Способ контроля технологических параметров вогнутых голографических дифракционных решеток
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Описание





где


l1 и l2 - расстояния от вершины решетки до источников записи;
Rm и Rs - соответственно меридиональный и сагиттальный радиусы кривизны вогнутой поверхности решетки;

i1 и i2 - углы, под которыми источники записи расположены по отношению к нормали к поверхности решетки.
Заявка
4206463/25, 05.03.1987
Стрежнев С. А, Бажанов Ю. В
МПК / Метки
МПК: G02B 5/32
Метки: вогнутых, голографических, дифракционных, параметров, решеток, технологических
Опубликовано: 20.02.2002
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1438469-sposob-kontrolya-tekhnologicheskikh-parametrov-vognutykh-golograficheskikh-difrakcionnykh-reshetok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля технологических параметров вогнутых голографических дифракционных решеток</a>
Предыдущий патент: Способ переключения тиристора с обратной проводимостью
Следующий патент: Способ очистки водного теплоносителя ядерного реактора
Случайный патент: Прибор для определения тригонометрических функций