекционной насадки микроскопа, например универсального измерительного, при поыо 1 цц зажих 1 ов илц нескольких капелек клея. Угол поворота сетки штриховой окулярцой головки устанавливают ца ноль, По соответствующим линиям сетки, спроектированной ца экран, на шаблон наносят горизонтальную 1 и вертикальную 2 базовые линии и линии 3 для проверки степени увеличения проекционной насадки. Для этого построения применяюг плоскую линейку и чертилку. Затем на поворотном столе микроскопа закрепляют какую- либо плоскую деталь с острой прямолинейной кромкой, например, лекальну 1 о линейку.Край теневого изображения этой детали на экране совмещают с горизонтальной линией 4едактор М. Корректоры: Т. Гревцо и Н. Ковален карова аказ 2491...

Номер патента: 335531

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Ленинградский

МПК: G01B 9/04

Метки: инструментальному, микроскопудля

...не обеспечивает высокой точности избой ручной установки.Предлагаемое устройство обеспечив изменность расстояния от объектива тролируемых элементов поверхности стоянной фокусировке микроскопа, чт воляет быстро и с меньшей погреш производить измерения.Описываемое устройство отличается вестного тем, что оно снабжено стойко новленной перпендикулярно плоскост вания, втулкой, перемещающейся вдо ки, а фиксатор выполнен в виде одно рычага с двумя вращения, одной изкоторых рычаг со н с основанием, а другой - с втулкой.На чертеже изображен общий вид предла 5 гаемого устройства,Устройство содержит основание 1, стойку 2, укрепленную винтами на основании,втулку 8, перемещающуюся вдоль стойки,гайку 4, навернутую на стойку, пружину 5,О фиксатор...

Номер патента: 335536

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Абросимова, Борзило, Гафанович, Лабунский

МПК: G01B 11/14, G01B 11/24, G01B 9/04 ...

Метки: зубчатых, колес, мелкомодульных, проверки, равномерности, шагов

...сопрягаемых зубьев колеса, затем поворачивают стол на заданный угловой шаг, вводят в сопряжение следующие одноименные профили прямого и обратного изображения зубьев, и по величине несовпадения других одноименньзубьев колеса опмежду ними.Изобретение поясняется чертежом, на ко тором изображен один из случаев реализации предложенного способа.Оба изображения зубьев зубчатого колесапрямое и обратное, полученные при помощи головки двойного изображения, перемеще нием стола в продольном и поперечном направлениях, располагают так, чтобы ввести в сопряжении одноименных профилей зубьев колеса. В этом положении можно сравнивать величину шагов и получить величину их раз ности.Затем поворачивают стол на заданныйугловой шаг, вводят последовательно...