Патенты с меткой «лучепреломления»

Номер патента: 49370

Опубликовано: 31.08.1936

Автор: Михайлов

МПК: G01B 11/16, G02B 27/12, G02B 27/28 ...

Метки: величины, двойного, лучепреломления, прибор

...для определения величины двойного лучепреломления при оптическом способе изучения напряжений на моделях, изготовленных из прозрачного материала, снабженный вращающейся слюдяной пластинкой, отличающийся О выдаче авторского свидетельства Предлагаемыи прибор предназначен для применения при оптическом изучении. напряжений на моделях, изготовленных из прозрачного материала. От существу. ющих подобных приборов (компенсаторов Берека, Федорова) предлагаемый прибор отличается тем, что вращающаяся в рамке 1 (фиг. 1) на, оси 2 слюдяная пластинка 3 служит для компенсирования не полностью величины двойного луче- преломления в какой. либо точке иссле дуемой модели в поляризованном свете, а лишь части этой величины. Большая часть...

Номер патента: 1141315

Опубликовано: 23.02.1985

Авторы: Айрапетянц, Старовойтов

МПК: G01N 21/23

Метки: величины, двойного, лучепреломления, полимерных

...от заданной ориентации, частичной дезориентации, которая приводит к рассеиванию света,т,е, возникают волны, плоскостьполяризации которых расположенапроизвольно. Рассеянный свет не вступает в интерференцию с основной волной, поэтому при измерении интенсивности прошедшего света через полимерный материал по известному способу накладывается Фон, на которомменее четко или совсем не видны егоэкстремальные положения.Общая интенсивность света ЗО,1;поступающая на Фотоприемник, складывается из интенсивности 3, поступающей на Фотоприемник вследствиеинтерференции волн, распространяющихся вдоль главных направленийанизотропии исследуемого материала,и интенсивности 3 з рассеянных волн,т,е.3 а;.=Ы 3,1Мгде М, - коэффициент...

Номер патента: 1383162

Опубликовано: 23.03.1988

Автор: Старостенко

МПК: G01N 21/23

Метки: веществ, двойного, лучепреломления

...картины 1 О. В щели 3 устанавливают измеряемый образец 11. Плоскость поляризации света ориентируют так, чтобы онасовпадала с направлением главной осиобразца 11, При установке образца 11происходит смещение экстремумов, Перемещением нижней полуплоскости на расстояние ьЬ компенсируют смещениеэкстремума правой половины интерференционно-дифракционной картины, аперемещением на аЬ - экстремума левой половины. Затем плоскость поляризации света ориентируют вдоль второй главной оси образца 11 и вновь измеряют компенсационные перемещения нижней полуплоскости Ь и Ь для соответствующих экстремумовПри отсутствии измеряемого образца 11 интерференционно-дифракционная картина является результатом интерференции света, дифрагирующего на щели 3...

Номер патента: 1495689

Опубликовано: 23.07.1989

Автор: Старостенко

МПК: G01N 21/23

Метки: веществ, двойного, лучепреломления

...поляризатора 1 О устанав-. ливают перпендикулярно плоскости3 1495689 поляризации поляризатора 5. После прохождения исследуемого вещества 6 и четвертьволновой пластинки 7 плоскость поляризации излучения рабочего канала поворачивается на угол, определяемый величиной двойного лучепреломления исследуемого вещества.Так как свет рабочего и компенсационного каналов пропускают через общий 10 вращающийся анализатор 11 и регистрируют с помощью общего Фотоприемника 14, вследствие исключения возможной интерференции пучков, достигаемой прохождением деполяриэатора 12, переменная составляющая сигнала, регистрируемого измерителем 15, равна нулю только в том случае, когда интенсивности рабочего и компенсационного пучков равны, а плоскости их...

Номер патента: 1818545

Опубликовано: 30.05.1993

Авторы: Ерохин, Никитин, Старостенко

МПК: G01J 4/00

Метки: веществ, двойного, лучепреломления

...длину волны А 1 компенсируют разность фаэ так, чтобы она соответствовала целому числу периодов. Моменткомпенсации определяют по минимуму сигнала измерителя 8, поступившего на него с 3фотоприемника 7. Затем изменяют длинуволны светатак, чтобы можно было обнаружить раскомпенсацию света,. прошедшегообразец 4, Далее вращением анализатора 6компенсируют свет до минимума и по удвоенному углу поворота анализатора 6 определяют разность фаз света длиной волныА 2, Используя зависимость, определяют период разности фаэ, а по периоду разностифаэ и измеренному значению разности фазпо зависимости определяют полную разность фаэ для длины волны света 11 или А 2Полная разность фаз на длинах волнсвета 41 и 42 равны соответственно,-д- - й Й - р 1 Х...