Пуряев
Интерферометр для контроля формы выпуклых поверхностей линз большого диаметра
Номер патента: 1059418
Опубликовано: 07.12.1983
Авторы: Горшков, Лихачев, Лозбенев, Мамонов, Пуряев, Фомин
МПК: G01B 9/02
Метки: большого, выпуклых, диаметра, интерферометр, линз, поверхностей, формы
...линзу, предназначенную для заполнения пространства между момпенсатором и неконтролируемой поверхностью линзы, и регистратор интерференционной картины, оптически.сопряженный с осветителем, снабжен оптичес.ким элементом, выполненным в виде двояковогнутой линзы с эталонными поверхностями,радиусы кривизны которых не равны друг дру.гу, компенсатор выполнен в виде двояковогнутой линзы, на одну иэ поверхностей которойнанесено отражающее покрытие, осветитель устанавливается со стороны контролируемой поверхности линзы, оптический элемент размещается между осветителем и контролируемой поверхностью линзы саосно линзе.с возможностью переворота на 180 в плоскости, проходящей через оптическую ось линзы, и ориентируется так, что обращенные друг к...
Устройство для контроля центрировки оптических систем
Номер патента: 1051402
Опубликовано: 30.10.1983
Автор: Пуряев
МПК: G01M 11/02
Метки: оптических, систем, центрировки
...схемаустройства для контроля центрировкиоптических систем; на Фиг. 2 - эквивалентная схема устройства с другойкомпоновкой элементов приэменноисистемы,Устройство для контроля центрировки оптических систем содержит источник 1 света, выполненный н виде лазера, за которым последовательно, по ходу лучей, установлены Фокусирующая линза 2, клин 3, приклеенный к зеркалу 4, центральная часть (диамет51402 3 10 ром около 0,3 мм) которого (зеркала) выполнена без покрытия и расположена около точки Фокусировки лучей от лазера, Наружная поверхность клина 3, приклеенного к зеркалу 4, перпендикулярна к оптической оси. За зеркалом 4 размещен проекционный объектив 5, фокус которого совпадает с центральной прозрачной частью зеркала 4 или несколько...
Способ измерения профиля оптических поверхностей
Номер патента: 1044969
Опубликовано: 30.09.1983
Автор: Пуряев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: оптических, поверхностей, профиля
...пучок параллельных лучей света. перпендикулярно плоскости, проходящей через измеряемый профиль по верхности, так, чтобы одна часть пучка лучей света отражалась от поверхности, а другая часть пучка лучей света проходила мимо нее, наблюдают интерференционную картину, б 5 возникающую в результате взаимодействия лучей света, отраженных от .поверхности и прошедших мимо нее, и по параметрам этой картины судят о профиле поверхности.На фиг.1 изображена принципиальная схема устройства, реализующего предлагаемый способ измерения профиля оптических поверхностей; на Фиг 2 - устройство, вид сверху на Фиг.З - схема преобразования ийтерференционной картины в случае измерения профиля сферической поверхности с радиусом В и центром С кривизны," на...
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей
Номер патента: 1026002
Опубликовано: 30.06.1983
Автор: Пуряев
МПК: G01B 9/02
Метки: выпуклых, интерферометр, поверхностей, сферических, формы
...гиперболическими с эксцентриситетами; равными показателю преломления материала двояковыпуклойлинзы, линза с эталонной поверхностьювыполнена так, что ее поверхность,обращенная к двояковыпуклой линзе,.имеет радиус кривизны, обеспечинающий минимальную сферическую аберрацию для осевого пучка лучей, аформа другой ее поверхности выполняется в соответствии с геометрической формой контролируемой поверхности,На чертеже представлена оптическаясхема интерферометра.Интерферометр для контроля формывыпуклых сферических поверхностейсодержит источник 1 монохроматического излучения и последовательнорасположенные по ходу лучей конденсор 2, светоделитель 3, объектив 4,двояковыпуклую линзу 5, обе поверхности которой выполнены гиперболи,ческимис...
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей крупногабаритных линз
Номер патента: 977942
Опубликовано: 30.11.1982
Авторы: Горшков, Лавритов, Пуряев, Фомин
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: выпуклых, интерферометр, крупногабаритных, линз, поверхностей, сферических, формы
...объектив 6, компенсатор 7, основную иммерсионную линзу 8, образованнуюжндкоетью,заполняющей простран Иство между контролируемой линзой 9 н ком-пенсатором 7,и эталонное сферическое зер. кало 10, дополнительную иммерсионную линзу 11, установленную между светоотделительным элементом 4 и компенсатором з . 7 и образованную жидкостью с показателем преломления; отличным от показателя преломления основной иммерсионной линзы 8,линзу 12 и иммерсионную камеру 13, Контролируемая линза 9 устанавливается ) 55 в верхней части иммерсионной камеры 13 таким образом, что ее контролируемая поверхность К концентрична эталонной поверхности Э эталонного сферического, зеркала 10, Линза 3.2 установлена в нижней час 40 ти имерсионной камеры 13 и в месте с...
Интерферометр для контроля формы выпуклых сферических поверхностей линз большого диаметра
Номер патента: 945642
Опубликовано: 23.07.1982
Авторы: Воронина, Горшков, Дягилева, Лазарева, Пуряев, Фомин
МПК: G01B 9/02
Метки: большого, выпуклых, диаметра, интерферометр, линз, поверхностей, сферических, формы
...4, неконтролируемую поверхность 9 линзы 7 и цадает на ееконтролируемую поверхность 8, Отраженная от контролируемой псверхности 8 линзы 7 часть пучка света представляет собой рабочий волновой фрснт, а прошедшаячерез поверхность 8 часть пучка - волот вогнутого сферического зеркала 5волновой фронт сравнения интерферируетс рабочим волновым фронтам на контролируемой поверхности 8 линзы 7 и поступает в регистратор 6 интерференционной картины. Бена ти интерференционнойполосы для данного интерферометра определяется сле дующим выражением Ритм 9 хр Выражение (1), связывающее расстояние 5 от фозуса обьектива 3 до вогнутого сферического зеркала 5 с параметрами линзы 7, получено иэ условия нормального падения лучей света на параксиальную...
Способ контроля формы поверхности крупногабаритных оптических деталей на неравноплечем лазерном интерферометре
Номер патента: 935704
Опубликовано: 15.06.1982
Авторы: Горшков, Кряхтунов, Лозбенев, Пуряев, Фомин
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: интерферометре, крупногабаритных, лазерном, неравноплечем, оптических, поверхности, формы
...покрытие), нанесенной на одну из поверхностей линз корректора (вид А наФиг. 1); на фиг. 3 , 4, 5 - изменение величины локальной деформацииволнового фронта при прохождении имрабочей ветви установки, схема которой приведена на фиг. 1,Способ реализуется следующимобразом.Создают от лазерного источникасвета с помощью оптических элемен"тов 2 интерферометра опорный (нафиг, 1 не показан)и сферическийволновой фронт 3, Преобразуют последний с помощью корректора 4 волновогофронта в асферический волновой фронт 5,форма которого, совпадает с теоретической формой контролируемой поверхности 6. При прохождении волнового фронта через оптическую систему корректора 4 его локально деформируют с помощью оптической фазовой неоднородности 7,...
Компенсатор аберраций для контроля качества оптических систем
Номер патента: 928292
Опубликовано: 15.05.1982
Авторы: Пуряев, Шандин
МПК: G02B 27/00
Метки: аберраций, качества, компенсатор, оптических, систем
...2свойства 8 го по Отношению к параксиальному изображению источника света не меняются, но он вносит раз"личны 8 величин.1 аберраций, что также испОльзуется для расшир 8 ния 8 ГОФункциональных возмойнОстей,На чертежа изображена оптицескаясх 8 ма компенсаторэ наприм 8 рприконтрол 8 двояковыпуклой линзы савтоколлимацией От плоскоЙ пов 8 рхзности с показом хода параксиальныхлуц 8 Й От точечноГО источника св 8 таНа чертеже приняты Обозначенияположительная линза компенсатора, выполненнаяр напРимеРрв ВИД 8 мениска",2 - отрицательная линза; 3 - контрОлируемая двОяковыпуклая линзаР, и Г- передний и задней ФокусыпеРВОЙ линзыр ГР и ГР пеР 8 Дний изаднии Фокусц второи линзы; А - тоцецный истОчник света; А - мнимоепараксиальн 08 изображение точ 8...
Интерферометр для контроля вогнутых сферических поверхностей
Номер патента: 920367
Опубликовано: 15.04.1982
Авторы: Лазарева, Пуряев
МПК: G01B 9/02
Метки: вогнутых, интерферометр, поверхностей, сферических
...радиускривизны поверхности линзы определяется из соотношения ьИ) а изоб ния Интерферометр для контроля вогнутых сфе.рических поверхностей, содержащий источник 1% монохроматического излучения и последовательно расположенные по ходу излучения отисточника объектив и светоделитель, на одномвыходе излучения иэ которого установленалинза, на другом - регистратор интерферен.ционной картины, о т л и ч а в щ и й с ятем, чтос целью расширения диапазона конт.ролируемых поверхностей, повышения точности и производительности контроля, линза вы.полнена менисковой неапланатической, вогну.тая поверхность линзы обращена к светодеапелю, радиус кривизны поверхности линзыопределяется из соотношенияоФ -Ф-п 1(й-Е,)Ф с 1 с линзы;ветодели с На...
Автоколлимационный способ контроля формы вогнутых асферических поверхностей крупногабаритных оптических деталей
Номер патента: 911150
Опубликовано: 07.03.1982
Авторы: Горшков, Пуряев
МПК: G01B 11/24
Метки: автоколлимационный, асферических, вогнутых, крупногабаритных, оптических, поверхностей, формы
...поверхности Э. При выполнении этого условия указанный пу" 10 чок лучей отражается от выпуклого зеркала, вновь направляется на контролируемую поверхность Э и далее в автоколлиматор . При .перемещении зеркального блока 2 в направлении 15 оптической оси автоколпиматора 1 изображение его диафрагмы в поле зрения не смещается с оптической оси в том случае, если отсутствует ошибка формы поверхности. В противном слу чае автоколлимационный ход лучей нарушается и изображение диафрагмы смещается в поле зрения , а это смещение измеряют отсчетным устройством автоколлиматора 1, например. 2 винтовым окулярным микрометром, и оп ределяют затем ошибки изготовления поверхности.При перемещении зеркального блока 2 поворачивают отражающий эле- З 0 мент...
Интерферометр для контроля выпуклых поверхностей линз большого диаметра
Номер патента: 890067
Опубликовано: 15.12.1981
Авторы: Пуряев, Шандин
МПК: G01B 9/02
Метки: большого, выпуклых, диаметра, интерферометр, линз, поверхностей
...контролируемой линзы 9,и расположенная между контролируемойлинзой 9 и компенсатором 7, выполненным с вогнутой поверхностью 10 иобращенным вогнутой поверхностью кисточнику 1 излучения, а последо 35вательно располагаемые по ходу излучения компенсатор 7, контролируемаялинза 9 и жидкостная линза 8 образуют систему с отрицательной оптическойсилой, и линзу 11, установленную с40возможностью перемещения вдоль оптической оси интерферометра между компенсатором 7 и элементом 5 разделениясветового потока на два.Интерферометр работает следующимобразом.,Излучение от источника 1 под действием элементов 2,5,7,11 и поверхности контролируемой линзы 9, контактирующей с жидкостной линзой 8, падает 0нормально на:,. контролируемую поверхность К...
Устройство для контроля центрировки оптических систем
Номер патента: 871015
Опубликовано: 07.10.1981
Автор: Пуряев
МПК: G01M 11/02
Метки: оптических, систем, центрировки
...1.Устройство состоит из источника1 монохроматического света, фокусирующей линзы 2, клина 3, приклеенного к зеркалу 4, центральная зона которого не имеет зеркального покрытияи потому свободна для хода лучей,проекционного объектива 5, прямоугольной призмы б, разделительногокубика 7 приэменной системы, разделительного кубика 8 наблюдательнойсистемы, подвижных сферических зеркал 9 и 10, объектива 11, отклоняющей призмы 12 и окуляра 13,Устройство работает следующим образом.Лучи света, сфокусированные линзой 2 в центральной зоне зеркала4. создают светящуюся точку, иэображение которой проецируется объективом 5 на исследуемую систему. Поверхности исследуемой системы последовательно создают изображения проецируемой точки лучами, отраженными...
Интерферометр для контроля качествалинз
Номер патента: 847013
Опубликовано: 15.07.1981
Автор: Пуряев
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, качествалинз
.... ",и контролируемой линз равны между собой. На чертеже представлена принципиальная схема одного из возможных варчантов интерферометра для контроля качества линз.Интерферометр содержит источ 1 света, расположенные последовно по ходу его лучей днрагму 2, светоделитель 3, компенсатор 4, эталонную линзу 5, плоскопараллельную светоделительную пластину б и регистратор 7 интерференционной картины. Пластина 6 установлена перпендикулярно оптической оси интерферометра так, что расстояния от ее светоделительной поверхности до эталонной линзы 5 )и контролируемой линзы 8 равны между собойИнтерферометр работает следующим образом.Пучок света от источника 1 проходит диафрагму 2, светоделитель 3, компенсатор 4, эталонную линзу 5 и падает на...
Компенсатор с нулевой апертурой для контроля формы поверхности астрономических зеркал крупных телескопов
Номер патента: 746232
Опубликовано: 05.07.1980
Авторы: Пуряев, Шандин
МПК: G01M 11/00
Метки: апертурой, астрономических, зеркал, компенсатор, крупных, нулевой, поверхности, телескопов, формы
...отражающей поверх.ности зеркала его теоретической форме. Подавляющее большинство компенсаторов имеют конечную апертуру, т.е. преобразуют сферический волновой фронт в асферический. Применение таких компенсаторов в интерферометрах требует использования либо объектива, создающего сферический волновой фронт, либо разделительного кубика, установленного в сходя щемся пучке лучей. Эти дополнительные элементы (объектив или кубик) вносят погрешности в результаты контроля, снижают его надежнбсть и точность.30 6;, -ч рдена Трудового Красн Ъ чилище им,Н.Э,Баумана746232 Формула изобретения Составитель В.ВанторинРедактор Е.Братчикова Техрец б. Андрейко ректор М,Вигул ак ПП "Патент", г,ужгород, ул.Проектная,4 ил мениска, причем оба мениска...
Интерферометр для контроля качества высокоапертурных вогнутых сферических поверхностей
Номер патента: 706689
Опубликовано: 30.12.1979
Авторы: Лазарева, Пуряев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: вогнутых, высокоапертурных, интерферометр, качества, поверхностей, сферических
...А,совмещенной с центром кривизны С выпуклой 20поверхности линзы 4. Поэтому лучи света падают нормально на выпуклую поверхность линзы4, частично отражаются от нее, а частично направляются к контролируемой поверхности 9, отражаются от нее и повторяют свой путь в обратном направлении, Лучи, отраженные от выпуклой поверхности линзы 4, создают эталонныйволновой фронт сравнения, а лучи, отраженныеот контролируемой поверхности 9 - анализируемый волновой фронт, При настройке интер- З 0ферометра линза б, объектив 7 и фотопленка 8выключаются из хода лучей, а глаз наблюдателярасполагается непосредственно за окуляром 5.Апланатическую линзу 4 смещают в направлении4 Гперпендикулярном к оптической оси О - О, Так З 5как величина смещения очень...
Интерферометр для контроля формы астрономических зеркал
Номер патента: 662795
Опубликовано: 15.05.1979
Авторы: Мамонов, Пуряев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 3/02 ...
Метки: астрономических, зеркал, интерферометр, формы
...Зеркало 4 исключают из хода лучей. Затем фотографируют интерференционную картину и сравнивают форму интерференционных колец с их теоретическим видом, на основе чего и делают заключение о погрешностях формы контролируемой поверхности в данкой зоне. Сопостав.ляя результаты контроля различных зон контролируемой поверхности (астрономического зеркала) делают общее заключение о правильности ее формы, т. е.о соответствии ф . действительной формы зеркала теоретической.Формула изобретения еломлен я линзы де и - показатель пр ид - ее толщина;К - абсолютное значение радиуса элоццой сферической поверхности;г - абсолютное значение вершинногорадиуса гиперболической поверхности линзы.11 а фиг, 1 изображена принципиальнаяоптическая схема предлагаемого ....
Компенсатор для контроля качества двояковыпуклых линз
Номер патента: 613280
Опубликовано: 30.06.1978
Авторы: Дягилева, Лазарева, Пуряев
МПК: G02B 27/00
Метки: двояковыпуклых, качества, компенсатор, линз
...4.При контроле менисковых линз большого диаметра плоской поверхностью известного компенсатора возможно скомпенсировать аберрации третьего и высших порядков, так как их величины незначительны. Однако известный комиснсатор совершенно неприменим 10 15 20 25 51) М. Кл.- 6 02 В 27/00линза, а радиусы Ъ гз и г поверхностей ком. понентов компенсатора связаны соотношением: 1( - (12 и - =и гзгде п - показатель преломления двояковогнутой линзы.На фиг. 1 показана конструкция компенсатора; на фиг. 2 - схема его применения в рабочей ветви интерферометра.На чертежах приняты следующие обозначения: 1 и 11 - линзы компенсатора, П 1 - контролируемая линза, 1 Ч - вспомогательнаялинза, 1 - 4 - поверхности линз, 5 - вершина 15гомоцентрического пучка лучей в...
Способ контроля формы выпуклой гиперболической поверхности оптической детали
Номер патента: 571698
Опубликовано: 05.09.1977
Авторы: Горшков, Пуряев
МПК: G01B 11/00
Метки: выпуклой, гиперболической, детали, оптической, поверхности, формы
...8опг ниипи заираж ОО 31 сДУ 2 дписно,1Е -1 Ь- . (5)2 п 3 Ь -1 от плоской поверхности линзы,При выполнении этих условий достигается автоколлимационное отражение лучей от плоской поверхности подученной системы.На чертеже представлена принципиальная схема, поясняющая предлагаемый способ.Схема содержит контролируемую линзу 1 с контролируемой гиперболической поверх.- ностью 2, дополнительную линзу 3 и нож 4. Буквами Л и Л обозначены соответственно точечный источник света и его,автоколдимационцое изображение.15Если параметры системы и положение исто п 1 нка света удовлетворяют приведенным соотношениям, то после отражения от гинерболической поверхности лучи света идут параллельно оси и падают перпендикулярно на плоскую поверхность линзы 3,...
Интерференционный способ контроля формы вогнутых асферических оптических поверхностей
Номер патента: 544864
Опубликовано: 30.01.1977
Авторы: Горшков, Пуряев, Скибицкий, Харитонов
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: асферических, вогнутых, интерференционный, оптических, поверхностей, формы
...е. значительная область поверхности останется непроконтролированной.Целью изобретения является обеспечениевозможности контроля поверхностен с больЗз шими отклонениями от сферы.544864 Составитель Л. Лобзова Корректор Н, Аук Техред Е, Петрова Редактор Т. Пилипенко Заказ 309 Изд.148 Тираж 729 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., и. 4/5Типография, пр. Сапепова, 2 Это достигается тем, что эталонное сферическое зеркало перемещают вдоль его оптической оси, последовательно совмещая кольцевые зоны отображения источника света на контролируемой поверхности с его отображением на сферическом зеркале, и судят о правильности формы контролируемой поверхности...
Интерферометр для контроля качества выпуклых гиперболических зеркал телескопа кассегрена
Номер патента: 523274
Опубликовано: 30.07.1976
Автор: Пуряев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: выпуклых, гиперболических, зеркал, интерферометр, кассегрена, качества, телескопа
...фокусы контролируемой гиперболической поверхности, С - центр кривизны вогнутой полупрозрачной поверхности линзы 2,Лучи, выходящие из лазерного источника света 5, фокусируются линзой 4 в точку Р, являющуюся передним фокусом выпуклой поверхности линзы 2, поэтому внутри линзы лучи света идут параллельно оптической оси. Так как радиусы сферических поверхностей линзы одинаковы и точка Р совмещена с точкой Р то после выхода из линзы лучи света отражаются от гиперболической поверхности, падают нормально на вогнутую поверхность линзы 2 и после отражения от нее повторяют свой путь в обратном направлении. Лучи, выходящие из рабочей и эталонной ветвей, интерферируют между собой,Заключение о качестве контролируемой поверхности делают по виду...
Компенсатор для контроля качестваастрономических зеркал
Номер патента: 508671
Опубликовано: 30.03.1976
Автор: Пуряев
МПК: G01B 11/30
Метки: зеркал, качестваастрономических, компенсатор
...представлена на чертеже.Компенсатор 1 расположен между источником 2 света и центром 3 кривизны коньролируемото зеркала 4. Ои содержит менисковую линзу 5 и двояковыпуклую линзу 6.Источник 2 света установлен в фокусе первой поверхности мениска, благодаря чему обеспечивается параллельный ход лучей между поверхностями мениска. Обе поверхности мениска имеют одинаковые по величине и знаку радиусы кривизны, Вотпутая поверхность мениска обращена к пологой сферической поверхности линзы, а более крутая поверхность линзы 6 - к контролируемому зеркалу,Назначение линзы 6раций нэрмалей кэнтрэ508671 Составитель Л. Ковринаова Техред И. Асталош Коррект кучк Редактор Подписноета Совета Министрови открытийушская наб., д, 4/5 4 ом ен 5,л,...
Линзовый компенсатор для контроля качества астрономических зеркал
Номер патента: 497498
Опубликовано: 30.12.1975
Автор: Пуряев
МПК: G01M 11/00
Метки: астрономических, зеркал, качества, компенсатор, линзовый
...выполнен в виде двояколинзы, расстояние которой от блмениска равно нулю, причем модуликривизны выпуклой поверхностимениска и обеих поверхностей крайнска равны между собой, а все линзьсатора выполнены из стекла с одинаказателем преломления.Конструкция линзового компенсатора представлена на чертеже,Линзовый компенсатор 1 состоит извыпуклой линзы 2 и двух менисков 3 иположенных между источником света 5ролирусмым зеркалом 6. Б предложенном компенсаторе радиус выпуклой сферической поверхности мениска 3 равен по величине, но противоположен по знаку радиусам сферических поверхностей линзы 4, что облегчает их взаимный контроль при изготовлении, Так как все линзы компенсагора изготовлены из стекла одной марки, то этим исключается еще один...
Компенсатор для теневых и интерфереционных исследований качества вогнутых зеркал крупных телескопов
Номер патента: 463024
Опубликовано: 05.03.1975
Автор: Пуряев
МПК: G01M 11/02
Метки: вогнутых, зеркал, интерфереционных, исследований, качества, компенсатор, крупных, телескопов, теневых
...нс вопу 1 овсрхцостп мсппск). Извсстиы компенсаторы для теневых и ицтсрфсрсццпоппых исследован качества вогцутых зеркал кр) ппых те;1 сс.Онов, содср)кящие одицо шый афокальцый маиск, обрапСпный выпуклостью к зсркалу.Предлагас 11 й компсцсатор отличается от известивх тем, то вогп)тая поВсрхцос)ь мсписка выполпспа асферичсской с профилем образующей, удовлетворяющим уравцсцпю второго порядка, пяпрпмср, в вид ппсрболы, эксцсптриситст которой связан с параметрами меписка и зеркала соотцошеппсм(,), ) к (н - )г 1где к - эксцспприсптст гиперболической поверхности;г - радиус кривизны при сс всршипс:радиус сферической повсрхиостп мсциска;ипоказатель преломления к а гср,11 л 1мсциска;15 - радиус кривизны при вершипс конгролирусмого зеркала.Зто...
Устройство для контроля формы параболической поверхности
Номер патента: 450077
Опубликовано: 15.11.1974
Автор: Пуряев
МПК: G01B 11/24
Метки: параболической, поверхности, формы
...устройства.Устройство содержит исто ическое измерительное устролимационный окуляр или о ) пентапризмы 3, устанавлив тричные зоны контролируемои детали, плоско- параллельную пластинку 4.Перекрытие шкалы окуляра 2 или точечнаядиафрагма, освещенная источником света, сов мещена с фокусом Р контролируемой параболической поверхности 5.Устройство работает следующим образом.Лучи света, отраженные от контролируемойповерхности 5, идут параллельно оптической 10 оси и попадают на пентапризмы 3, а затем -на зеркальную пластинку 4, установленную перпендикулярно падающим лучам. После отражения от нее лучи света повторяют свой путь в обратном направлении и возвращают ся в фокус Р, что контролируется с помощьюокуляра 2.Пентапризмы перемещаются в...
Интерферометр для контроля формы поверхности выпуклых сферических поверхностей линз большого диаметра
Номер патента: 448347
Опубликовано: 30.10.1974
Авторы: Дикань, Лазарева, Либер, Пуряев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: большого, выпуклых, диаметра, интерферометр, линз, поверхностей, поверхности, сферических, формы
...или фотографирования интерференционной каю ртины и экран 8 или фотопленку для осковское ордена Ленина и ордена Трудового Краснонамени высшее техническое училище им. Н.Э.Бауманарасногорскиф механический Завод448347 31.егистрации интерференционной картины.Линзу 9 с контролируемой поверхностью К устанавливают между компенсатором и эталонным сферическим зеркалом.lНа фиг.2 показано: У -изображение точки Р , .построенное толькоИкомпенсатором 5; У -изображение точки Р ,построенное компенсатоом и первой поверхностью линзы 9;и С-центры кривизны соответственно контролируемой поверхности линзы 9 и эталонного сферического зеркала б .Точки У,Си С должны быть с овмещены.Интерферометр работает следующим образом.Лучи, выходящие из объектива...
Зеркально-линзовый компенсатор для контроля качества астрономических зеркал крупных телескопов
Номер патента: 440636
Опубликовано: 25.08.1974
Авторы: Дубовик, Пуряев, Синдревич
МПК: G02B 17/08
Метки: астрономических, зеркал, зеркально-линзовый, качества, компенсатор, крупных, телескопов
...второго компонента (см, фпг. 1) применена двухсклеенная линза с внутренним зеркальным покрытием 3, причем источник света 4 установлен в заднем фокусе второго компонента. Лучи света, идущие от источника света и отраженные зеркальной поверхностью 3 компонента 2, идут параллельно оптической оси и падают на компонент 1, передний фокус которого совмещен с центром кривизны при вершине контролируемой поверхности.Лучи света, выходящие из компенсатора, строго совпадают с нормалями к теоретической форме контролируемой поверхности.Если последняя имеет идеальную форму, то лучи света отражаются от нее и повторяют свой путь в обратном направлении. В том случае, когда контролируемая поверхность имеет погрешности изготовления, лучи света отклоняются...
Интерферометр для контроля качества поверхностей вращения второго порядка
Номер патента: 149910
Опубликовано: 01.01.1962
Авторы: Кривовяз, Пуряев
МПК: G01B 11/30, G01B 9/02
Метки: вращения, второго, интерферометр, качества, поверхностей, порядка
...Оба пучка встречаются на разделительной грани кубика б и интерферируют между собой. По возникающей интерферекциопной картине делают заключение о качестве контролируемой поверхности.Путь лучей в воздухе в обеих ветвях интерферометра уравнивается путем перемещения объектива 7 совместно с эталонным зеркалом 8 (эталонный блок), при этом несколько нарушается условие яркости интерференционной картины и выдерживается условие контрастности. Чтобы одновременно выдерживать условия яркости и контрастности, необходимо, чтобы радиус эталонного зеркала 8 был равен длине хода луча от фокуса обектива 9 до поверхности автоколлимационного зеркала 10.Автоколлимационное зеркало совместно с контролируемой поверхностью 11 составляет контрольный...
Интерферометр
Номер патента: 146529
Опубликовано: 01.01.1962
Авторы: Пуряев, Шапочкин
МПК: G01B 9/02, G01M 11/02
Метки: интерферометр
...поверхность б.Параллельный пучок лучей 7, попадая на полупрозрачную пластину, разделяется на два параллельных пучка 8 и 9, один из которых, попав на зеркало 4, отражается от него и идет в обратном направлении. Другой пучок попадает на объектив 5 и после его прохождения в зависимости от формы контролируемой поверхности принимает форму сходящегося или расходящегося пучка. Контролируемая поверхность б устанавливается так, чтобы один из ее фокусов г, совпадал с задним фокусом Р, объектива, а другой фокус Рз - с центром кривизны О последней полупрозрачной сферической поверхности. После отражения от гиперболической или эллиптической поверхности лучи света идут нормально к полупрозрачной сферической поверхности объектива 5 и, от146529нв...
Способ юстировки фотографических головок фотоаппаратов для трековых камер
Номер патента: 137284
Опубликовано: 01.01.1961
Автор: Пуряев
МПК: G01T 5/00, G03B 43/00
Метки: головок, камер, трековых, фотоаппаратов, фотографических, юстировки
...за след оптической оси на пленке, и изображение точки,Предлагаемый способ не имеет указанных недостатков и заключается в использовании компенсационной плоскопараллельной пластинки определенной толщины и с определенным показателем преломления, которую в процессе юстировки устанавливают к прижимной пластинке на оптическом контакте для получения параллельного пучка лучей, что позволяет расположить предмет - перекрестие и его автоколлимационное изображение в одной плоскости. В результате этого можно с высокой точностью контролировать совпадение предмета с изображением без перефокусировки микроскопа и перемещения фотообъектива вдоль опти.еской оси, Применяемая плоскопараллельная пластинка. не является деталью объектива, а вводится только...
Система освещения жидководородных пузырьковых камер
Номер патента: 137195
Опубликовано: 01.01.1961
Автор: Пуряев
МПК: G01T 5/06, G03B 15/16
Метки: жидководородных, камер, освещения, пузырьковых
...особенности предлагаемой системы освещения позволяют облегчить юстировку системы, исключить возможность расфокусировки светового пучка и уменьшить количество элементов растра.На фиг. 1 показаны меридиональное и саггитальное сечения растрового элемента; на фиг, 2 - один элемент растра; на фиг. 3 - меридиональное и саггитальное сечения камеры.Источник света помещен в меридиональном фокусе Р (фиг. 1) преломляющей поверхности, радиус г кривизны которой в меридиональном сеченииЯ(п, - и )г =- пьгде: Н - фокусное расстояние преломляющей поверхности в меридиональном сечении или высота камеры; и, - показатель преломления материала растрового элемента; и, - показатель преломления жидкого водорода в рабочем состоянии. На задней...