Способ перенесения материала пробы на подставной электрод

Класс 42 К 46 от Л 127061 СССР ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 17 одансни группа М 17 Н, Г, Исаев) МАТЕРИАЛАЛЕКТРОД СПОСОБ ОТБОРА (ПЕРЕНЕСЕН ОБРАЗЦА НА ПОДСТАВНОЙ оя 1959 г. за634392/22 и Кознтет но делаи изобретений и открытий ири Гонт,Чнннтр 1 н О:СР Заявлен оэ 2 тий,. П аа 196( к 1 к 1 алетеги оников Изобретение относится к области спектрального анализа сплавов.Г 1 рименяемые способы локального спектрального анализа с линейно-рассредоточенной искрой не обладают достаточной концентрациоч. ной чувствительностью одновременно по всей, обычно весьма широкой, области изменения концентрации и не устраняют влияния третьих элементов, сильно искажающих количественные определения прп исследовании псадиордных образцов,Описываемый способ отбора (пе 1 ренесения) материала образца нз подставной электрод электроконтактным методом устраняет влияние третьих элементов и повышает и стабилизирует концентрационную чувствительность метода локального спектрального анализа с линейно- рассредоточенной искрой.Достигается это посредством предварительного линейно-рассредоточенного отбора небольшого количества материала образца на новый подставной электрод из подходящего чистого металла, достаточно равномерного по всей длине ребра отбирающего электрода и достаточн, точно переносящего картину распределения элементов в образце.Для этого образец предварительно полируют или шлифуют с целью создания у него плоской и гладкой поверхности, с которой и отбирают пробу путем контактирования под напряжением с подставным электродом, выполненным в виде прямолинейного лезвия или призмы с прямолинейным ребром. При этом соприкосновение образца с электродом должно производиться именно прямолинейной острой его частью и од новременно всеми точками лезвия или ребра призмы. Лри повторных контактированиях соприкосновение образца и электрода должно происходить строго теми же точками, что и при первом соприкосновении,Для обеспечения локальности действия электрического разряда прконтактировании образца с подставным электродом должны быть пра Л27116 15 ИЛЬНО БЫОрс НЫ Н) Пря,сСРН)СРХ)КОСТЬ СС 53 ЕНС 1 С)1, ИС С ЬЗ Р)сСС 1 стбипа 1 шем устро 1 стВР. Ирпчсм нзп 1 яжРнис и смк(нть дс,1)кны бьт:ТНОСИТРСЬНЦНЕВСЛИК.На, ЧВРТЧжг. ИСКс)ЗБНс СХЕМ ВКЛЮЧЕНИЯ КЦНДЕНСтЦР.1 схю 1 Бхцд 1 т ц 1 лифовсЛы)ЫЙ Обрс 1 зец.4, эсРктрод Ь, есн.снсзтс И с хкость)т с)то до 20 кс/), пстс)чпик тока 1 напряжением 20- М) с 5, ключ цепи зарядки К и ксммутирунщий ключ К 2 для и:5 мснения пс- ЛЯРнцсти РазРЯДа. с.)бРс):5 РЦ сцпРи)сасаетсЯ с электРоДом по линии сс- - б. Вьюганной Для исследования. Отоо) производится с помощью Бибр- тори, обеспечивающегс при повторных контактах соприкоснсвенис об. РсЗЦс 1 И ЭЛРКТРЦДс БСРГДс СТР 01 О ОДНИМИ и ТРМИ ЖР ТС)ЧСаМ)1, Ы 5 ЧСГс конструкция вибратор должна исклОчать возможность смещений электрода Б направления и нс ссвпадаяпи, с напрвннием рзбцчс)т движения электрода.В КЗЧРСТВР Э,:СКТРЦД. Б:5 БИС.П М(С И сТ ХЗРс КТЕРЗ З НЗЛ И:5 ИР С."МСчОО)ЗЗИЗ, Х 10 Г" П 1)ИМРНЯТЬСя )1 РЗВИя бР 5 СнсСНГ)1 ОрИТВЬ 1, фцЛЬГЗ 1 ЛИ призмы из 1)сЫх элементов.Г 1 осле перенося нз элекгрцд лскз,ьнц.псдобных проб-нзплвцк егустанавливают Б лапке-держателс локально-спектральной установки рОТИ 5 ДругОГС Э:РКТрОДЗ, ВЫПОЛНЕН 11 ГО В Е)ИДР П,ОСКОГО ШЛИфа И;5 ТОГс .ке чистого элемента, из которого сделан подставной электрод для стбс рз пробь. Между обоими электродамп создают высокочастотнун ли нейно-рзссредоточеннук искру, спектр которой фотографирует. Режим разряда и время экспозиции при фотографировании должны сии"спс ивзть сб 51:)стРльнсю нсс)нОР сжигзчис цтобрзннс 4 пробы.11 р с д м (и з с с р Р т си яС нссцб цтосрс ( п(.ренесения) мзтЕс 1 сс сбрс 1 ЗПс нс Нсдстс.ннцй .лектрод элРктрокцнтактным методом, с т л 1 ч 3 ю щ и й с 51 тсм, чтс), цельн устранения влияния гретьих элементов и повышения и стабили зации концентрационной чувствительности метода локального спскгральногц анализа с линейно-рассредоточенной искрой, цтоср прсбь. ссуРств;якт с плоской полированной или шлифованной повсрхнссти Образца электродом, вьполненным Б виде прямолинейного лезвия илч ПРИЗМЫ С ПряМОЛИНЕйНЫМ рЕбрОМ, ПРИЧЕМ СОПРИКОСНОВЕНИЕ ЭЛЕКтрОцс ; образцом производят одновременно всеми точками лезвия или ребр:1 призмы, обеспечивая при повторных контзктпрованиях соприкосновенис электрода и сбрззцз строгс темп же точками, что и при первом сопри- КЦСНОВЕНИИ.