Устройство для измерения неодно-родностей двулучепреломления вкристаллах

Союз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 9.0 77 рисоединен ) Приоритет заявки Нов С 01 й 212 сударственный комнте СССР по делам изобретений и открытий.0581 Бюллетень Й ия описания 15.05.8 Опублико Дата опуб но 3)УДК 535,8(72) Автор изобретен нецов 71 Заявите физики АН СССР ститут прикл 54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НЕОДНОРОДНОСТЕ ДВУЛУЧЕПРЕЛОМПЕНИЯ В КРИСТАЛЛАХбретение относитс оптике и может б ри исследовании к применяемых в ня к измереыть использо"ачества криселинейной а для измере я и его неод х или деформи ащие источник ета, поляриз ализатор и ре устройст преломлен кристалл х, содерж ческого с сатор, ан о 10 гисттих устройствсуществляетсяобы плоскостьора не совпадглавных осей х пере сложна пропус ала с крИст ал ала.Наиболее близким техническим решением к изобретению является устройст во для измерения несднородностей двулучепреломпения, содержащее оптически связанные источник монохроматического света, поляризатор, кристаллический клин, анализатор и регистратор. Клин выполнен из кварца, являющегося оптически активным одноосный кристаллом, а оптическая ось клина параллельна одной из его рабочих граней И 30 Иэо ниям в вано и таллов оптике. Известны ния двулуче родностей в руемых тела монохромати тор, компен ратор 11 . Однако в измерениями настройка, ч ния поляриза направлениямиНедостатком устройства являетсянизкая точность измерения, обусловленная фиксированной ориентациейинтерференционных полос относительно исследуемого образца. Это затрудняет обнаружение и оценку величины не"однородностей двулучепреломления..Цель изобретения - повьааение точности измерения,Поставленная цель достигается тем,что в устройстве, содержащем оптически связанные источник монохроматического света, поляризатор, кристаллический клин, анализатор и регистратор, кристаллический .клин выполнениз.оптически неактивного одноосногокристалла с оптической осью, ориентированной к граки под углом, превышактцим угол между гранями клина, иснабжен механизмом для осуществлениявращения вокруг его оптической оси.На черетеже изображена оптическаясхема предлагаемого устройства.Устройство содержит оптическисвязанные источник 1 монохроматического света, поляризатор 2, кристадлический клин 3, анализатор 4, экран 5 в качестве регистратора. Плос.кости поляризации поляризатора 2 ианализатора 4 взаимно перпендикуляр83019 д Формула изобретения ИИПИ Заказ 3301/52 аж 907 Подписное Филиал ППП "Патент",.г. Ужгород, ул. Проектная,4 ны, Клин 3 выполнен из оптическинеактивного одноосного кристалла,например дигидрофосфата калия, и установлен с возможностью вращения вок;руг своей оптической оси, В известном устройстве оптическая ось ориентирована к грани под углом, превышающим угол между гранями клина, В предлагаемом устройстве оптическая ось Еперпендикулярна грани клина 3, Исследуемый образец 6 установлен междуполяризатором 2 и кристаллическимклином 3, причем оптическая ось образца 6 Е лежит в плоскости главныхколебаний клина 3.Устройство работает следующим об-.разом,15Источник 1 формирует монохроматический параллельный пучок света, Проходя через поляризатор 2, пучок светаприобретает линейную поляризацию.В исследуемом образце 6 каждый луч 20пучка разлагается на два когерентныхпуча с взаимно перпендикулярными направлениями поляризации. Эти лучираспространяются в образце 6 с различными скоростями, вследствие чего межцу ними возникает разность фаз, Наличие неоднородностей двулучепреломления в исследуемом образце 6 приводитк дополнительному изменению разностифаз между лучами. Клин 3 обеспечиваетдобавочный сдвиг фаэ, линейно изменяющийся по поперечному сечению пучка,Анализатор 4 выделяет из каждого луча компоненты с колебаниями, лежащими в плоскости его главного сечения. Эти колебания интерферируютмежду собой, В результате на экране 5 наблюдается интерференционнаякартина, представляющая собой систему параллельных ребру клина интерференционных полос с локальными изгибами, Полосы появляются вследствиесдвига фаэ, вносимого клином 3, алокальные изгибы обусловлены фаэовым сдвигом, возникающим из-эаналичия неоднородностей двулуче- .преломления в образце 6. Величинаизгибов зависит не только от величины неоднородностей двулучепреломления, но и от взаимной ориентацииобразца 6 и клина 3. Вращением клина 3 вокруг его оптической оси находят такое положение вращакщейсяна экране 5 системы интерференционных полос, при котором локальный изгиб полос имеет максимальную величину. Величину неоднородностей двулучепреломления определяют по формуле3. а6=ве ь где д - величина неоднородности двулучепреломления,А - длина волны света,0 - длина исследуемого образцавдоль луча света,д - величина максимального прогиба полосы,о - расстояние между интерференционными полосами.Таким образом, за счет изготовления клина из оптически неактивногоэдноосного кристалла так, что егооптическая ось ориентирована к гранипод углом, превышающим угол между .гранями клина, реализована возможность вращения клина вокруг его оптической оси. Это позволяет установитьнаиболее удобное для измерений положение интерференционной картины,что повышает точность измерения.Кроме того, повышение точности иэмерения достигается за счет изменения расстояния .между полосами поворотомклина вокруг оси перпендикулярнойплоскости, проходящей через оптическую ось клина и направление распространения света Устройство для измерения неоднородностей двулучепреломления в кристаллах, содержащее оптически связанные источник монохроматического света, поляризатор, кристаллическийклин, анализатор и регистратор, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что,с целью повышения точности измерения,кристаллический клин выполнен из оптически неактивного одноосного кристалла с оптической осью, ориентированной к грани под углом, превышающимугол между гранями клина, и снабженмеханизмом для осуществления вращениявокруг его оптической оси.Источники информациипринятые во внимание при экспертизе1 Александров А.Я. и др. Поляризационно-оптические методы механики деформируемого тела, М "Наука",1973, с. 138.2, Грум-Гржимайло С.В. Приборыи.методы для оптического исследования кристаллов. М., "Наука", 1972,с. 104-106.