Патенты с меткой «двупреломления»

Номер патента: 373603

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Бюро

МПК: G02F 1/09

Метки: двупреломления, наблюдения, полярископ

...этом случае влияет как б, так и т.Если т постоянно в пределах исследуемогоучастка объекта, то наблюдаемая картина отражает без искажения распределение двупреломления. В случае же, когда т переменно,25 т. е. зависит от,координаты исследуемой точки, картина двупреломления оказываегся заведомо искаженной и требует коррекции,Для коррекции можно использовать часть немодулированной энергии сигнала, описывае 30 мой первым членом выражения (1),(2) оста в и тел ь С. Соколова4Редактор Г. Антропова Техред Г. Дворина Корректор Е. Талалаева Заказ 1739,8 ЦНИИПИ К Изд. М 1383итета по делам изобреМосква, Ж.35 Тираж 755иий и открытий при СРаушская иаб., д. 4,5 Подписное те Министров СССРТипографи пр. Саиуиова,Если вторично промодулпровать весь световой...

Номер патента: 792099

Опубликовано: 30.12.1980

Автор: Лебедев

МПК: G01N 21/23

Метки: двупреломления, измерении, кристаллов, параметров, полной, разности, хода

...к точке потолщине слоя. Таким образом, от точки к точке изменяется интенсивностьрассеянного света. Причем период из -менения в образцах с чистым двупреломлением соответствует разности хода в один порядок, Соотношение междумаксимумом,и минимумом интенсивности 5рассеянного света определяется величиной угла между направлением регистрации рассеянного света и главнымиосями тенэора диэлектрической проницаемости, а величина интенсивности щна входе в исследуемый слой - состоянием поляризации света на входе.На чертеже приведена зависимостьинтенсивности рассеянного света 3в слое толщины Ь от координаты Е,совпадающей с направлением просвечивания,Расстояние между минимумами функции 3, (2) соответствует разностихода в один порядок,В случае,...

Номер патента: 1296854

Опубликовано: 15.03.1987

Автор: Лебедев

МПК: G01J 4/04

Метки: двупреломления, параметров

...множество изображается множеством точек круга на сфере, например экватора М (фиг,2), Пусть точкиАА и А являются точками, отображающими положение развернутых относительно друг друга в пространстве анализаторов 6. При отсутствии образца 4 разность фаз переменных составляющих сигналов с выходов передающих телевизионных трубок 8 определяется только углами между осями пропускания анализаторов б и остается постоянной при развертке электронного луча по полю мишеней трубок 8. Если в данной точке образца положение главных осей тензора диэлектрической проницаемости отображается на сфере линией ЛЛ то на выходе образца 4 множество поляризационных характеристик занимает положение М вследствие вращения сферы относительно оси ЛЛ на угол,...

Номер патента: 1413490

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Галанов, Мельник, Потихонов

МПК: G01N 21/23

Метки: двупреломления, полупроводниках

...поляризации излучения, обусловленныйдвупреломлением в исследуемомобразце;а - амплитуда качания азимута поляризации, осуществляемого электромагнитом-модулятором; 50О - частота модуляции излучения,Информативный сигнал определяетсявыражениемо Т 2 а з 1 плЛ,После усиления избирательным усилителем 9 и детектирования синхронным детектором 10 этот сигнал первой гармоники поступает в блок 16 автоматического управления током компенсатора 6. После обработки сигнала рассогласования на синхронном детекторе к нулю производится синхронный поворот поляризатора и анализатора на 22,5. Измеряется угол р в этой же точке образца.Обработка результатов измерения поворота плоскости поляризации излучения р ипроизводится на микроЭВМ 13 для определения...

Номер патента: 1469390

Опубликовано: 30.03.1989

Автор: Чудаков

МПК: G01N 21/23

Метки: двупреломления, материалах, оптически, прозрачных, фотоэлектрический

...преобразует линейно поляризованныйсвет в эллиптически поляризованный.После прохождения исследуемого объекта 5 в случае его оптической анизотропии изменяется эксцентриситет 25и азимут осей эллипса поляризацйи,Анализатор 6 вращается с постояннойскоростью, вследствие чего интенсив"ность излучения содержит постояннуюи переменную составляющую, изменяющую-ЗОся с частотой, равной удвоенной частоте вращения анализатора,Селективная измерительная система 8 регистрирует только переменнуюсоставляющую сигнала с фотоприемника 7. Компенсатор 4 перестраиваюттаким, образом, чтобы разность ходамежду компонентави излучения сталатакой, что амплитуда переменной составляющей, регистрируемой иэмери Отельной системой 8, стала равной нулю.Разность фаз о и...

Номер патента: 1518729

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Габа, Романюк, Урсул

МПК: G01N 21/23

Метки: двупреломления, измерении, кристаллов, параметров, полной, разности, хода

...между ними в дцагов 1 и 2(и,1 и) С 1х с где 1 - амплпгудцое значение ццтено сцвности света; и-.и ф - значение двупреломленця+дг) = 1,з 1 и, - аг, а огсюда, дробнаячасгь разности хода буде равна При определении по формуле (2) надо учесть, что одному значению 1могут отвечать два дробные значения разности хода. Для правильного определения дробной части разности хода следует определить соотношение между расстояниями от центра коноскопической фигуры до крайних минимумов в двух , взаимно перпендикулярных цаправлециях - а и Ь (Фиг. 1)Легко видеть, что в случае а(Ь дробное значение разности хода равно лг, а в случае аЬ составляет Л - д г.Дробную часть разности хода можно гакже точно и легко определить по соогношецию расстояний а и Ь в...