Устройство для измерения кривизны

Номер патента: 299738

Авторы: Наумов, Упадышев

ZIP архив

Текст

о п игхгттив ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 299738 Союз Советоких Социалистических Республикисоединением заяв риоритет комитет по делам обретений и аткрыти ри Совете Министров СССР81.2.531,7 (088.8 Опубликовано 26,1 юллетень12 Дата опубликования описания 21 Х.19 Авторыизобретени М. П, Наумо Л. Упадышев Заявител УСТРОИСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КРИВИЗНЫ ФОРМИРОВАННЫХ ЭЛЕМЕНТОВ КОНСТРУКЦ ПРИ СТАТИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЯХ2 двух пластин, ным вырезом пластин и ш лярно вертик через точки п На чертеже изображена схема устроиствав рабочем состоянии.К испытываемому элементу 1 конструкции 10 на нитях 2, обладающих повышенной жесткостью на кручение, подвешены пластины 3 и 4, а также шкала б. В нижней части пластины 3 выполнен прямоугольный вырез. Плоскости пластин и шкалы расположены перпендпку лярно вертикальной плоскости, проходящейчерез точки подвеса.Устройство снабжено источником б гомоцентрического светового пучка, например кинопроектором, смонтированным на регулиру емой по высоте опоре 7.При отсутствии нагрузки на элемент конструкции включают источник светового пучка.При этом на шкале появляется тень 8 отплас.тин 3 и 4. Перемещением источника по высоте 25 с помощью регулируемой опоры добиваютсяисчезновения уступа на тени, отбрасываемой на шкалу от прямоугольного выреза пластины 3. По уровню сплошной нижней кромки 9 тени на шкале производят отсчет, соответству ющий нулевой нагрузке. Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к устройствам для измерения кривизны деформированных элементов конструкции, например летательного аппарата, при статических испытаниях.Известны устройства для измерения кривизны деформированных элементов конструкции, например летательного аппарата, при статических испытаниях, содержащие подвешенные к испытываемому элементу на нитях индикаторные приспособления в виде жестких траверс и маятниковых измерителей линейных перемещений со стрелочными индикаторами.В известных устройствах сложность непосредственного замера величины второй разности прогибов при большом шаге интерполяции и наличие зоны нечувствительности стрелочных индикаторов при малых угловых дефор. мациях приводит к снижению точности замеров.Целью данного изобретения является повышение точности определения кривизны упругой линии деформированного элемента конструкции за счет непосредственного измерения второй разности прогибов при большом шаге интерполяции.Предлагаемое устройство снабжено регулируемым по высоте источником гомоцентрического светового пучка, а подвешенные индикаторные приспособления выполнены в виде одна из которых с прямоугольи шкалы, причем плоскости алы расположены перпендикульной плоскости, проходящей двеса.Составитель Я. Соболев Редактор Е. Дайч Корректор Л. А. Царькова Техред Л. Л. Евдонов Заказ 111013 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Говете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб, д. 45 1 нпографнн, нр. Сапунова, 2 После этого производят нагружение элемента конструкции заданной нагрузкой и за счет вертикального перемещения источника свега вновь добиваются получения сплошной нижней кромки тени на шкале. Снимают полученный под нагрузкой отсчет по кромке на шкале. Разность отсчетов под нагрузкой и при ее отсутствии дает величину, непосредственно характеризующую кривизну испытываемой конструкции при ее деформации под заданной нагрузкой,Применение данного устройства позволяет повысить точность измерений, в том числе прп большом шаге интерполяции, т. е. при больших расстояних между точками подвески пластин и шкалы. Устройство для измерения кривизны дефор.мированных элементов конструкции при ста тических испытаниях, включающее подвешенные к испытываемому элементу на нитях .индикаторные приспособления, отличающееся темчто, с целью повышения точности измерений, устройство снабжено регулируемым по 10 высоте источником гомоцентрического светового пучка, а подвешенные индикаторные приспособления выполнены в виде двух пластин, одна из которых с прямоугольным вырезом, и шкалы, причем плоскости пластин и шкалы 15 расположены перпендикулярно вертикальнойплоскости, проходящей через точки подвеса,

Смотреть

Заявка

1327522

М. П. Наумов, Б. Л. Упадышев

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16, G01M 5/00

Метки: кривизны

Опубликовано: 01.01.1971

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-299738-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-krivizny.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения кривизны</a>

Похожие патенты