Способ определения полной разности хода при измерении параметров двупреломления кристаллов

Союз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 090179 (21) 2710559/18-25 с присоединением заявки йо(23) Приоритет Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытийДата опубликования описания 301290(72) Автор изобретения А.И.Лебедев Ленинградский ордена Ленина и ордена ТрудовогО Красного Знамени государственный университетим. А, А, Жданова.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛНОЙ РАЗНОСТИ ХОДА ПРИ ИЗМЕРЕНИИ ПАРАМЕТРОВ ДВУЛРЕЛОМЛЕНИЯ КРИСТАЛЛОВ 30 Изобретение относится к измерительной технике, преимущественно, к ис-следованию напряжений с помощью световых волн.Известен способ 1, в котором 5 производят компенсацию в белом свете полной разности хода с помощью материальных компенсаторов. Этот способ не обладает достаточной точностью.Наиболее близким по своей техни О ческой сущности к изобретению являет,- ся способ, в котором измеряют дробные,разности хода и целого числа порядков. Для проведения этих измерений используют компенсатор и два мо-, нохрома 121. Недостатком способа является наличие ошибок при определении целого числа порядков, связанных с диспер-, 2 О сией двупреломления. При использова" нии способа в компенсационном методе решения объемной задачи фотомеха-. ники появляются дополнительные.ошйбки из-за дисперсии оптической актив ности.Целью данного изобретения является,увеличение точности измерений и проведение измерений в одном монохроме. 2Указанная цель достигается тем, что производят фотоэлектрическую регистрацию рассеянного света в направлениях, перпендикулярных проходящему через исследуемый слой лучу света, фиксируют число экстремумов интенсивности рассеянного света по толщине слоя и определяют целое число порядков на основании числа экстремумов рассеянного света.Кроме того, при фиксировании числа экстремумов интенсивности рассеянного света по толщине слоя на входе исследуемого слоя создают линейнополяризованную волну, вектор напряженности электрического поля Е которой совпадает с направлением регистрации рассеянного света и об-разует угол 45 с направлением главных осей в слое.При молекулярном рассеянии по закону Рэлея интенсивность рассеянно- го света при регистрации его в направлении, перпендикулярном проходящему лучу, зависит от состояния поляризации проходящего света в точке рассеяния. В том случае, Когда в точке рассеяния свет линейно поляри,зован и вектор напряженности электрического поля Е перпендикулярен нап"равлению наблюдения, интенсивностьрассеянного света Максимальна. прилинейной поляризации с вектором Е,направленным по направлению наблюдения - интенсивность рассеянного света минимальна. При прохождении поляризационного света через исследуемымислой с двупреломлением поляризационные характеристики света испытываютпреобразование от точки к точке потолщине слоя. Таким образом, от точки к точке изменяется интенсивностьрассеянного света. Причем период из -менения в образцах с чистым двупреломлением соответствует разности хода в один порядок, Соотношение междумаксимумом,и минимумом интенсивности 5рассеянного света определяется величиной угла между направлением регистрации рассеянного света и главнымиосями тенэора диэлектрической проницаемости, а величина интенсивности щна входе в исследуемый слой - состоянием поляризации света на входе.На чертеже приведена зависимостьинтенсивности рассеянного света 3в слое толщины Ь от координаты Е,совпадающей с направлением просвечивания,Расстояние между минимумами функции 3, (2) соответствует разностихода в один порядок,В случае, когда на входе исследуемого слоя реализуют линейно-поляризованную волну, вектор напряженностиэлектрического поля Е которой совпадает с направлением регистрации рассеянного света, первый минимум имееткоординату 7 = О.Таким образом, число минимумов интенсивности рассеянного света по толщине слоя за исключением первого, совпадающего с входной поверхностью слоя,40равно целому числу порядков разностихода в слое, Дробная разность ходаопределяется в монохроме при сквозном просвечивании, истинная она илидополнительная устанавливается с помощью способа, основанного на регистрации рассеянного света.Использование предлагаемого способа определения полной разности ходанаиболее целесообразно в компенсационном методе решения объемной задачи фотомеханики, так как в данноммегоде присутствует система регистрфии рассеянного света в направлении перпендикулярном проходящему через модель лучу света.Предлагаемый способ позволяет избежать сложных измерений дисперсий двупреломления и оптической активности, что существенно снижает трудоемкость решения с помощью поляризацион. но-оптического метода конкретных инженерных и научных задач по исследованию распределения механических напряжений в деталях, узлах или конструкциях, Способ найдет применение в лабораториях по поляризационно-оптическому методу исследования механических напряжений,Формула изобретения 1. Способ определения полной раз-ности хода при измерении параметровдвупреломления кристаллов, заключающийся в измерении дробной разностихода и целого числа порядков, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с цельюповьпаения точности измерений и проведения измерения в одном монохроме,производят фотоэлектрическую регистрацию рассеянного света в направлениях, перпендикулярных проходящему через исследуемый слой лучу света, фиксируют число экстремумов интенсивности рассеянногб света по толщине слояи определяют целое число порядков наосновании числа экстремумов рассеянного света,2. Способ по п. 1, о т л и ч а ю -щ и й с я тем, что при фиксированиичисла экстремумов интенсивности рас,"сеянного света по толщине слоя навходе исследуемого слоя создают линейно-поляризованную волну, векторнапряженности электрического поля Екоторой совпадает с направлением регистрации рассеянного света и образует угол в 45 ф, с направлением главных осей в слое,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1,Александров А.Я.,Ахметзянов И.Х,Поляризационно-оптические методы механики деформируемого тела, М792099Составитель ОМилиппов Редактор Н,Коляда Техред С,Мигунова Корректор Н.ШвьщкаяМ Заказ 9420/41 Тирах 1019 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий1,13035, Москва, Т, Раушская наб., д.4/5филиал ППП Патент, г.ужгород, ул.Проектная, 4