G01B 11/02 — для измерения длины, ширины или толщины
Измерительная головка фотоэлектронного прибора для автоматического бесконтактного контроля размера сечения стекловолокна
Номер патента: 551501
Опубликовано: 25.03.1977
Авторы: Саттаров, Сафиулина, Траутман
МПК: G01B 11/02
Метки: бесконтактного, головка, измерительная, прибора, размера, сечения, стекловолокна, фотоэлектронного
...собирающую линзу - конденсор 7, преобразуюшую расходящийся пучок света в параллельный попадает через осевые отверстия шестерен 4 на отражающую грань первой призмы - ромб 5, которая также находится на геометрической оси вращения шестерен 4, а угол ее наклона образует с осью вращения шестерен угол, равный 45 . Параллельный световой пучок, отразившись от этой отражающей грани, проходит сквозь призму и при помощи второй ее отражающей грани попадает на противоположно расположенную отражающую грань второй призмы. При этом световой пучок пересекается при вращении шестерен 4 поочередно измеряемым и эталонным стекловолокнами, находящимся в за - зоре между вращающимися шестерчями с призмами, Таким образом, модулированный световой поток, пройдя...
Способ фотоэлектрического определения границ предмета
Номер патента: 561527
Опубликовано: 05.06.1977
Автор: Хельмут
МПК: G01B 11/02
Метки: границ, предмета, фотоэлектрического
...гнал звестен способ определения грани Однако при таком способе точность определения границ предмета невысока.Предлагаемый способ отличается тем, что форми- . руют вспомогательный сигнал, запоминают его и сравнивают по амплитуде с сигналом зондирования, 10 в момент совпадения амплитуд формируют информационный сигнал.Способ иллюстрируется чертежом.Предмет 1 освещается снизу с помощью источника света 2. Плоскости кромок предмета резко 15 изображаются посредством линзовой системы 3 в плоскости фотоэлектрического детектора 4, Для этой цели вход луча периодически отклоняется с помощью многогранного зеркала 5, вращающегося вокруг оси 6, и направляется через детектор 4, 20 Перед детектором расположены два отв диафрагмы 9, через которые...
Способ определения эргономических показателей качества конструкции плечевых швейных изделий на фигуре человека и устройство для осуществления способа
Номер патента: 563961
Опубликовано: 05.07.1977
Авторы: Коблякова, Комин, Размахнина
МПК: A41H 1/00, A41H 43/00, G01B 11/02, G01B 5/02 ...
Метки: качества, конструкции, плечевых, показателей, способа, фигуре, человека, швейных, эргономических
...надевает платье и поднимает рукава изделия путем подъема рук на максимальный угол, определяемый физиологическими свойствами человека и конструкций одежды, до появления ощущения давления, производимого рукавом на плечевую часть руки. Максимальный угол подъема рук в одежде ( о) определяют по угловой шкале 3 щита 2.Вычисляют критерий размаха движения рук по формуле:соКускл 1 -ОСУАПеремещение низа изделия ( э) измеряют с использованием регистрирующего прибора 25 (фиг, 10) при подъеме рукава изделия путем подъема человеком рук до горизонтального положения, определяемого положением продольной оси плеча и предплечья относительно горизонтальной оси плечевого сустава. Уровень подъема рук человеком устанавливают на шите 2 посредством фиксатора...
Установка контроля размеров элементов фотошаблонов
Номер патента: 569846
Опубликовано: 25.08.1977
Авторы: Капелевич, Кононович, Новиков, Савиковский, Свидельский, Чухлиб
МПК: G01B 11/02
Метки: размеров, фотошаблонов, элементов
...через светоделительный элемент 24 проецируется с помощьюахроматической линзы 22 и объектива 21на плоскость рисунка фотошаблона 9. Изображение анализирующей щели 25 через фотошаблон 9 проецируется объективом 32на фотоприемник 31 фотоприемного усгройства 13. При перемещении координатно-., 5го стола 2 элементы рисунка фотошаблона9 перекрывают изображение анализирующейщели 25, что вызывает изменение фототокав фотоприемнике 31 от минимального значения до максимального, Момент среднего Фзначения фототока считается моментом визирования края элемента. В момент среднего значения фототока срабатывает пороговое устройство триггер шмидта) и переносит показания датчика б отсчета линеиных перемещений на табло индикации или в цифропечатающее...
Устройство для измерения линейных перемещений объектов
Номер патента: 573709
Опубликовано: 25.09.1977
Авторы: Коляда, Мироненко, Тузов, Янушкин
МПК: G01B 11/02
Метки: линейных, объектов, перемещений
...иэображение полос линей чатой измерительной меры (ЛИМ) 5, которое сканируется электронным лучом фотоприемника 1 под, действием переменноготока генератора б, протекающего черезотклоняющую катушку 2.50Усиленный усилителем 7 выходной сигнал фотоприемника 1 анализируется демодулятором 8, вследствие чего на выходепоследнего появляется положительное напряжение, если середина световой полосьиэображения на фотокатоде лежит правеецентра сканирования, Под действием этогонапряжения возбуждается пороговый элемент 12, генерируя импульсы, первым изкоторых триггер 10 перебрасывается ндругое состояние, переключая счетчики 1160и 15 в режим прямого счета (суммирование импульсов),Через дизъюнктор 14 импульсы порогового элемента 12 поступают на...
Устройство для контроля геометрических характеристик объекта
Номер патента: 590596
Опубликовано: 30.01.1978
МПК: G01B 11/02
Метки: геометрических, объекта, характеристик
...7 (или полупрозрачного зеркала) и зеркала 8, преобразователь 9 эллиптически поляризованного света в плоско-поляризованный (например, компенсатор Солейля), анализатор 10 и регистрирующий узел - экран 11 или фотоаппаратура 12.Устройство работает следующим образом.Свет от источника 1 когерентного плоско- поляризованного света (лазер) расщепляется на два пучка лучей призмой (или полупрозрачным зеркалом) 2 и зеркалом 3, и одним пучком освещается исследуемый объект 4, а другим - эталонный объект 5, На пути одного из пучков лучей имеется поляроид б, поворачивающий плоскость поляризации на 90, Далее свет поступает на оптическую систему совмещения световых пучков, состоящую также из призмы (или полупрозрачного зеркала) 7 и зеркала 8. Система,...
Способ определения координат точек изделия
Номер патента: 596824
Опубликовано: 05.03.1978
Авторы: Маргулис, Мартиросов, Пичугин
МПК: G01B 11/02
Метки: изделия, координат, точек
...последн становить на повороти2 последовательного введения точек иэделия в зону видимости теодолита. При этом способе необходим перемещать теодолит и поворачивать стол,Цель иэобретенйя -. упрощение способа исключения. необходимости переме-. щения теодолита;.Для .этого взаимное перемещенне иэ.делия и теодолита реализуют поворотом стола на 90 ф. На чертеже изображена схема, поясФ няющая предлагаемый способ,Требуется найти координаты Х и У точки Р иэделия 1 установленного на поаоротном столе. Начало координат задано на осн поворота стола. Теодолит 2 установлен на осина расстоянии Вот начала координат.наведя трубу теодолита 2 на проверяемую точку Р, отсчитывают угол визирования ф , поворачивают стол на 90с необходимой точностью, вновь...
Оптико-механическое устройство для измерения линейных размеров
Номер патента: 597922
Опубликовано: 15.03.1978
Авторы: Вайханский, Зарецкий, Сегалович, Тененбаум
МПК: G01B 11/02
Метки: линейных, оптико-механическое, размеров
...принципиальнаясхема оптико-механического устройстваддя измерения линейных размеров.Устройство содержит поворотное зеркало1, которое закреплено на первичном преобразователе 2, осветитель 3, проецируюшей отсчетный индекс 4 на шкалу 5, и не-.подвижную зеркальную систему 6, состоящую нв менее, чем из двух зеркал,Устройство рабогавг следующим образом.Измерительное перемещение вызываетразворот поворотного. зеркала 1 первичного преобразователя 2. на угол, соответствую ший измеряемому размеру, Осветитель 3формирует световой пучок, который, отражаясь от поворотного зеркала 1 и неподвиж.ной зеркадьпой системы 6, проецирует нашкалу 5 огсчетный индекс 4. При разворотеповоротного зеркала огсчегиый индекс перемешается по шкапе. Зеркала...
Способ измерения поперечного размера проката
Номер патента: 602773
Опубликовано: 15.04.1978
Автор: Петриченко
МПК: G01B 11/02
Метки: поперечного, проката, размера
...размер проката,- допустимая относительная погрешность от,перекоса, повторяют сканирование, определяют длительностьпаузы между измерительными импульсаи судят о контролируемом раэмерв поэности между периодом сканированиядлительностью паузы,602773 Угол перекосаизделия,6 1 27 8 7 14 15 12 10 Относительнаяпогрешностьизмерения 0,005 0 005 0005 0004 0,002 0 0,001 0,005 0,008 Формула изобретения ЦНИИПИ Заказ 1833/35Тираж 872 Подписное Филиал ППП Патент,г,ужгород, ул.Проектная,4 Сущность изобретения поясняется чертежом (см,чертеж).Изобретение контролируемого .изделия 1 сканируется с помощью развертывающего элемента, В момент окончания измерительного импульса развертывающий элемент находится в положении 1. Длительность полученного...
Оптическое устройство для разметки поверхностей изделий
Номер патента: 615356
Опубликовано: 15.07.1978
Авторы: Коваленко, Куприянов, Тогулев
МПК: G01B 11/02
Метки: оптическое, поверхностей, разметки
...устройства. 5Предлагаемое устройство содержит ис,точник 1 света, конденсор 2, целевой знак3, проекционный объектив 4 и амплитудно-.фазовый фильтр 5.Предлагаемое устройство работает сле- Юдующим образом.Конденсор 2 строит изображение источника 1 света в плоскости установки целевого знака 3. Одновременно эта плоскостьявляется передней фокальной плоскостьюпроекционного объектива 4, который фокусирует изображение целевого знака 3 набесконечность ( бесконечно удаленную дистанцию). Амплитудно-фазовый фильтр 5,установленный в ходе лучей света заобъективом 4, делит фронт падающей нанего водны на число частей.больше двух,Это достигается, например, тем, что амп,литудно-фазовый фильтр вьивлнен в видесистемы равных и параллельных друг другу...
Устройство для контроля размеров фотошаблонов
Номер патента: 627314
Опубликовано: 05.10.1978
Авторы: Владимиров, Петухов, Савин, Шац
МПК: G01B 11/02
Метки: размеров, фотошаблонов
...недостаточно при отклонении размера измеряемого элемента от."527314 УЦНИИПИ Заказ 5603/38 Тираж 872 Подписное Филиап ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, С эталонного, поэтому точность контроля разме. ров элемента в 1 мкм ухудшается,Целью изобретения является повышение точности контроля.С этой целью устройство снабжено апертурной диафрагмой, установленной в задней фокапьной плоскости объектива обратного фурье преобразования, а также тем, что размер апертуры диафрагмы определяется соотношениемГ10гдеИ Г- соответственно фокусные расстояния объективов прямого и обратного преоб. разов ания; 15Ь - размер эталонного элемента.оНа чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого устройства.Предлагаемое устройство содержит источник 1...
Способ измерения размеров тестовых элементов рисунка фотошаблонов
Номер патента: 643747
Опубликовано: 25.01.1979
Авторы: Владимиров, Котлецов, Савин, Туркевич, Шац
МПК: G01B 11/02, G01B 11/24, G02B 27/42 ...
Метки: размеров, рисунка, тестовых, фотошаблонов, элементов
...вфокальной плоскости,Устройство содержит когерентныйисточник света 1, который освещаетконтролцруеый фГтошаблон 2 с тестовым элементом рисунка 3, объектив4 преобразования Фурье который вУ8 ГЯ Е4 Яввуйнваа 1 рвидьт плвстщ Составитепь ЛобзоваРедактор Т, Шагова Техред 3.Фанта Корректор С. Шекмар Заказ 8009/38 Тираж, 865НИИПИ Государственного комипо делам изобрете113035, Москва, Ж,Подписноета СССРий и открытийаушская наб филиал ППП фПатентд, г, Ужгород, уп, Проектна своей задней фокальной плоскости 5формирует распределение света, точ но соответствующее преобра зованиюфурье от рисунка. В этой плоскостиустановлены прямоугольные щели 6, вырезающие из пространственного спектрасветовые потоки в разных порядкахспектра. Фотоумножители 7,...
Оптический микрометр нониального совмещения
Номер патента: 645021
Опубликовано: 30.01.1979
МПК: G01B 11/02
Метки: микрометр, нониального, оптический, совмещения
...явление точности измерен На чертеже представлена схема предла гаемого микрометра.Микрометр содержит источник 1 света,отклоняющие элементы, выполненные в виде пластин 2 - 5. На пластинах 2 и 5 имеются зеркальные покрытия а, а на пласти нах 3 и 4 укреплены на оптическом контакте соответственно клинья 6, 7 и 8, 9 с равными углами и зеркальными поверхностями б, Микрометр содержит также шкалу 10, отсчетный блок 11 и окуляр 12.20 Работает микрометр следующим образом.Лучи света от источника 1 света отражаются от пластин 2 и 3 и клиньев 6, 7 и 8, 9 и попадают в окуляр 12, где строят изображение, например, спектральных ли ний источника 1 в фокальной плоскостиокуляра 12 в случае использования микрометра в дифференциальном...
Устройство для определения положения деталей
Номер патента: 653507
Опубликовано: 25.03.1979
Автор: Шабайкович
МПК: G01B 11/02
Метки: положения
...корпус 1, проектор 2, матрицу3 с последовательно включенными рядами фотодвухполюсников (на чертеже непоказаны) и светофильтр 4,Светофильтр 4 выполнен на прозрачной основе, например стекле, пленкеи т.п.,с изменяющейся плотностью вдвух взаимно перпендикулярных направлениях по прямолинейному или криволинейному закону изменения. Нанесениепокрытия на прозрачную основу можетбыть произведено одним из известныхспособов и не представляет трудностей,Устройство оснащено комплектом светофильтров с различными параметрами653 иг тавитель Л.Лобзоваред М.Петко. Корректор Редактор С. Сурков ниче аказ 1276/3 аж 865твенного коми ретений и отк -35, Раушская Тир НИИПИ Государ по делам изо 035, Москва, Подписнота СССРтийаб., д,4/ Филиал ППП...
Устройство для измерения координат элементов рисунка
Номер патента: 673840
Опубликовано: 15.07.1979
Авторы: Савиковский, Янкелев
МПК: G01B 11/02
Метки: координат, рисунка, элементов
...пересекяс-т элемент рисунка. Импульс отсчета 5 10 15 20 25 30 35 40 вырябятьвдета на выходе элсчецта И 19,прц этом коорлинагд пз счетчика 7 переносится в регистр 8, где сохраняется доприкола следу 1 оцсего импульса отсчета отслелующего элемента рисунка, далее этакоорлицата может выводиться ца регистрацию. Выработка импульсов отсчета происколит следующим образом.Непрерывный выходной сигнал фотоприемника 11 поступает на вход ацалого-цифрового преобразователя 12, гле подвергаетсядискретизации и квдцтованию по уровгно.Выхолной сигнал ндлого-цифрового преобразователя поля, я в виде кода на ццф 1 рмя 1 сионн 1 й вход цифрового фильтра 13.На тактовые вхслы ацалого-цифрового преобразователя 12 и цифрового фильтра 13подается сигнал с выходя...
Способ измерения поперечных размеров оптически прозрачных структур
Номер патента: 706690
Опубликовано: 30.12.1979
МПК: G01B 11/02
Метки: оптически, поперечных, прозрачных, размеров, структур
...пределеция этой структуры.На чертеже изображена схема устройства для реализации предложенного способа,Устройство содержит излучатель 1, например ОКГ, фокусирующую линзу 2, оптический фильтр 3, объектив 4, измеряемую амплитудно. прозрачную структуру 5, сканирующую систему 6, точечный приемник 7 излучения, лифферсн. циатор 8, блок 9 отсчетных импульсов, осциллограф 10.Способ осуществляется следующим образом.Излучение ОКГ фокусируют линзойв плоскость оптического фильтра 3, созлаяцнего6690 Составитель С, ГрачевРедактор Г, Улыбина Техред О,Андрейко Корректор Е.Лукач Тираж 845ИПИ Государственного комитета СССРо делам изобретений и открытий35, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/ Подписно каз 8205/3Ц 1 13 пиал ППП "Патент" г. Ужгород, ул,...
Фотоэлектрическое устройство линейного сканирования изображения
Номер патента: 653986
Опубликовано: 30.12.1979
Автор: Ершов
МПК: G01B 11/02
Метки: изображения, линейного, сканирования, фотоэлектрическое
...изображенодин из вариантов выполнения предлагаемого устройства.Устройство содержит источник света ), проекционную систему 2 и распопоженные внутри светонепроницаемогокорпуса 3, светопропускающий рассеивающий экран - световод 4, вращающийся сканирующий, циск 5 с радиальнымиотверстиями 6, соединенный с электроприводом 7, и фотоприемник 8. Осьвращения сканирующего диска 5 совмещена с осью аппликат напрашющей выходного торца 9 экрана 4, при этомфотоприемник 8 установлен на осивращения диска 5.Устройство работает следующимобразом. 10Теневое изображение контролируемого объекта 10 проецируется на прозрачный входной торец 11 экрана 4.Далее попавший на экран 4 свет,диффузно рассеиваясь на выходном 5торце 9 экрана 4, образует изображение...
Устройство для измерения толщины слоя материала
Номер патента: 712657
Опубликовано: 30.01.1980
Авторы: Беркович, Емельянов, Матвеевский, Романов
МПК: G01B 11/02
...15 наконечник 10, а на верхнем - зеркало 11.При вращении гайки 5 втулка 3 со штоком 2, подвешанным в свободном состоянии на подвесках 6 и 7, перемещается, изменяя положение зеркала 11 относительно неподвиж ного зеркала, расположенного в стакане 12.К трубке 1 жестко закреплена коробка 13, внутри которой установлены разделитель: ая плоскопараллельная пластина 14 и компепсатор 15, К коробке 13 крепится микро скоп 16 со шкалой, источник света 17, кондепсорпая линза 18 и светофильтр с ручкой ,.оворота 19. На штоке 2 установлена пло;."дка 20 для размещения груза.Устройство работает следующим образом.30 Трубка 1 интерферометра подводится кповерхности исследуемого образца так, что10 20 бы наконечник 10 отстоял от поверхности образца на...
Фотоимпульсное бесконтактное устройство для измерения геометрических размеров тел
Номер патента: 684972
Опубликовано: 05.03.1980
Авторы: Кутафин, Полевой, Сидорин
МПК: G01B 11/02
Метки: бесконтактное, геометрических, размеров, тел, фотоимпульсное
...барабана 2,выполненные с воэможностью перемещения вдоль этой оси, зеркало 5 идвигатель б, Индексом 7 обозначеноизмеряемое тело,Устройство работает следующимобразом,При вращении барабана 2 световой поток с площади Я = ЬЬ проходит через щель в барабане и попадает на зеркало 5, установленноегде Х Б=ЬБ,расстояние между диафрагмами 3 и 4- расстояние от диаФрагмы 4до зеркала 5 по оси вращения 1- расстояние от оси вращения0-0 до измеряемого тела 7; - угол расхождения луча, образуемый щелевыми диафрагмами в плоскости, перпендикулярной продольной оси щели;К таким образом, что бтраженный световой поток, пройдя через щелевые диафрагмы 3 и 4, попадает на Фото- приемник 1.ДлительностЬ Фотоимпульса, получаемого с фотоприемника 1, пропорциональна...
Устройство для измерения длин
Номер патента: 721670
Опубликовано: 15.03.1980
Автор: Георг
МПК: G01B 11/02
Метки: длин
...не показан) в поостранстве расположены жестко, то систему световода 1 с интерферометрическойсистемой из делителей 4,5,6,7 и фотоприемников 8,9, 10 и 11 можно вращатьвокруг оси 18,При достаточно малой ширине зазорамежду основаниями обеих призм 16 и17 связи и световодсы 1 составляющие,лучей 19 и 20 проходят этот зазор идалее распространяются в световоде,если одновременно показатель прелсмления носителя 21 световода меньше,чем показатель преломления самогосв етов ода .Обе части 22 и 23 светового луча13 попадают через концы 2 и 3 на делитель 4, обеспечивающий расщепление каждой из гармоник этих двухчастей по направлениям делителей 5и 6. Они накладываются друг на друга.Интенсивность сложной волны зависитот положения йа диоде обеих...
Устройство для измерения линейных размеров объектов
Номер патента: 721671
Опубликовано: 15.03.1980
Авторы: Богуславский, Голод, Гребенщиков, Данилевич, Каган, Ольшевский, Скворцов, Федоров, Ясицкий
МПК: G01B 11/02
Метки: линейных, объектов, размеров
...элементов 18 и сетки 19, шкальное показывающее устройство 20,пьезокерамический привод 21, объектив 22, зеркало 23.Каретка 12 расположена между конденсором 5 и проекционным объективом 6 с возможностью перемещения внаправлении, перпендикулярнсм направляющим 1, и имеет отверстие дляподсветки измеряемого объекта 24, 25выполненного на прозрачной основе.Сетка 19 представляет собой негативное изображение сетки 8 перфлектометра. Сменный узел 10 преломления расположен между светоделительным элементом 14 и Фотоэлектрическим регистрирующим узлом 15.Проекционный узел 16содержащийобъектив 17, сетку 19 и отражающиеэлементы 18, расположен под острым. гломк оптической оси перфлектометра .Предлагаемое устройство работаетследующим образом.При...
Устройство для количественного анализа микрообъектов
Номер патента: 731277
Опубликовано: 30.04.1980
Автор: Черкасов
МПК: G01B 11/02
Метки: анализа, количественного, микрообъектов
...не показан), при помощи которого включают двигатель 5, подаютсигналы с импульсного датчика б навход коммутатора 9 и на блокирующее устройство 10, управляют работой блока сброса коммутатора.Коммутатор 9 представляет собойэлектронный импульсный многоступенчатый переключатель (на чертеже непоказан), каждая ступень которогоподключена к своему счетчику 13через контакты блокирующего устройства 10, выполненного в виде многоконтактного электромагнитного реле, замыкающего своими контактамицепи счетчиков в момент прекращенияподачи импульсов на вход коммутатора,Устройотво работает следующимобразом,Анализируемый микрообъект 14 (нкотором, например необходимо уз -нать размерное распределение зеренв пробе) помещают на предметномстолике 15...
Фотоимпульсивное устройство для измерения поперечных размеров ленты
Номер патента: 741043
Опубликовано: 15.06.1980
Автор: Громов-Бархин
МПК: G01B 11/02
Метки: ленты, поперечных, размеров, фотоимпульсивное
...подключен ко вторым входамблока 13 селекций минимальной длительности импульсов и измерителя 17 длительности пачки импульсов,Устройство работает следующим образом.Зазор между измерительным роликом 1и экраном 3, освещенный осветителем 4,проецируется объективом 5 через зеркала 6,7 на наружную поверхность барабана 8.Проекция зазора между измерительнымроликоми экраном 3 на наружную поверхность барабана 8 равна расстоянию Ммежду отверстиями развертывающего барабана.Световой поток через отверстия барабана 8 проходит через конденсор 9 и попадаетна фотоэлемент 10.При отсутствии на ролике 1 ленты 2фотоэлемент 10 постоянно освещен.При прохождении отверстия барабана 8по проекции зазора, где находится лента 2,фотоэлемент 10 затемнен в течение...
Способ контроля линейных размеров микрообъектов
Номер патента: 742705
Опубликовано: 25.06.1980
Авторы: Александров, Биенко, Ильин
МПК: G01B 11/02
Метки: линейных, микрообъектов, размеров
...микрообъект 23 перед объективом 2, Теневое (контрастное) изображение 24 микрообъекта оптической системой Э раздввивают, преобразуя в два пслуконтрастных изображения 25, разведенные в режиме настройки на величинуноминального (при симметричном допуске) или среднего (при несимметричномдопуске) контролируемого размера, .Раздвоенное изображение вводят вщель диафрагмы 4 и вырезанный щельюдиафрагмы участок изображения, примыкающий:к месту соприкосновения двух полуконтрастных изображений, проецируютна чувствительный алектрод фотоэлемента 5. Фотоэлемент вырабатывает пропорциональный воспринимаемому световомупотоку алектрический сигнал, которыйпосле прохождения через устройство дляобработки сигнала 6 регистрируют прибором 7 индикации.К усилителю...
Устройство для измерения линейных размеров
Номер патента: 744223
Опубликовано: 30.06.1980
Автор: Артемьев
МПК: G01B 11/02
...2 (ггзнос), каждая точка рабочей поверхностикруга в своем движении пересекала все 25ячейки данного столбца. На фиг. 1 показаны траектории 12 движения точек поверхности круга 2, проходящие через все ячейки столбцов, и траектории 13 светящихсячастиц, оторвавшиеся от круга и не пересекающие всех ячеек столбцов.Корпус б располагается под некоторымуглом ср к оси вращения круга 2.Работает устройство следующим образом. 35При настройке устройства на когкретноеобрабатываемое изделие 1 подбирается величина калиброьочпых сопротпвлсндй длягсагсдого столбца матрицы из условия, чтоЯ, , з 1 п(с - сс),40где Яо вес ячейки сопротггвлегггге в цешг ячейки для участка режущеп гсро.,гкгг круга, паралле;гьпой оси вращения;а - утол между осью вращешгя...
Интерференционный способ измерения линейных размеров оптически прозрачных объектов с криволинейными поверхностями
Номер патента: 769320
Опубликовано: 07.10.1980
Автор: Кайнер
МПК: G01B 11/02, G01B 11/24, G01B 9/02 ...
Метки: интерференционный, криволинейными, линейных, объектов, оптически, поверхностями, прозрачных, размеров
...1 о)на известном расстоянии, причем коэффициент п 1 преломления жидкости выбирают отличающимся от коэффициента и, преломления материала измеряемого объекта на величину, достаточную для создания упомя,- нутой,разности хода. Эта величина определяется в каждом конкретном случае расчетным путем по известным зависимостямНаправление лучей обозначено на чертеже стрелками (вниз - от компаратора, вверх - к компаратору) .Измерение производится следующим образом.Получив в компараторе систему интерфврвнционных полос, определяют взаииное положение полос от лучей 1 О и лучей 1 ь По величине смещения полос определяют оптическую разность хода этих лучей, обусловленную тем, что один луч 1, проходит только через слой жидкости, а другой луч - через всю...
Фотоэлектрическое устройство для измерения геометрических размеров объектов
Номер патента: 785644
Опубликовано: 07.12.1980
Авторы: Арефьев, Жилкин, Илюхин, Крюков, Степанян
МПК: G01B 11/02
Метки: геометрических, объектов, размеров, фотоэлектрическое
...помещают измеряемый объект6, например , имеющий круглое сечение, диаметр которого Р необходимо измерить. При этом совокупность щелевой диафрагмы и измеряемого объекта 16 необходимо рассматривать как две щели, образованные соответственно подвижными шторками 5 или 6 щелевой диафрагмы и образующими боковой поверхности измеряемого объекта 16. Промодулированные таким образом световые пучки преобразуются на Фотоприемниках 7 и 8 в электрические сигна О лы, поступающие соответственно.в узкополосные усилители 9 и 10, настроенные на частоту сканирования ( , Сигналы с частотой сканирования (о поО ступают с выходов усилителей на выходы приводов 11 и 12, одновременно подключенных к электрическому выходу сканатора. Приводы 11 и 12...
Устройство для измерения геометрических параметров объектов
Номер патента: 785645
Опубликовано: 07.12.1980
Авторы: Рудаков, Сорокин, Харизоменов
МПК: G01B 11/02
Метки: геометрических, объектов, параметров
...соединенный входом с выходом фотоприемника 4,дополнительные Фотоприемник 7 и 10 усилитель 8, управляемое сопротивление 9, в качестве которого применен полевой транзистор, и резистор 10, соединенные последовательно и образующие цепь обратной связи усилителя 6 индикации, и резистор 11, образующий цепь обратной связи дополнительного усилителя 8. При этом дополнительный фотоприемник 7 включен на вход дополнительного усилителя 8, соединенного выходом с управляемым входом управляемого сопротивления 9.Устройство работает следующим образом.Луч излучателя 1, отражаясь от измеряемого объекта 2, попадает через полупрозрачное зеркало 3 и диафрагму 5 на фотоприемник 4. Сигнал с фотоприемника 4 усиливается усилителем б индикации. Выходное...
Окулярный микрометр с цифровым отсчетом
Номер патента: 785646
Опубликовано: 07.12.1980
МПК: G01B 11/02
Метки: микрометр, окулярный, отсчетом, цифровым
...коэффициента на задатчике 14. Численное значение этого коэффициента зависит от цены импульсадатчика 4 перемещения и увеличения,с которым строится изображение штрихов.35Перед началом измерений накапливающий сумматор б, счетчик 13 количества замеров устанавливаются в "Оф, а триггер 11 устанавливается в состояние "1".Наблюдая в окуляр 1, оператор наводится сеткой 2 на изображение штриха б (фиг.2), что соответствует точке 17 на траектории обхода 18 и нажимает кнопку 10 отсчета, сбрасывая в "0" через линию 15 задержки реверсивный 45 счетчик 5 и устанавливая триггер 11 в состояние "О", Затем, перемещая сетку 2 с помощью механизма 3 перемещения сетки, оператор наводится на изображение штриха 19, что соответствует ц 0 точке 20, и снова...
Фотодатчик
Номер патента: 789681
Опубликовано: 23.12.1980
Авторы: Волков, Костенко, Тетиор
МПК: G01B 11/02
Метки: фотодатчик
...неизвестны, и определяются, в частности, разбросом параметров ОУ 2, изменением внутреннего сопротивления фотодиода 4. Если сопротивление фотодиода 4 при исходной температуре Т равно Вф, а при повышенной температуре Т-йфТ, то ток, протекающий через фотодиод 4 при температуре Т, равен"т (1)1р чгде ОТ- напряжение на инверсном входе ОУ 2 при температуре Т.При увеличении температуры напря" жение ОА увеличивается, а сопротивле ние Яф уменьшается, поэтому ток,"14 увеличивается, вследствие чего изме- няется выходное напряжение О ,при температуре Т оно,равноВозникшее на выходе ОУ 2 напряже ние О- компенсируют путем изменения напряжения на выходе блока 5 регулировки таким образом, чтобы Оь, = О. При этом через фотодиод 4 протекает компенсационный...