Оптический микрометр нониального совмещения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 01) 645021 Союз Советских Социалистических Республик(22) Заяв 22.03.76 (21) 233825525-28 1) М, Кл.б 01 В 11/02 присоединением заявки Государственный комитет) Приорит ) Опублик СССРм изобретений юллетень4 овано 30.01 бликования 3) УДК 531.715,2(54) ОПТИ И МИКРОМЕТР НОНИАЛЬНОГВМЕЩЕНИЯ бласти измерить использоваазностей глов Для э микроме рая пар виде пла 5 ности нравными стями. мом оптическом совмещения втоков выполнена в ми на их поверх- акте клиньями с ьными поверхнотого в предлагатре нониальногоа оптических блостин с укреплснньоптическом конуглами и зеркал яется повыш енияий,Изобретение относится к отельной техники и может бьно для измерения малых р У и длин в оптических приборах.Известен оптический микрометр, содержащий два подвижных и два неподвижных оптических клина и оптическое устройство 11.Недостатком такого микрометра является зависимость цены деления от длины волны проходящего через него света, что затрудняет его использование, например, при рефр актометрических измерениях.Наиболее близким к изобретению по технической сущности и решаемой задаче является оптический микрометр, содержащий источник света, расположенные по ходу луча от источника света отклоняющие элементы, попарно образующие воздушные клинья с равными углами и выполненные из двух пар оптических блоков, первая из которых образована пластинами с зеркальными поверхностями, и отсчетный блок 2.Недостатком этого микрометра является сравнительно низкая точность измерений, обусловленная сложностью юстировки зеркал и ее нарушениями в процессе эксплуатации.Целью изобрет явление точности измерен На чертеже представлена схема предла гаемого микрометра.Микрометр содержит источник 1 света,отклоняющие элементы, выполненные в виде пластин 2 - 5. На пластинах 2 и 5 имеются зеркальные покрытия а, а на пласти нах 3 и 4 укреплены на оптическом контакте соответственно клинья 6, 7 и 8, 9 с равными углами и зеркальными поверхностями б, Микрометр содержит также шкалу 10, отсчетный блок 11 и окуляр 12.20 Работает микрометр следующим образом.Лучи света от источника 1 света отражаются от пластин 2 и 3 и клиньев 6, 7 и 8, 9 и попадают в окуляр 12, где строят изображение, например, спектральных ли ний источника 1 в фокальной плоскостиокуляра 12 в случае использования микрометра в дифференциальном рефрактометре,Смещение спектров осуществляется перемещением пластин 4 с клиньями 8 и 9 и 30 пластины 5, Определение величины смещеИзд.127 Тираж 865рственного комитета СССР по делам изобретений 113035, Москва, 5 К, Раушская наб., д. 4/5 аказ 2628/6 НПО Гос Подп испокрытий Типография, пр. Сапуноьа, 2 ния производят с помощью отсчетного блока 11 и окуляра 12 по шкале 10.Для получения равных углов, образованных пластинами 2 - 5 и клиньями 6 - 9 и сохранения этих углов в процессе эксплуа тации прибора необходимо поверхности пластин 3 и 4 выставить параллельно поверхностям а пластин 2 и 5 и сохранять эту параллельность, что выполняется путем прижатия их к плоскопараллельной про ставке, размещенной между ними (не показана),Предлагаемое выполнение оптических блоков позволяет повысить точность измерения. 15 Формула изобретенияОптический микрометр нониального совмещения, содержащий источник света, расположенные по ходу луча от источника све та отклоняющие элементы, попарно образующие воздушные клинья с равными углами и выполненные из двух пар оптических блоков, первая из которых образована пластинами с зеркальными поверхностями, и отсчетный блок, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, вторая пара оптических блоков выполнена в виде пластин с укрепленными на их поверхности на оптическом контакте клиньями с равными углами и зеркальными поверхностями,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1, Грейм И. А. Оптические отсчетные системы в приборостроении и машиностроении. М., Машиностроение, 1963, с, 140 - 142,2. Авторское свидетельство СССР286237, кл, 6 01 В 11/02, 1969.
СмотретьЗаявка
2338255, 22.03.1976
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681
СТЕПИН ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, МИЧУРИНА ГАЛИНА НИКОЛАЕВНА
МПК / Метки
МПК: G01B 11/02
Метки: микрометр, нониального, оптический, совмещения
Опубликовано: 30.01.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-645021-opticheskijj-mikrometr-nonialnogo-sovmeshheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Оптический микрометр нониального совмещения</a>
Предыдущий патент: Способ измерения параметров угловой модуляции оптического излучения
Следующий патент: Диск для отсчетных устройств
Случайный патент: Устройство для слежения за положением кабины лифта