Патенты с меткой «вогнутых»

Номер патента: 1453188

Опубликовано: 23.01.1989

Автор: Знаменский

МПК: G01J 3/42

Метки: вогнутых, зеркал, измерений, коэффициентов, отражения, спектрофотометрическая, сферических

...= 15 на зеркало 4 зависит т требования несущественности влияния аберраций на качество изображения осветителя 1,Благодаря оптическому сопряженияю 4 ерез зеркало 4 светоделителей 3 и 7 на их отражающих поверхностях создают одинаковые по площади зоны изоб 1 ажения осветителя 1. Затем на оптической оси устанавливается второй объектив 8 так, что промежуточное иэображение, сформированное на светоделителе 7, создает на чувствительной площадке фотоприемника 9 уменьшенное изображение осветителя 1. В дальнейшем на объектодержателе 6 устанавливают измеряемое зеркало 5 и перемещением объектодержателя 6 с зеркалом 5 вдоль оптической оси достигают совмещения центра кривизны измеряемого зеркала 5 и изображения осветителя 1. Благодаря этому...

Номер патента: 1502956

Опубликовано: 23.08.1989

Авторы: Махлина, Полукарова, Юрасов

МПК: G01B 5/22

Метки: вогнутых, выпуклых, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических

...где к радиус кривизны выпуклойконтролируемой поверхности;г - радиус кривизны соответст 2вующей вогнутой эталоннойповерхности. 15 пЬ, - Ь 2ф радиус кривизны вогнутой контролируемой поверхности; радиус кривизны соответствующей выпуклой эталоннойповерхности; где К,ь,и Ь - перемещения контролиру 2емой детали относительно Составитель Е. РодионоваТехред И,Дидык Корректор Н. Король Редактор Н. Рогулич Заказ 5076/52 Тираж 683 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб ц. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101 1. Способ измерения радиусов кривизны вогнутых и выпуклых сферических поверхностей, заключающийся в сравнении...

Номер патента: 1515037

Опубликовано: 15.10.1989

Авторы: Назмеев, Феоктистов, Хуснутдинов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерференционный, параболоидов

...от источника 1 фокусируют конденсором 2 в плоскость диафрагмы 3, установленной в фокусе объектива 5. Параллельный пучок, вьппедший иэ объектива 5, разделяют на два пучка с помощью светоделительной пластины 6. Один из пучков после отражения от эталонной поверхности пластины 6 направляют в объектив 5 и исПовышение точности контроля обеспечивается благодаря тому, что используются опорный и рабочий волновые фронты небольшого диаметра, которые могут быть сформированы с более высокой точностью, чем волновые фронты большего диаметра. Формула и э о б р е т е н и я Составитель В. Вахтедактор А. Огар Техред Л.Олийнык рректор А. Об Заказ 6215/40 ВНИИПИ Государственног 113035Подписное изобретениям и открытия Раушская наб д. 4/5Тираж 683 омитета...

Номер патента: 1516768

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Матяш, Переходько

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, интерферометр, криволинейных, оптических, параметров, поверхностей

...полос и блока 13регистрации перемещений.Интерферометр работает следующимобразом,Излучение источника 1 монохроматического излучения поступает в телескопическую систему 2, состоящуюиз линзы 14, объектива 15 и диафрагмы 16, расположенной одновременно вфокусе линзы 14 и в фокусе объектива 15. Эти элементы преобразуют неразведенный пучок излучения в коллимированный, который попадает на светоделитель 6. Светоделитель 6 делитизлучение на два параллельных лучаа и Ь, имеющих примерно равную интенсивностьЛуч Ь идет на центральнуючастьсветоделительной пластины 3,где делится на два луча Ьи Ь .Луч Ь проходит оптический элемент 8,выполненный в виде триппель-призмыс прозрачной полированной Фаской навершине, расположенный в опорном канале между...

Номер патента: 1555111

Опубликовано: 07.04.1990

Авторы: Бильдин, Бовкун, Владимиров, Исаков, Кравченко, Левчук, Одинцов, Сандульский

МПК: B24B 5/16

Метки: вогнутых, вращения, криволинейных, поверхностей, тел, шлифования

...дл большему диаметру более 12.Способ осуществляют извести ческими средствами следуюшиИзделие устанавливают в осн фовального станка с возможност тяжения вдоль продольной оси. предварительное растяжение изд четным усилием, которое контро помощью индикатора динамоме лию сообщается вращательное и поступательное движение вдоль фовальному кругу - вращение.(54) СПОСОБ ШЛИФОВАНИТЫХ КРИВОЛ ИНЕЙ НЫХНОСТЕЙ ТЕЛ ВРАЩЕНИЯ(57) Изобретение предназначено для абразивной обработки и обеспечивает возможность шлифования вогнутых криволинейных поверхностей тел вращения малой продольной жесткости. Цель изобретениярасширение технологических возможностейза счет обеспечения обработки деталей сотношением длины к наибольшему диаметру более 12. Изделие...

Номер патента: 1587313

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Колесов, Полипанов, Тузов, Шепельский

МПК: G01B 5/12, G01B 5/213

Метки: вогнутых, поверхностей, прибор, радиуса

...местах и неполных окружностей,Цель изобретения - расширение номенклатуры контролируемых деталей за счет снабжения прибора дополнительными механизмами микроподачи с разными переда 1 очными отношениями,На фиг;1 изображен прибор, общий вид; йа фиг.2 - кинематическая схема перемещеия измерительных наконечников.Прибор содержит корпус 1, в котором азмещен механизм 2 микроподачи измеительных наконечников 3 и 4, и отсчетныйзел 5, Кинематический узел связи механиэа 2 с измерительными наконечниками 3 и 4 выполнен следующим образом. На валу беханизма 2 расположена коническая шестерня 7, с которой связаны конические шетерни 8 и 9 с разным количеством зубьев, ,то определяет разное передаточное отноение Шестерни 8 и 9 выполнены с гайка- и 10 и 11 и...

Номер патента: 1601564

Опубликовано: 23.10.1990

Автор: Ковальский

МПК: G01N 21/55

Метки: вогнутых, коэффициента, отражения, поверхностей, сферических

...зеркала 7. Центр кривизны контролируемой сферы 12 лежит на прямой, проходящей через фокус объектива 6 и точку пересечения оптической оси объектива 10 с зеркалом 7,Основание 8 выполнено с возможностью поворота на угол у=180 - 2 а и фиксации в указанном и повернутом на угол положениях. Ось 9 поворота лежит на биссектрисе угла 2 а на расстоянии в от фокуса дополнительного объектива 10, определяемом по формуле где а = 2 К 1 да;К- радиус кривизны контролируемойсферической поверхности.Устройство работает следующим образом.Конденсор 2 строит изображение источника 1 излучения в плоскости диафрагмы 3, Параллельный пучок лучей на выходе коллимирующего объектива 4, ограниченный апертурной диафрагмой 5 до тре 25 30 35 40 45 50 55 буемого...

Номер патента: 1670391

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Кондратов, Контиевский

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 17/08 ...

Метки: вогнутых, интерференционный, поверхностей, цилиндрических

...проектируют в фокальную плоскость объектива 4. Оптический элемент 5 выполняют в виде пластины толщиной б. определяемой из соотношенияб - Я(19,81054 п - 53 02046 п + 58, - 32,34114 п + 9,05130 п - 1,01889 пб), где В - радиус кривизны цилиндрической поверхности 8;и - показатель преломления материала оптического элемента 5,Оптический элемент 5 устанавливают между фокальной линией 9 контролируемойповерхности 8 и самой поверхностью 8, Эталонную поверхность 6 оптического элемента 5 совмещают с фокальной линией 9 контролируемой поверхности 8.Эталонную поверхность 6 оптического элемента 5 и контролируемую поверхность 8 детали 7 освещают вышедшим из объектива 4 параллельным пучком лучей, перпендикулярных эталонной поверхности 6.Между линзой 2 и...

Номер патента: 1712776

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Кондратов, Контиевский

МПК: G01B 11/24, G02B 27/54

Метки: вогнутых, поверхностей, формы, эллиптических

...тем, чтоусовершенствуется способ контроля вогнутых эллиптических поверхностей, заключающийся в том, что контролируемуюповерхность освещают из дальнего ее фокуса гомоцентрическим пучком лучей, устанавливают вспомогательный оптическийэлемент перпендикулярно оси излучения,регистрируют отраженный волновой фронт,по которому судят о форме контролируемойповерхности,В качестве вспомогательного оптического элемента используют плоское зеркалои устанавливают его так, что отражающаяповерхность совмещается с ближним к контролируемой поверхности ее фокусом.На чертеже изображена схема, реализующая способ контроля вогнутой эллиптической поверхности с помощью теневогоприбора,Схема контроля включает источник света 1, конденсор 2, точечную, диафрагму...

Номер патента: 1712777

Опубликовано: 15.02.1992

Авторы: Кондратов, Контиевский

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: вогнутых, поверхностей, формы, эллиптических

...в том, что контролируемуюповерхность освещают из ее фокуса гомоцентрическим пучком лучей, устанавливаютвспомогательный оптический элемент перпендикулярно оси излучения, регистрируют 10отраженный волновой фронт, по которомусудят о форме контролируемой поверхности,Освещение контролируемой поверхности производят из ее ближнего фокуса, в 15качестве вспомогательного оптическогоэлемента используют плоское зеркало сцентральным отверстием и устанавливаютего посередине между койтролируемой поверхностью и дальним ее фокусом, 20На чертеже изображена схема.реализующая способ контроля вогнутой эллиптической поверхности с помощью неравноплечего интерферометра.Схема контроля включает лазер 1, расширитель лазерного излучения 2, светоделитель 3,...

Номер патента: 1716318

Опубликовано: 28.02.1992

Авторы: Бакеркин, Друщиц, Контиевский

МПК: G01B 11/24

Метки: вогнутых, поверхностей, эллиптических

...2 фокусируют в геометрический фокус г 1, ближайший к контролируемой поверхности 11. Плоское зеркало, состоящее из подложки 3 и зеркального покрытия 4 с отверстием 5, устанавливают под углом Р к оптической оси поверхности 11, Полупрозрачное плоское зеркало, состоящее из подложки 6 и полупрозрачного покрытия 7, устанавливают между геометрическим фокусом Е 1 контролируемой поверхности 11 и изображением Е 2 фокуса Р 2 зеркалом 4. Поверхность полупрозрачного плоского зеркала 7 располагают к плоскому зеркалу 5 под углом а= 90 - Р. Регистрацию интерференционной картины осуществляют с помощью видикона 8 и телевизионной установки 9. Для регистрации интерференционной картины полупрозрачное зеркало из подложки 6 и покрытия 7 перемещают в...

Номер патента: 1722719

Опубликовано: 30.03.1992

Авторы: Аристархов, Лобанов, Михайлов, Налетов, Сидоренко, Сирицын

МПК: B23F 9/00

Метки: арочных, вогнутых, выпуклых, зубчатых, зубьев, колес, нарезания, сторон, цилиндрических

...резцовой головкой осуществляют радиальное врезание по направлению М на глубину впадины зуба колеса. При вращении стола в направлейии А по часовой стрелке перемещают реэцовую головку вдоль линии станочного зацепления в направлении С по углом+а р = агссоз(гв/Вр), где Вр радиус окружности центров дуги переходной кривой. Это перемещение осуществляют в следующем режиме посредством копира, закрепленного на штанге, изменяющей расположение копирной поверхности в соответствии с направлением перемещения резцовой головки под углом (+ ар) и электроконтактного датчика, управляющих радиальным перемещением стойки и осевым перемещением каретки тангенциального суппорта. При этом срезают припуск 10 на выпуклой стороне зуба и оставляют припуск 11 на...

Номер патента: 1728650

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Бодров, Васильев, Комраков

МПК: G01B 11/24

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, поверхностей

...и для любой поверхности, эквидистантной идеальной.Контроль общей погрешности контролируемой поверхности осуществляется следующим образом.Схема интерферометра включает плоское зеркало с центральным отверстием, ориентированное таким образом, что его от-. ражающая поверхность пересекает оптическую ось интерферометра под прямым углом в точке заднего фокуса первого компенсатора, а также второй компенсатор, расположенный между задним фокусом первого компенсатора и контролируемой поверхностью. Центральная часть светового пучка, сформированного после прохождения через первый компенсатор, падает на второй компенсатор. Расчет второго компенсатора выполняется таким образом, что, если контролируемая поверхность не имеет погрешностей, то прошедшие...

Номер патента: 1753258

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Бодров, Комраков, Чудакова

МПК: G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, поверхностей

...изобретение предпочтительнее применять для контроля поверхностей, технологический процесс изготовления которых не приводит к появлению несимметричных ошибок, Это условие выполняется, например, при изготовлении асферических поверхностей методом вакуумной асферизации, где возможно лишь появление зональных осесимметричных ошибок.5 10 На чертеже изображена оптическая схема интерферометра.Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучения, микрообьектив 2, светоделитель 3, объектив 4, плоскопараллельную пластину 5 с эталонной светоделительной поверхностью 6, оптический компенсатор 7, на центральный участок поверхности которого, противолежащей плоскопараллельной пластине 5, нанесено зеркальное отражающее, покрытие 8 диаметром 01...

Номер патента: 1755240

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Лукин, Матвеев

МПК: G02B 5/32, G03H 1/04

Метки: вогнутых, голограммных, дифракционных, записи, настройки, подложках, решеток, устройства

...9. По центру синтезированного голограммного оптического элемента 4 установлен датчик положенйя 10,Способ осуществляют следующим образом. В устройстве для записи голограммных дифракционных решеток в положение зэготовки со светочувствительным слоем, на котором предстоит записать решетку, устанавливают синтезйровайный голограм- мный оптический элемент 4, таким образом., чтобы сформировать автоколлимационное 15 изображение первого точечного источника излучения, что соответствует положению синтезирОванного голограммного оптического элемента 4 (фиг. 3), Положение первого источника излучения фиксируют на 20 расстоянии 1 с помощью, например, ножа фуко. Это реализуют следующим образом. Сходящийся пучок излучения от синтезированного...

Номер патента: 1768965

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Богитов, Кулакова

МПК: G01B 11/24

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...волновой фронт, Поэтому перед компенсатором стоит высококачественный объектив, формирующий сферический вол-д новой фронт, что накладывает дополнительные требования к точности изготовления объектива и юстировке рабочей ветви интерферометра,Целью изобретения является повышение точности контроля и упрощение конструкции.1768965 оставитель Н. Кулакова хред М.Моргентал Соколова Те Корректор П, Гереши едакт Заказ 3638 ТиражВНИИПИ Государственного комитета по113035, Москва, ЖПодписноебретениям и открытиям при ГКНТ СССаушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 10 Указанная цель достигается тем, что в рабочей ветви интерферометра установлен компенсатор, выполненный из афокального и положительного...

Номер патента: 1780998

Опубликовано: 15.12.1992

Авторы: Фельдман, Фридман

МПК: B24B 5/16

Метки: вогнутых, криволинейных, поверхностей, шлифования

...инструмент,Указанный способ обеспечивает механизированное шлифооание крупных днищ, Но на черновых операциях этот процесс достаточно трудоемкий.Целью изобретения является повышение производительности и качества шлифования крупногабаритных криволинейных поверхностей.На фиг.1 показана схема образования строки при перпендикулярности плоскости вращения инструмента направлению подачи Чв, на фиг.2 - схема образования строки при направлении подачи под углом, отличным от прямого к плоскости вращения инструмента; на фиг,З - схема перемещения инструмента по образующей днища; на фиг.4 - вид сбоку,При образовании строки с перпендикулярным направлением подачи к плоскости вращения, последний снимает слой металла глубиной т, а поверхность контакта...

Номер патента: 1824547

Опубликовано: 30.06.1993

Авторы: Барская, Новосельская, Семенова

МПК: G01N 21/55

Метки: вогнутых, зеркал, рефлектометр

...2 представляет пример конкретного выполнения сопряжения рефлектометра со спектрофотометром РЕдля измерения спектрального коэффициента отражения вогнутых зеркал.Оптические элементы 1 - 4 (те же, что 1-4 на фиг. 1) помещаются в кюветное отделение спекрофотометра, Оптическое сопряжение с ним обеспечено согласующей системой 5-9. Плоское зеркало 5 установлено напротив входного окна кюветного отделения. Коллектив 6 и объектив 7 имеют одинаковые фокусные расстояния и разнесены друг от друга на двойное фокусное расстояние, Размеры, место и поворот плоских зеркал 5,8 и 9 определяются конструктивно,Схема работает следующим образом.Излучение в отсутствие рефлектометра проходило кюветного отделение насквозь и образовывало в центре...

Номер патента: 1799161

Опубликовано: 10.05.1995

Авторы: Балясников, Варфоломеев, Лукашевич, Стрельников

МПК: G02B 5/18

Метки: вогнутых, дифракционных, профилем, решеток, ступенчатым, штрихов

...в вакууме и последующего формования в нем штрихов пластической деформацией материала алмазным резцом, согласно изобретению, на стеклянную подложку наносят подслой переменной толщины, твердость которого не менее чем в пять раз больше твердости основного слоя, который наносят также переменной толщины, при этом слои ориентируют клином в противоположные стороны, толщину слоев наносят в соответствии с соотношением:г 035. гУ . ИИ, -1/г +1 У+Цгде Е - расстояние от начала нарезки до точки, в которой определяется толщина слоя, мм;И - число штрихов на один миллиметр," В - радиус кривизны решетки, мм;и - глубина штриха, определенная для плоского слоя, мм;- припуск на толщину основного слоя, для подслоя припуск равен нулю,штрихи решетки...

Номер патента: 786471

Опубликовано: 27.05.1996

Авторы: Губель, Духопел, Ефимов, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферических, вогнутых, интерферометр, лучей, обратно-круговым, оптических, поверхностей, сферических, формы, ходом

Интерферометр с обратно-круговым ходом лучей для контроля формы вогнутых сферических и асферических поверхностей оптических деталей, содержащий осветительную систему, включающую лазер и коллиматорный объектив, призменную и наблюдательную системы, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля и расширения диапазона радиусов кривизны контролируемых поверхностей, призменная система выполнена в виде последовательно расположенных светоделительного кубика, плоского и двугранного зеркал и установленного между этими зеркалами высокоапертурного симметричного объектива, а коллиматорный объектив выполнен с возможностью осевого перемещения.

Номер патента: 1438469

Опубликовано: 20.02.2002

Авторы: Бажанов, Стрежнев

МПК: G02B 5/32

Метки: вогнутых, голографических, дифракционных, параметров, решеток, технологических

Способ контроля технологических параметров вогнутых голографических дифракционных решеток путем определения расстояния от вершины решетки, установленной в спектрографе, до ее спектрального изображения в меридиональной и сагиттальной плоскостях, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, устанавливают решетку в спектрографе по автоколлимационной схеме для заданной длины волны , измеряют угол падения и дифракции для заданной длины волны , после чего измеряют расстояния...

Номер патента: 1524708

Опубликовано: 20.02.2002

Авторы: Бажанов, Куинджи, Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: вогнутых, дифракционных, решеток

Способ изготовления вогнутых дифракционных решеток, включающий нарезание на вогнутой подложке алмазным резцом на делительной машине непрямолинейных штрихов с переменным шагом, установку нарезанной решетки в спектрограф и измерение расстояний rs и rm от вершины решетки до ее сагиттального и меридионального спектральных изображений в меридиональной и сагиттальной плоскостях соответственно, отличающийся тем, что, с целью обеспечения заданных аберрационных характеристик изготавливаемых решеток, сначала осуществляют нарезание штрихов, устанавливая на делительной машине расчетные значения угла p...