G01B 9/04 — измерительные микроскопы
353135
Номер патента: 353135
Опубликовано: 01.01.1972
МПК: G01B 9/04
Метки: 353135
...содержащее источник света с конденсором ц микроскоп, отличаюитееея тем, что, с целью повышения точности измерения профилей труднодоступных элементов, например, элементов протяжек, оно снабжено оптической приставкой, выполненной в виде отражателей, располагаемых между источником света п объектпвол хцк 1 Оскопа по Оое стороты От измеряемого профиля так, чтобы оптическая ось отражателец проходила через измеряемый профиль,Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть применено при контроле линейных и угловых размеров элементов протяжек.Известное устройство для измерения линейных и угловых размеров профиля элементов изделия содержит источпк света с кондецсором и микроскоп.Цель изобретения - улучшение качества...
Способ сканирования произвольно ориентированного объекта
Номер патента: 384001
Опубликовано: 01.01.1973
МПК: G01B 9/04
Метки: объекта, ориентированного, произвольно, сканирования
...контура ломаной линии. Кроме того, блок 12 электрически соединен с блоком 13 привода и блоком 1 б управления электромеханическими приводами 8 и 9. Выходы блока 15 подключены к блокам 17 и 18 сравнения, генератору 19 и к блоку 20 коммутации направления, Выходы блоков 17 и 18 электрически соединяют с ключами 21 и 22. Кроме того, выходы блоков 17 и 18 подключают к входам блока 23 совпадений, выход которого подсоединяют к шинам обнуления блоков 17 и 18 и электрически связывают с блоком 14, Тактовый генератор 19 через ключи 21 и 22 подключают к блоку 20 коммутации направления и к вторым входам блоков 17 и 18. Выход блока 20 подсоединяют к входам блока 16. Блок 14 электрически соединен с блоком 12, блоком 15 и управляющей шиной 24. Ключ...
Устройство для контроля профиля зубчатых колес
Номер патента: 386237
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Ануфриев, Вител, Шварцбург
МПК: G01B 11/24, G01B 9/04
Метки: зубчатых, колес, профиля
...перпендикулярно его оптической оси.На фиг. 1 показано предложенное устройство; на фиг. 2 - график изменения выходного сигнала на фотоэлементе. 25Устройство содержит фотоэлектрический датчик 1 с осветителем 2 и копом 3, В фокальной плоскости микроскопа расположена диафрагма 4 с рядом щелей. Датчик угла поИзвестно устр зубчатых колес,ский датчик с о датчик пути и д заниям датчика ти строится эво контролируемого погрешности про Недостатками ются необходим щении фотоэлек датчика пути, ч водительность к2ворота (на чертеже не показан) расположен на одной оси с контролируемым колесом 5.При вращении контролируемого колеса световой луч от осветителя 2, спроецированный оптической системой на поверхность контролируемого зуба, перемещается из...
Микроскоп для измерения величины износа режущего инструмента непосредственно на рабочем месте без снятия его со станка
Номер патента: 408139
Опубликовано: 01.01.1973
Автор: Лдадуров
МПК: G01B 9/04
Метки: величины, износа, инструмента, месте, микроскоп, непосредственно, рабочем, режущего, снятия, станка
...30 35 40 45 50 55 60 б 5 пластинки окуляра тубуса обеспечивает точную установку фокальной риски окуляра оптической системы по видимому изображению режущей кромки инструмента.Предварительная настройка окуляра 11 и его фиксация на заданный угол осуществляется посредством стопорного винта 12. Точная установка основной фокальной риски перекрестия по видимому изображению (в поле окуляра 11) режущей кромки инструмента выполняется поворотом в ту или иную сторону рифленой гайки 13, Основная риска перекрестия находится на фокальной стеклянной пластинке 14.На тубусе 4 прибора со стороны объектива 15 крепится указательная игла 16, позволяющая легко, быстро и правильно устанавливать прибор относительно измеряемого режущего элемента инструмента...
378707
Номер патента: 378707
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Авторы, Вител, Института, Картанас, Шимуленис
МПК: G01B 9/04
Метки: 378707
...формирователя 20,счетного триггера 21, двухполуперыодного вы30 прямителя 22 и усилителя мощности 23, пи3тающего сервомотор 3. Щелевая диафрагма приводится в движение с помощью электромагнита 24, соединенного параллельно со входом коммутатора 25, переключающего источники света.При помощи привода грубого позиционирования стол 2 и лимбповорачиваются так, чтобы штрихи 8 и 9 оказались освещенными осветителями 4 и 5. Изображения штрихов с помощью объективов 10 и 11, зеркал 12 и 13, а также призмы 14 проектируются,в щель диафрагмы 15, а затем при помощи объектива 17 проектируются на фотоприемник 18, Диафрагма приводится в движение с помощью электромагнита 24, питаемого переменным током. При этом она совершает колебания, приблизительно...
Капилляроскоп
Номер патента: 445827
Опубликовано: 05.10.1974
МПК: G01B 9/04
Метки: капилляроскоп
...габариты, а при исследовании капилляров полости рта объектив запотевает.С целью устранения указанных недостатков микроскоп предлагаемого капилляроскопа помещен внутри цилиндрического тубуссодержателя, имеющего внутреннюю зеркальную поверхность, покрытую нетеплопроводящим материалом, источники освещения которого закреплены по окружности внутри цилиндра, закрытого со стороны объектива конусом, на дистальном коннице которого установлено прозрачное стекло.На фиг, 1 изображен предлагаемый капилляроскоп, разрез; на фиг. 2 - разрез по Л - Л на фиг. 1. Капилляроскоп содержит микроскоп в видетубуса 1 с объективом 2 и окуляром 3, снабженный отсчетной сеткой 4, источник 5 освещения, тубуссодержатель 6 и механизм 7 для 5 ,перемещения...
Фотоэлектрический микроскоп
Номер патента: 451902
Опубликовано: 30.11.1974
Авторы: Богуславский, Каган
МПК: G01B 9/04
Метки: микроскоп, фотоэлектрический
...объектива 2,10 При установке призмы двойного изображения 3 в плоскости колебаний щеря модулятора 4 появляются два изображениякромки объекта 8, перемещающиеся присмешении объекта в разные стороны,При смещении границы объекта 8 к визирной оси микроскопа кромки объектасмещаются в направлении одна к другой. Вмомент точной регистрапии границы изображений объекта находятся встык одна кдругой, При отклонении в ту или иную сторону изображения границы объекта либо недоходят одна до другой, либо накладываются одна на другую, образуя при этомштриховой знак переменной ширины. В томслучае, когда граница объекта не доходитдо визирной оси, штрих светлый, а осталное поле темное (см, фиг, 2 а).В случае,когда граница объекта переходит визирнуюось...
Устройство для регистрации дефектов и контроля фотошаблонов
Номер патента: 481766
Опубликовано: 25.08.1975
Авторы: Жуковский, Карасин, Кисельгоф, Яковлева
МПК: G01B 9/04
Метки: дефектов, регистрации, фотошаблонов
...в блоки запоминающихузлов 19 или 20 и далее через переключатель 21 выходных сигналов - в ЦБМ23 или блок для записи 22, например намагнитную ленту.Для установки первоначального поло-жения ФШ 1, 2 служат механизмы поворота 24 и направляющие 25, а для наблюдения ФШ 1,2 - визуальный канал, состоящий из выключаюшихся зеркал 26,зеркальной призмы 27, сетки 8 л оку- ляра 29. На сетке нанесено перекрестие, линии которого параллельны направлениям перемещения координатного стола 3 и.линейкам входных торцов световодов ВОП11.Устройство работает следующим образом, Перед началом контроля ФШ 1и 2 ориентируют при помощи механизмов поворота 24 и направляющих 25 таким образом, чтобы образующие их элементов были параллельны линиям перекрестиясетки 28,...
Фотоэлектрический измерительный микроскоп
Номер патента: 493623
Опубликовано: 30.11.1975
Автор: Фельдман
МПК: G01B 9/04
Метки: измерительный, микроскоп, фотоэлектрический
...содержит осветитель визуального канала 1 со светофильтром 2, осветитель фотоэлектрического канала, выполненный в виде источника света 3, коллектора 4 н полевой диафрагмы 5, полупрозрачного зеркала 6, конденсор 7, объектив 8, полупрозрачное зеркало 9, окуляр 10, зеркало 11, набор объективов в револьверной головке 12 с приводом 13,рым ост гд с кот в пло 1е диафрагмы;отрезок объектива;от зеркала до изобргмы. еПр ет изобретен Ф й измерительный микро- осветитель фотоэлектриче лненный в виде источникаполупрозрачного зеркаального канала, конденроскопа, полупрозрачноезеркало, блок визуально онную систему фотоэлеки блок обработки инфорщийся тем, что, с целью одительности измерений,Фотоэскоп, соского ксвета, кла, освсор, обзеркалого...
Прибор для определения плотности ткани
Номер патента: 502207
Опубликовано: 05.02.1976
МПК: G01B 9/04
Метки: плотности, прибор, ткани
...4, установленный относительно окуляра 1 и объектива 2 с возможностью наблюдения через прозрачную плоско-параллельную прижимную пластину 5 20 измеряемого изделия в половине поля зренияприбора; мерительную шкалу 6, наблюдаемую во второй половине поля зрения; дополнительный объектив 7; призму 8; подсвеченную пластинку 9; втулку 10, ца наружной по верхцости которой нанесена дополнительнаяшкала, градуированная в единицах количест ва элементов в изделии; индекс 11, жесткс скрепленную с втулкой 10 трубку 12, внутри которой закреплены втулки со спиральными ЗЭ скосами, которые прп помощи шпонок пере502207 а 35 мула изобретения Составитель Л. ТришинаРедактор В. Другова Тсхред Т. Курилко Корректор Л, Кото/10 Изд. ЬЪ 222 ЦИИИПИ Государственного кои...
Фотоэлектрическое устройство для наведения на границу света и тени
Номер патента: 587321
Опубликовано: 05.01.1978
Авторы: Маламед, Ольшевский, Пальмин, Скворцов
МПК: G01B 9/04
Метки: границу, наведения, света, тени, фотоэлектрическое
...5, объектив 6, светоделительный кубик 7, кольцевую диафрагму 8, круглую дяафрагму 9 и два фотс- приемника 10 и 11, включенных по фотобалансной схеме навстречу друг друга.Устройство работает следующим образом,Источник 1 света при помощи конденсато 3ра 2 и призмы 3 освещает расцопоженную на предметйом столике 4 деталь 5. Теневое иэображение детали 5 при помощи объектива 6 и советоделительного кубика 7 проектирует- . ся в плоскость кольцевой диафрагмы 8 я круглой диафрагмы 9, Диафрагмы оптически сопряжены, с анализируемой (предметцрй) плоскостью, в которой иэображения этих диафрагм587 З 21з.онцентричны и их площади равны между со, бой. 1 НИИПИ Заказ 121/30 Тираж ЯЯ Подписное Ужгород, ул, Проектная нпиап ППП фПате В момент пересечения...
Фотоэлектрическое устройство длянаведения ha границу cbeta и тенипри регистрации границы обекта
Номер патента: 796652
Опубликовано: 15.01.1981
Авторы: Куминов, Мельников, Ненашев, Чуличкин, Ямщиков
МПК: G01B 9/04
Метки: cbeta, границу, границы, длянаведения, объекта, регистрации, тенипри, фотоэлектрическое
...элементы выполжны в виде двухэлементной фотоприемной матрмцы,оптически сопрягаемой с плоскостью измеряемого объекта, а элементы матрицы имеютформу круга и кольца, которые концентричныи равны по площади между собой.На фиг, 1 изображена принципиальная схемафотоэлектрического устройства для наведенияна границу света и тени при регистрации границы объекта; на фиг. 2 - вид А.А на фиг. .Устройство содержит (фиг, 1) осветитель 1,проекционный объектив 2, образующие проек"ционную систему, м фоточувствительным элементы в виде двухэлементной фотоприемной матрицы расположенной после объектива 2 в плоскости, оптически сопрягаемой с плоскостьюизмеряемого объекта, Фотоприемная матрица 3796652 ВНИИПИ Заказ 9757/57 Тираж 651 Подписное ал ППП "Патент",...
Фотоэлектрический способ определенияположения штриха шкалы
Номер патента: 807053
Опубликовано: 23.02.1981
МПК: G01B 9/04
Метки: определенияположения, фотоэлектрический, шкалы, штриха
...интерферометра прибора 5 для определения координаты, элементы 7 сравнения, цифровой вольтметр 8, специализированную ЭВМ 9 цифропечатающее устройство 10.Способ реализуется следующим образом.Перед началом измерения выбирают уровни напряжения И, И ,. (Фиг.2), в зоне, где измененйе сйгнала И . пропорционально перемещению Х. Измерения проводятся ри перемещении фотоприемника 4 и диафрагмы 3 относительно штрихов 2 меры 1. В процессе измерения текущее значение сигнала И сравнивают с выбранными уровнями сравнения Иср = И Испуг = И 2 при помощи элементов 7 сравнения. При совпадениях Ис с величинами Иср. И р элементы 7 сравнения формируютс.о гсйгналы опроса, по которым прибор 5 (ИПЛ.10 М,52) фиксирует координаты х ,х, х., жестко связанного с диаф...
Устройство для контроля заднегоугла цилиндрических разверток
Номер патента: 838322
Опубликовано: 15.06.1981
МПК: G01B 9/04
Метки: заднегоугла, разверток, цилиндрических
...на которой в направляющих помещен ползун 15, перемещаемый с помощьювинта 16, На ползуне укреплена плита17, расположенная под углом 45 к зоси центров. На плите 17 смонтированы направляющие 18, в которых размещен ползун 19,снабженный маховичком 20 фрикционного механизма, Наползуне 15 закреплена коробка 21 с окронштейном 22 удерживающим патронэлектролампы 23. Против электролампы 23 в сквозном отверстии ползуна 19укреплен объектив 24, Между электролампой и объективом перпендикулярно 45оптической оси в фокальной плоскостиобъектива помещен нож 25, укрепленныйна втулке 26. Лезвие ножа упираетсяна уступы втулки 26, лежащие в диаметральной плоскости, что обеспечи- овает пересечение дезвия ножа с оптической осью осветителя. В пазу ползуна 9...
Оптико-телевизионная система для обна-ружения дефектов фотошаблонов
Номер патента: 847014
Опубликовано: 15.07.1981
Авторы: Астратов, Волхонский, Воробьев, Дулеев, Ликарпенков, Молчанов, Никитина, Руковчук
МПК: G01B 9/04
Метки: дефектов, обна-ружения, оптико-телевизионная, фотошаблонов
...совмещать н себе некоторые функции управляющей вычислительной машины. В этом случае детектор 13 дефектов дополнительно соединен двумя входами с выходами датчиков 5 и 6 линейных перемещений фотошаблона 4 по двум координатам, а двумя выходами со входами механизмов 2 и 3 ориентации контролируемого фотошаблона 4.Оптико-телевизионная система работает следующим образом.перед началом контроля контролируемый Фотошаблон 4 ориентируют таким образом, чтобы образующие егоэлементов были параллельны линии, соединяющей оптические оси блока суммирования оптических изображений модулей контролируемого Фотошаблона 4, а регулировкой расстояния между оптическими центрами его нходных эрачков добиваются полного совмещения контролируемых участков, что...
Установка для контроля искажений, вносимых прозрачными изделиями остекления в нормальных пучках лучей
Номер патента: 879291
Опубликовано: 07.11.1981
Авторы: Воробьев, Иткин, Рубинчик, Тимофеева
МПК: G01B 9/04
Метки: вносимых, изделиями, искажений, лучей, нормальных, остекления, прозрачными, пучках
...снабжен диафрагмой в виде узкой горизонтальной щели. Настойках 3 (см. фйг,2) неподвижно укреплены наклонное зеркало 4 и горизонтальное зеркало 5. Последнее находится под проверяемым изделием 6.На рельсах 7, проходящих междустойками, установлена, приводнаятележка 8, на которой располагаетсяизделие 6 во время контроля, Тележка имеет четыре держателя 9,каждыйиз которых представляет собой ломающийся двуплечий рычаг, несущий насвободном конце опору 10. В шарнирах рычагов установлены фиксаторы,с помощью которых рычаги можно закрепить в любом нужном положенииприменительно к конфигурации иэде"лия. Держатели прикреплены к поворотному кругу 11, для вращения которого служит фрикционный привод 12.Поворотный круг расположен в.верх-.ней части...
Компаратор для поверки штриховых мер длины
Номер патента: 943523
Опубликовано: 15.07.1982
МПК: G01B 9/04
Метки: длины, компаратор, мер, поверки, штриховых
...с заданной скоростью,Включаются источники стабилизированных напряжений питания компаратора для поверки штриховых мер 13 длины 1,источники на Фиг,1 не показаны ) При этом сигналом с первого выхода управляющей вычислительной машины 6 включается электропривод 7, который перемещает каретку 8 с помощью ходового винта 18. В результате осуществляется взаимное перемещение предметного стола 2 и фотоэлектрическо9435 9го микроскопа 5, В процессе этого перемещения происходит периодическое изменение светового потока, подающего от источника света фотоэлектрического микроскопа 5 на по" верхность поверяемой штриховой меры 13 длины, при этом на выходе фотоэлектрического микроскопа 5 Формируются сигналы 0 яь 1 х, 5 в виде коротких импульсов, одна из...
Устройство для поверки штриховых мер
Номер патента: 968600
Опубликовано: 23.10.1982
МПК: G01B 9/04
Метки: мер, поверки, штриховых
...мер длины путем сокращения времени .теплового воздействия осветителей на тепловое состояние штриховыхмер. формула изобретейия 45 ветительный блок 1, плоское зеркало . 2, образцовую меру 3, микроскоп 4, осветительный блок 5, плоское зерка" ло б, рабочую меру 7, микроскоп 8, предметный столик 9 с приводом 10 электрически соединенные схему 11 обработки, входы которой связаны с выходами микроскопов 4 и 8, регистратор 12 и блок 13 управления, выходы которого связаны соответственно. с входами схемы 11 обработки и ре- гистратора 12, два обтюратора 14 и 15, две заслонки 16 и 17 с приводами 18 и 19, электрически. связанными с приводом 10 и блоком 13 управления.Устройство работает следующим образом.Поверка штриховых мер длины осуществляется...
Фотоэлектрическое устройство для наведения на границу света и тени
Номер патента: 968601
Опубликовано: 23.10.1982
МПК: G01B 9/04
Метки: границу, наведения, света, тени, фотоэлектрическое
...двум фоточувствительным элементам 1 и 2 расположены дополнительно два наружных элемента, выполненные в виде полу968601 15 Формула изобретения Составитель Л. Лобзова Редактор Н. Лазаренко Техред И. Верес Корректор М. Шароши Заказ 8142/66 Тираж 614 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4колец 3 и 4, симметричных между собой, Площади полуколец 3 и 4 равны, друг от друга они электрически изолированы и включены по фотобалансной схеме.Устройство работает следующим образом.При перемещении объекта (не показан) перемещается его изображение по фотоприемной матрице. При угловом смещении светоконтрастной границы...
Прибор для контроля формы асферических поверхностей
Номер патента: 1024706
Опубликовано: 23.06.1983
Авторы: Контиевский, Липовецкий, Хуснутдинов
МПК: G01B 11/24, G01B 9/04
Метки: асферических, поверхностей, прибор, формы
...10, Компенсатор 15 можетбыть выполнен, например, в виде линзы, перемещаемой перпендикулярно оптической оси 00, микрометренным вин.том.Функцию проекционной системы выполняют следующйе детали автоколлимационного микроскопа 7: источник 8 излучения, конденсатор 9, марка 10, светоделитель 11 и объектив 12, Функцию оптической системы измерения направления отражаемых контролируемой поверхностью, лучей выполняют (по хо3 102ду отражаемых контролируемой поверхностью 3 лучей) объектив. 12, светоделитель 11, компенсатор 15, сетка 13и окуляр 14.Автоколлимационный микроскоп 7установлен с возможностью перемещениявдоль его оптической оси 00 подополнительной направляющей 6, скоторой жестко связана диафрагма 16.Центр диафрагмы 16 совмещен с опти" .ческой...
Фотоэлектрический микроскоп
Номер патента: 1044966
Опубликовано: 30.09.1983
Авторы: Бернштейн, Воробьев, Потапов, Суханова
МПК: G01B 9/04
Метки: микроскоп, фотоэлектрический
...генератор 5 гармонического сигнала, первый светоделитель б,расположенные последовательно по хо"ду отклоненного светоделителем светового потока первый зеркальный отражатель 7, призму Дове 8, второйзеркальный отражатель 9 и второйсветоделитель 10, установленный одновременно и на пути неотклоненного потока, и компенсатор разностиоптических длин хода лучей в каналах )1, установленный между светоделителями 6 и 10 на пути неоткло Оненного потока, Далее за светоделителем 10 последовательно по ходусветового потока установлены штрихавая мера 12 со штрихом 13, объектив14 и фотонриемник 15, к выходу кото 65 рого подключен блок 16 обработкисигналов.устройство работает следуюшимобразом.Световой пучок 3, проходя черезмодулятор 4...
Оптико-телевизионная система обнаружения дефектов фотошаблонов
Номер патента: 1054676
Опубликовано: 15.11.1983
Автор: Дулеев
МПК: G01B 9/04
Метки: дефектов, обнаружения, оптико-телевизионная, фотошаблонов
...изображений фотошаблонов, вход которого соединен со вторым выходом передающей теле" визиониой камеры, первый выход подключен к входу блока изменения расстояния между осями перископических систем, а второй выход соединен со входом блока вращения перископических систем вокруг оси приемного объектива.На чертеже представлена схема предлагаемой системы.Схема содержит осветители 1 координатного стола, контролируемцй Фотошаблон 2, блок 3 совмещения изображений фотошаблонов, приемный объектив М, передающую телевизионную камеру .5, координатный стол 6 с механизмами для перемещения контролируе" мопо фотошаблона, датчики 7 линейных перемещений фотошаблона по двум координатам, блок 8 анализа совмещения изображений Фотошаблонов, детектор 9...
Фотоэлектрический микроскоп
Номер патента: 1089405
Опубликовано: 30.04.1984
Авторы: Василевский, Павлов, Романов, Садов, Шестаков
МПК: G01B 9/04
Метки: микроскоп, фотоэлектрический
...прямоугольных призм, установленных на смежных гранях симметрично относительно светоделительнои 50диагональной плоскости, щелевой модулятор и регистрирующий блок, снабжен третьей прямоугольной призмой,установленной с одной из двух прямоуголгольных призм на грани светоделительного кубика перпендикулярно оптической оси микроскопа, щелевой модулятор выполнен в виде двухщелевои диафрагмы, щели которой смещены в противоположные стороны от оптической оси на величину, равную длине щели, а величина смещения двух прямоугольных призм равна расстоянию между щелями щелевого модулятора.На чертеже представлена схема фотоэлектрического микроскопа.Фотоэлектрический микроскоп содержит источник 1 излучения, проекционную систему 2, призменный блок 3 в...
Способ определения модуляционной передаточной функции акустического микроскопа
Номер патента: 1179104
Опубликовано: 15.09.1985
МПК: G01B 9/04
Метки: акустического, микроскопа, модуляционной, передаточной, функции
...сигналов, по ко- рторой определяют модуляционную передаточную функцию.(Риа, ВНИИПИ аказ 5650/39 Тираж 651 писное илиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проект Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может бытьиспользовано для определения модуля-,ционной передаточной функции акустических устройств визуализации, содержащих акустические линзы, в частности акустических микроскопов.Целью изобретения является повышение точности и производительностиопределения. 10На фиг. 1 изображена блок-схемауСтройства для реализации способа,на фиг. 2 - осциллограмма.Способ определения модуляционнойпередаточной Функции акустическогомикроскопа осуществляется следующимобразом.Отражатель 1, в качестве которогоиспользуют цилиндр,...
Устройство для грубого и точного перемещений управляемого звена
Номер патента: 1198376
Опубликовано: 15.12.1985
Автор: Курак
МПК: G01B 9/04, G05G 9/04
Метки: грубого, звена, перемещений, точного, управляемого
...связанную с управляемым звеном 4, червяк 5, сопряженный с червячным колесом 2 и связанный с штурвалом б точного ,перемещения. Рукоятка 3 грубого перемещения установлена с возможностью осевого перемещения, пер. вым концом,7 связана с червячным колесом 2 соосной управляемой муфтой 8, управляемая полумуфта 9 которой, связана с рукояткой 3 и снабжена двумя соосными толкателями 10 и 11, один (10) из которых связан с корпусом 1 через пружину 12 поджатия муфты 8, а другой (11) - с подвижным элементом 13 .соосной . винтовой пары 14, установленной в корпусе 1 и снабженной штурвалом 15 размыкания муфты 8, и сопряжен с вторым концом 16 рукоятки 3 грубого перемещения, Поверхность штурвала 15 выполнена в виде сопрягаю- . щихся конической 17...
Устройство для измерения радиуса и угла сопряжения поверхностей деталей
Номер патента: 1221486
Опубликовано: 30.03.1986
Авторы: Леховицер, Танкилевич, Шнитман
МПК: G01B 9/04
Метки: поверхностей, радиуса, сопряжения, угла
...окружностей, радиусы которых последовательно приближаются кразмеру радиуса профиля, в результате чего зазор между профилем и образцом уменьшается. Выбирают окружность,прилегающую к профилю с минимальнымзазором, т.е. окружность, имеющуюпо крайней мере три обшие точки спрофилем (описанную - для наружногопрофиля, и вписанную - для внутреннего),Радиус профиля, равный радиусувыбранной окружности, измеряют поотсчетному микровинту (не показан),Погрешность формы профиля определяютизмерением в радиальном направлениинаибольшей величины а местного зазора между выбранной образцовой окружностью и профилем с помощью шкалы.Так как центр выбранной окружностисовпадает с центром радиуса профиля,то координата этого центра относительно...
Устройство для определения положения штрихов
Номер патента: 1270551
Опубликовано: 15.11.1986
МПК: G01B 9/04
...объекте Делитель 7частоты имеет постоянный коэффициентделения (К, ), определяемый зависимостью 2 (, +4 +с)ос(1) Ч х, Ч х; ф х( КР Ч(2) Формирователь 4 разрешающих импульсов вырабатывает разрешающие им где Й, - допускаемая погрешность расположения:птриха на контролируемом объекте;и - погрешность измерителя пере-.мещений;погрешность средства измерения (компаратора), в котором используется устройство,;х, - дискретность измерителя перемещений;лр - длительность разрешающихимпульсов;7 - скорость перемещения контролируемого объекта.Ключевая схема с выполнена в виде логических элементов.Устройство работает следующим образом.Фотоэлектрический микроскоп 1 при перемещении относительно него контролируемого объекта 5 вырабатывает...
Способ контроля ориентации объекта при пробивке отверстий в нем
Номер патента: 1270552
Опубликовано: 15.11.1986
Авторы: Вишнев, Максячкин, Седых
МПК: G01B 9/04
Метки: нем, объекта, ориентации, отверстий, пробивке
...пробивку. 10На чертеже показана последовательность действия при контроле ориентации объекта.На чертеже показаны подвижнаякаретка 1, контрольный объект 2, на 15наружную поверхность которого предварительно наносят слой пластичного материала 3, след торца рабочего инструмента 4, перекрестие окуляра микроскопа 5, рабочий объект 6, например подложка микросхемы и репернаяметка 7.Контроль согласно способу осуществляют следующим образом,Устанавливают на подвижную каретку 1 контрольный объект 2, перемещают его в зону обработки под рабочийинструмент, опускают рабочий инструмент на контрольный объект, фиксируяна нем след торца инструмента 4. За- ЗОтем перемещают каретку на базовоерасстояние (Ь), подводя контрольныйобъект под микроскоп....
Тренажер для одноколейного транспортного средства
Номер патента: 1303815
Опубликовано: 15.04.1987
МПК: G01B 9/04
Метки: одноколейного, средства, транспортного, тренажер
...винта 15, закрепленного во втулке 16 корпуса 17, установленного на раме 1. На стойке руля велосипеда 8 установлен спидометр 18.Для установки велосипеда 8 на тренажер наружные гайки с осей переднего и заднего колес 6, 7 заменяют резь бовыми элементами 4, на наружной цилиндрической опорной части которых устанавливают держатели 3.Велосипед с закрепленными на нем держателями устанавливается на тренажере таким образом, что держатели 3 размещаются в прорези стойки 2 тренажера, стенки паза являются направляющими и охватываются П-образнымипазами, выполненными в держателях 3,которые в этом случае свободно входятв пазы стоек 2 рамы 1 тренажера. Дляустановки велосипеда любого типа высота прорези определяется разностьюдиаметров колес. Конструкция...
Способ калибровки коноскопа поляризационного микроскопа
Номер патента: 1354032
Опубликовано: 23.11.1987
Автор: Компанейцев
МПК: G01B 21/00, G01B 9/04
Метки: калибровки, коноскопа, микроскопа, поляризационного
...шлифе;2) устанавливают сильный объектив и наводят на резкость изображение зерна одноосного эталонного минерала,3) включают линзы Лазо и Бертрана, 4) вращением столика микроскопа устанавливают изогиру на перекрестие окуляра-микрометра и проверяют центровку коноскопа: изогира должна иметь вид прямой балки (фиг.7), а в прохо 135403240 45 дящем свете зерно должно быть в положении погасания,5) при несоблюдении условия и4произвести дополнительную центрировку .коноскопа и повторить операцию п.4,6) поворотом окуляра-микрометрав тубусе микроскопа совмещают нитьокулярного креста, не имеющую шкалы,с изогирой, 1 О7) вращением столика микроскопапо ходу часовой стрелки смещают изогиру от центра коноскопа на П деленийпо шкале окуляра-микрометра и...