G01B 11/02 — для измерения длины, ширины или толщины

Номер патента: 1394030

Опубликовано: 07.05.1988

Авторы: Златоустова, Сухопаров

МПК: G01B 11/02

Метки: катетометр

...призмы 13 и 14 образуют изображение объекта 16 измерения в плоскос 40ти сетки 3, Через окуляр 4 наблюдается изображение объекта 16 и сетки 3.Перемещением визирной трубы вместе сосветоделителем 7 и объективом микроскопа перекрестка сетки 3 наводится но 45очередно на нижний и верхний крайобъекта 16. Блок 9 (фиг. 2 и 3) подсветки через конденсор 8, светоделитель 7 и объектив б микроскопа освещает шкалу 5.Изображение шкалы 5 образуется на трансверсальной сетке 10. Наблюдая в окуляр 4 после совмещения сетки 3 с краем объекта 1.6, отсчитывают деления шкалы 5 и дробные доли деления на трансверсальной сетке 10, Компенсатор, укрепленный на шарнире (не показан), сохраняет неизменное положение в пространстве при наклоне визирной трубы. При этом...

Номер патента: 1397718

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Бурец, Валова, Янов

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: величин, интерферометр, линейных, показателя, преломления

...которой требуется определить(фиг,1), либо на объекте 8, изменениедлины которого требуется определить(фиг,З), либо закреплено неподвижно45при измерении показателя преломленияпрозрачного тела 9 или измерения изменения показателя преломления прозрачного тела 9 (фиг.2) таким обра зом, что предметный луч после прохождения через светоделитель 4 попадаетна регистрирующий узел 6.Интерферометр работает следующимобразом.Луч света от источника 1 света сдлиной волны Ъ, и луч света от дополнительного источника 2 света сдлиной волны % падают на полупрозрачное зеркало 3, после которого их оптические оси оказываются совмещенными в пространстве, и дальше они распространяются в виде единого луча, содержащего оптическое излучение двух неравных между собой...

Номер патента: 1401266

Опубликовано: 07.06.1988

Авторы: Бандура, Пашкуденко, Стринадко

МПК: G01B 11/02

Метки: интерференционный, пленок, толщины

...4/5Производственно.полиграфицеское предприятие, г. Ужгород, ул. Проектвая, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины пленок,Цель изобретения - повышение точности и расширение диапазона измерений путем использования рассеянного когерентного света для облучения измеряемой пленки. Способ осуществляется следующим образом.Измеряемую пленку облучают когерентным рассеяным светом перпендикулярно ее поверхности, с помощью микроинтерферометра регистрируют интерференционную картину, образованную светом, падающим перпендикулярно поверхности пленки и отраженным от ее наружной и внутренней поверхностей по перемещению интерференционной головки микроинтерферометра в направлении, перпендикулярном...

Номер патента: 1413412

Опубликовано: 30.07.1988

Автор: Миронченко

МПК: G01B 11/02

Метки: линейных, объектов, перемещений, светоотражающих

...к радиусу полудиска. 40Способ измерения линейных перемещений светоотражающих объектов осуществляют с помощью данного устройства следующим образом.Осветитель 1 формирует параллель ный пучок света. Делительную головку 4 устанавливают на поверхности объекта 1 О, перемещение которого измеряют так, что центральный луч параллельного пучка света от осветителя 1 лежит в плоскости, перпендику" лярной поверхности объекта 10, и пересекает эту поверхность в заданной- точке 0 . Перемещая каретку 2 с осветителем 1, задают по делительной головке 4 острый угол Ы падения пучка на поверхность объекта 10, после чего осветитель 1 закрепляют на основании. Блок 5 регистрации переме 2щают вместе с кареткой 3 до тех пор,пока отраженный от поверхностиобъекта...

Номер патента: 1416862

Опубликовано: 15.08.1988

Авторы: Аджалов, Дмитриев, Ламекин

МПК: G01B 11/02

Метки: датчик, линейных, объекта, оптический, смещений

...измерения линейных смещений, и может быть использовано как чувствительный элемент при измерении широкого класса физических величин, изменение которых во времени непосредственно или опосредованно вызывает соответствующие смещения физических тел или их поверхностей.Цель изобретения - упрощение конструкции и повышение чувствительности датчика за счет исключения необходимости использования второго волновода и увеличения зависимости интенсивности вводимого в волновод излучения от перемещения отражателя вследствие реализации взаимодействия сфокусированного сходящегося пучка света со структурой входного торца волновода,На чертеже изображена принципиальная схема оптического датчика для измерения линейных смещений объекта.Датчик содержит...

Номер патента: 1421992

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Пизюта, Сырова, Шульженко

МПК: G01B 11/02

Метки: расстояний, фокусных

...каждый из которых связан с соответствующей линзой, два фотоприемника 11 и 12, каждый из которых установлен в задней фокальной плоскости соответствующей линзы, два электродвигателя 13 и 14, входы каждого из которых связаны с выходами соответствующих датчиков 9 и 1 О, цифровое устройство 15, вход которого связан с выходами двух датчиков 9 и 10 и с выходами двух фотоприемников 11 и 12, блок 16 индикации, вход которого связан с выходом цифрового устройства 15, и цифропечатающее устройство 17, вход которого связан с выходом цифрового устройства 15.Устройство работает следующим образом.Излучение от осветителя 1, пройдя конденсатор 2 и щелевую диафрагму 4, объективом 3 формируется в широкий параллельный пучок, из которого посредством...

Номер патента: 1423914

Опубликовано: 15.09.1988

Авторы: Анисимов, Данелян, Манукян, Налбандов

МПК: G01B 11/02

Метки: волоконного, длины, световода

...полос по сдвигу интерференционной картины,Пройдя через блок 4 регулируемойоптической задержки, призма 6 которого установлена так, что величина задержки светового потока минимальна,отраженный поток попадает через одиниз входов в нуль-орган 13,Проходящий поток, отразившись отзеркала 14, попадает на призму 15,с помощью которой устанавливаетсясоответствующая длина пути последнего. Пройдя призму 15 и отразившисьот зеркала 16, проходящий поток через полупрозрачное зеркало 17 достигает отражателя 19, вначале установленного перед волоконным световодом18. Отраженный от зеркала 19, а затем и от,полупрозрачного зеркала 14световой поток через другой вход попадает в нуль-орган 13, Передвижением зеркала 16 добиваются минимального...

Номер патента: 1427169

Опубликовано: 30.09.1988

Автор: Попов

МПК: G01B 11/02

Метки: датчик, перемещений

...диапазонаизмерений в и раэ, где и - числоволокон в группе. 1 ил,Устройство работает следующим образом.Излучатель 16 с помощью объектива 11 равномерно возбуждает светоноды 5. Свет распространяется по световодам 5, достигает их концов и выводится. Линза 3 формирует изображение торцов световодов 5 сначала в ходе лучей от концов световодон 5, а затем в ходе отраженных триппельпризмой 2 лучей. При этом, если фокальная плоскость линзы 3 не совпадает ии с одним иэ торцов световодов 5, световая энергия практически рассеивается, не попадая в светаводы 5.При перемещении объекта 4 фокальная плоскость линзы 3 наплывает" на концы световодов 5, последовательно пересекая нх торцы. По мере приближения фокальной плоскости линзы 3 к торцу световода 5...

Номер патента: 1428911

Опубликовано: 07.10.1988

Автор: Надточий

МПК: G01B 11/02

Метки: качества, отверстиями, плоских

...что можно различать :недостающие и лишние отверстиядля исправления иэделия или анализа функции, изображенной на контролируемом транспаранте, (т.е. позволяет знать не только наличие неправиль" ностей, но и их характер) .На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего способ контроля качества плоских изделий с отверстиями.Устройство содержит камеры 1 и 2, полупрозрачное зеркало 3, блок 4 питания и регулятор 5. В одной камере 1 установлены источник 6 света, матовое стекло 7 и эталон 8, а в другой 35 камере 2 установлены источник 9 света, матовое стекло 1 О и контролируемое иэделие 11.Способ осуществляют следующим образом,.40Освещают эталон 8, в качестве которого используют его негатив, световым потоком от источника 6...

Номер патента: 1430741

Опубликовано: 15.10.1988

Авторы: Вайль, Паненко

МПК: G01B 11/02, G01B 11/24, G02B 27/42 ...

Метки: анализатор, геометрических, параметров, френелевский

...обозначена), имеющей воэмойностьперемещения вдоль всей плоскости дифракционной картины и приводимой в движение приводом 8, микровинта 9, милли-)5метровой шкалы 10, нониусной линии11, фотоумножителя (ФЭУ) 12, а такжеблок регистрации, выполненный в видеграфопостроителя 13, электрически связанного с выходом сканирующего устройства.Оптический анализатор работаетследующим образом,Когерентный источник 1 излученияформирует поток излучения, которыйпри прохождении через микрообъектив2 и точечную диафрагму 3 становитсярасходящимся, При помещении контролируемой детали 14 в этот расходящийся поток на неподвижной щели 5 об- АОразуется дифракционная картина исследуемой детали, 11 ель 5 выделяетучасток дифракционной картины длясканирования,...

Номер патента: 1435935

Опубликовано: 07.11.1988

Авторы: Васильев, Хопов

МПК: G01B 11/02, G01B 11/24, G01B 9/02 ...

Метки: геометрических, объектов, отражающих, размеров

...запоминающего 50 устройства 13, информационные входы которого соединены с выходом датчика б.Способ осуществляется с помощью данного устройства следующим образом. 55Светоделительная пластина 2 разделяет излучение лазера 1 на два параллельных пучка и направляет их на объект 14, Компенсатор 3 непрерывно изменяет разность оптического пути этих пучков, Пучки света, отраженные от объекта 14, совмещаются при помощи интерферометра сдвига, состоящего из линз 7 и 8 и дифракционной решетки 9. Диафрагма 10 служит для увеличения среднего размера элементов спекл - структуры света, отраженного от диффузионного объекта 14, поскольку фаза каждого спекла является случайной величиной, входное окно фотоприемника 11 должно быть меньше его среднего...

Номер патента: 1439390

Опубликовано: 23.11.1988

Авторы: Девятилов, Девяткин, Кистенев

МПК: G01B 11/02

Метки: волоконно-оптический, датчик, объекта, перемещений

...5 поступает в регист-рирующий блок 6, где происходят его 45обработка и регистрация. Другаячасть пучка, отразившись от полупрозрачного зеркала 11, попадает натретий световод 12 и далее через второй светоприемник 13 также поступаетв регистрирующий блок 6, Приперемещении объекта вдоль своей нормалиперемещаются зеркало 3 и полупрозрачное зеркало 11, скрепленное с ним,Световой луч, отразившись от зеркала 553, перемещается по торцам 1 О световода 4,В зависимости от местоположениясветового пятна на торцах 10 освещаются различные элементы снетоприемника 5, Таким образом, по смещению светового пятна можно судить о перемещении объекта вдоль своей нормали. При перемещении объекта вдоль своей касательной местоположение светового пятна...

Номер патента: 1442820

Опубликовано: 07.12.1988

Автор: Степин

МПК: G01B 11/02

Метки: оптических, толщины

...те с чувствительным элементом 2, устанавливают расстояние между чувствительными элементами 2 и 3, не превышающее сумму номинального значения размера детали 11 и длины шкалыустройства.Положение штыря 5 фиксируют хомутом 20 6, после чего устанавливают на основание 1 контролируемую деталь 11 и его подвижками при наблюдении в автоколлимационное устройство 1 не показано) производят совмещение оптической оси детали 11 с ли нией Оз 04, вдоль которой производится измерение.Затем перемещают ползун 4 до контакта чувствительного элемента 3 с поверхностью детали 11 и снимают отсчет Ау после чего перемещают ползун 4 до контакта чувстви тельного элемента 2 с второй поверхностью и снимают отсчет Ау . Разность отсчетов по шкале составляет Ав, А = 1....

Номер патента: 1442821

Опубликовано: 07.12.1988

Автор: Исламов

МПК: G01B 11/02

Метки: линейных, отклонений, предельных, размеров

...изделие 18, при этом измерительный наконечник 15 происходит в соприкосновение с изделием 18, При даль- О нейшем движении устройства на изделие 18наконечник 15 будучи прижат к поверхности изделия 18 остается неподвижным и вместе с ним остается неподвижным корпус 10 с источником 9 света и линзой 6 и точками схода красных 24 и фиолетовых 25 лучей, а также точками схода остальных монохроматических лучей (не показаны), расположенных на оптической оси 7 между точками 24 и 25.Эллипсоидный отражатель 1 вместе с фотоэлектрической спектральной установкой 8 перемещается относительно корпуса 10, приэтом точки схода монохроматических лучейперемещаются относительно фокуса 2 отражателя 1. При совпадении точки схода лучей с фокусом 2 эти...

Номер патента: 1446461

Опубликовано: 23.12.1988

Авторы: Власов, Михайлов, Шарин

МПК: G01B 11/02

Метки: вала, размеров, ступенчатого

...ЭВМ 12,предназначенной для запоминаний текущих координат, обработки данныхизмерения, вывода результатов измерения на дисплей 13, а также для формирования величины коррекции длястанка.Способ контроля размеров ступенчатого вала осуществляется следующимобразом,В процессе измерения вал 14 помещают в зону контроля, При включениипривода 2 подвижная рамка 1 перемещается из нижнего исходного положения вверх таким образом, что лучи 6пересекают вал 14. Фотоприемная система 7 вырабатывает сигналы начала иконца перекрывания для каждого луча.По сигналу от Фотодиодов 8 в соответствующие ячейки памяти ЭВМ 12 заносятся значения текущих координат блока 11 индикации отсчетной системы 9. В верхнем коньячном положении подвижной рамки 1 реверсируется...

Номер патента: 1449840

Опубликовано: 07.01.1989

Автор: Варданян

МПК: G01B 11/02

Метки: измерительное, фотоэлектрическое

...с усилителем 9, блок10 обработки и механизм 11 перемещения щелевой диафрагмы,На чертеже также показан контролируемый объект 12, например вал.Часть диафрагмы 6, выполненная изэластичной пленки, скреплена с корпусом (не показан) устройства,Устройство работает следующим образом.Предварительно устройство устанавливают относительно контролируемого(установленного на шпинделе металлорежущего станка) так, что ось валкаоказывается перпендикулярнои к направлению перемещения диафрагмы и оптической оси устройства.Осветителем 1 формируют параллельный пучок лучей и направляют его нарастр 4, Излучение, прошедшее растр4, и часть 5 диафрагмы с помощью объектива 7 приемного блока проектируютна фотоприемник 8, в котором световое излучение преобразуют в...

Номер патента: 1455232

Опубликовано: 30.01.1989

Авторы: Аксенкин, Кабаев, Ковалев, Тюшкевич

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений, поляризационный

...Фиксируемое регистрирующим блоком 4, однознач. но определяется разностью показателей преломления для обыкновенного и необыкновенного лучей в анизотропномаэлементе, из которого выполнен делитель 2 светового пучка, и его оптической толщины в месте прохождения луча, Разность показателей преломления обыкновенного и необыкновенного лучей определяется ориентацией оптических осей анизотропного элемента бтносительно направления луча источника 1 света, Нри перемещении анизотроаного элемента вверх (либо вниз) под воздействием исследуемого объекта оптическая толщина его в месте прохождения светового пучка будет увеличиваться (либо уменьшаться), что приведет к изменению разности Фаз между обыкновенным и необыкновенным лучами. Это в свою очередь...

Номер патента: 1460599

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Борисов, Логачев

МПК: G01B 11/02, G01B 11/24

Метки: легкодеформируемых, периметров, поперечных, сечений

...валиков ипо другую сторону от валиков относительно источника излучения, фото"приемник оптически связан с источником излучения через щелевую диафрагмуи винтовую прорезь цилиндра, а выходфотоприемника подключен к электроннойизмерительной схеме. ра 2 с винтовой прорезью, на которойнанесены масштабные метки, и фотоприемники 3, размещенные внутри цилиндра 2 источник 4 излучения, преобразователь 5 положения направляющих валикови электронную измерительную схему 6, к входам которой,подключены выходы фотоприемника 3 ипреобразователя 5. Источник 4 излучения предназначен для освещения валиков 1, которые установлены так, чтоих оси параллельны, а образующими ва"ликов 1 сформирована щеленая диафрагма в потоке излучения от источника 4.1460599...

Номер патента: 1464038

Опубликовано: 07.03.1989

Авторы: Бахтин, Белокопытов, Зинин, Казакбаев, Костюченко, Толоконников, Толченов

МПК: G01B 11/02, G01B 11/04

Метки: раската, ширины

...оптически сопряжены с Фотоприемни 50 ками 5.Электрические сигналы с Фотоприемников 5 поступают в блок 6 элек-, тронной обработки, после которого информация о ширине раската поступает в систему индикации, 55Явление уширения при прокатке приводит к тому, что раскат представляет собой в плане не прямоугольник, а имеет сложную, в большинстве случаев бочкообразную форму с одним или более максимумами ширины раската вдоль его продольной оси, Конкретная форма определяется режимами прокатки и свсйствами материала раската,Для устранения влияния разноширинности изменение положения плоскости раската и плоскости регистрации осуществляют путем перемещения раската 8 по рольгангу 9 вдоль оси прокатки (перпендикулярно плоскости чертежа). В процессе...

Номер патента: 1465692

Опубликовано: 15.03.1989

Авторы: Миронос, Филимонова, Якимович

МПК: G01B 11/02

Метки: малых, перемещений

...фотоприемники 6-8, установленные в направлении распространения+1,0-1 порядков дифракции соответственно и блок 9 обработки сигналовфотоприемников 6-8.35Устройство работает следующим образом.Пучок света когерентнаго истачни -ка 1 на 1 чравляют на дифракционные субрешетки 2-5, Фотоприемники 6 и 7 регистрируют интенсивность света в +1и -1 порядках дифракции.При перемещении объекта 10,связаннога с субрешетками 4 и 5, выходные сигналы 1 и 1 фотоприемников6 и 7 изменяются по гармоническомузакону со смещениеч друг относительно друга по фазе Ь Ч (фиг,2). Величина перемещения объекта 1 О определяется по сигналу одного из Фотоприемников 6-8, у которого производная сиг,нала имеет большую величину. Переключение фотоприемников 6-8...

Номер патента: 1479822

Опубликовано: 15.05.1989

Авторы: Баринов, Томашевский

МПК: G01B 11/02

Метки: линейных, объектов, размеров

...расстояния Ь между двумя первыми. Она содержит последовательно установленные вплоскости сканирования коллиматор 15,диафрагму, выполненную в виде двухшторок 16 и 17, одна из которых 16установлена неподвижно, а другая 17скреплена с основанием 14, и фотоприемник 18 с конденсором 19. Выходыфотоприемников 10, 11 и 18 черезэлектронные измерительные блоки 2022 подключены к сумматору 23 с инди 1479катором 24. Генератор 25 иммульсовсвоими выходами подключен к приводу4 узла сканирования и к электроннымизмерительным блокам 20 - 22,Устройство работает следующим образом.Излучение от источника 1 черезсистему 2 зеркал попадает на отражатель 3, который приводится во вращение приводом 4, запитываемым импульсами от генератора 25, Отраженное излучение...

Номер патента: 1483248

Опубликовано: 30.05.1989

Авторы: Воронцов, Ким, Колтунов, Парамонова, Спиренков

МПК: G01B 11/02

Метки: детали, линейных, размеров

...светового потока 2. Оптическую систему 3 размещают так, чтобы ее ось располагалась под углом а к направлению светового потока и пересекала левый край изображения, получающегося в виде узкой световой полосы на приемной 1. я 1 п д,- соя(атство1, сояс-а где а - угол наклона оптической оси к направлению светового потока;0 - диаметр эталонной детали, соответствующий верхнему пределу измерения;д - диаметр контролируемой детали;- расстояние до детали (эталонной)до оптического центра, измеренноевдоль оптической оси;1 - расстояние от оптического центра доприемной плоскости, измеренноевдоль оптической оси;а - величина смещения световой полосына приемной плоскости (левогокрая),определяют диаметр д контролируемой детали. Способ контроля...

Номер патента: 1497451

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Карашоков, Нескородов

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, объектов, перемещений

...5 на поверхность вибратора 6,отражается от нее, вновь восстанавливается линзой 5 и также возвращается на светоделитель 2 таким образом,что оба луча создают на поверхностифотоприемника 7 интерференционнуюкартину, смещающуюся при смещенииподвижного отражателя 3,При подаче модулирующего напряжения от генератора 9 на пьезокерамический вибратор 6 последний вибрируети вызывает изменение Фазы опорного светового луча с частотойравной частоте модуляции, что всвою очередь вызывает вибрацию интер-"Ференционной картины с той же частотой. Смещение интерференционной картины регистрируется Фотоприемником7 в виде электрического сигнала Мх 4 УЙ . 2% ЙБ = Б + Б зхп( -+ -зп ".).Фп о 1Л постоянная составляющая выходного напряжения фотоприемника...

Номер патента: 1504497

Опубликовано: 30.08.1989

Авторы: Клишина, Лысов, Шац

МПК: G01B 11/02

Метки: дифракционными, линейных, объектах, плоских, размеров, структурами, тестовыми, формы, элементов

...света с помощью зеркала 2 световой пучок направляется насистему 3 формирования пучка, которая формирует в плоскости держателя5 на объекте 17 измерения луч света с.равномерно распределенной интенсив ностью, Каждый модуль (кристалл) объекта 17 измерения содержит тестовую дифракционную решетку, составленную из элементов, подлежащих измерению,Отражаясь от полупрозрачного зеркала 4, световой пучок проходит через диафрагму 7 в эллиптическом зеркале 6 и нормально падает на базовую поверхность держателя 5 объекта измерения, При попадании пучка на тестовую дифракционную структуру в плоскости, перпендикулярной штрихам структуры и базовой плоскости держателя 5, формируется дифракционное изображение структуры,...

Номер патента: 1516770

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Клещ, Решетилов

МПК: G01B 11/02

Метки: железнодорожного, колеса, относительно, положения, рельса

...Н.ЗахаренкоРедактор Е.Папп Техред И.Верес Корректор А.Обручар Заказ 6372/38 Тираж 683 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул, Гагарина,101 Изобретение относится к способамизмерения показателей взаимодействияподвижного срстава и железнодорожногопути,1 ель изобретения - повьппение информативности путем определения также угла набегания колеса на рельс.На чертеже представлена схема дляреализации способа определения,Устройство для реализации способавключает плоское зеркало 1, расположенное в направлении от рельса 2, кинокамеру 3, и колесо 4.Способ заключается в следующем.Кинокамеру 3...

Номер патента: 1516771

Опубликовано: 23.10.1989

Автор: Воробьев

МПК: G01B 11/02

Метки: дистанционного, линейных, объекта, размеров

...измерения путем исключения неоднозначности наводки на плоскость объекта, 15На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего способ.Устройство содержит канал подсветки, включающий последовательно распо" 2 ложенные источник 1 света, модулятор 2 оптического излучения, жгут 3 оптических волокон для передачи потока подсветки, информационный канал, включающий светоделительный элемент 4, оптически сопряженный с окуляром 5 фотоприемником 6 информационный жгут 7 оптических волокон, измерительную сетку 8, объектив 9, датчик 10 положения объектива, датчик 11 положеО ния объекта н вычислительный блок 12, элементы 1,2,3,5,7,9 и 12 образуют собственно измерительный эндоскоп.Способ осуществляется следующим образом.Амплитудно...

Номер патента: 1518666

Опубликовано: 30.10.1989

Автор: Ильин

МПК: G01B 11/02

Метки: объекта, перемещения

...сложе ния на втором участке тех же пучков,которые разделились на первом участке, а следовательно, получают удвоенное приращение фазы оптических сигналов при смещении решетки,Далее обе сформированные системы45интерференционных полос считывают сполучением импульсов фототока, по числу которых определяют величину перемещения ди(фракционной решетки, Причемпо первой интерференционной картиневедут "грубый" отсчет с ценой импульса ,= ( /2 а по второй - "точный"с ценой импульса Г= ы /8,По сравнению с прототипом, где 1= о./4 предлагаемый способ имеет в 2 раза большую точность при прочих равных условиях и инвариантен угловым перекосам меры Особенность способа состоит в томчто в общем случае углы паденияначальных пучков на решетку могутбыть не...

Номер патента: 1518667

Опубликовано: 30.10.1989

Автор: Ильин

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: объекта, перемещения

...11 в обратномнаправлении, проходит фаэовую пластину 10, призму 9,и освешает меру насоседнем участке.Во ; торой ветви пучок Ь , пройдяпоследовательно призму 12, фазовуюпластину 14, отражатель 15, вновь фазовую пластину 14, призму 13, такжеосвещает меру на тоы же участке,что и пучокПри движении меры 1 нормально своим штрихОм движутся также и отражатели 11 и 15. Причем, если в однойветви оптическая длина хода луча, на.пример Е увеличивается на й 1 тов другой Ь 2 уменьшается на такую жевеличину ВЬ 2, но с обратным знаком,Суммарное приращение разности ходапучков 1 и Ьв точке сложения равнод х=Ы.,-(-ЬЬ ) =26 Ь, =231,Суммарный пучек, отразившись отграни зеркальной призмы 4, падает насветоделительный кубик 5 и далее нафотоприемники 6 и...

Номер патента: 1523908

Опубликовано: 23.11.1989

Авторы: Зарва, Зорин, Кононенко, Куринько, Чередник

МПК: G01B 11/02

Метки: делительной, лимба, машине, нанесения, точности, штрихов

...Тираж 683 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,10 нанесенных штрихов с серединой линейного измерителя,Способ реализуется следующим образом.Над первымнанесенным штрихом лимба несоосно с траекторией режущей кромки резца (после выхода штриха из под головки с резцом) устанавливают датчик с линейным измерителем. Совме щают серидину первого контролируемо" го штриха с серединой линейного измерителя. Замеряют ширину контролируемого штриха. С вращением контролируемого лимба на делительной машине замеря.15 ют ширину каждого последующего штриха лимба и величину смещения середины штриха...

Номер патента: 1525444

Опубликовано: 30.11.1989

Автор: Подымака

МПК: G01B 11/02, G01B 9/02

Метки: интерферометр, линейных, объекта, перемещений

...последовательноот поверхностей 9 и 8; а эатем -5, 6, 2, 3, 6, 5, 3, 2, снова достигает отражателя 10. Теперь ходсигнальною луча в отражателе 10противоположен предыдущему и направлен от поверхности 11 к 12, а впространстве отражатадей 1 и 4 междуповерхностями 2, 3, 5, 6, 3 2, 5, 6Далее сигнальный луч, отражаясь от поверхностей 8.и 9 отражателя 7 и проходя через расщепитель 14, образует два интерференционных поля с опорными лучами 18 и 19. Таким образом, в интерферометре сигнальный луч образует двадцать дискретных измерительных проходов, которые пространственно распределены в четырех параллельных плоскостях. Расстояние Й между измерительными плоскостями равно проекции иа плоскость, перпендикулярную поверхностям 1 1 и 12, расстояние...