Устройство для измерения деформаций

Номер патента: 326454

Авторы: Институт, Исаев, Смирнов, Толубеев, Фридман, Шнырев

ZIP архив

Текст

32645 О П ЙЗО Союз СоветсеаСоциалистицеских)Респубпик ЕТЕНИ У СВИДЕТЕЛЬСТВ АВТОРСКОМ Зависимое от авт. свидетельства М. Кл. С 010 5(346 01 Ь 11/16 970 ( 1450905/25-28 3 аявле рисоединением заявкиКомитвт оо авлвм авобрвтвниЯ и открытиЯ ври Соввтв Министров СССРриоритет УДК 53,082.52(08 Опубликовано 19.1.1972. бюллетень4 Дата опубликования описания 23.111.197 Лвторы зобрете Г. Д. Шнырев, 3. Г. Фридман, Ю. С. Толи Е, Г. Смирнов А. В. Исае таллургии имени А, А. Байк Институ Заявит Я ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ РОЙСТ Изобретение относится к устройствам для измерения деформаций, применяемым наиболее часто при механических испытаниях образцов на разрыв.Известны фотоэлектрические устройства для измерения деформаций образцов материалов при механических испытаниях на разрыв (см., например, журнал 1 гоп Лце, 1964 г., т. 193,8 стр. 121).Известные устройства содержат фотоэлектрический датчик деформаций с осветителем, оптической системой, дающей плоский световой луч, фотоэлементом и усилителем, сканирующее приспосбление и регистрирующий прибор.Недостатком этих устройств является невозможность непрерывного измерения диаметра образца в месте образования шейки прп механических испытаниях, когда неизвестно в какой части по длине образца будет образовываться шейка,Предложенное устройство отличается от известных тем, что фотоэлектрический датчик, включенный на вход Х двухкоординатного прибора, установлен на каретке, приводимой в возвратно-поступательное движение вдоль образца и снабженной реохордным датчиком перемещения, включенным на вход У двухкоординатного прибора, который снабжен синхронным лентопротяжным механизмом. 2Другой особенностью предложенного устройства является то, что оно снабжено светозащитными экранами, закрепленными ца утолщенной части образца, которые плотно приле 5 гают с двух сторон к образующим цедеформированцого образца и имеют реперные вырезы,Указанные конструктивные особенности предложенного устройства обеспечивают регистрацшо кинетики развития пластических деформа 10 ций в зоце разрушения и повышение точностиизмерения.На фцг. 1 изображен образец со светозащитными экранами; ца фиг. 2 - график полнойкинетической картины разрушения образца.15 К утолщенной части образца 1 прикрепляются два светозащитцых экрана 2, Экраныприлегают с двух сторон к образующим недеформированного образца 1. Верхнюю частьэкранов 2 крепят хомутом 3, а нижнюю - хо 20 мутом 4, имеющим цекоторую свободу. На одном из экранов 2 сделаны реперцый вырез 5,который позволяет регистрировать начало измеряемой части образца 1,Образец с устацовлеццыми ца нем экрана 25 мц устанавливают в захваты разрывной машины, ца которую поставлена сканирующаяголовка, состоящая из каретки, приводимой ввозвратно-поступательное движение вдоль осиобразца с экранами реверсивным двигателем30 и имеющей рсохордный датчик перемещений,фотоэлектрического датчика и осветителя, дающего плоский световой луч. Запись производится самопишущим двухкоординатным потенциометром с синхронной лентопротяжкой,Сигнал от фотодатчика регистрируется на координате Х, двухкоординатного самопишущего потенциометра. На координате У с помощью реохордного датчика перемещения регистрируется положение сканирующей вдоль образца каретки с осветительным устройством и фотодатчиком в установленном масштабе. Самопишущий потенциометр имеет синхронный лентопротяжный механизм для продвижения диаграммной ленты с постоянной скоростью, что позволяет регистрировать процесс во времени,Таким образом, сканирующая каретка с осветительным устройством и фотодатчиком двигается вдоль оси образца, что фиксируется на координате У самописца, а на координате Х фиксируется световой поток, проходящий через щели между измеряемой рабочей частью образца и светозащитными экранами.В результате на диаграммной ленте двухкоординатного самописца записывается кривая, раскрывающая полную картину разрушения (фиг. 2). Смещение пика У по оси С будет пропорционально величине сужения диаметра образца. Пик Е отмечает верхний край рабочей части образца, для чего в экране сделан вырез. Так как экраны жестко закреплены на образце у верхнего неподвижного захвата, в процессе испытания между экранами и образцом образуется просвет, обозначенный пиком Р, который отмечает нижний край рабочей части. Смещение пика Р пропорционально величине удлинения образца. Момент и место образования, шейки фиксируется появлением пика У, величина которого растет пропорционально изменению формы образца в месте образования шейки, При этом форма пика Л будет подобна форме шейки, что позволяет определить величину не только минимального диаметра образца по максимальной высоте пика, но и величину объемного сужения в месте ло кальной пластической деформации.Благодаря применению предложенного устройства можно определить изменение диаметра рабочей части образца ЛЙ, место разрушения, величину объемного сужения в месте ло кальной пластической деформации, а такжеизмерять величину удлинения образца в процессе испытания на растяжение. Предмет изобретения151, Устройство для измерения деформацийобразцов материалов при механических испытаниях на разрыв, содержащее фотоэлектрический датчик деформаций с осветителем, опти 20 ческой системой, дающей плоский световойлуч, фотоэлементом и усилителем, сканирующее приспособление и регистрирующий двухкоординатный прибор, отличающееся тем, что,с целью регистрации кинетики развития пла 25 стических деформаций в зоне разрушения, фотоэлектрический датчик, включенный на входХ двухкоординатного прибора, установлен накаретке, приводимой в возвратно-поступательное движение вдоль образца и снабженной;ЗО реохордным датчиком перемещения, включенным на вход У двухкоординатного прибора,который снабжен синхронным лентопротяжным механизмом.2. Устройство по п. 1, отличающееся тем,ч 5 что, с целью повышения точности измерений,оно снабжено светозащитными экранами, закрепленными на одной из утолщенных частейобразца, которые плотно прилегают с двухсторон к образующим недеформированного об 40 разца и имеют один или несколько реперныхвырезов, 326454

Смотреть

Заявка

1450905

Г. Д. Шнырев, Г. Фридман, Ю. С. Толубеев, А. В. Исаев, Е. Г. Смирнов, Институт металлургии имениА. А. Байкова

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16, G01D 5/34

Метки: деформаций

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-326454-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения деформаций</a>

Похожие патенты