Оптический сферометр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 79150
Автор: Иконников
Текст
79150 Класс 42 Ь, 35 саСССРС, Н, ИконниковОПТИЧЕСКИЙ СФЕРОМЕТР Заявлено 8 января 1947 г, аа50658/373682 в Министерство машиностроенияи приборостроения СССРИзвестны измерите)пь)( приборы. в которьх в качестве опоры применяются сферические камни, Радиус сферы камней влияет ця качество сочленения радиуса кривизны керца прибора и его опорыОписываемый оптический сферометр разработан ца принципе оптического метода контроля, использующего проверку состояния рабочей поверхости кямц 5 На основе соответствия его четырем треугольцц)а)м, П рзтОм 11 чо 1 лучей пада 10 ц ц х ц я 110)ИР 1 е с)1 у 10 пов(рхц Ость камня, дает при отражении расходящиеся лучи, а пучок лучей, падяюших ця сфе)5 цескуо поверхность кяхИ 51, дя(т отрд)кецц 1)е л) чи, На фиг. 1 - 4 изображена схема оптического сферометра. Предлагаемьи прибор выполнен цз кронштейна 1, укрепляемого ця педметцох столике микроскоп к кото)ому прикрепляется изоля 1)ионная скоба 2 с укрепленными на нец двумя источниками света. Расстояние А мс)кду последними выбрано тя)(ое, прц котоом их встречаются у исследуемого объекта под углом, близким к 45. Расстояние Я от скобы до исследуемого объекта гыбрано значительно больше радиуса закругления подпятнцкя, что позволяет произвотитс изме)ецце 1)асстояния мс)кду изобря)кециямц источников Светя, В 01(У)151)е ъГ(РОГ)101 та 110 мецастоя с 1(11 а;Гь)Г 51 1 П 1)ала, цозвол 510 Нан наблюдать расстояние между изображениями аЯа, точек А; и Аа.ВО изое)канне няесения специяльцоц икяль) в Оксляре мик)0- скопа на предметном столике крепится устройство, позволяю)цее перемещать испытуемый объект в цяправ,Сццц прямой А,А. отцс)сительно тубуса микроскопа.При отсутствии в окуляре специальной шкалы аожцо пользоваться микрометром, яющим отсчет с точностьк) до сотых долей миллимет. ра. КакСць в этом случае перемещают, чтосн,) добиться подведения под середину окуляра сначала одного изображения, я затем второго.Рязшашу показаний микрометра отмечают и, располагая шкалу подМ 79150соответствующим масштабом, получают величину радиуса. Для удобства наблюдения в окуляре помещается линза с двумя линиями, пересекающимися под углом 90, из которых одна совпадает с направлением АА 2.Предмет изобретения1 Оптический сферометр для измерения радиуса закругления подпятников, основанный на измерении изображения объекта, отраженного в сферической поверхности подпятника, отл и ч а ю щи й с я тем, что, с целью увеличения яркости изображения, в цем в качестве светящегося объекта применены два источника света, расположенные ца концах скобы, прикрепленной к неподвижной части микроскопа.2, Форма выполнения оптического сферометра цо п. 1, о т л ичающа я с я тем, что, с пелью уменьшения ошибок измерения, расстояние от скобы до исследуемого объекта в цем выбрано значительно больше радиуса закругления подпятника, что позволяет в частности, производить измерение расстояния между изображениями источников света перемещением измеряемого объекта относительно тубуса микроскопа.3. Форма выполнения оптического сфеоометра по пп. 1 - 2, о т л и ч а ю щ а я с я тем, что расстояние между источниками света выбрано такое, при котором лучи от цих встречаются у исследуемого объекта под углом, близким к 45.4. Форма выполнения оптического сферометра по пп. 1 - -3, отл и ч а ю щ а я с я тем, что на пути лучей от источников света установлены линзы, Хо 7915079150 г. иг. 4 стров СССР Комитет по делам изобретений и открытий при Совет дактор Е. А. Майкапар 170 Гор. Алатырь, типография2 Министерства культуры Чувашской АССР. Информационно издательский отдел, Объем 0,34 п. л. Заказ 1300 Подл, к печ. 24 Иг.Тираж 300. Цена 50 коп.
СмотретьЗаявка
50658, 08.01.1947
Иконников С. Н
МПК / Метки
МПК: G01B 11/255, G01B 9/04
Метки: оптический, сферометр
Опубликовано: 01.01.1949
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-79150-opticheskijj-sferometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Оптический сферометр</a>
Способ изменения фокусного расстояния оптической системы
Номер патента: 783744
Опубликовано: 30.11.1980
Авторы: Берзин, Кривич, Медвидь
МПК: G02F 1/29
Метки: изменения, оптической, расстояния, системы, фокусного
...к кристаллографическому направлению () и имеющуюомические контакты 2,подвергают деформации чистого изгиба струбциной З,ав направлении, перпендикулярном силедЕФормации,на нее накладывают электрическое поле с напряженностью Ек,при этом распределение электронов-дырок становится существенно неоднородным(см.фиг.2).В зависимости от направ,лЕния электрического поля стоит возможность истощения кристалла носителями заряда (криваяили обогащения (кривая 11). Это связано с тем,что в кристалле при деформации изгибавозникает две области: сжатия и растяжения. В результате вышеизложенного параметр анизотропии апроксимируется линейной Функцией а(у)=аду, 5где аО - анизотропия равновесного,состояния кристалла о мз Р 3где ЬП - компоненты тензора...
Способ определения фокусного расстояния оптической системы
Номер патента: 1348693
Опубликовано: 30.10.1987
Авторы: Вейко, Костюк, Филиппов, Чуйко, Яковлев
МПК: G01M 11/00
Метки: оптической, расстояния, системы, фокусного
...С 31 Л)Ы В ИЯОСкс)сти измерения, т.с к ошибке в 01 редел(.ии фокусного рдеетяния 3(с(33 тус л(0 итемы.(, ь)ря,к 1 1рд че ИЕался0 Ф е 1. 1( . сПЕре МС це НцеФОКЕ Сц(Сск т;3 я(/. рдсстояцие исцы 3 ее чцй- -1,74+. ),1):) е. У 1 С Г ,151 Е 1 Я Е,Е,МК)ЦЕ Иее ЧЬ УЕКЗ Вц ГО рзспц,н)же тельнц опор ИО; рСцрЕ,(С,ЕЕИ Ир,Ци е ИЕчи 1;е.ОЖЕЕ 3(еЧ И1 ЕЕЧ;Я ОН13 0,13 33 Ж Н(3 Н(1 В,И Н(С ЦИЕ Р(1,УС;1РЕЦИ 13.3 С КЦй цитц 13( Скц"3330 и 1, ц 5 ка во в 1 цр 3 В( 1) кдк лля пучка, црецбой, тдк и лля матрицы пр- ы, т.е. Оцтичеснстечы, ИЕи( Л,) Н,ОСКЦ 1 И 1 ЕРС) (1 От ие 333,е меТОЧ 0 ТЬ Оц)С.Е(.,и.НИ 51 фцКЧОГО р(е- стояния пц прелла зс мочу способу вынн, чеч по известному, п(н кольку. вц-цернык расстояние (1выбирается гора (лц большим рзссгця иЯ (11 т (...
Способ определения фокусного расстояния оптической системы
Номер патента: 1493904
Опубликовано: 15.07.1989
Авторы: Бакеркин, Контиевский
МПК: G01M 11/00
Метки: оптической, расстояния, системы, фокусного
...за оптической системой 2, при этом добиваются совмещения центра кривизны сферического зеркала 3 и плоскости проецирования оптической системы 2 излучения коллиматора, т.е. организуется автоколлимационный ход излучения, и фиксируют положение зеркала 3 и системы 2. Затем между объ-: ективом 1 коллиматора и оптической системой 2 соосно с ней устанавливают дополнительный объектив 4 (фиг. 2 и 5) и проецируют излучение коллиматора в новуи плоскость, с которой совмещают центр кривизны сферического зеркала 3 путем его смещения вдоль оптической оси системы 2, По автоколлимационному ходу излучения в полученной схеме регистрируется наличие совмещения центра кривизны сферического зеркала 3 с новой плоскостью проецирования. Измеряют расстояние а,...
Устройство для определения фокусного расстояния оптической системы
Номер патента: 1612214
Опубликовано: 07.12.1990
Автор: Санников
МПК: G01M 11/00
Метки: оптической, расстояния, системы, фокусного
...отрицательного омпсне)3-а и обьектива автоколлимационной трубы,/, фокусное расстояние исиьпуемой (Фоптической сисг=мыУстройство работает;.)елуюши м образом Испытуемую оптическую систему 9 уста навливают в держатель "., убираюцийся оптический отрицательный компонент 1,. устанавливают в положение, показанное на фиг. 1 сплошными линиями, вклочаюг осветитель 6 и осевым перемещением лержателя 8 с оптической системой 9 добиваю)си резкосги 1:аблюлаемого в микроскоп 4 автоколлимационного изображения Т.ст-ог)ъекта 5. Ириlэтом задняя фокальная лоскость испытуемой оптической системы 9 совмецается с передней фокальной гОскостьк) 1; Оптического отрицательнс го компонента 13, а расстояние и между лавными плоскостями оптической системы 9 и...
Способ определения фокусного расстояния оптической системы
Номер патента: 1696930
Опубликовано: 07.12.1991
Авторы: Морозов, Москаленко, Саар, Соскинд
МПК: G01M 11/00
Метки: оптической, расстояния, системы, фокусного
...источника. Для этого производят пространственную фильтрацию многомодового лазерного излучения (или эквивалентную фильтрацию его углового спектра). В результате этого спекл-шум устраняется и точность измерений повышается,Предлагаемый способ определения фокусного расстояния оптической системывключает два этапа измерений. На первом этапе измеряют линейное расстояние д между интерференционными кольцами от точечного источника с дискретным угловым спектром в фокальной плоскости испытуемой системы. На втором этапе измеряют разность угловых размеров соседних колец, Для этого измеряют линейное расстояние между кольцами без оптической системыи расстояние вдоль оптической оси й от точечного источника излучения до плоскости регистрации. При...
Предыдущий патент: Устройство для регистрации детонаций в двигателях внутреннего сгорания
Следующий патент: Жидкостный грузовой барометр
Случайный патент: Устройство оперативного дистанционного контроля работы землеройных машин с одномоторным приводом