Устройство для контроля центрировки оптических систем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 871015
Автор: Пуряев
Текст
Свез Сфветскнк Соцнаектичесних РеспубликОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИ ВТВЛЬСТВУ и 871015(22) Заявлено 11.01,80 (21) 2870788/18-10с присоединением заявки йо(51)М. Кл З 6 01 М 11/02 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий(088,8) Дата опубликования описания 071081(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦЕНТРИРОВКИОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ Изобретение относится к области оптического приборостроения,.связанной с изготовлением центрированных оптических систем, и может быть использовано преимущественно.для конт. роля центрировки и юстировки оптических систем, например, фотографических объективов.Известны устройства для контроля центрировки оптических систем, основанные на вращении контролируемой системы вокруг Механической оси и наблюдении отраженных от поверхностей бликов, например, автоколлимационная трубка Забелина 1 3В таких 15 устройствах при поперечном смещении центра контролируемой поверхности относительно механической оси радиус вращения отраженного блика пропорционален смещению центра и опреде-, 20 ляет децентровку контролируемой поверхности механической оси. Недостатком устройств такого типа является их невысокая точность, что обусловлено невозможностью вращения конт ролируемой системы точно вокруг постоянной и неизменной в пространстве оси.Иэ известных устройств для контро.ля центрировки оптических систем 30 наиболее близким по технической сущности к изобретению является устройство для контроля центрировки оптических систем, содержащее источник света, последовательно расположенные фокусирующую линзу, зеркало с диафрагмой и кликом, проекционный объектив, приэменную и наблюдательную систему 2Недостатком известного устройства является большая паразитная засветка рабочего поля зрения окуляра, что снижает точность контроля. Это происходит из-за того, что свет до отражения от поверхности исследуемой системы проходит полупрозрачную пластину, причем одна часть светового потока, довольно-таки энергичная, направляется в воле зрения окуляра, а другая - на исследуемую систему. Если считать коэффициент отражения от поверхности равным 5, то отношение светового потока, дающего изображение марки от поверхности, к паразитному потоку составит приблизительно 0,01. Кроме того, устройство не позволяет контролировать центрировку одновременно двух поверхностей, что также снижает точность и производительность контроля, и практичес 871015ки исключает использование устройствадля юстировочных работ на корректировке исследуемой системы.Целью изобретения является повышение точности контроля.Поставленная цель достигаетсятем, что в устройстве для контроляцентрировки оптических систем, содержащем источник света, последовательно расположенные фокусирующуюлинзу, зеркало с диафрагмой и клином, проекционный объектив, призменную и наблюдательную систему, призменная система выполнена в виде скле-енного блока, состоящего из разделительного кубика и двух расположенныхна его смежных гранях прямоугольныхпризм, установленных так, что плоскости, проходящие через ребоа прямыхуглов призм и оптическую ось, взаимно перпендикулярны, а наблюдательнаясистема включает два сопряженных,разделенных кубиком, вогнутых сферических зеркала, установленных с воэможностью перемещения вдоль оптической оси.На фиг. 1 изображена оптическаясхема устройства и показан ход лучей,на фиг. 2 - разрез А-А на фиг. 1.Устройство состоит из источника1 монохроматического света, фокусирующей линзы 2, клина 3, приклеенного к зеркалу 4, центральная зона которого не имеет зеркального покрытияи потому свободна для хода лучей,проекционного объектива 5, прямоугольной призмы б, разделительногокубика 7 приэменной системы, разделительного кубика 8 наблюдательнойсистемы, подвижных сферических зеркал 9 и 10, объектива 11, отклоняющей призмы 12 и окуляра 13,Устройство работает следующим образом.Лучи света, сфокусированные линзой 2 в центральной зоне зеркала4. создают светящуюся точку, иэображение которой проецируется объективом 5 на исследуемую систему. Поверхности исследуемой системы последовательно создают изображения проецируемой точки лучами, отраженными отэтих поверхностейЛучи света, выходящие иэ исследуемой системы, вновьпроходят через объектив 5, отражаются от зеркала 4, поступают в призменную систему 6, 7 и далее в наблюдательную систему 8-13. Осью призменной системы б, 7 является линия,перпендикулярная изображениям реберпризм б, построенным разделительнымкубиком 7. И том случае когда точкарасположена строго на оси призменной системы, ее изображение будетединственным, При смещении точки сосью призменной системы возникаютдва иэображения точки, расстояниемежду которыми определяют величинусмещения точки с оси приэменной сис верхностей исследуемой системы,что достигается продольным смещениемзеркал 9 и 10.Использование призменной системыустройства позволяет исключить полупрозрачные поверхности в той частисхемы установки, где свет еще неотразился от поверхностей исследуемойсистемы, и тем самым исключить большие паразитные засветки, а следовательно, повысить точность. Использование в наблюдательной системе .двух15 вогнутых зеркал и разделительного ку"бика позволяет наблюдать изображениеточек одновременно от двух поверхностей исследуемой системы. Это повышает точность и производительность20 контроля, так как оптическая ось устройства может быть легко совмещенас оптической осью исследуемой системы ввиду возможности одновременногонаблюдения иэображений точек от двухповерхностей, при этом в поле зрениябудутнаблюдаться относительно небольшие смещения парных точек, соответствующие децентрировкам поверхностей относительно оптической оси. Ивиду отсутствия паразитных Засветок иточного совмещения оптических осейустройства и исследуемой системы,точность контроля значительно повышается.,Формула изобретения 50 55 ЬО 65 темы. Устройство позволяет наблюдатьодновременно изображения точек, построенных лучами, отраженными отдвух любых произвольно выбранных поПомимо этого, одновременное наблюдение изображений точек от двух поверхностей повышает возможность по юстировке исследуемой системы, так как с изменением положения компонентов исследуемой системы можно видеть изменение децентрировки двух поверхностей, принятых эа базовые. Устройство для контроля центрировки оптических систем, содержащее источник света, последовательно расположенные фокусирующую линзу, зеркало с диафрагмой и клином, проекционный объектив, призменную и наблюдательную систему, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности контроля призменная система выпЬлнена в виде склеенного блока, состоящего из разделительного кубика и двух расположенных на его смежных гранях прямоугольных призм, установленных так, что плоскости, проходящие через ребра прямых углов призм и оптическую ось, взаимно перпендикулярны, а наблюдательная система включает два сопряженных, разделенных кубиком вогнутых сферических зеркала, установленных с воз871015 ель М.Ле .Бабинец остаехред едактор Н.Коляда каз 8424 ПодписнССР Н омитет открытнаб.,/5 035 4 Проектн можностью перемещения вдоль оптической оси.Источники, информации, принятые во внимание при экспертизе1, Мальцев М.Д. и Каракунина Г.й. Прикладная оптика и оптические изТираж 910 ПИ Государственного делам изобретений и осква, Ж, Раушска лиал ППП фПатентф, г. Уж мерения, М., Машиностроение, 1968,2. спцсп К. МейЬодео лцзр Неввцдд дег Еепйгегцпд орй верег Ьувйеее Ор 1 с 1959 Ч 16, р 10/11 5. 652 (прототип). вКорректор У.Пономаренк
СмотретьЗаявка
2870788, 11.01.1980
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8450
ПУРЯЕВ НИКОЛАЙ ТРОФИМОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01M 11/02
Метки: оптических, систем, центрировки
Опубликовано: 07.10.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-871015-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-centrirovki-opticheskikh-sistem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля центрировки оптических систем</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения характеристик оптических волокон
Следующий патент: Устройство для испытания газообменных каналов
Случайный патент: Способ хирургического лечения язвенной болезни двенадцатиперстной кишки