Интерферометр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Класс 42 Ь, 34146529 С С СР ИЗОБРЕТЕНИУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ОПИСАНИ Подписная группа Лг Т, Пуряев и Б, А, Шапоч РфЕРОМЕТ 26 июня 1961 г. за735758/26-10ретений и открытий при Совете Министров аявлен лам и Комитет п Опу иковано в Бюллете изобретений8 за 1962 г Известны интерферометры для контроля параболических поверхностей вращения.Отличительная особенность описываемого интерферометра состоит в том, что в его объективе расстояние между задним фокусом и центром кривизны последней полупрозрачной сферической поверхности равно расстоянию между фокусами контролируемой поверхности вращения. Интерферометр такой конструкции обеспечивает возможность контроля гиперболических и эллиптических поверхностей вращения.На фиг, 1 изображена принципиальная схема описываемого интерферометра; на фиг. 2 - взаимное расположение объектива и контролируемой выпуклой гиперболической поверхности вращения; на фиг. 3 - то же, вогнутой гиперболической поверхности; на фиг. 4 - взаимное расположение объектива и контролируемой выпуклой эллиптической поверхности; на фиг. 5 - то же, вогнутой эллиптической поверхности.Интерферометр состоит из осветителя 1, объектива 2, установленной под углом 45 полупрозрачной пластины 3, плоского зеркала 4 и объектива б, за которым располагается контролируемая поверхность б.Параллельный пучок лучей 7, попадая на полупрозрачную пластину, разделяется на два параллельных пучка 8 и 9, один из которых, попав на зеркало 4, отражается от него и идет в обратном направлении. Другой пучок попадает на объектив 5 и после его прохождения в зависимости от формы контролируемой поверхности принимает форму сходящегося или расходящегося пучка. Контролируемая поверхность б устанавливается так, чтобы один из ее фокусов г, совпадал с задним фокусом Р, объектива, а другой фокус Рз - с центром кривизны О последней полупрозрачной сферической поверхности. После отражения от гиперболической или эллиптической поверхности лучи света идут нормально к полупрозрачной сферической поверхности объектива 5 и, от146529нв обратном направлении, Обаразившись от нее, повторяют свои путьпучка (отраженный от плоского зеркала и от контролируемой поверхности) встречаются на полупрозрачной пластине и интерферируют между собой.Наблюдая интерференционную картину можно судить о д рить о ефо мациифронта световой волны и тем самым о качествеве контоли емой поверхности.Интерферометр моИ ф ожет работать и в сравнительной схе ро " ме конт оля.ективы 5,е в обе ветви интерферометра устанавливают о ъективыВ этом случае в о е ветвиа плоское зеркало заменяют сферическим и рас олцентр его кривизны осовпадал с задним фокусом объектива, Для контровогнутой гиперболических поверхностей вращенияля выпуклой и вогнут "объективапуклой и вогнутои э ,ллиптических поверхностен конструкциявыбирается такои, что ы збзадний фокус объектива совпадал с тем окуолируемой поверхности, который наиболее удален от нее.б ет наименьшим.В этом случае относительное отверстие объектива сбудет аПредмет изобретенияИнте ферометр, отлич а ющи й ся тем, что, с цс целью контроля гиперболических и эллиптических поверхностей рнтер е ов ащения в нем расстояние между дза ним фокусом и центром кривизны последней полую межпрозрачнои сферической пноверхности объектива равно расстоянию ду фокусами контролируемой поверхности вращения.
СмотретьЗаявка
735758, 26.06.1961
Пуряев Д. Т, Шапочкин Б. А
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02, G01M 11/02
Метки: интерферометр
Опубликовано: 01.01.1962
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-146529-interferometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерферометр</a>
Предыдущий патент: Микрофотометр
Следующий патент: Способ определения показателей преломления минералов
Случайный патент: Устройство для очистки колодцев