Патенты с меткой «неоднородностей»
Способ определения наличия и местоположения неоднородностей в линии передачи электромагнитной волны свч диапазона и устройство для его осуществления
Номер патента: 1084707
Опубликовано: 07.04.1984
Авторы: Введенский, Горячев, Пономарев
МПК: G01R 31/11
Метки: волны, диапазона, линии, местоположения, наличия, неоднородностей, передачи, свч, электромагнитной
...сигнала соединен через усили-.тель с ограниченной полосой частотс входами М фазовращателей, выходыкоторых подключены соответственно квходами решетки из И излучателей,выход согласующего элемента соединенс входом индикатора через приемникс временной регулировкой усиления,управляющий вход которого подключен к выходу задающего генератора. 2передачи электромагнитной волны СВЧдиапазона не обеспечивают высокуюразрешающую способность., а такжеимеют низкую точность.Цель изобретения - повышения разрешающей способности и точности.Для достижения цели согласно способу определения наличия и местоположения неоднородностей в линии передачи электромагнитной волны СВЧ-диапазона, основанному на зондированииисследуемой линии передачи электро магнитной...
Способ скважинной сейсмоакустической локации неоднородностей
Номер патента: 1089530
Опубликовано: 30.04.1984
Авторы: Бук, Кузнецов, Мысина, Пхалагов, Файзуллин, Цыплаков
Метки: локации, неоднородностей, сейсмоакустической, скважинной
...- 3 размещены по углам разностороннего треугольника АВС. В начале в первую скважину 1помещают излучатель 4 упругих волн, во вторую скважину 2 помещают приемник 5 упругих волн, в третью скважину 3 - приемник б. Объект изучения - неоднородность 7.На фиг. 2 показаны расстояниеП от скважины 1 до неоднородности 17, расстояние СЭ от скважины 2 донеоднородности 7 и расстояние В 2от скважины 3 до неоднородности 7.Частоты, на которых производятизмерения, выбирают в зависимости отрасстояния излучатель-приемник, поглощающих свойств среды и размеровнеоднородностей, при этом выборограничен соотношением 2Э где% - длина волны, П - размер диаметр)неоднородности.Распределенный излучатель длиной2 Ъ, распределенные приемники длиной2 , обладающие...
Устройство для измерения неоднородностей переменного магнитного поля
Номер патента: 1091095
Опубликовано: 07.05.1984
Авторы: Бузинов, Долгова, Молоканов, Цыпылов
МПК: G01R 33/02
Метки: магнитного, неоднородностей, переменного, поля
...5что снижает точность измерений.Цель изобретения - повышение точности измерений.Поставленная цель достигается тем,что устройство, содержащее встречно 60включенные подвижный и .неподвижныйдатчики, снабжено потенциометром,подключенным к подвижному датчикуи делителем напряжения, включеннымпараллельно подвижному датчику, при чемсоотношения плеч делителя выбирают из условия5 н "4- ф - 750 4 5где Б - чувствительность неподвижного датчика;Б - чувствительность подвижного датчика;Н 4,Н- величина сопротивлений вцепи делителяНа фиг. 1 представлена принципиальная схема устройства, на фиг. 2векторная диаграмма, поясняющая работу устройства,Устройство содержит неподвижный1 ( фиг. Ц и подвижный 2 датчики,включенные встречно, Неподвижныйдатчик 1...
Способ определения направления и глубины залегания геоэлектрических неоднородностей в околоскважинном пространстве
Номер патента: 1092452
Опубликовано: 15.05.1984
Авторы: Горюнов, Куликов, Шемякин, Яковлев
МПК: G01V 3/08
Метки: геоэлектрических, глубины, залегания, направления, неоднородностей, околоскважинном, пространстве
...Е ттЕ = ХЪ) для двух величини К, определяют глубину залегания этой пеоднороднос".и,Основой предлагаемого способа служат особенности распределения вертикат 1 ьпой составляющей. электрического поля диполя, расположенного ка дневкой поверхности в присутствии локального включения типа горизонтальпой линзы, Вблизи проводящей лицз 11 поведение вертикальной компоненты Е имеет следующие особенности,. Если исгочник расположен от скважи: в :ы на удалении Я, меньшем глубины исследуемого горизонта, измеряемые пеличицы отклоняются от нормального распределсния соответствуюгдего горизонтально .Однородной среде, в стоГону больших зка:1 еций г 1 ри измерениях :зьп 11 е уровня линзь 1 и в сторону мень - ших значений при измерениях ниже уровня...
Способ визуализации фазовых неоднородностей
Номер патента: 1095032
Опубликовано: 30.05.1984
Автор: Махмутов
МПК: G01B 9/021
Метки: визуализации, неоднородностей, фазовых
...данного способа является его сложность, так как поляна отражателе и регистрирующей среде при регистрации и восстановленииголограммы практически совпадают.Цель изобретения - упрощение способа и расширение его функциональных 35возможностей.Поставленная цель достигается тем,что согласно способу визуализации фазовых неоднородностей путем регистрациистоячих волн, образованных сфокусированной объектной волной, .прошедшейчерез неоднородность, и той же объектной волной, но встречно направленной,запись голограммы осуществляют с диффузным отражателем, установленным эа 45регистрирующей средой в пределах глубыны резкости объектива.На фиг. 1 изображено устройство,реализующее способ; на фиг.2 - схемавосстановления голограммы. 50Устройство...
Устройство для высокочастотного фотографирования электрических неоднородностей объектов с гладкой поверхностью
Номер патента: 1096602
Опубликовано: 07.06.1984
Авторы: Домород, Дубина, Кожаринов
МПК: G03G 17/00
Метки: высокочастотного, гладкой, неоднородностей, объектов, поверхностью, фотографирования, электрических
...состоящую из двух диэлектрических полос, расположенных симметрично линии контакта между роликовым электродом и фотопленкой в зазорах между ними.,45Расстояние между диэлектрическимиполосами составляет не более 0,15радиуса роликового электрода,На Фиг.1 представлено предлагаемое устройство, общий вид; на Фиг.2 представлена регистрограмма изображения покоящегося роликового электрода.устройство содержит светонепроницаемую камеру 1 со смонтированными вней приемной 2 и подающей 3 кассетами и Фотопленкой 4, снабженную направляющими роликами 5, и обкладкуразрядного конденсатора, содержащуюроликовый электрод б в непрозрачномдиэлектрическом корпусе 7 со щелевой 60диафрагмой 8. Объект съемки 9 с дефектом 10 контактирует с Фотопленкой 4,...
Способ измерения пространственного распределения внутренних неоднородностей объекта
Номер патента: 999808
Опубликовано: 23.07.1984
МПК: G03H 1/16
Метки: внутренних, неоднородностей, объекта, пространственного, распределения
...времениполучить, например, интерферограммупоперечного сечения объекта, котораябудет одновременно картой линий равных значений показателя преломпенияв данном сечении. Перемещая плоскостьраспространения "световых ножей"вдоль оси 7 , можно измерить трехмерное пространственное распределениенеоднородностей объекта.Рассмотрим последовательностьопераций, выполняемых в одном каналеосвещения, направленном, например,под углом М к оси Х, (см.фиг. 1 а).Плоский одномерный лазерный пучокамплитуды Ао, пройдя через фазовыми999808 Световое излучение от лазера 1, попав на светоделительную пластину 2, разделяется на две части, одна из которых проходит систему Формирования опорного канала (зеркало 13, расширитель 14 пучка) и попадает на регистратор...
Устройство для исследования неоднородностей плазмы по рассеянию оптического излучения
Номер патента: 1114929
Опубликовано: 23.09.1984
Авторы: Буланин, Петров, Ушаков
МПК: G01N 21/17
Метки: излучения, исследования, неоднородностей, оптического, плазмы, рассеянию
...и перемещать приемное устройство. Это исключает возможность использования подобных устройств для одновременно-го анализа излучения, рассеянного под различными углами.Целью изобретения является повышение количества получаемой в единицу времени информации при сохранении ысокой чувствительности устройства.Цель достигается тем, что в устройство для исследования неоднородностейплазмы по рассеянию оптического излучения, содержащее источник направленного излучения, расположенный по ходуизлучения светоделитель, формирующийизмерительный и опорный каналы, расположенные по ходу рассеянного плазмой излучения второй светоделитель ифотоприемное устройство, в опорном канале расположена линза,. удаленная отвторого светоделителя на...
Устройство для выделения неоднородностей в геологическом разрезе по аномальным потенциальным полям
Номер патента: 1117563
Опубликовано: 07.10.1984
Авторы: Мудрецова, Тихонов, Целев
МПК: G01V 7/06
Метки: аномальным, выделения, геологическом, неоднородностей, полям, потенциальным, разрезе
...глубин и две схемы сравнения, отличающееся тем, что, с целью повышения разрешающей способности, в, него введены блок определения дисперсии в скользящем окне, блок вычитания, третья схема сравнения и прерыватель, включенный между первым выходом запоминающего устройства и вторым входом третьей схемы сравнения, между первым выходом которой и вторым входом запоминающего устройства включен блок определения дисперсии, а между вторым выходом третьей схемы сравнения и вторым входом запоминающего устройства включен блок вычитания,Д приче,йерваясхема сравнения и преобразователь параметра регуляризации включены последовательно между вторым выходом сумматора ряда Фурье и вторым входом генерато,.з-модификатора, меж- Я ду третьим входом...
Устройство для исследования оптических неоднородностей морской воды
Номер патента: 1133509
Опубликовано: 07.01.1985
Авторы: Королев, Красовский, Лукаш, Наумов, Поварков, Самков, Соловьев
МПК: G01N 21/41
Метки: воды, исследования, морской, неоднородностей, оптических
...стекло 3, зеркало 4, фотоприемник, светорегистрирующую систему, содержащую диаграму 6, объектив 7, светофильтр 8, приемник 9 излучения и вычислительное устройство 10. формируются два оптических канала, устайовленнх в одном жестком корпусе 11 таким образом, чтобы обеспечить возможность регистрации через защитное стекло флуктуаций показателя преломления внутри исследуемого объема воды (первый канал) и флуктуаций температуры на поверхности исследуемого объема, прилегающей к защитному окну (второй канал). Конструкция и принцип действия первого оптического канала аналогичны соответствующему каналу в известном устройстве. В качестве оптической системы визуализации флуктуаций показателя преломления можно использовать как теневую, так и...
Способ определения ориентировки плоских неоднородностей показателя преломления в прозрачных монокристаллах
Номер патента: 1140082
Опубликовано: 15.02.1985
Авторы: Войцеховский, Кравцов, Скропышев, Уркинеев
МПК: G01N 21/45
Метки: монокристаллах, неоднородностей, ориентировки, плоских, показателя, преломления, прозрачных
...11 устанавливают на пути лучаза кристаллом на расстоянии 0,5-3 мв зависимости от желаемой степениувеличения дифракционной картины впределах 2-20 раз. Перемещением объектива 10 вдоль луча сначала добиваются фокусировки изображения кристаллана экране (определяется по четкомуизображению пылинок или царапин, имеющихся на гранях), а затем сбиваютфокусировку небольшим перемещениемобъектива в ту или другую сторону.Необходимость "сбивания" фокусировкцопределяется тем, что неоднородностипоказателя преломления кристалла обусловливают появление на экране дифракционной картины итменно в условиях дефокусации, причем максимальная контрастность дифракционной картины получается нри вполне определенной степени дефокусации, зависящей в своюочередь от...
Устройство для поиска неоднородностей в массиве горных пород
Номер патента: 1151900
Опубликовано: 23.04.1985
Авторы: Грицай, Задериголова
МПК: G01V 3/12
Метки: горных, массиве, неоднородностей, поиска, пород
...управления амплитудного модулятора, первый выход генератора пилообразного напряжения соединен с входом управления перестраиваемого по частоте усилителя мощности, а второй выход - с входом управления управляемого генератора с перестраиваемой частотой, выход которого через ампли" тудный модулятор и перестраиваемый по частоте усилитель мощности соединен с излучающей антенной, приемный блок содержит приеинув антенну опорного сигнала, первый и второй преселекторы с перестраиваемой частотой, первый и второй преобразователи про-. межуточной частоты и второй генератор пилообразного напряжения, селектор тактовых импульсов, гетеродин с. перестраиваемой частотой, причем приемная антенна измеряемого сигнала соединена с входом первого избиратель-...
Способ измерения пространственного распределения внутренних неоднородностей объекта
Номер патента: 1074207
Опубликовано: 23.04.1985
МПК: G01B 9/021, G03H 1/16
Метки: внутренних, неоднородностей, объекта, пространственного, распределения
...А(у г) -" Ао ехр1 У, (К у , г) + + фг (у, г)1 Перед третьим перемножением изменяют масштаб Вф (4) на величину КМь,у где- направление третьего ракурса зондирования, т.е. получают ВФ А 1(К 1 Кгу, г) А(Кг у, г)згп узгпу"уПосле третьего зондирования ВФ (5) под направлением 45 выполняют третье. неремнцжение и формируется ВФ,А 1(К.К у, г) А (К у, г) А (уг) у которого перед четвертым перемножением изменяют масштаб в -1 з 1 ЮК;:, ф-Му раэ и т,д. Вся зта последовательность операций выполняется для всех угловондиров ния ( ф 1,перекрывающих (равномерно или неравномерно) диапазон углов от О до 180 фа Пусть ( ф О, а 1180 Закон изменения масштаба в любом и"ом ракурсе для а1, 2. . . Иследующий.,вхп УДля 0-1 и И"го ракурса коэффициенты изменения...
Фотографический способ регистрации амплитудных и фазовых неоднородностей
Номер патента: 764502
Опубликовано: 23.06.1985
Авторы: Аблеков, Денисов, Колядин, Фролов
Метки: амплитудных, неоднородностей, регистрации, фазовых, фотографический
...изоб ния распределения плотности в некото. ражения геометрической фигуры.ром объеме приходится исгрльзовать5действительно, пусть(х) функнесколько теневых систем, либо голо- ция рассеяния от геометрической фиграфическую технику записи волнового гуры в виде полого цилиндра, а1(хфронта, Применение набора теневых функция, описывающая, например фазоприборов значительно удорожает уста- вые неоднородности. Фотопластинка,20- новку, делает ее громоздкой и неудоб- на которой зарегистрирована дифракной в практике исследований. Примене- ционная картина, будет иметь посление же голографической техники запи- ,проявления пропусканиепропорциоси волнового фронта для исследования нальное интенсивности света+ М Ф +трехмерных полей плотности...
Способ измерения неоднородностей синусоидального магнитного поля
Номер патента: 1170387
Опубликовано: 30.07.1985
Автор: Цыпылов
МПК: G01R 33/00
Метки: магнитного, неоднородностей, поля, синусоидального
Способ вихретокового контроля неоднородностей в объеме изделия из слабопроводящего материала
Номер патента: 1173295
Опубликовано: 15.08.1985
Автор: Хандецкий
МПК: G01N 27/90
Метки: вихретокового, изделия, неоднородностей, объеме, слабопроводящего
...пять коммутируемыхконтуров. Генератор 7 импульсов иблок 6 управления подают на блок 3ключей с герконовым реле периодические последовательности из пяти импульсов в соответствии с временнойдиаграммой, показанной на фиг. 3.Эти импульсы вызывают последовательные срабатывания герконовых реле, включая тем самым в работу автогене ратора 1 соответствующий контур.Если материал однороден, то реакции (относительное внесенное активное сопротивление В.,ыЬ) вихретоковыхвкпреобразователей одинаковы. Соответственно этому одинаковы и амплитуды импульсов, поступающих на вход аналого-цифрового преобразователя (АЦП) вычислительного блока 5, Длительности импульсов с выхода генератора 7 порядка 100 мс. Время остановки при сканировании определяется...
Способ обнаружения локальных неоднородностей изображений объектов
Номер патента: 1179392
Опубликовано: 15.09.1985
Автор: Рафаилов
МПК: G06K 9/36
Метки: изображений, локальных, неоднородностей, обнаружения, объектов
...неоднородностей поляяркости при априорно неизвестных 5оптико-статистических характеристикахобнаруживаемых неоднородностей, например, при обработке аэрокосмическихизображений.Цель изобретения - повышение точ Оности обнаружения локальных неоднородностей иэображений объектов.На чертеже показана схема сканирующей когерентно-оптической установки (КОУ). 15Схема включает источник 1 излучения, например ОКГ, транспарантисследуемым изображением, объективы 3, плоскость 4 установки спектраприемник 5, 20Для получения пространственночастотного фильтра (ПЧФ) на негатив.ном фотоматериале в спектральнойплоскости КОУ регистрируют изображение спектра исследуемого изображения,25который и будет инверсно согласовансо спектром ПЧФ,Полученное таким образом...
Дистанционный теневой визуализатор плотностных неоднородностей жидких сред
Номер патента: 1182344
Опубликовано: 30.09.1985
МПК: G01N 21/17
Метки: визуализатор, дистанционный, жидких, неоднородностей, плотностных, сред, теневой
...работает следующим образом.Изображение источника 1 излучения конденсором 2 проектируется в плоскость зеркального ножа 3. Световой пучок, сформированный головным объективом 4, через иллюмиЭ 5 натор 5 поступает в анализируемый объем исследуемой среды и, отразившись от зеркала 6, возвращается в плоскость зеркального ножа 3. При40 наличии в анализируемом объеме плотностных неоднородностей световой пучок деформируется, часть его попадает на зеркальную кромку ножа 3 и, отразившись от нее через проек-. ционный объектив 7 поступает на светоделительную пластину 8, откуда, частично отразившись, попадает на фотокатод телевизионной камеры 9, остальная часть светового потока поступает на фотоприемник 14. С целью оценки чувствительности...
Способ определения параметров неоднородностей электронной концентрации ионосферы
Номер патента: 1182355
Опубликовано: 30.09.1985
Авторы: Гритчин, Дорохов, Пивен, Сомов, Федоренко
МПК: G01N 22/00
Метки: ионосферы, концентрации, неоднородностей, параметров, электронной
...зави симости флуктуаций амплитуд принятых . сигналов с выбранной задержкой по отношению к излученному импульсу, которая соответствует выбранной высоте рассеяния, и вычисляют горизонтальный 50 размер неоднородностей электронной концентрации ионосферы, зондирующие высокочастотные импульсы излучают на нескольких частотах, затем для каждой из них находят среднюю по време ни энергию (е)2 рассеянной составляющей принятого сигнала с выбранной задержкой по формулеПри выводе этой формулы учтено, что в.реальных условиях 9 - (Г) = сопяТ,г1 19- или 8 в . При помощи уравнег1 О ния (15) определяются величины 1 и 1 . Таким образом, для выбранной задержки (высоты) принятого сигнала по частоте Г , соответствующей максимуму зависимости Ез(Е), при...
Устройство для контроля неоднородностей планарного оптического волновода
Номер патента: 1190331
Опубликовано: 07.11.1985
Авторы: Голубков, Евтихиев, Иванов, Папуловский
МПК: G02B 6/10
Метки: волновода, неоднородностей, оптического, планарного
...лазер 1, коллиматор 2, разделитель 3 лазерного излучения, трехгранную призму 4, прозрачную пластину 5. Позицией 6 обозначен контролируемый планарный оптический волновод. 15Коллиматор 2 выполнен, например, из цилиндрических линз. Разделитель 3 выполнен, например, в виде ряда точечных диафрагм или в виде голографической пластины. В последнем 20 случае на голографическую пластину записывается толстослойная голограмма точечных источников, расположенных регулярно ь один ряд. Тогда при падении на нее излучения лазера ви димого диапазона и в случае применения электрооптического преобразователя и невидимого диапазона будет восстанавливаться вторичное излучение в виде ряда источников коллимированного излучения.Призма 4 имеет коэффициент...
Способ определения параметров неоднородностей электронной концентрации ионосферы
Номер патента: 1191793
Опубликовано: 15.11.1985
Автор: Федоренко
МПК: G01N 22/00
Метки: ионосферы, концентрации, неоднородностей, параметров, электронной
...определяется Е,/.Величина р вычисляется из уравнения, СРЕДНЕЕ ЗНаЧЕНИЕ и Срат флуктуаций амнятого сигнала;модифицированныеБесселя первого роди первого порядков.а Щ сязана с параметазмы и параметрамим СООтНОШЕнИЕм: Рг ( ) 2 5/21 12 офсйф 02 Средняя интенородностей;высота их расположен действительная и мним коэффициента прел ДЕНиЕ ДИагРамМ НаПРавЛЕнНОСти пО мощности передающей и приемной антенн) при и,г радиус корреляциии флуктуаций амплитуд наземной дифракционной картины при а . т, дл ительность высокочастотныхимпульсов;1, 1, горизонтальный и вертикальный радиусы корреляции флук туаций неоднородностей электронной концентрации ионосферы,горизонтальный 1 вертикальный 1, размеры неоднородностей электронной концентрации определяются по...
Способ определения неоднородностей горных пород
Номер патента: 1234627
Опубликовано: 30.05.1986
Авторы: Гурвич, Огородникова
МПК: E21C 39/00
Метки: горных, неоднородностей, пород
...акустического параметра,полученная на флюидоиасыщенных образцах в момент подъема керна на поверхность является начальным значениемакустического параметра АП, необ"ходимым для расчета предлагаемогопараметра. Затем образцы помещают вусловия, способствующие интенсивномуиспарению свободной влаги зимойпереносятся в помещение будки, вагончика или станции, где с помощью калорифера поддерживается необходимаяположительная температура и помещаются под вентилятор; летом - в жарких районах могут оставляться в природных условиях. Несколько раз проводят повторное акустическое прозвучивание образцов до получения сгабильного значения акустического параметра АП , (стабильньм считается значение, не меняющееся в течение примерно 45 мин). По...
Способ количественного исследования пространственных неоднородностей
Номер патента: 1247726
Опубликовано: 30.07.1986
Авторы: Гайда, Платонов, Пулькин, Спорник
МПК: G01N 21/41
Метки: исследования, количественного, неоднородностей, пространственных
...с двух взаимно перпендикулярных направлений. Таким образом, в плоскость фоторегистрации записываются проекции траекторий лучей х(г) и у(г). Ввиду того, что из-за увеличения рефракции атомов или ионов отклонение траектории лучей можно довести до нескольких градусов дажедля очень сЛабых неоднородностей при приближении длины волны просвечивающего излучения длине волны, соответствующей центру линии поглощения, что.достигается, например, при использованин излучения от лазеров на краси- телях с перестраиваемой длиной волны излучения, проекции траекторий лучей х(я) и у(г) координируются 25 30 35 40 45 50 55 с большой степенью точности. Решениеуравнения каждого луча, преобразованного к системе уравненийЖт"д-Ьн. - " Ь ),где х(г). и...
Устройство для визуализации сечений неоднородностей
Номер патента: 1269076
Опубликовано: 07.11.1986
МПК: G02B 27/50
Метки: визуализации, неоднородностей, сечений
...пучок, сформированный осветительной системой, последователь-но проходит узел 5 трех нитей 6, исследуемую неоднородность, отражаетсяот зеркала 7 и еще раз проходит через исследуемую неоднородность. Светящееся рассеянным светом сечениенеоднородности фотографируется фоторегистратором 8.Совмещение оси вращения зеркала3 с плоскостью этого зеркала и с фокальной плоскостью объектива 4 автоматически обеспечивает параллельноесмещение световой плоскости при вращении зеркала 3. Совмещение фокальных 25 плоскостей цилиндрической линзы 2и объектива 4 обеспечивает коллимирование плоского светового пучка поширине. Пересечение плоским коллимированным по ширине световым пучкомнитей 6 приводит к образованию трехреперных теней в виде прямых...
Способ выявления геологических неоднородностей
Номер патента: 1278752
Опубликовано: 23.12.1986
Авторы: Матюшечкин, Новгородцева, Прахин, Умрихин
МПК: G01N 3/02
Метки: выявления, геологических, неоднородностей
...Включают генератор и устанавливают н цепи точечных 4 и 5 илинейных 6 и 7 электродов одинаковуюсилу тока, При этом обеспечиваетсяконцентрация силовых линий поля точечых электродов 4 и 5 н центральнойчасти выработок 1 и 2 выемочногостолба и в направлении к измерительному профилю (второй выработке 2),так как силовые линииполя линейныхэлектродов 6 и 7 препятствуют распространению силовых линий поля точечных источников в сторону первойвыработки 1, благодаря чему обеспечивается повышение градиента потенциала от точечных электродов 4 и 5на всей длине измерительного профиля на величину, создаваемую полемлинейных электродов 6 и 7.В зависимости от размеров выемочного столба и условий заземления нгорной выработке размер линейныхэлектродов 6 и 7 и...
Способ определения края слабопроводящих геоэлектрических неоднородностей
Номер патента: 1278756
Опубликовано: 23.12.1986
Авторы: Горюнов, Куликов, Шемякин, Яковлев
МПК: G01V 3/18
Метки: геоэлектрических, края, неоднородностей, слабопроводящих
...и предназначено для определения края пластообразных слабопроводящих или непроводящих геоэлектрических неоднородностей типа залежейнефти, газа путем измерения на поверхности земли поля вертикальногодиполя, погруженного в скважину.Цель изобретения - повышение точности и расширение области применения,СпосОб реализуется следующим образом,Выбирают две вскрывшие неоднородность скважины, находящиеся одна отдругой на расстоянии, большем глубины залегания неоднородностей. В однуиз скважин погружают дипольный источник фиксированной длины так, чтоодин из питающих электродов находится непосредственно под неоднородностью, а другой - над ней. Возбуждают низкочастотное электрическое поле фиксированной частоты и по профилю, проходящему,...
Способ определения параметров локальных неоднородностей в межскважинном пространстве верхней части геологического разреза
Номер патента: 1285423
Опубликовано: 23.01.1987
МПК: G01V 11/00
Метки: верхней, геологического, локальных, межскважинном, неоднородностей, параметров, пространстве, разреза, части
...определяют значения 6,1, средняя квадратическая величина которых не должна превышать +0,35 х 10 м/с (точность гравиметрической ф 5 съемки М 1;50000) . Далее на изучаемой площади, начиная от свода глубинной структуры, намечают равностороннюю треугольную сеть - скважину, Количество скважин для статистики 50 должно быть не меньше 11, что предопределяет с учетом масштаба конкретную величину исследуемой площади. Для вычисления фоновых и локальных аномалий в условиях рассматривае-, мой площади, сОгласно требованиям предлагаемого способа, достаточно иметь семь скважин, По результатам исследования этих скважин определяют параметры геологического строения верхней части разреза.Составляют приближенную модель геологического строения верхней...
Способ фоторегистрации оптических неоднородностей в оптически прозрачной среде и устройство для его осуществления
Номер патента: 1091709
Опубликовано: 30.04.1987
МПК: G01N 21/85, G01T 5/02
Метки: неоднородностей, оптически, оптических, прозрачной, среде, фоторегистрации
...опять происхо-, дит разделение падающего светового потока на два: отраженный, хроматическая окраска которого соответствует 5 О зоне отражения светоотражающего покрытия второй поверхности, и проходящий, хроматический спектр которого имеет пройалы, соответствующиехроматическим зонам отражения покрытий 55 двух первых поверхностей., Процесс разделения на хроматические подпотоки продолжается до попадания светового потока на последнюю светоотражающую 7094поверхность. Одновременно очереднойхроматический подпоток проходит путьна удвоенное расстояние между соседними зеркалами больший, чем предшествующий. Таким образом, одновременнопроизводится разделение световогопотока на хроматические подпотокии вносится в каждый подпоток дополнительная...
Устройство для визуализации фазовых неоднородностей
Номер патента: 1312513
Опубликовано: 23.05.1987
Автор: Махмутов
МПК: G02B 27/50
Метки: визуализации, неоднородностей, фазовых
...в интерФерометре светоделенных пучков совмещены, а фильтр 15 пространственных частот установлен в точке общего Фокуса, В первом и втором варианте исполнения фильтры 10 и 13 размещены вблизи граней призмы 7, фильтры 1 О, 13 и 15 установлены с возможностью перемещения вдоль оптической оси и в своей плоскости, а зеркала 8 и 9 с возможностью уГловых подвижек. Устройство работает следующим образомКоллимированный световой поток, прошедший неоцнородность 16, направляется системой прямого фурье-преоб-, разования в визуализирующую систему 6, Сходящийся световой пучок светоделительной гранью призмы 7 делится на два пучка 12 и 4, которые зеркалами 8 и 9 вновь направляются на светоделйтельную грань призмы 7, За призмой 7 происходит...
Устройство для определения неоднородностей за стенкой скважины
Номер патента: 1317110
Опубликовано: 15.06.1987
Авторы: Кашик, Кривоносов
МПК: E21B 47/00
Метки: неоднородностей, скважины, стенкой
...в каждом цикле измерения сигналов матричных электродов пропорционален линейным размерам минимальной группы измерительных электродов, образован ных матрицей.Выполнение башмака 8 из изоляционного материала и расположение на нем ячеек с измерительными электродами 7 в виде матрицы, группирование измери тельных электродовс помощью изолированных шин 10 позволяет обеспечить изменение глубины исследования, в том числе меньшей, чем радиус исследования башмака в известных устрой ствах при одинаковых размерах башмаков и количестве измерительных электродов. Для оптимизации режимов работы устройства частоты Г коммутирования электродов матрицы выбирается из со- ЗО отношенияУ=Р.ш п Ь,где Р - количество изолированных шин 10; 35 ш - количество строк...