Способ контроля технологических параметров вогнутых голографических дифракционных решеток

Номер патента: 1438469

Авторы: Бажанов, Стрежнев

Описание

Способ контроля технологических параметров вогнутых голографических дифракционных решеток путем определения расстояния от вершины решетки, установленной в спектрографе, до ее спектрального изображения в меридиональной и сагиттальной плоскостях, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, устанавливают решетку в спектрографе по автоколлимационной схеме для заданной длины волны , измеряют угол падения и дифракции для заданной длины волны , после чего измеряют расстояния rs и rm от вершины решетки до ее спектрального изображения в меридиональной и сагиттальной плоскостях, а искомые технологические параметры l1 и l2 вычисляют по формулам


где

l1 и l2 - расстояния от вершины решетки до источников записи;
Rm и Rs - соответственно меридиональный и сагиттальный радиусы кривизны вогнутой поверхности решетки;
* - длина волны записи голографической решетки;
i1 и i2 - углы, под которыми источники записи расположены по отношению к нормали к поверхности решетки.

Заявка

4206463/25, 05.03.1987

Стрежнев С. А, Бажанов Ю. В

МПК / Метки

МПК: G02B 5/32

Метки: вогнутых, голографических, дифракционных, параметров, решеток, технологических

Опубликовано: 20.02.2002

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1438469-sposob-kontrolya-tekhnologicheskikh-parametrov-vognutykh-golograficheskikh-difrakcionnykh-reshetok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля технологических параметров вогнутых голографических дифракционных решеток</a>

Похожие патенты