Устройство для проведения спектрального анализа при повышенном давлении

Номер патента: 930020

Опубликовано: 23.05.1982

Авторы: Заболотнев, Краснопрошин, Кудюкин

МПК: G01J 3/42

Метки: анализа, атмосферой, камера-штатив, контролируемой, спектрального

...к механизмам, размещенным внутри корпуса камеры 1, и вакуум плотно закрывается поворотной крышкой 42. 5 9300 0вом направлении, а с ведушим валом 19жестко с возможностью разьема.Червячная передача, состоящая иэчервяка 16 и колеса 17, и система валов, состояшая из промежуточного полого вала 18 и ведущего вала 19 с рукояткой управления 20, образуют механизмвращения.Через отверстие, выполненное в основании кронштейна 14, пропущен ходовойвинт 21, закрепленный верхней частьюв опоре вертикальной стенки 22 основания кронштейна 14.С ходовым винтом 21 взаимодействуетгайка, состоящая из корпуса 23 и реэьбовой втулки 24, Корпус 23 гайки спомошью профильного крепления (например,типа "ласточкина хвоста) соединен свертикальнсй,стенкой 22, служащей...

Номер патента: 136949

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Жиглинский, Заидель, Карклина

МПК: G01J 3/30, G01N 27/62

Метки: анализа, спектрального

...анализа о т л и ч а ю щ и и с я ия чувствительности анализа, его проводят п Известен способ спектрального анализа, осуществляемый посредством электрической дуги при атмосферном (или пониженном) давлении. Недостаток известного способа заклкгчается в недостаточной чувствительности анализа, вследствие диффььзии атомов исследуемого вещества из зоны дугового разряда, что уменьшает концентрацию атомов в зоне разрядаПредлагаемый способ спектрального анализа по сравнению с известным ьповышает чувствительность при анализе ряда химических элементов. С этой целью анализ проводят при повышенном давлении. Так как коэффициент диффузии атомов из зоны дугового разряда пропорционален давлению, то при повышении давления диффузия уменьшается, а...

Номер патента: 492790

Опубликовано: 25.11.1975

Авторы: Каралис, Качалов, Королев

МПК: G01N 21/00

Метки: абсорбционного, анализа, газов, паров, спектрального

...рез анализируемый газ,спектральная ширина которых сравнима со спектральной шириной линии поглощения. Один из участков совпадает с полосой поглощения, а другой расположен вблизи полосы поглощения.При работе по предлагаемому способу излучение источника, прошедшее через анализируемый пар или газ, направляется в сканирующий спектральный прибор с разрешаемым спектральным интервалом, не превышающим ширину полосы поглощения, например в сканирующий интерферометр. Приемник регистрирует распределение интенсивности в контуре линии. Затем производится выделение сигналов, соответствующих спектральным интервалам сО с длиной волны Л и А . Эти сигналы определяют, например, путем определений48 1790 Предмей изобретения составитель ф вбаРедактор...

Номер патента: 1617306

Опубликовано: 30.12.1990

Авторы: Никитина, Ромашкина, Спирина, Шарапов

МПК: G01J 3/10

Метки: анализа, разряда, спектрального, тлеющего, установки, ячейка

...большую, чем насос для 30откачки из полости анода,Спектральный анализ химического состава металлических образцов с помощьюпредлагаемой ячейки проводят следующимобразом, 35Исследуемый образец 8 (фиг.1) устанавливают перед анодным патрубком 1 О и крепят к рабочей поверхности камеры катода11 через фиксирующее кольцо 12 посредством упорного кольца 13 и упорного винта 14, 40К катоду 1 ячейки и анализируемому образцу через каналы 16 подается проточноеводяное охлаждение. В ключают форвакуумные насосы, которые откачивают воздух изобъема полости анода 22 и камеры катода через каналы 23 и 26 соответственно до достижения предварительного вакуума 10 ммрт.ст, При достижении указанного вакуумав полость анода через игольчатый клапан поканалу 21...

Номер патента: 911198

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Сиделев, Усольцев

МПК: G01N 1/10

Метки: анализу, металлических, подготовки, проб, спектральному

...для .проб П и каналы для выхода газа Г.Каждая полость П для проб образована стенками плит 1 и 5 и двумя пробками 6. Поверхность пробок 6, об. ращенная к расплавленному металлу, имеет высокую степень чистоты обработки.Устройство содержит механизмы маркировки, состоящие из маркировочных барабанов 7, установленных в окнах полостей для проб, каждый маркировочный барабан 7 имеет фиксатор 8 и пружину 9 с регулировоцным винтом 10. Барабан 7 соединен посредством штока 11 с барабаном 12, являющимся рукояткой, снабженной указателем положения маркировочного барабана 7. Штоки 11 образуют между собой телескопическую систему.Устройство также содержит механизмы отрезки литника, каждый из которых содержит подвижной нож 13, шарнирно соединенный с...