Архив за 1986 год

Страница 535

Способ радиометрического гамма-гамма-метода контроля свойств композиционного материала

Загрузка...

Номер патента: 1223103

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Горшков, Лязгин

МПК: G01N 23/20

Метки: гамма-гамма-метода, композиционного, радиометрического, свойств

...коэффициенты затухания для каждого угла падения гамма-излучения.При пропитке бетона, представляющего собою пористую структуру, происходит заполнение пор полимерными материалами (стирол, эпоксистирол, метилметакрилат и т.п.). Таким образом, определение глубины пропитки есть определение границы между более плотным и менее плотным бетонами. На фиг. 2 приведены зависимости Б/И от 11 для различных глубин Н пропитки бетона. Чем на большую глубину пропитан бетон, тем % больше. Однако с увеличением глубины пропитки Н более 5-6 см имеются совпадения значений коэффициента затухания 3 с предыдущим его значением, что видно иэ типичных зависимостей Ъ от Н (фиг. 3). Для устранения неоднозначностей в определении глубины пропитки измерение...

Способ кососимметричных съемок в рентгеновской трансмиссионный топографии

Загрузка...

Номер патента: 1223104

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Белоцкая, Охрименко, Тихонов, Харькова

МПК: G01N 23/20

Метки: кососимметричных, рентгеновской, съемок, топографии, трансмиссионный

...от системы плоскостей .(202) так, что плоскость дифракции (плоскость, содержащая прямой В и дифрагированный Влучи) составляет с нормальюо к поверхности кристалла угол Ф =30 производят предварительную ориентировку кристалла, при которой нормаль его поверхности И (111) и нормаль отражающей плоскости и устанав- ливают в плоскость, содержащую ось гониометра и перпендикулярную штриху фокуса (полюсная фигура кристалла с нанесенными на ней положением плоскости дифракции (и- , В, В)702 ф относительно нормали поверхности кристалла Б) и выводят плоскость (202) в брэгговское положение тремя последовательными поворотами крисг талла, один из которых 4= - осу 2 ществляют вокруг нормали поверхности кристалла Б, при этом иустанавливают...

Камера для рентгеноструктурного анализа поликристаллов

Загрузка...

Номер патента: 1223105

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Колеров, Логвинов, Скрябин, Юшин

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, камера, поликристаллов, рентгеноструктурного

...крышкой 13, Рентгеновскаяпленка 14 прижимается двумя половинками прижима 15 к вертикальным буртикам крышек кассеты, Ось поворотакассеты 16 жестко соединена с основанием через пластины 17 и 18 ивставки 19 и 20, на ней же фиксируется лимб 21 прижимом 22, стрелка.23 закреплена на верхней крышкекассеты. Диафрагмы 24 и 25, формирующие первичный пучок, установленыв горизонтальном отверстии оси поворота кассеты. В пазах плиты и основания расположена штанга 26 с цапфой27 и крестовиной 28, вертикальнаяось цапфы совпадает с осью держателя образцов, а вертикальная ось крестовины с осью поворота кассеты. 50Для контроля линейного перемещениядержателя образцов предусмотрена линейка 29, установленная на основании, нониус 30; связанный с...

Дилатометр

Загрузка...

Номер патента: 1223106

Опубликовано: 07.04.1986

Автор: Евсюков

МПК: G01N 25/16

Метки: дилатометр

...регистратора 6 температуры используется потенциометрический уравновешенный мост с временем пробега короткой шкалы за 1 с, что позволяет регистрировать скорости охлаждения образца до 300-500 град/с. Подвижный контакт следящего потенциометра моста 5 10 5 20 25 30 35 40 45 жестко связан устройством индикации. Одновременно следящий потенциометр включен в плечо измерительного моста 7, т.е, перемещение подвижного контакта по реохорду потенциометра приводит к появлению сигнала на диагонали измерительного моста 7, пропорционального температуре образца при всех скоростях охлаждения, что обеспечивает одинаковую степень компенсации теплового расширения образца как в интервале температур фазового превращения, так и при последующем охлаждении....

Преобразователь деформаций для поляризационно-оптических дилатометров

Загрузка...

Номер патента: 1223107

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Гинзбург, Дроздель

МПК: G01N 25/16

Метки: деформаций, дилатометров, поляризационно-оптических

...0 1223107где Ау - изменение величины двойного лучепреломления;Т - изменение температуры;с - опсический коэффициент на 5 пряжений стекла;С - толщина стеклянной пластинки;Ос - ТКЛР стекла;К - ТКЛР металла;к - коэффициент пропорциональности,Коэффициент пропорциональностик может быть определен из.выраженияс15ЬЕс(1 р)где р - коэффициент Пуассона (принят одинаковым для стекла иметалла);Е - модуль Юнга стекла;Е, - модуль Юнга металла;Ь - ширина стекла в преобразователе;й - диаметр проволоки.Если известен ТКЛР одного из материалов, из которых изготовленпреобразователь деформаций (стеклаили металла), то, измеряя двойноелучепреломление в стекле преобразоЗ 0 вателя в зависимости от температуры,можно, по приведенным формулам, легко определить...

Способ определения коэффициента температуропроводности частично прозрачных материалов

Загрузка...

Номер патента: 1223108

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Сергеев, Тютюнник

МПК: G01N 25/18

Метки: коэффициента, прозрачных, температуропроводности, частично

...платинородий в платинородиевых ПП 30/6 термопар. Дно контейнера является горячей границей образца. Верхняя (холодная) границаобразца образуется приводимой с нимв тепловой контакт платиновой крышкойконтейнера диаметром 76 и толщиной0,5 мм, по образующей которой приварена цилиндрическая платиновая стенка толщиной 0,05 и высотой 1,8 мм.Толщина образца определяется погруженными в расплав тремя алундовымиопорами, выполненными в виде трубокс осевыми прорезями внутренним диаметром 4, толщиной стенки 0,2 и высотой 5,6 мм, оси которых расположеныперпендикулярно плоскости дна контейнера, на удалении от оси контейнера с.радиусом 30 мм. К крышке контейнера состороны, противоположной от образца,приварены контактной сваркой королекизмерительной...

Устройство для определения теплофизических свойств материалов

Загрузка...

Номер патента: 1223109

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Дупак, Калядин, Левченко

МПК: G01N 25/18

Метки: свойств, теплофизических

...возможное значение коэффициента температуропровоцности выбранного класса1исследуемых материалов;- времяпроведения измерения, с плоскойповерхностью 6 исследуемого материала 7, Подвод энергии источникомэнергии - нагревателем в виде кругак части поверхности контакта исследуемого материала вызывает нагревисследуемой поверхности, регистрируемый измерителем температуры. Вычисление искомых параметров осуществляется по мощности нагревателя и поизмеренной температуре для двух кратных различных между собой периодоввремени, преобразованных аналогоцифровым преобразователем в соответствующие по количеству дискретныесигналы, поступающие.в микрокалькулятор, хранящий в оперативной памятипрограмму, составленную по зависимости температуры от критерия...

Способ определения температуропроводности жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1223110

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Епифанов, Пономарев, Семьянинов, Шуваев

МПК: G01N 25/18

Метки: жидкости, температуропроводности

...тельной трубки и температуру стенки трубки й на теплообменном участке.По сигналам термопар 8-13 определяют значение отношения разностейвых - стемператур 0 = ----- . Если. Свх- сфактическое значение отношения рази Сах Сс ностеи температур 9 = аФ- ---вх с а=1 с 8,где а - температуропроводность жидкости, м/с;я - расход исследуемой жидкости,м /с, через измерительную трубку при заданном постоянном значении отношения разностей температур щ с д "вх 1 с ф постоянный коэффициент, зависящийот заданного постоянного значения отношения разностейтемператур1 вых Сс Яи длины измерительнойтрубки 2 т, мх известная математическая функция; вхх выхс соответственно температуры исследуемой жидкости навходе и на выходе отличается от заданного постоянного...

Устройство для измерения теплофизических характеристик образцов

Загрузка...

Номер патента: 1223111

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Аверсон, Борисов

МПК: G01N 25/18

Метки: образцов, теплофизических, характеристик

...в местеконтактирования с холодильником,другой в месте контактирования с образцом. Система нагреватель - образец - теплоприемник - холодильниксоставляет основу обычного при измерениях коэффициента теплопроводностистационарным методом плоского прибора.К нагревателю предъявляется требование малоинерционности, поэтому ондолжен быть выполнен с достаточнохорошим теплоотводом и малой теплоемкостью. В качестве периодомера возможно использование электронного илиручного секундомера Во втором случаеизмерение проводится по сигнальнойлампочке или прибору, включенному квыходу нуль-органа либо параллельнонагревателю. С целью уменьшения погрешностей теплоприемник может бытьснабжен охранным нагревателем, а всятеплоизмерительная цепь: нагреватель...

Психрометрический преобразователь

Загрузка...

Номер патента: 1223112

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Ефременков, Прокофьев, Средняков, Тюкин

МПК: G01N 25/62

Метки: психрометрический

...по замкнутому контуру с накопителем 3 влаги.Конденсатор 4 влаги снабжен патруб,ками 6 и 7 подвода и отвода хладагента и демпфирующими экранами 8с дискретным перекрытием коническойповерхности 9 конденсатора 4. Экран 8выполненный в виде коробчатых секторов,и поверхность 9 конденсатора 4 образуютполость 10, которая сообщена с внешней средой и накопителем 3 влаги.Экраны 8 установлены по радиальнымобразующим боковых стенок конденсатора,Преобразователь работает следующим образом.Преобразователь помещают в измеряемый влажный поток с произвольнойвеличиной скорости в любом пространственном положении, Хладагент поступает по патрубку 6 через конденсатор 23112 24 влаги и охлаждает его, Сконденсировавшиеся в любой части конденсатора капли...

Гигрометр точки росы

Загрузка...

Номер патента: 1223113

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Болотов, Репетов, Синий

МПК: G01N 25/68

Метки: гигрометр, росы, точки

...измерения начинается с включения охладителя 3, Слой воздуха у поверхности пленки ионизирован, так 5 1 О 15 20 25 30 35 40 45 50 55 как источник ионизирующего излучения расположен на этой поверхности на расстоянии длины свободного пробега и-частиц. С включением охладителя 3 температура слоя ионизованного воздуха достигает температуры точки росы, и на ионах образуется конденсат, который вызывает уменьшение величины светового потока, поступающего в фотоприемник 5 с источника 6 света. Это приводит к уменьшению фототока в фотомосте 9 и к его разбалансу - в, измерительной диагонале фотомоста 9 появляется ток, С понижением температуры возникает разность температур термочувствительных элементов 7 и 8, первый из которых отмечает температуру...

Измеритель электропроводности слабопроводящих сред

Загрузка...

Номер патента: 1223114

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Воднев, Романков

МПК: G01N 27/04

Метки: измеритель, слабопроводящих, сред, электропроводности

...7 частотой с преобразователя 4 равно: где Т - .период частоты с преобразователя датчика образцовой среды;Ь - емкость кольцевого счетчика.Число импульсов с преобразователя 3, которое запишется за это время в реверсивный счетчик 8 по входу прямого счета, равно где Тц " период частоты с преобразователя 3.По окончании заполнения на выходе счетчика 7 появляется импульс, которым счетчик сбрасывается в исходное состояние и устройство управления переходит в следующее состояние, при котором уровень логической "1" устанавливается по его второму выходу,Во втором такте импульсы с преобразователя 3 через ключ 5 поступают на вход кольцевого счетчика 7. Импуль сы с преобразователя 4 через скоммутированный ключ 6 поступают на вход обратного счета...

Способ измерения параметров электропроводящей среды и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1223115

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Бокулев, Ергин, Костыря, Туренко

МПК: G01N 27/06

Метки: параметров, среды, электропроводящей

...9 электропроводности подключен к электродам4 и 6, а выполненный в виде формирователя .8 пульсаций калибратор - кэлектродам 5 и 6. Площади электродов5 и 6 в 100 и более раз превышают площадьэлектрода 4, Калибратор содержитделитель,из сопротивлений 10 и 11,выполненный по Г-образной схеме, навход которого подсоединен ключ 12,управляемый от импульсного генератора 13. Ключ 12 закорачивает сопротивление 11 и сопротивление формирователя пульсации меняется от К, дою+ КнИзмеритель 9 содержит последовательно соединенные генератор 14 высокой частоты, мостовую схему 15,дифференциальный детектор 16, усилитель 17 постоянного тока и вторичныйрегистрирующий прибор 18. Электроды4 и 6 через разделительный конденсатор 19 включены в одно из плеч мосто.вой...

Термохимический газоанализатор

Загрузка...

Номер патента: 1223116

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Бутырин, Марков

МПК: G01N 27/16

Метки: газоанализатор, термохимический

...две мостовые схемы, включенные в цепь питанияпоследовательно измерительную 1 икомпенсационную 2, в состав которыхв качестве плеч входят измерительный3 и компенсационный 4 термоэлементы,а постоянные резисторы соответствующих плеч имеют одинаковые сопротивления. Авторегулятор 5 установлен вцепи питания мостовых схем, усилительб включен в измерительную диагональизмерительной мостовой схемы. Выходомгазоанализатора является измерительная диагональ компенсационной мостовой схемы.Устройство работает следующимобразом,При включении питания ток через 30мостовые схемы увеличивается до значения, при котором мостовые схемыприходят в сбалансированное состояние. Компенсационная мостовая вхемаФприходит при этом в сбалансированноесостояние благодаря...

Преобразователь влажности газов

Загрузка...

Номер патента: 1223117

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Алексеев, Ветров, Зыков, Катушкин, Саморуков

МПК: G01N 27/22

Метки: влажности, газов

...преобраэова тель, общий вид; на фиг. 2 - то же, вид сверху. На изолирующей подложке 1, например, из кварцевого стекла расположен нижний металлический электрод 2 в виде решетки. Электрод закрыт сверху плотным слоем диэлектрика 3, например, в виде окислов 810, А 10 з, Бхай или В Виде чередующихся плотных слоев из этих материаловВнешняя поверхность этого диэлектрика покрыта металлическим слоем, образующим верхний электрод 4, форма которого в точности повторяет форму нижнего электрода, а элементы верхнего электрода находятся над аналогичными элементами нижнего электрода. Участки между соседними элементами одноименных электродов заполнены диэлектриком 5 с пористой структурой, например в виде полученных при соответствующем...

Емкостной датчик-зонд

Загрузка...

Номер патента: 1223118

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Бандзеладзе, Маруашвили, Ребарбар, Романов, Сметанникова, Тевзадзе

МПК: G01N 27/22

Метки: датчик-зонд, емкостной

...погрешности, связанной с анизотропными свойствами стеблевого сырья, и увеличение 20 чувствительности за счет увеличения эффективной площади контакта поверхности датчика с сырьем.На фиг, 1 показана схема предлага емого датчика-зонда; на фиг, 2 - сечение А-А на фиг.1;на фиг,З - паковка стеблевого сырья с введенным цилиндрическим датчиком-зондом, поперечное сечение, на. фиг, 4 - изометрия датчика-зонда и вид Б, на фиг. 5 - распре деление силовых линий поля.Датчик (фиг. 1) состоит из двух общих непотенциальных электродов 1 и двух (возможно изготовление как единого целого) высокопотенциальныхкольцевых электродов 2. Последние находятся в середине между двумя общими электродами 1 и таким образом образуются две пары измерительных...

Состав мембраны ионоселективного электрода для определения палладия ( )

Загрузка...

Номер патента: 1223119

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Боровский, Гулевич, Рахманько, Седнев, Старобинец

МПК: G01N 27/30

Метки: ионоселективного, мембраны, палладия, состав, электрода

...потенциометрическом титрования анионных комплексов палладия 5 (П), и может быть использовано при анализе различных объектов в народном хозяйстве, содержащих палладий (П) например, электролитов палладирования, растворов активирования и О т.п.Цель изобретения - повышение точности определения при потенциометрическом осадительном титровании палладия (П) в виде анионного комплекса 15 в водных растворах.На чертеже приведены кривые потенциометрического титрования анионного бромидного комплекса палладия(П) сульфатом ЧАС и ИСЭ мембрана которо го пластифицирована дибутилфталатом (кривая 1), и с ИСЭ, мембрана которого пластифицирована 1-бромнафталином (кривая 2). Кривые сняты синхронно в процессе титрования в единой сис теме.Мембрану готовят...

Датчик влажности газов

Загрузка...

Номер патента: 1223120

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Вечер, Самохвал, Филимонов

МПК: G01N 27/46

Метки: влажности, газов, датчик

...комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к аналитической технике и может быть использован для определения относительной влажности газов и газовых смесей, в частности, атмосферного воздуха. 5Цель изобретения - обеспечение измерения влажности газов в диапазоне температур от -20 до 100 С,Датчик содержит электрохимическую ячейку с твердым электролитом и двумя электродами, причем твердый электролит с проводимостью по ионам гидроксо" ния НзО и/или водорода Н . В качест+ +ве электродов применены металлические сетки, платинированные и покрытые платиновой чернью, расход платины составляет 1 мг/см поверхности...

Электролит для изучения термодинамических свойств сплавов натрия в твердом состоянии

Загрузка...

Номер патента: 1223121

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Клебанов, Морачевский, Шестеркина

МПК: G01N 27/46

Метки: изучения, натрия, свойств, состоянии, сплавов, твердом, термодинамических, электролит

...РЬ,Сд, 25Те, БЪ и др., поскольку температураплавления электролита ниже, чем температура плавления чистых металлови их сплавов с натрием в бедной натрием области составов. Выбранное соот ношение ингредиентов позволяет получить электролиты в виде однородныхрасплавов, имеющих температуру плавления 500-505 К, Отклонение от составов ингредиентов приводит к повьппению З 5температуры плавления и делает электролиты непригодными для исследованиятермодинамических свойств сплавов натрия в твердом состоянии,Электролиты испытывают при исследовании термодинамических свойствсплавов натрия с сурьмой и натрияс теллуром в твердом состоянии методом ЭДС.П р и м е р 1, Готовят электролит, 45представляющий собой расплавленнуюсмесь соединений натрия: нитрат...

Способ кислотно-основного потенциометрического титрования

Загрузка...

Номер патента: 1223122

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Альбицкий, Бровко, Егорова, Карманова, Никишова, Полищук

МПК: G01N 27/46

Метки: кислотно-основного, потенциометрического, титрования

...Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 1 1223Изобретение относится к области аналитической химии и может быть использовано для контроля процесса синтеза фторидов щелочных металлов.Целью изобретения является расши рение области применения способа путем обеспечения воэможности проведения титрования в присутствии фторид ионов.П р и м е р. В реактор загружают 10 фтористоводородную кислоту с концентрацией 54,8 Х и вводят гидроксид калия. В реактор помещают электроды Рй и Ая в виде проволоки диаметром 1,5 мм. В качестве вторичного прибора применяют лабораторный рН-метр типа рНи цифровой вольтметр типа Щ 68000.Синтез проводят...

Способ прямого потенциометрического определения концентрации органических веществ

Загрузка...

Номер патента: 1223123

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Дугин, Писаревский, Полозова, Шигаева

МПК: G01N 27/46

Метки: веществ, концентрации, органических, потенциометрического, прямого

...и на измерительном щ приборе отсчитывается величина ЗДС(Е,); в ячейку вводится проба и на регистрирующем приборе отмечается новое значение ЗДС (Е ) или ход ее изменения; по величине Е, -Е=дЕ проводится расчет концентраций органических веществ в пробе по формуле,УЬ + аность)дЕ 50 где у = апх 1 оя и соответственно концентрации Се(17) и Се(111) в исходном электролите; Е и Е значения ЭДС гальванического элемента соответственно до начала и по окон чании реакции.с органическим веществом; й -коэффициент разбавления (при анализе твердых веществ 6 =1) .Таблица Вещество Концентрация анализируемого вещества, н. Взято Щавелеваякислота 0,0125 0,0375 0,0125 0,0375 Виннаякислота 0,0125 0,0375 0,0125 0,0375 Аскорбиноваякислота 0,0375 0,0372 0,0370...

Способ косвенного осциллополярографического определения кальция и магния при их совместном присутствии

Загрузка...

Номер патента: 1223124

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Ватаман, Мерян

МПК: G01N 27/48

Метки: кальция, косвенного, магния, осциллополярографического, присутствии, совместном

...колбу вместимостью 25 мл вводят. 1,5 мл 5 10 М раствора хлорида кадмия с 1,5 мл 5 10 М раствора ЭДТА;5 мл 5 М раствора иодида аммония;1,25 мл 110 М раствора хлорида кальция; 1,25 мл 1 10" М раствора хлорида магния и боратный буферный раствор рН 10,5 до метки, перемешивают.Приготовленный раствор переносят в трехэлектродную полярографическую ячейку и удаляют растворенный кислород продуванием водорода в течение 5 мин. Индикаторным электродом служит ртутный капающий с периодом капания 7 с, электродом сравнения - насыщенный каломельный, а вспомогательным 30 электродом - ртутное дно. Осциллополярограмму регистрируют на полярографе ПОв следующем режиме: начальный потенциал поляризации - 0,75 В, скорость поляризации 1 В/с, задержка 5 с,...

Способ инверсионно-вольтамперометрического определения гадолиния

Загрузка...

Номер патента: 1223125

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Дубова, Заичко, Каплин

МПК: G01N 27/48

Метки: гадолиния, инверсионно-вольтамперометрического

...и от1 5, Раушская Подпета СССрытий о д. 4/5 1303"Патент", г.ужгород, ул.Проектная, 4 л Изобретение относится к областианалитической химии, а именно к анализу объектов методом инверсионнойвольтамперометрии, и может быть использовано для определения микроконцентраций гадолиния в нелегированйых и легированных гадолинием люминофорах, магнитных полупроводниках,материалах для квантовой электроникии сверхпроводящих материалах и специальных технологических средах.Целью изобретения являетсяснижение границы определяемых содержаний,На чертеже представлен градуированный график в интервале концентраций гадолиния в растворе 610 9 -2,710г/мл.П р и м е р. Объект, содержащийгадолиний, после соответствующейхимической обработки переносят в кварцевый...

Устройство для измерения электропроводности материалов (его варианты)

Загрузка...

Номер патента: 1223126

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Головко, Злочистый, Петровский, Спорышева, Яковлева

МПК: G01N 27/72

Метки: варианты, его, электропроводности

...Устройство работает следующим образом,При протекании тока в обмотке 2в магнитопроводе 1 создается переменный магнитный поток, индуцирующийв образце 11 замкнутые токи проводимости, Сначала в отсутствие образца 11 осуществляют компенсацию выходного сигнала, измеряемого прибором 16, посредством подачи тока в обмотку 5 цепи 4, изменения номиналоврезисторов 6 и конденсатора 7. Привнесении образца в прорезь 10 (фиг.13) или в спираль 15 магнитопровода 1(фиг,4) токи проводимости в образце 11 создают в магнитопроводе 1 дополнительный магнитный поток, направленный встречно основному, которыйнарушает условие компенсации и приводит к появлению ЭДС в обмотке 3.В устройстве, изображенном нафиг. 5, изменение тока в образце 11регистрируется...

Способ определения концентрации электролитов и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1223127

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Кривогубченко, Маликов, Севастьянов, Серебров, Скидан, Юдин

МПК: G01N 27/72

Метки: концентрации, электролитов

...соответствии с полученным значением проводимости, двухвходовый функциональный преобразователь 6 в соответствии с зависимостью2(2)9 р,боптимальное значениечастоты и глубины про(22)11 ссВыражения (16), (22) и (3) позволяют последовательно определить про 1 Оводимость среды, глубину проникновения в нее электромагнитных колебаний и (при заданной глубине) концентрацию электролита.Предлагаемое изобретение позволяет получить наибольшую чувствитель 15ность к контролируемому параметру,что обусловлено поддержанием постоянной глубины проникновения электромагнитного поля в контролируемую20среду, независимо от изменения концентрации контролируемой среды, используемой в качестве конструктивного элемента измерительной ячейки,выполненной в виде...

Устройство для измерения удельной электрической проводимости немагнитных металлов

Загрузка...

Номер патента: 1223128

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Арбузов, Беликов, Коровяков, Федосенко

МПК: G01N 27/90

Метки: металлов, немагнитных, проводимости, удельной, электрической

...током от генератора 1 и спомощью фаэовращателя 4 и измерителя3 разности потенциалов фаэ производят измерение фазы вносимого напряжения, которая несет информацию обудельной электрической проводимостиосновы. В то же время фаэовращатель 128 14 задает опорное напряжение для АФД 8, выходной сигнал которого пропорционален величине Асов , где А - амплитуда сигнала, 1 - фаза вносимого напряжения. АД 9 выделяет сигнал, пропорциональный амплитуде вектора вносимого напряжения. В сумматоре 10 происходит алгебраическое сложение сигналов с АД 9 и с АФД 8 с последующим формированием результата сложения в ЛУ 13, В ЛУ 11 происходят логарифмирование сигнала, снимаемого с выхода АД 9, и умножение результата логарифмирования на 2.Сигналы с ЛУ 13 и с...

Вихретоковый преобразователь

Загрузка...

Номер патента: 1223129

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Бабушкин, Белых, Кувшинов, Пахтин

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретоковый

...преобразователь работает следующим образом.Предварительно строится годограф вектора напряжения измерительной обмотки 4 в зависимости от электропроводности материала контролируемой 1 О 15 20 25 30 35 Т детали при а 0,2 и б = 5, результирукиций вектор ОА при определенных положениях вектора напряжения компенсационной обмотки, начальная амплитуда и положение которого выставляются фазосдвигающей цепочкой, включенной н схему прибора, не меняет своей фазы. Это позволяет исключить влияние изменения электрической проводимости материала контролируе" мой детали на точность измерения.При изменении толщины детали вектор напряжения компенсационной обмот" ки не меняет своего положения и не оказывает влияние на положение нектора...

Устройство для неразрушающего контроля материалов и изделий цилиндрической формы

Загрузка...

Номер патента: 1223130

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Рубанов, Силкин

МПК: G01N 27/90

Метки: неразрушающего, формы, цилиндрической

...автоматически управляемогодлительностью генератора 5 пилообразного напряжения, усилитель 6 вертикального отклонения, модуляционныйдефектоскоп 7, усилитель 8 горизонтального отклонения, ЭЛТ 9 и катушку10 синхронизации, датчики 11 и 12продольного и поперечного положенийсоответственно,Устройство работает следующим образом.При вращении вала механизма 1 сканирования импульсы с катушки 10 синхронизации поступают на триггер 3,формирующий импульсы, необходимые длязапуска генератора 5 пилообразногонапряжения. Одновременно импульсысинхронизации поступают на устройство автоматического управления разверткой осциллографического индикатора, состоящее из формирователя 2 строб-импульсов, вырабатывающего импульсы одной и той же длительности и...

Устройство для неразрушающего контроля изделий

Загрузка...

Номер патента: 1223131

Опубликовано: 07.04.1986

Автор: Останин

МПК: G01N 27/90

Метки: неразрушающего

...влияние магнитной проницаемости и удельной 25 электрической проводимости основания.Так как 1Ф Г ,. радиусы обмотокпреобразователей 5 и 6 будут различны и КФ К, то О, и Ц по разномузависят от абсолютных приращений зазора и значит несут информацию отолщине покрытия, которая может бытьвыделена независимо от электромагнитных свойств основания изделия.В то же время идентичность условий 35работы каналов (сохранение для нихсоотношений с константами С, С иС ) обеспечивает одинаковую функциональную зависимость их от электромагнитных свойств изделий при широком диапазоне их изменений. Это позволяет снизить погрешность измеренийтолщины покрытия от изменений электромагнитных свойств основания, построив соответствующим образом упомянутое...

Электромагнитный дефектоскоп для контроля движущихся деталей

Загрузка...

Номер патента: 1223132

Опубликовано: 07.04.1986

Автор: Демидов

МПК: G01N 27/90

Метки: движущихся, дефектоскоп, электромагнитный

...11,сУ , где- уровень напряжения при наличии эталонной детали. С помощью регуляторов 20 и 21 напряжений подают на инвертирующие входы вычитателей 18 и 19 напряжения Б и цтаким обраозом, чтобы, были установлены пороговые уровниоП оКонтроль качества деталей осуществляют с учетом неравенства1.1 с 13 1.1П 1, С, ДШирину допустимой зоны контро -ля выбирают так , чтобы сигнал от наименьшего из выявленных дефектов 2 2 и 2 3 ( фиг . 2 ) выходил з а ширину допустимой зоны , а допустимые отклонения сигналов 24 и 25 остав а- лись в пределах этой зоны . Несовпадение сигналов 2 2 и 2 3 , а также 24 и 25, обусловлено влиянием дестабилизирующих факторов, например изменением окружающей температуры. При включении дефектоскопа в отсутствие деталей 2 в...