Способ измерения радиусов кривизны вогнутых и выпуклых сферических поверхностей и устройство для его осуществления

Номер патента: 1420340

Опубликовано: 30.08.1988

Автор: Евдокимов

МПК: G01B 5/08

Метки: вогнутых, поверхностей, радиусов

...нерхние отражающие 2 Оповерхности, известные длины С, иС и неизвестное расстояние гг междупластинами 1 и 2. Дополнительнуюпластину 4 устанавливают между основными 1 и 2. Пластина 4 имеет длину 25ЕГ и отражающую поверхность. Угол омежду одной иэ основньгх пластин 1,2и дополнительной пластиной 4 определяют посредством автоколлиматора 5.Пластина 2 имеет отверстия для прохождения лучей А и 1) от автоколлиматора 5, луч В отражается от пластины .Способ заключается в следующем.На сферическую понерхность объекта 3 устанавливают пластину 1 и параллельно ей пластину 2 с магнитносвязанной пластиной 4. По автокаллиматору 5 при помощи лучей А и В контролируют параллельность установкипластин 1 и 2, а при помощи лучей Э40измеряют уголмежду пластиной...

Номер патента: 1587313

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Колесов, Полипанов, Тузов, Шепельский

МПК: G01B 5/12, G01B 5/213

Метки: вогнутых, поверхностей, прибор, радиуса

...местах и неполных окружностей,Цель изобретения - расширение номенклатуры контролируемых деталей за счет снабжения прибора дополнительными механизмами микроподачи с разными переда 1 очными отношениями,На фиг;1 изображен прибор, общий вид; йа фиг.2 - кинематическая схема перемещеия измерительных наконечников.Прибор содержит корпус 1, в котором азмещен механизм 2 микроподачи измеительных наконечников 3 и 4, и отсчетныйзел 5, Кинематический узел связи механиэа 2 с измерительными наконечниками 3 и 4 выполнен следующим образом. На валу беханизма 2 расположена коническая шестерня 7, с которой связаны конические шетерни 8 и 9 с разным количеством зубьев, ,то определяет разное передаточное отноение Шестерни 8 и 9 выполнены с гайка- и 10 и 11 и...

Номер патента: 448347

Опубликовано: 30.10.1974

Авторы: Дикань, Лазарева, Либер, Пуряев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: большого, выпуклых, диаметра, интерферометр, линз, поверхностей, поверхности, сферических, формы

...или фотографирования интерференционной каю ртины и экран 8 или фотопленку для осковское ордена Ленина и ордена Трудового Краснонамени высшее техническое училище им. Н.Э.Бауманарасногорскиф механический Завод448347 31.егистрации интерференционной картины.Линзу 9 с контролируемой поверхностью К устанавливают между компенсатором и эталонным сферическим зеркалом.lНа фиг.2 показано: У -изображение точки Р , .построенное толькоИкомпенсатором 5; У -изображение точки Р ,построенное компенсатоом и первой поверхностью линзы 9;и С-центры кривизны соответственно контролируемой поверхности линзы 9 и эталонного сферического зеркала б .Точки У,Си С должны быть с овмещены.Интерферометр работает следующим образом.Лучи, выходящие из объектива...

Номер патента: 332319

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Пур

МПК: G01B 9/02

Метки: вогнутых, выпуклых, гиперболических, интерферометр, качества, эллиптических

...поверхности; Ы - толщина плоскопараллельной пластинки; и - показатель преломления плоскопараллельной пластинки,Лучи, выходящие из оптического квантового генератора, фокусируются микрообъективом и образуют точечный источник света, расположенный от пластинки на расстоянииа= (2) где Рг и Р - геометрические фокусы (анаберрационные точки) контролируемых поверхностей.Лучи, идущие из точечного источника света, достигают пластинки и разделяются на два пучка: один из пучков построен лучами, отраженными от полупрозрачной поверхности пластинки, и образует эталонный сферический волновой фронт; другой пучок проходит через пластинку, достигает контролируемой поверхности, отражается от пее и вновь проходит через пластинку, но в обратном направлении,...

Номер патента: 1100488

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Вайткус, Кац

МПК: G01B 5/213

Метки: вращения, кривизны, методом, образующей, прибору, радиуса, сравнения, тел, эталон

...лекальных работ,З 5а измерение формы профиля требуетналичия специализированных средств,Цель изобретения - упрощение изготовления и аттестации эталона.Цель достигается тем, что в эта-40лоне к прибору для измерения методом сравнения радиуса кривизны образующей тел вращения, выполненных ввиде тел вращения с экстремальным(экваториальным) диаметром, содержащем установочные торцовые поверхности и настроечную поверхность вращения, экстремальный диаметр настроечной поверхности выполнен равным удвоенному значению радиуса кривизныобразующей контролируемого объекта,а радиус кривизны образующей эталонаполовине экстремального диаметраконтролируемого объекта,На фиг, 1 изображена схема измерения и установка на измерительной позации эталона для...