Способ анализа ионов, близких по массе

Номер патента: 1306396

Опубликовано: 27.01.1995

Автор: Попов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, вторичной, ионной, масс, методом, спектрометрии

СПОСОБ АНАЛИЗА МАТЕРИАЛОВ МЕТОДОМ ВТОРИЧНОЙ ИОННОЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ.1. Способ анализа материалов методом вторичной ионной масс-спектрометрии, по которому в аналитическую камеру помещают образец материала, производят откачку камеры, напускают химически активный газ и контролируют его давление, воздействуют на образец первичными ионами и регистрируют токи вторичных ионов материала, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности анализа и воспроизводимости его результатов, создают молекулярный поток химически активного газа величиной от 10-8 до 10-5 л Па/с, направленный на поверхность образца, а с помощью нераспыляемого газопоглотителя поглощают...

Номер патента: 600092

Опубликовано: 30.03.1978

Авторы: Мизина, Салин

МПК: C02F 1/62

Метки: вод, ионы, кислых, металлов, содержащих, сульфат-ионы, тяжелых

...воды, а это требует дополнительной очи)стки специальными хСтода(ми, в частности элсктродиализом.Наиболсс олизким 1. Нзобрстсн 1)о по тсхничсской сущности и достигаемому рсзультату 25 является сиособ очистки кислых вод. Со.1 сржащих сульфат-иоты и ионы тяжсых металлов, обработкой их сульфидом бария.Однако такой способ невозможно примснять для кислы водного ссроводорода.Цель изобрстсн:1 Я -- искл)оение втоксичного ссроводорода в процессеДостигастся это описываемымочистки сточных вод от сульфатионов тяжелы.; мсталлов, состоящ)оботкс послсдних суспснзнсй, сод, окись цинка и су,11 фид Оария.По прсдложснному способу суспснзшо готовят смсшснисм водного раствора сульфида Оа 11,я и 01.Нсн пинка прн соотношсн 11 и 01 спси цшка и серной...

Номер патента: 1755333

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Коненков, Толстогузов

МПК: H01J 49/42

Метки: анализом, ионов, масс-спектрометр, одновременным, отрицательных, положительных

...режиме уско 15 20 25 40 рождения иона. В этом случае через энергетический фильтр 2 пройдет основная масса 50 падение первичного пучка 10 ионовна образец 3 и осуществить сбор вторичных ионов по нормали к образцу 3, что повышает эффективность и локальность сбора вторичных ионов,На вь 1 ходэх квадрупольного энергетического фильтра 2 устанавливают иммерсионные доухэлементные линзы 4 с рения вторичных ионов. Укаэанные линзы 4 служат для фокусировки вторичных ионов на входную диафрагму диаметром0,58, где Во - радиус окружности, вписанной между вершинами электродов КФМ. После линзы 4 следуют коадрупольные фильтры б масс. На выходах КФМ устанавливаются выходные диафрагмы 7 диаметром и детекторы 8 и 9 ионов для детектирования и регистрации...

Номер патента: 1307493

Опубликовано: 30.04.1987

Авторы: Колотилин, Овчинников, Сафонов, Суслов, Терехин, Шеретов, Ястребков

МПК: H01J 49/42

Метки: анализа, гиперболоидном, ионной, ионов, ловушки, масс-спектрометре, типа

...блока.При использовании иоццо-флуоресцент ного анализа канал счета фотонов флуоресцснции необходимо также синхроцизинировать с работой высокочастотного генератора. В этом случае удается улучшить соотношение сигнал шум и увеличить чувствительность анализа.11 д чертеже иллюстрируется предлагаемый способ анализа и устройство для его реализации.Предлагаемое устройство состоит из электронного источника 1, анализатора, образо 5 ванного кольцевым 2 и двумя торцовымиэлектродам 3, соединенными электрически, коллектора 4 электронов, детектора 5 ионов, ньсокочастотцого генератора 6, выход кото 13074935 1 О 5 20 25 30 35 40 45 50 55 рого подсоединен к электродам анализатора, блока 7 управления высокочастотным генератором, выходы которого...

Номер патента: 1100656

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Аникин, Жуков, Киреев, Черепин

МПК: H01J 49/26

Метки: вторичной, идентификации, ионной, масс-спектрометрии, пиков, соединений, химических, элементов, эмиссии

...массой, если же это отношение не зависит от температуры, то ионы с меньшей массой являются осколком молекулы и в образце отсутствуют31.Недостатками этого способа являются:узкая область применения, так как он позволяет идентифицировать толькоВпики, соответствующие ионам, образовавшимся в результате диссоциации более сложной молекулы,усложнение установки за счет применения дополнительного устройства для нагревания образцов и регистрации температурной зависимости вторичных ионов;увеличение времени проведения анализа, что приводит к повышенным требованиям на стабильность экспериментальных условий.Цель изобретения - повышение точности и упрощение анализа. Поставленная цель достигается тем, что согласно способу идентификации циклов...