Способ определения напряжений и неоднородностей в полупроводниковых кристаллах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 145033
Авторы: Гречушников, Дистлер, Чудаков
Текст
Класс 42 Ь, 21145033 СССР ОПИСАНИЕ ИЗ БРЕТЕН ЕТЕЛЬСТВУ ВТОРСКОМУ Лодппсная группа Л 170 Гречушников, Г. И, Дистл, С. Чудако ОСОБ ОП НОРОДН Заявлсио в Комитет ио аслам ивоБ 1 оллстснс ивобрстсний М 4 ва 1962 г. убликова Б известных способах определения качества полупроводниковых кристаллов путем измерения их двойного лучепреломления не достигается высокая точность измерений ввиду малой чувствительности электронно-оптических прсобразователсц.Предложецныц способ определения напряжений и нсоднородцостей В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КРИСТЯЛЛЯХ ОСЦОВЯН НЯ СКЯИИПОВЯНИЦ УЗКИМ ПУЧ- ком инфракрасного излучения исследуемого полупров дникового кристалла с одновременной трансформацией выходного усиленного сигнала в видимое излучение, регистрируемое на обычном фотоматериале, который сканируется синхронно с исследуемым образцом. При применении предложенного способа исслсдованце производится в широком диапазоне инфракрасного спектра.Эффективность способа для выявления различного рода дефектов В полупроВодникоВых материалах подтВсрждяется практической про веркой. рсдмст изобретен об определения напрян(сций и неоднородностей в кристаллах путем цзмер=н: я их дво 1 Ного лучеп ю щ и й с я тем, что, с целью повышения чувствите производится сканирование узким пучком инфрак исследуемого полупрогоднкового кристалла с одн сванием усиленного выходного сигнала в видимое усмое на фотоматерале, сканируемом синхронно бразцом. олупроводеломления, ьности изасного извременным излучение, с исслеСпос никовых отл и ча мерен ия, лучения преобраз регистрир дуемым о ЕДЕЛЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЙ ИСТЕЙ В ПОЛУЛРОВОДНИКОВЫХКРИСГАЛЛАХ августа 1960 г. за .й 707678/26сний и открггии;1 ри Совстс Министров ССС
СмотретьЗаявка
707678, 08.08.1960
Гречушников Б. Н, Дистлер Г. И, Чудаков В. С
МПК / Метки
МПК: G01L 1/24
Метки: кристаллах, напряжений, неоднородностей, полупроводниковых
Опубликовано: 01.01.1962
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-145033-sposob-opredeleniya-napryazhenijj-i-neodnorodnostejj-v-poluprovodnikovykh-kristallakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения напряжений и неоднородностей в полупроводниковых кристаллах</a>
Предыдущий патент: Морской автоматический поляриметр
Следующий патент: Термогигростат отрицательных температур с вихревым парогенератором
Случайный патент: Автономный инвертор напряжения