G01B 9/04 — измерительные микроскопы

Номер патента: 107834

Опубликовано: 01.01.1957

Авторы: Винокурский, Субор

МПК: G01B 9/04, G01N 3/28

Метки: испытания, лент, металлических, прибор

...4на кронштейне 6, связанном со стойкой 6 прибора,На столе прибора укреплена оправка 7 с объект-микрометром 8;переменецис стола в вертикальномнаправлении производится посредством мцкрометрпческого винта 9.Со стойкой 6 прибора связан также кронштейн 10, на котором закреплен тубус микроскопа 11, состоящего из объектива 12 и окулярмикромстра И. На этой же стойкеустановлен кронштейн 14, ца котором закреплен тубус второго мик роскопа 15 с аналогичной оптической системой.Укрепленная на кронштейне 6 плоская тарированная пружина 4 противоположным концом кинематически связана с объект-микрометром 16 и верхним зажимом 17 для крепления верхнего конца испытуемой металлической ленты. В средней части ленты приклеивается тонкая стеклянная стрелка...

Номер патента: 109019

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Марков

МПК: F16H 1/00, G01B 11/26, G01B 9/04 ...

Метки: зубцов, зубчатых, колес, прибор, профиля, цилиндрических

...12, пред. ст 11 вляюгций сооой профль збя и:1- мерительной рейки.Согласованное неремсШение измерительной каретки 11 задается кулачком 5 (исн диском с радиусом основной окружности).Тангенцияльны 1 наконечник 12 обкатывается по зубу проверяемого колеса и связан с пером самописца, Процесс измерения производится следующим образом.Приоор еястряивяется ИО И 011- нальной величине основной окрукности, Шпиндель 1, лимо 6 и проверяемое колесо 4 жестко связывают между собой. Каретка 9 приводится в крайнее положение. По микроскопу 7 прозводится отсчет, После этого проверяют профиль первого зуба ко ЛЕС 1 НЕ ТОЛЬКО НЯ ЯКТИВНОИ Ч 11 СТИ, НО несколько больше, чтооы носпронз вести кромочнос зацепление верши- НЫ ЗУОЯ С ТЯНГЕНЦИЯГ 1 ЬНЫМ НЯКОН"1-...

Номер патента: 110493

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Степанов

МПК: G01B 9/04, G02B 21/30

Метки: металлографическому, микроскопу, приставка

...фарфоровой трубочки выведен наружуВ нижней части катушки на внутренней ее стороне имеются заплечики для удержания на них шлифа.Для изоляции обмотки и цилиндрической поверхности нагревательной катушки между ними помегцается прокладка 10 из листовой слюды.Ток для нагрева катушки с образцом подводится к обмотке от осветительной электросети через ва 1)иацпопный трансформатор, позволяющий плавно изменять напряжение и регулировать температуру образца.В случае необходимости нагревательная обмотка и оба ее конца могут быть изолированы от корпуса прибора.Максимальная мощность тока, необходимого для нагрева образна до 0 - 600, не превышает 450 вг. Заявлено 16 февраля 1%7 г. ва Х 566937 в Комитет по делая ывовретеыыы ы окрыты; ыры Совете...

Номер патента: 112605

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Беспалов, Тартаковский

МПК: B01J 13/00, G01B 9/04

Метки: аэрозоля, подсчета, размерам, распределения, частиц

...камеры с разверткой в 625 строки съемке кадра размером 25",Зб,1, расстояние между двумя последовательными строкамп равно 0,04,1,1; минимальный размер частнцыкоторую можно проследить, равен 0,03 - 0,05,я 1, Каждон частице больших размеров соответствует пересечение нескольких строк.Импульс с телевизионной камеры, пройдя блок подавления ложных импульсов 4, попадает на блок сортировки импульсов 5, построенный на схеме совпадений, на выходе которого появляется импульс определенной длительности, соответствующей определенному диаметру пятна частицы аэрозоля на снимке.Импульсы с блока сортировки поступают на счетное устройство 1. состоящее из отдельных счетчиков, соотвст,твующих определенным интервалам размеров частиц на снимках.М 112605...

Номер патента: 112953

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Перцев

МПК: G01B 9/04, G02B 21/26

Метки: заточки, инструментов, качества, кромки, микроскоп, различных, режущей, угла

...По бокам столика 3 расположены двусторонние осветители 4 и б. Пучки света, излучаемые осветителями проходят через линзы б, направляющие шторки 7, светофильтры 8 и щелевые ппорки 9, рассекающие световой пучок на вертикальные световые полоски 10, изображение коттарых проектируется на гранях режущей кромки 11 инструмента, установленного на предметном столике 3.Для проверки качества режущей кромки рабочая плоскость столика должна быть установлена в плоскости, перпендикулярной к оптическойЛо 112%3 оси микроскопа, а положение осветитслсй - под углом в О к гориз.)нтальной плоскости, причем свс) овыс полосы до;1 кнье совпадать с режущей кромкой и освещать сс. При этом в поле зрения микроскопа получается резкое изображение рекущей кромки в вид...

Номер патента: 113992

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Бржезинский

МПК: G01B 11/02, G01B 9/04, G01B 9/08 ...

Метки: компаратор, мер, параллельным, расположением, штриховых

...устанавливаются параллельно расположенные штриховые меры 12 и 13, из которых мера 12 является поверяемой, а мера И - образцовой.В начальном положении микроскопов 4 (установочного и отсчетного) можно фиксировать положение черной ахроматической полосы относительно сетки в окуляре 14 зрительной трубы. Если при перемещении каретки 1 в новое положение интер ференционная картина либо совсем исчезает, либо изменяет первоначальное положение, то при помощи регулировочных винтов, котоЛо 113992 Предмет изобретения етении и открытии при Совете Министров СССРаров тет по делам из актор И. В М тельскии отдел. Поди. к печ. 18/И 11-58 г. Зак. 2493 Тираж 2000. Цена 25 кои. ИнформационноОбъем 0,17 п. л пография Комитета по делам изобретений и открытий...

Номер патента: 114395

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Семенов

МПК: G01B 11/26, G01B 9/04

Метки: вращающимися, деталями, зазоров, между, неподвижными, оптический, осевых, прибор

...4, а в другом - осветительное устройство 5.Над отверстием корпуса турбины, предназначенном для измерительного микроскопа, на прокладке б укреплен стакан 7, причем для сохранения герметичности микроскопа, это отверстие закрыто защитным стеклом 8 с прокладкой 9. В направляющие стакана вставлен микроскоп, имеющий корпус 10, внутри которого расположены объектив 11 и окуляр 12 со шкалой 1 З.Осветительное устройство состоит из корпуса 14, закрепленного посредством хомутика 15 в направляющих стакана 1 б, установленного через прокладку 17 на корпусе турбины,Ъо 114395Внутри корпуса 14 расположена электрическая лампа 18. В осветительном устройстве использована обычная двояковыпуклая линза 19, перед которой размещено защитное стекло...

Номер патента: 120341

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Марков

МПК: F16H 1/00, G01B 11/26, G01B 13/16 ...

Метки: безэталонной, зубчатых, кинематической, колес, прибор, проверки, точности

...частного случая проверки кинематической точности зубчатых колес, а именно для контроля косозубых зубчатых колес по винтовой линии точечным наконечником.Дл)1 А" П ств;1 иия и)01)1.1)ки кицсм 1 ти сск 01 то 1 ности косозчбого к)лес, 1 1) .и)й ииицдс;1 ввшолцяется составным. На наружной его чисти 1;);)1 1, и б;11 и)6;1:1 , а и; Виут 1)синем, свз;ии 1 с колесом, устаиовлси лимб 6, ПО кт 01)озу с помОн 1 ьо микроскопа 7 п 1)оизВОдится Отсчет углэо пол)жсиия колеса. После проверки одного зуба колеса, подвижцыс части прибора возвращаются в первоцачальцое положение и посл этого, колесо поворачивается ровно на один угловой шаг от пери)и 1 а.11 ии 0 ПО,10)кс 1 ия, В качбстве записываеощсго уст 1)ойстВа может быть примсцсц электрический самописец с...

Номер патента: 122213

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Корнилов, Хрюкин

МПК: G01B 9/04

Метки: отклонений, периодических, структурах

...спирали 4, Увеличенное проектором изображение структуры проходит перед диафрагмой б. Диафрагма имеет две щели, расположенные на расстоянии, равном изображению шага структуры минус половина изображения допуска шага структуры. Изменение светового потока в щелях диафрагмы вызывает периодическое изменение электрического сигнала на выходе преобразователей б и 7, в качестве которых могут использоваться фотоумножители. С преобразователей электрические сигналы подаются соответственно на блоки формирования импульсов 8 9Л 1 122213 совместно с импульсами, формируемыми блоком 9, подаются в блок совпадений 11В случае несовпадения импульсов, т. е. при отклонении шага структуры выше номинала, один из импульсов попадает на каскад совпадения...

Номер патента: 122885

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Легошин

МПК: G01B 9/04

Метки: вычерчивания, глазка, продольного, профиля, фильеры

...Затем тубус 11 микроскопа регулируют на резкость изображения точки А дуги канала. После этого включают редуктор 5 стола и редуктор 12 тубуса. Незначительное передвижение зубчатой рейки 13 вместе со столом 3 и фильерой 7 повлечет за собой значительное перемещение экрана 6 посредством рейки 14 и редуктора 5. При этом экран 6 совместно с рейкой 14 геремещается на шариковых подшипниках 15. Незначительное пере. движение тубуса 11 вверх или вниз будет увеличено посредством державки 16, зубчатых реек 17, 18 и редуктора 12. На конце державки 16 на шарнире 19 смонтирован качающийся рычаг 20 с карандашом 21. Ъстановив тубус 11 на резкость можно путем нажатия пальцем на рычаг 20 отметить на экране 6 карандашом 21 точку А.При передвижении стола 3...

Номер патента: 124191

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Королев

МПК: G01B 9/04, G01N 21/21, G02B 21/00 ...

Метки: двойной, микроскоп, оптикой, поляризационной

...другими известными методами и приборами,На фиг, 1 изображена оптическая схема двойногофиг. 2 - вид поля зрения микроскопа при введении миироскопа; на цилиндрической линзы.Яркий источник с лектор 2, светофильтр б. Изображение щели тив 7 проектируется н ной 1 мм, установлен ает лучи через колризонтальную щель ив б и микрообъекца 8. Щель 9 шири- скости микрообъектная лампа ид 4 и осв лим аторнь ть изучаемо ней фокал) посыл щает го й объект го образ ной пло ета 1 (рту 3 и поляро 5 через кол поверхнос ая в перед124191 тива 7 перпендикулярно к щели Б, задает плоскость падения лучей на поверхность шлифа, Изображение щели б на поверхности изучаемого образца можно рассматривать через второй микроскоп, состоящий из микрообъектива 10,...

Номер патента: 125913

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Алпатов, Шевченко

МПК: G01B 9/04, G02B 21/26

Метки: металлографическому, микроскопу, наблюдения, процессом, травления, шлифа, электролитического

...установлена панель 2, на которой смонтировано приспособление. Полированный шлиф 3 укрепляегся так, что его рабочая поверхность соприкасается с электролитом. Травильная ванночка состоит из защитного кожуха 4 и стеклянного цилиндра б, вставленного в дно б из винипласта. Смотровое стекло 7 расположено в дне травильной ванночки напротив шлифа. Зажим для закрепления шлифа содержит два стержня 8, скрепленных планками 9, 10, 11 и 12. Шлиф зажимается между свинцовыми губками 13, расположенными на планках 11 и 12. Усилие, необходимое для удерживания шлифа в губках, создается пружинами 14. Обойма 1 б, несущая зажим, может пере. мещаться вверх и вниз по стойке 1 б, Для закрепления обоймы имеется стопорный винт 17. Клеммы 18 и 19 соединяются с...

Номер патента: 131843

Опубликовано: 01.01.1960

Автор: Феклистов

МПК: G01B 9/04, G02B 27/32

Метки: круговых, ошибок, шкал, штриховых

...круглой штри. ховой шкалы по описываемому способу.Образцовый круг 1 и испытуемый круг 2 укреплены нтак, чтобы их пояски делений были концентричны оси вра131843 Предмет изобретенияСпособ определения ошибок круговых штриховых шкал методом сравнения испытываемой шкалы с эталонной с использованием фотоэлектрических микроскопов по авт. св11549 б, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности отсчета, микроскопы устанавливают попарно - по два для каждой шкалы - и все четыре на одной оси, являю щейся диаметральной осью обеих, соосно установленных шкал, а для устранения влияния эксцентриситета установки шкал обе осциллограммы эталонной шкалы совмещают на экране осциллографа и производят замеры ошибок проверяемой шкалы....

Номер патента: 139082

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Русинов, Шахвердов

МПК: G01B 11/255, G01B 9/04

Метки: автоколлимационная, асферических, поверхностей

...микроскоп состоит из линз 1 и 2, призмы 8 и зеркала 4 с наружным покрытием. Они могут независимо друг от друга перемещаться вдоль оси вращения измеряемой поверхности 5, При этом их положения фиксируются по шкале. Зеркало, кроме того, может вращаться вокруг оси, расположенной перпендикулярно оси вращения поверхности 5.Измерение профиля поверхностей производится следующим образом.При перемещении микроскопа (при данном положении зеркала) поочередно наблюдаются автоколлимационные изображения от центров кривизны сагиттального и меридионального направлений и от измеряемой поверхности, Разности отсчетов положений микроскопа при наведениях на центры кривизны и измеряемую поверхность дают величины радиусов кривизны.Расстояние от...

Номер патента: 139471

Опубликовано: 01.01.1961

Автор: Глаголев

МПК: G01B 9/04

Метки: волокна, гранулометрического, длины, например, поверхности, полной, состава, средней

...в результате подсчета во многих полях общее число пересечений оказалось равным 285, и число конусов волокон в 6.При ЛВ=-СО, равном, например, 0,4 мм, средняя длина волокна;3,14 0,4 Ж 3,14 0,4 2850,56 .ч,и.Р 71. 642Определение длины волокон можно совмещать с определением их толщины и при этом разбить измеряемые волокна на классы по толщине, что позволяет вычислять относительные объемы и вес каждого класса (т. е. находить гранулометрический состав волокна). Для этого в окуляр вставляют микрометрическую шкалу, цену деления которой определяют, пользуясь объект-микрометром, и определяют толщину каждого волокна, пересекающего микрометрическую шкалу, оценивая толщину в делениях этой шкалы. После окончания измерения записанные числа разбивают...

Номер патента: 144998

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Табаков

МПК: G01B 11/26, G01B 9/04

Метки: внутренних, оптико-механический, прибор, углов

...пластинка 18 подводится в поле зрения микроскопа 4, а перемещением суппорта б нож 8 приводится в соприкосновение с плоскостью 14 пластины И до полного уничтожения просвета между ними. При этом нулевая риска 15 на стеклянной шкале 1 б лимба 7 должна совпасть с указателем 17 микроскопа 10.Деталь 18, подлежащая контролю, устанавливается на штифт 19, причем ее положение фиксируется при помощи подпружиненного виль, 144998чатого рычага 20, который прижимает ее к рабочей плоскости 21 пластины 22. Перемещая суппорты б и 11, добиваются такого взаимного положения ножа 8 и детали 18, при котором между гранью 23 и плоскостью 24 не оставалось бы никакого просвета, и при помощи микроскопа 10 считывают соответствующие показания со шкалы 1 б...

Номер патента: 147000

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Лозинский, Перцовский

МПК: G01B 9/04, G01N 21/01, G02B 21/30 ...

Метки: автоматической, вакууме, деформации, диапазоне, металлов, микроскопа, микроструктуры, наблюдениях, наводки, нагревом, процессе, различными, скоростями, сплавов, температур, фокусировки, широком

...металлического образца 1, наблюдаемой во время опыта, приготовлен металлографическнй шлиф. Образец 1, находящийся внутри рабочей камеры, образуемой корпусом 2 и крышкой д, укреплен в захватах 4 и 5, изготовленных из жаропрочного сплава. В шарнирах б и 7 размещены вкладыши, электрически изолирующие захваты 4 и б от корпуса 2. При помощи подвижного герметизирующего уплотнения (например, сильфона В) тяга 9, соединенная с механизмом нагружения (на чертеже не показан), может вызывать растяжение изучаемого образца.Нагрев образца 1 производится с помощью радиационного нагревателя 10 или путем теплового воздействия электрического тока низкого напряжения, пропускаемого через образец. Датчики 11 и 12, соединенУв 147000 ные с образцом 1 тягами 13...

Номер патента: 148530

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Костин

МПК: G01B 11/12, G01B 9/04

Метки: алмазных, геометрической, диаметров, отверстий, фильерах, формы

...При этом отклонения от номинального размера определяются путем перемещения винтового окулярного микрометра на часть одного оборота.Нг чертеже изображена схема осуществления измерения диаметров отверстий в алмазных фильерах согласно предложенному способу.Измеряемая алмазная фильера 1 устанавливается на стол 2 прецизионного измерительного устройства,Штрих сетки 3 винтового окулярного микрометра 4 наводится на прав ю сторону контура отверстия а,После этого прецизионное измерительное устройство при помощи эталона, соответствующего номинальному значению измеряемого размера, перемещается н занимает положение, показанное на чертеже пунктиром. Левая сторона контура отверстия алмазной фильеры подходи 1 к тому же штриху. Отклонение б,...

Номер патента: 148912

Опубликовано: 01.01.1962

МПК: G01B 11/30, G01B 9/04, G01D 5/28 ...

Метки: 148912

...проведении измерений труба 1 устанавливается при помощи рейтеров 9 на контролируемую поверхность 10, а каретка 5 со щупом б, осветителем 3 и микроскопом 4 перемещается в меридиональной прорези 11 трубы 1. Г 1 ри этом каретка 5 опирается на поверхность 10 одним из роликов 12 и щупом б, Световой поток от лампы 13, концентрируемый зеркалом 14, проходит сквозь конденсорные линзы 15 и 1 б, сетку 17 и дает изображение штриха 18 (расположенного перпендикуляр148912 но плоскости чертежа на оптической оси 8) в плоскости полевой диафрагмы 19, сопряженной с плоскостью сетки 17. Микрообъектив 20 переносит это изображение в увеличенном виде в плоскость сетки 21, выполненной в виде бифиляра. Окончательно изображения обеих сеток 17 и 21 (штрих...

Номер патента: 154028

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 11/27, G01B 9/04

Метки: 154028

...чертеж устройства для осущестьлешгя описызасмого способа.112 вращающемся Ва,11 1 пОд некотОрымГлом к СГО оси В месте, ,чос 1 гнов для в 5 з алы 1 ОГО нао,юдсния, 1 крсгк 1 сно п,1 ос 1(ос зср 1(;1 ло 2.( ветовые лучи От источника 3, пройдя фокуснрующее устройство 4, падают на зеркало 2 и, отразивгцись от него и сфокусировавшись с пом 1 щыо устройства 5, падают на параболическое зеркало 6, которое установлено на неподвии(но 11 основании вблизи вала (на репсре),Отразившись от зеркала 6, световые лучи падают на плоскик экран 7. При совпадении направления лучей, отражсннык от плоскогоЪ5-1023 зеркала 2, с направлением оптической оси параболического зеркала б П 1 экране 7 Возниает Ви;1 мое изоораженпс световоЙ след лча).Полокение...

Номер патента: 155293

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 11/24, G01B 9/04

Метки: 155293

...замков в дисках турбин и компрессоров увеличивает надежчость контроля и упрощает оснастку. Это дает возможность объективно производить комплексную оценку качества технологического процесса протягивания,Способ контроля испытан и внедрен в серийное производство. Предмет изобретения Способ контроля профиля замков в дисках турбин и компрессоров, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения надежности контроля и упрощения оснастки, перед обработкой диска и после нее ось специального образца выставляют параллельно оси протянски с помощью клинового приспособления, затем нарезают паз, а контроль профиля паза производят на универсальном микроскопе.Подп. к печ. 61 У 11 - 63 г. Формат бум. 7 Заказ 175%8 Тираж 900 Цг 1 ИИП 11...

Номер патента: 156316

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01B 9/04

Метки: 156316

...5 и призмами б и 7 через зеркало 8 вибратора (на чертеже не показан), которое колеблется с частотой 50 ги, в плоскость шелевой диафрагмы 9 Из-за колеоания зеркала виоратора изоораження штрихов сканнрмот в плоскости щелевой диафрагмы 9 и она освещается переменным световым потоком, отраженным от полированных поверхностей измеряемых штриховых мер. Оптическая система 10 передает указанный световой поток на фотоэлементы 11. Для визуального наблюдения измеряемых штриховых мер в предлагаемом микроскопе предусмотрен окуляр 1".156316 За время одного колебания зеркала вибратора (не показан) изображение штрихов измеряемых штриховых мер дважды проходит через щелевуюдиафрагму и при каждом таком прохождении в цепи фотоэлемента возникают...

Номер патента: 157505

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: B23Q 16/12, G01B 9/04

Метки: 157505

...от единицы до величины выбранного диапазона в зависимости от количества штрихов шкалы 2. Установка для деления при этом производится в правой половине головки (оцифровка штриховот 1 г до )Восьмиспиральный цветок на диске Б позволяет вести деление для четных чисел, причем используются все деления шкалы (см. фиг. 2, б), и диапазон деления (по сравнению с диском А) увеличивается в 4 раза. Чередование ветвей на диске Б от У до ХП показано на фиг. 2, б, За каждую четверть оборота шпинделя две различные ветви цветка проходят (в правой и левой половинах диска) вдоль линии Е-Е суммарно путь, равный радиусу двухсекторной шкалы 2, двигаясь то справа налево, то слева направо вдоль Е-Е. Переход от одной ветви к другой происходит на перекрестиях...

Номер патента: 160336

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01B 9/04, G02B 21/00, G03B 9/02 ...

Метки: 160336

...к оси штриха компарируемой шкалы. В результате этого снижается точность измерений фотоэлектрическим микроскопом.Предлагаемая диафрагма повышает точность измерений фотоэлектрическим микроскопом благодаря тому, что форма ее световой щели представляет собой одну из геометрических фигур: ромб, треугольник, или подобную им фигуру с криволинейными сторонами, удовлетворяющими уравнениям второго порядка.На чертеже показаны формы выполнения световой щели диафрагмы. Подписная группа М 1 бЗ цСкуратовЕКТРИЧЕСКОГО МИКРО Такая конфигурация световой щели позволяет получать на выходе микроскопа импульс темнового фототока, имеющий более острый экстремум в момент совпадения оси щели с осью штриха компарируемой шкалы,Предмет изобретения Диафрагма...

Номер патента: 160593

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01B 11/14, G01B 9/04

Метки: 160593

Номер патента: 161528

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01B 9/04, G02B 21/02

Метки: 161528

Номер патента: 167344

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Изобретепм, Кращин, Никитин

МПК: G01B 9/04, G01N 3/56

Метки: износа, машин, прибор

...снабжен смотровым окном, позволяющим при наличии стробоскопического эффекта следить через микроскоп за процессом вырезания, Это упрощает копструкпшо прибора и увеличивает точность измерения. микрометрическую головку 4, пол ликом 6 и наклонный упор 7. Ролик 6, нажимая на упор 7, о подачу резца, равную 1 мк на о 5 лимба. Пружина 8 возвращает п воначальное положение по оконч лунки на заданную глубину. Для вращения резца в резцедер меняется механический привод 9 0 ка 10. Вращение резцедержавки осу через валик 11 рукояткой 10 или гателем через редукторы и ремен чу 12, ведомый шкив, которой и 5 храпительный Фрикцион с треше храпяющий острие резца от полус 13 вырезаю:цего устройства посакронштейн 14 на оси 15 и может кавокруг...

Номер патента: 169824

Опубликовано: 01.01.1965

Автор: Уверений

МПК: G01B 9/04

Метки: видимой, зоной, измерительным, контакта, наконечник, приборам

...наближеком Известны наконечники с видимои контакта к измерительным приборам, жащие полупрозрачное зеркало, объек и зеркало. Эти наконечники не позволяю людать за изменением контактного сб ния в зоне контакта между наконечни и объектом.Предложенный наконечник позволяет более детально изучать инструментальные погрешности и наблюдать за изменением контактно. го сближения в зоне контакта между наконечником и объектом путем установки линзы из прозрачного материала, например из искусственного корунда, между зеркалом и объектом.На чертеже представлена схема предлагаемого наконечника.Электрическая лампа 1 через конденсор 2, полупрозрачное зеркало 3, объектив 4, зеркало 5 и линзу б освещает объект 7. Объективную поверхнне 8 изображлюдается не5...

Номер патента: 171637

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Анохин, Пич, Раевский, Скорцов

МПК: G01B 7/16, G01B 9/04

Метки: полупроводниковый, тензодатчик

...выдерживается с высокой точностью, Плоские грани лендрнта являются крцстяллографнческими плоскостями 1111на которых атомы наиболее плотно упакованы, а потому их поверхность по степени чистоты выше чистоты поверхности, полученной путем шлифования; на ней нет мцкротрецнн ц нет нарушений нрццоверхцостного слоя. Мсханцчсская прочность этой ленты выше мехацической прочности ленты таких же размероц, полученной цз крупных монокрцсталлов пос.ле механической обработки, так как после механической обработки ца поверхности остя 1 от ся мцкротрещины, которые не устраняются ипоследующим травлением и служат концентраторамин напряжений.Прн изготовлении латчиков на лендритну 1 олецту корундовой иглой почти без няжцмя 10 наносят поперечные риски так, что...

Номер патента: 185438

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Литинска, Орловский, Шихматова

МПК: G01B 9/04, G01N 15/02

Метки: периметра

...формулы, Лишь благодаря использованию результатов измерения периметров ядер клеток белой крови, полученных по предлагаемому способу и позволяющих оценить степень неокруглости формы ядра каждой анализируемой клетки, оказывается возможной автоматизация составления лейкоцитарной формулы. приведена блок-схема, иллюстрименение предлагаемого способа; схема, поясняющая сущность опиоба.риметра изображения ядра определяется последующей эмпирической формуле:л - 1 с=2где 1, - длина 1-той хорды; а а - число хорд.Суммирование производится по всем хордам, кроме первой и последней, длины которых выделены в отдельные члены.Эта формула отличается от формулы, дающей точное значение периметра указанной ступенчатой фигуры, так как в нее введены...