Способ измерения двойного лучепреломления веществ
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1383162
Автор: Старостенко
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИН 9) 01 23 51)4 С 0 ЕТЕНИЯ / Н АВТ ап во СССР23 1978.ОИНОГО ЛУЧЕх УДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ССС ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫ ОПИСАНИЕ ИЗ ОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДВПРЕЛОМЛЕНИЯ ВЕЩЕСТВ(57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и можетбыть использовано для контроля параметров анизотропных материалов.Цель - повьппение точности измерений.Для этого образец 11 облучают монороматическим пбляризованйым пучком света. Одновременно на свет воздействуют щелью, образованной двумя полуплоскостями 3, смещенными в н равлении распространения света, В щели расположен экран 4. Определяютугловые координаты Ц и 1 экстремуЯ.мов правой и левой половин интерференционно-дифракционной картины. Между первой полуплоскостью 3 и экраном 4 размещают измеряемый образец 11. Плоскость поляризации света ориентируют вдоль одной.из главных осей образца 11. Перемещением второй полу- плоскости 3 вдоль направления .распространения света компенсируют изменения координат экстремумов интерференционно-дифракционной картины. Плоскость поляризации света ориентируют вдоль второй главнойоси образца и вновь компенсируют изменения координат экстремумов. Затем вычисляют двойное лучепреломление. 1 ил.+ Ь Ь (1 - ЗсозМ,) гпе Ь - толщина образца. 1 п Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может бытьиспользовано для контроля параметрованизотропных материалов.Цель изобретения - повьдпение точ 5ности измерений.На чертеже изображена схема устройства для измерения двойного лучепреломления веществ, 10:Устройство содержит источник 1 света,поляризатор 2, щель, образованную двумя полуплоскостями 3, смещенными внаправлении распространения света нарасстояние Ь + Ь. В щели 3 размещен 15экран 4 на расстоянии Ь, от верхнейполуплоскости и Ь от нижней полуплоскости в направлении распространения света и расстояниях г. и Сотсоответствующих полуплоскостей в поперечном направлении. Расстояниесоответствует диаметру поперечногосечения экрана 4. Расстояния Ь иЬпредпочтительно выбирать равными,как и расстояния с и с , Устройство также включает линзу 5, экран 6,диафрагму 7, фотоприемник 8 и измеритель 9, Угловые координаты экстремумов интерференционно-дифракционнойкартины 10 обозначены каки301 2В размере щели 3 установлен измеряемый образец 11, Нижняя полуплоскость3 перемещается с помощью микровинта(не показан),Способ измерения двойного лучепре 35ломления веществ осуществляют следующим путем.Ионохроматический пучок света отисточника 1, дифрагирующий на щели 3и экране 4 пропускают через линзу5 и направляют на экран 6, где с помощью диафрагмы 7, Фотоприемника 8и измерителя 9 определяют угловые кос рцинатыи , экстремумов интер 4ференционнс-дифракционной картины 1 О. В щели 3 устанавливают измеряемый образец 11. Плоскость поляризации света ориентируют так, чтобы онасовпадала с направлением главной осиобразца 11, При установке образца 11происходит смещение экстремумов, Перемещением нижней полуплоскости на расстояние ьЬ компенсируют смещениеэкстремума правой половины интерференционно-дифракционной картины, аперемещением на аЬ - экстремума левой половины. Затем плоскость поляризации света ориентируют вдоль второй главной оси образца 11 и вновь измеряют компенсационные перемещения нижней полуплоскости Ь и Ь для соответствующих экстремумовПри отсутствии измеряемого образца 11 интерференционно-дифракционная картина является результатом интерференции света, дифрагирующего на щели 3 образованной верхней полуплоскостью и экраном 4, а также света, дифрагирующего на щели 3, образованной экраном 4 и нижней полуплоскостью (верхняя и нижняя часть щели), Максимум интерференции будет наблюдаться при равенстве длины волны светаразности хода между волновыми фронтами света, дифрагирующего нг верхней и нижней частях щели 3. При размещении измеряемого образца 1, в размере верхней части щели 3 координата максимума интерференцион":ой картины из" меняется вследствие преломления света, дифрагирующего на верхней части щели. Для восстановления исходной картины, как при отсутствии измеряемого образца 11 необходимо нижнюю полуплоскость переместить на расстояние Ь. Двойное лучепреломление вычисляютпо соотношению( Ь, - лЬ ) (1 + соя 9 ) (1 - Зсоя Ч, ) -(ЪЬ - ьЬ)(1+соя ч,)(1-)о Р) угловые координаты экстремумов правой и левойполовин интерференционно-дифракционной картины 1 где у, у1 10 1 Зсоя ).поляризации вдоль однойи второй главных осейобразца соответственно. онные пе д йоф компенс1 Е мещения лу рои дляМ, и овых прлоскост оордина Составитель В,РандошкинТехред А.Кравчук К рректор И,Муск едактор А.Ворович Заказ 1286/38 раж 847дарственного кизобретений иЖ. Раушск Подписноемитета СССРткрытийнаб., д. 45 ВНИИПИ Го по дела 351 Москв3 роиз еское предприятие, г. Ужгород, ул.И,роектная ственно-полигр компенсационные смещенияполуплоскости для угловых координат ч, и У ипоказателей преломленияи, иии, й- показатели преломленияобыкновенного и необыкновенного лучей света. Формула изобретения 0Способ измерения двойного лучепреломлениявеществ, при осуществлении .которого образец облучают монохроматическим поляризованным пучком света и анализируют свет, прошедший образец, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерений неоднородных образцов, предварительно создают интерференционнодифракционную картину путем пропуска 30 яи Ч,и - ид Е1 -4 Ь . созеЬ (сояц+ 1 +аЬ, 1 ния пучка между двумя последовательно расположенными вдоль направленияраспространения пучка полуплоскостями, перпендикулярными оптической осии смещенными относительно нее в противоположные стороны, и расположенным между ними непрозрачным цилпндрическим экраном, ось которого параллельна краям полуплоскостей, регистрируют угловые координатыиЧ экстремумов интерференционно-дифракционной картины по обе стороныот плоскости, проходящей через оптическую ось и ось цилиндрического экрана, помещают образец между однойиз полуплоскостей,и экраном,. перемещением второй полуплоскостп вдольоптической оси компенсируют угловоесмещение экстремумов, возникающеепри внесении образца, при этом плоскость поляризации света ориентируютвдоль каждой из осей образца, адвойное лучепреломление вычисляют спомощью соотношения
СмотретьЗаявка
4134760, 23.07.1986
АЛТАЙСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. И. И. ПОЛЗУНОВА
СТАРОСТЕНКО БОРИС ВЛАДИМИРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/23
Метки: веществ, двойного, лучепреломления
Опубликовано: 23.03.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1383162-sposob-izmereniya-dvojjnogo-lucheprelomleniya-veshhestv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения двойного лучепреломления веществ</a>
Предыдущий патент: Способ измерения разности хода оптически анизотропных объектов
Следующий патент: Рефрактометр
Случайный патент: Приводная станция ленточного конвейера